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      小封裝二極管的熱阻測(cè)試研究

      2017-06-22 22:14溫文輝羅洪慶
      科學(xué)家 2017年8期
      關(guān)鍵詞:二極管

      溫文輝+羅洪慶

      摘 要 本文主要對(duì)封裝外形SOD-323小電流整流二極管進(jìn)行研究,對(duì)結(jié)溫環(huán)境和結(jié)溫引線的熱阻測(cè)試方法進(jìn)行介紹。測(cè)量不同溫度下被測(cè)樣品和小尺寸二極管芯片焊接在引線端部的熱敏電壓,使小封裝器件的引線溫度和二極管本身的結(jié)溫測(cè)量的精度有了很大的提高。

      關(guān)鍵詞 小封裝;二極管;熱阻測(cè)量

      中圖分類號(hào) TN31 文獻(xiàn)標(biāo)識(shí)碼 A 文章編號(hào) 2095-6363(2017)08-0038-02

      進(jìn)行小封裝后的二極管一般由多層的材料所組成,當(dāng)其內(nèi)部產(chǎn)生了足夠的熱量之后,熱量就能夠通過芯片、焊料、熱沉等部分傳輸、擴(kuò)散到外部,當(dāng)器件的功率保持不變時(shí),就能夠逐漸建立起穩(wěn)態(tài)的溫升。當(dāng)器件的熱量在同一種類的材料上進(jìn)行傳輸時(shí),屬于無熱阻的接觸,能否將熱量充滿整個(gè)材料,僅僅只是時(shí)間的問題。

      1 方案實(shí)施前準(zhǔn)備

      通常在測(cè)試半導(dǎo)體器件熱特性中,會(huì)將和熱響應(yīng)相關(guān)的電學(xué)量、物理量做類比,熱流—電流,溫差—電壓,熱容—電容,熱阻—電阻。類比之后估算結(jié)溫,運(yùn)用電學(xué)量的簡(jiǎn)便方法進(jìn)行估算。

      達(dá)到熱平衡時(shí)直流狀態(tài)下的結(jié)溫為:

      小電流整流二極管進(jìn)行研究,測(cè)量不同溫度下被測(cè)樣品和小尺寸二極管芯片焊接在引線端部的熱敏電壓,使小封裝器件的引線溫度和二極管本身的結(jié)溫測(cè)量的精度有了很大的提高。

      2 測(cè)試計(jì)劃及實(shí)施具體方案

      在小封裝器件的條件下,PCB是PCB測(cè)試板構(gòu)成的主要散熱途徑,通過器件連著的焊盤完成器件自身的散熱,其焊盤的面積大小則由器件和其使用條件來決定。在相關(guān)的各個(gè)專業(yè)書籍當(dāng)中,對(duì)表面貼裝器件的焊盤位

      該測(cè)試有專用儀器TRR8000,測(cè)試將會(huì)對(duì)被測(cè)試的器件進(jìn)行加熱,封裝和安裝條件對(duì)加熱時(shí)間有一定的要求,所以應(yīng)配一塊拓展電源板,并且手動(dòng)控制加熱電流,加熱完成應(yīng)同時(shí)進(jìn)行熱敏電壓測(cè)試。

      3 熱敏電壓及加熱功率的測(cè)試

      3.1 熱敏電壓測(cè)試

      對(duì)熱敏電壓進(jìn)行測(cè)試,應(yīng)該分別在內(nèi)外兩種不同的狀態(tài)之下進(jìn)行加熱和測(cè)試,內(nèi)加熱就是通過PU結(jié)進(jìn)行直接的加熱,3min以后,手動(dòng)停止加熱,再觸發(fā)測(cè)試熱敏芯片。所謂進(jìn)行外加熱,就是指提高環(huán)境溫度將整個(gè)器件加熱。在外加熱條件下,對(duì)熱敏電壓進(jìn)行測(cè)試,首先應(yīng)該將測(cè)試板置于溫控加熱箱之中,再將連線拉出,待加熱箱加熱至指定的溫度,器件的結(jié)溫和環(huán)境的溫度相同時(shí),穩(wěn)定10min后進(jìn)行測(cè)試,即熱敏校準(zhǔn)測(cè)試。

      無論是內(nèi)加熱還是外加熱當(dāng)結(jié)溫相等時(shí),熱敏電壓也相等,當(dāng)結(jié)溫不相等時(shí),熱敏電壓也就會(huì)不相同。

      3.2 加熱功率測(cè)試

      對(duì)樣品用以不同的電流進(jìn)行加熱,達(dá)到規(guī)定時(shí)間以后,將VF測(cè)試功能立即開啟,便可視為一次測(cè)試完成。進(jìn)行測(cè)試的結(jié)果是VF的電流和進(jìn)行加熱的電流是基本相同的,熱功率(HP)可由TI乘以PV得出。

      4 熱阻、結(jié)溫的計(jì)算和討論

      根據(jù)測(cè)試數(shù)據(jù)可以將樣品與規(guī)定的而溫度和電流之下的引線熱阻溫度進(jìn)行計(jì)算,當(dāng)0.6A電流通過時(shí),樣品的結(jié)溫應(yīng)在133℃~145℃之間。在此處,我們做一個(gè)假設(shè),若最高工作結(jié)溫為150℃,則室溫狀態(tài)下能夠進(jìn)行使用的最大電流應(yīng)為。與此同時(shí),最高結(jié)溫是124℃,相對(duì)應(yīng)的溫度應(yīng)該是23℃左右,如果將環(huán)境中的溫度提高至50℃上下,其結(jié)溫就會(huì)在一定程度上升高,最高可能會(huì)達(dá)到150℃左右。所以在這里可以確定,50℃左右的環(huán)境溫度,也就是電流為0.5A時(shí)開始進(jìn)行電流降額時(shí)所需的溫度。與此同時(shí),其溫度對(duì)應(yīng)于降額曲線的轉(zhuǎn)折點(diǎn)。并且,樣品的負(fù)極引線溫度始終不能夠降低至溫度低于正極,電流從0.1A逐步增加至0.6A,隨之,其結(jié)溫于42℃增長(zhǎng)到133℃上下,其中正、負(fù)引線溫差也能夠從1℃逐漸增加為8℃。以上各種情況都已經(jīng)足夠證明,散熱效果會(huì)受散熱路徑的長(zhǎng)度影響。

      5 結(jié)論

      以上內(nèi)容,測(cè)試所采用的方式非常適用于表面貼裝器件來進(jìn)行器件熱阻的測(cè)試的。這一項(xiàng)的測(cè)試的準(zhǔn)確度,是以熱敏電壓和校準(zhǔn)溫度為基礎(chǔ)的,熱敏電壓和校準(zhǔn)溫度的精度越高,該測(cè)試的準(zhǔn)確度就會(huì)隨之更高。這是在被測(cè)量的對(duì)象在很少能夠出現(xiàn)有干擾的情況之下,能夠?qū)?duì)器件引線溫度進(jìn)行更加準(zhǔn)確測(cè)量的方式,是該測(cè)量方法一個(gè)顯著特點(diǎn)。

      參考文獻(xiàn)

      [1]譚昊.高亮度二極管激光光纖耦合技術(shù)研究[D].綿陽:中國(guó)工程物理研究院,2015.

      [2]郭小峰.高效率紅外二極管及可靠性分析[D].北京:中國(guó)科學(xué)院大學(xué),2016.

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