基于成團效應(yīng)的眾核處理器失效核分布建模方法
2017-05-04 21:31:58劉天揚覃志東肖芳雄
智能計算機與應(yīng)用 2017年2期
劉天揚+覃志東+肖芳雄
摘 要： 隨機產(chǎn)生失效核分布的方法不能反映眾核處理器物理拓撲結(jié)構(gòu)的真實狀況，在評價相關(guān)拓撲重構(gòu)算法的效能時有失客觀性。本文針對這一現(xiàn)狀，提出了一種基于缺陷成團效應(yīng)的眾核處理器失效核分布建模方法。實驗表明，本方法得到的物理拓撲結(jié)構(gòu)缺陷分布呈現(xiàn)出不同程度的成團特性，且成團效應(yīng)會顯著影響核級冗余技術(shù)的拓撲重構(gòu)效果。
關(guān)鍵詞： 眾核處理器；缺陷分布；核級冗余；拓撲重構(gòu)
中圖分類號：TP302.8
文獻標志碼：A
文章編號：2095-2163（2017）02-0019-07
