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      射線檢測(cè)底片偽像的甄別與預(yù)防

      2017-09-22 09:40:56張志勇
      無損檢測(cè) 2017年9期
      關(guān)鍵詞:黑度暗室底片

      張志勇

      (天津華信工程檢測(cè)有限公司,天津 300270)

      射線檢測(cè)底片偽像的甄別與預(yù)防

      張志勇

      (天津華信工程檢測(cè)有限公司,天津 300270)

      針對(duì)射線檢測(cè)底片的偽像直接影響到底片質(zhì)量,同時(shí)也會(huì)影響到射線檢測(cè)評(píng)定結(jié)果的準(zhǔn)確性的問題,通過對(duì)偽像影像特征的歸納分析,提出相應(yīng)的甄別方法,提高了評(píng)定結(jié)果的準(zhǔn)確性。通過偽像成因的歸納分析,采取針對(duì)性的預(yù)防措施,提高了射線檢測(cè)的底片質(zhì)量。

      射線檢測(cè);偽像;特征

      射線檢測(cè)作為一種常規(guī)的無損檢測(cè)方法,廣泛應(yīng)用于各工業(yè)領(lǐng)域。在實(shí)際的射線檢測(cè)過程中,常會(huì)在底片上遇到多種類型的偽像。偽像又稱假顯示,是膠片在制造、加工、透照或暗室處理等過程中產(chǎn)生的缺陷而造成射線照相底片上的虛假顯示[1]。射線檢測(cè)的偽像直接影響到底片質(zhì)量,同時(shí)也會(huì)影響到評(píng)定結(jié)果的準(zhǔn)確性。

      GB/T 3323《金屬熔化焊焊接接頭射線照相》、NB/T 47013.2 《承壓設(shè)備無損檢測(cè) 第2部分:射線檢測(cè)》、ASME《鍋爐及壓力容器規(guī)范 第Ⅴ卷 無損檢測(cè)》等射線檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)都對(duì)底片上的偽像有嚴(yán)格的規(guī)定。如標(biāo)準(zhǔn)NB/T 47013.2-2015要求:底片評(píng)定范圍內(nèi)不應(yīng)存在影響影像觀察的灰霧,干擾缺陷影像識(shí)別的水跡、劃痕、顯影條紋、靜電斑紋、壓痕等假缺陷影像,以及增感屏缺陷帶來的各種偽影像。在采用雙膠片疊加觀察評(píng)定時(shí),如果一張底片存在輕微假顯示或劃傷,在能夠識(shí)別和不妨礙底片評(píng)定的情況下,可以接受該底片。

      存在偽像的底片通常需要進(jìn)行補(bǔ)照,而造成人力和物力的浪費(fèi),直接增加了檢測(cè)成本。筆者根據(jù)多年從事射線檢測(cè)工作的經(jīng)驗(yàn),從膠片的制造、加工、透照和暗室處理等方面對(duì)偽像以及偽像成因進(jìn)行了歸納分析,提出了甄別偽像的方法和預(yù)防偽像的措施。

      1 膠片的制造及存儲(chǔ)不當(dāng)造成的偽像

      1.1感光藥膜不均

      質(zhì)量較差的膠片有時(shí)會(huì)有底片黑度分布不均勻的情況發(fā)生,同批次的膠片黑度分布不均的現(xiàn)象有連續(xù)性,這是由感光藥膜不均引起的。

      1.2感光藥膜劃傷

      這種偽像有固定位置,在同一批次膠片中有一定規(guī)律地出現(xiàn),應(yīng)該是涂布藥膜設(shè)備上的顆粒附著物造成感光藥膜劃傷引起的。感光藥膜劃傷外觀如圖1所示。

      圖1 感光藥膜劃傷外觀(存在雙面點(diǎn)狀損壞)

      1.3感光藥膜脫落

      藥膜片狀脫落,底片上偽像顯示特征明顯。

      1.4霉點(diǎn)

      膠片在濕度大的環(huán)境中存放時(shí),底片上會(huì)有很多細(xì)小的黑點(diǎn)(霉點(diǎn)),同批次的膠片多有同類現(xiàn)象發(fā)生。尤其對(duì)于裝入暗袋的膠片,要注意存放時(shí)間和環(huán)境,防止產(chǎn)生霉點(diǎn)。

      2 膠片裁、裝、拆不當(dāng)造成的偽像

      2.1夾紙(屏反)

      暗室的切片操作時(shí)要求帶襯紙,有時(shí)將膠片裝到暗袋時(shí)膠片會(huì)帶入襯紙,使底片上好像蒙上一塊黑紗,這樣的底片完全不具備評(píng)定條件。屏反指的是增感屏襯紙一面貼住了膠片,與夾紙的影像一樣。

      2.2劃痕

      與膠片(或底片)相關(guān)的任何過程中,如切片、裝片、拆片、暗室處理、底片整理等期間,膠片(或底片)受到尖銳物,如指甲、膠片尖角、器物尖角的輕微刮劃,底片上留下較為流暢的黑線影像,長(zhǎng)短不一,一般容易辨認(rèn)。但有的劃痕影響評(píng)定,尤其是對(duì)裂紋敏感性高的焊縫影像上存在劃痕,會(huì)掩蓋微細(xì)的裂紋影像,所以要將底片盡量判廢(重新補(bǔ)照)。

      2.3劃傷

      劃傷的性質(zhì)比劃痕嚴(yán)重,較重的刮劃會(huì)導(dǎo)致乳劑膜被損壞,底片上該部位近于透明。劃傷底片如圖2所示。

      圖2 劃傷底片

      3 暗袋及增感屏造成的偽像

      3.1漏光

      暗袋的蓋子掉落、損壞,暗袋損壞導(dǎo)致膠片局部曝光會(huì)造成漏光。尤其是氣溫低時(shí),由于塑料的暗袋脆性大而容易產(chǎn)生獨(dú)特易分辨的影像。要注意輕拿輕放暗袋,用適合的箱子裝運(yùn)膠片以減少暗袋的形變。暗室操作人員在裝片之前以及作業(yè)人員布片之前均應(yīng)進(jìn)行檢查。

      3.2暗袋被破壞

      暗袋內(nèi)襯被撕裂,某些時(shí)候會(huì)形成類似“夾紙”的影像,這張“紙”被撕開的邊緣在底片上顯示較清晰。用手能感受到撕裂暗袋的不連續(xù),從而可將該暗袋找出來更換掉。

      3.3屏折

      和折痕相似,如果暗袋中的增感屏受折,膠片也可能受折;凹進(jìn)去的增感屏折痕會(huì)產(chǎn)生較黑的影像(其形變使增感屏局部面積增加),能看到反射光;如果折痕破裂,會(huì)產(chǎn)生透明狀的折痕印跡。

      3.4屏臟

      如果增感屏臟了會(huì)導(dǎo)致局部增感作用失效,底片上對(duì)應(yīng)部位黑度有不同程度的降低,嚴(yán)重的會(huì)出現(xiàn)透明的現(xiàn)象。反射光下可看到該偽像,檢查增感屏的對(duì)應(yīng)位置可發(fā)現(xiàn)增感屏上有臟污或是脫落。

      3.5粘鉛

      暗袋進(jìn)水導(dǎo)致增感屏上的鉛粘在膠片上,底片上會(huì)出現(xiàn)明顯的污跡。球罐在全景曝光時(shí),要求暗蓋朝上布片,有的用塑料袋套上是為了防雨。

      4 背散射防護(hù)不當(dāng)造成的偽像

      4.1“磁鐵印” 該偽像為固定膠片用的磁鐵的影像,多因散射線屏蔽不到位出現(xiàn)的圓形的,黑度小于周圍背景的影像。

      同“磁鐵印”一樣,當(dāng)?shù)灼铣霈F(xiàn)暗袋背面“B”的影像較淡,則說明散射線屏蔽不到位;如果“B”的影像較黑,則是“B”本身對(duì)膠片增感造成的。

      4.2鉛皮尺寸不夠

      施工現(xiàn)場(chǎng)的作業(yè)環(huán)境復(fù)雜,使得某些膠片受到較大的背散射線照射,當(dāng)鉛皮尺寸不夠、不能完全屏蔽膠片(如240 mm長(zhǎng)的鉛皮用于300 mm的膠片)時(shí),露出的部分因散射線照射,會(huì)使底片上的顯示黑度偏大,但對(duì)比度低。

      4.3鉛皮折

      出現(xiàn)附加增感或防散射線失效的情況。附加增感時(shí),底片上顯示條形陰影,有被評(píng)定成缺陷的可能,可在觀片燈下方以不同的視角借助反射光觀察底片兩面。一般在底片的某一面能看到對(duì)應(yīng)影像的印跡,另一面則看不到,而真正的缺陷兩面都能看到;防散射線失效是因?yàn)殂U皮折斷了,散射線從裂縫處照到膠片上,因?yàn)檎蹟嗟姆较蚨酁榇怪庇谀z片長(zhǎng)度方向,只要能想到這種可能,就能根據(jù)底片上的影像做出判斷。

      5 透照工序造成的偽像

      5.1多次曝光

      曝光的膠片放在射線源附近,經(jīng)受多次或大或小的曝光,有時(shí)底片上能顯示鄰近物件的影像。

      5.2黑頭

      間隔布片透照時(shí),主聲束對(duì)正的是相鄰的位置,底片上僅一端有曝光影像,大部分未曝光。

      5.3標(biāo)記帶搭到焊縫上標(biāo)記帶的接頭要打結(jié)以固定在焊縫邊緣,有時(shí)候這個(gè)接頭搭到了焊縫上,底片上的接頭影像可能會(huì)與表面缺陷混淆。這種情況不多見,一般可以辨別。

      5.4外物遮擋

      透照時(shí),遮擋射線窗口的腳手架、鐵絲、容器接管,以及焊接件表面的渣皮等的影像,較容易辨別。

      5.5內(nèi)物遮擋

      被檢件的內(nèi)容物、焊接藥皮(多見于長(zhǎng)輸管道)、施工垃圾等的影像,較容易識(shí)別。

      5.6衍射光斑

      由X射線衍射引起的特殊形式的散射很少見。在相對(duì)較薄的試樣里存在較大的晶體或晶粒,其如同鏡子一樣產(chǎn)生反射,使反射到的位置在顯像后的底片上出現(xiàn)黑點(diǎn),與氣孔類似。遇到粗晶薄壁工件尤其要注意。

      6 暗室處理造成的偽像

      6.1水跡水跡的成因有幾種:① 暗室處理前、晾片操作或其他原因使得膠片(或底片)濺上水滴,水滴再干燥后留下的印跡,比晾片時(shí)濺上的水滴的影像黑度大;② 處理下一批膠片時(shí),手上有水,濺到了尚未顯影的膠片上,影像的形狀是水珠狀,和氣孔相像;③ 晾片時(shí),捏夾子的手上有水,晾片期間夾子里的水順流而下,干燥后借助反射光可見其清晰的印跡;④ 晾片期間空氣中灰塵濃度較大,使得底片好像蒙上一層灰塵,干得慢的部位(下部)更嚴(yán)重;⑤ 水不夠潔凈,在干燥過程中會(huì)有雜質(zhì)附在底片上,針對(duì)這種情況,可于干燥前用純凈水與洗潔精混合溶液沖洗。

      6.2污跡

      暗室處理底片過程中,各種溶液或水中有懸浮污物,有的會(huì)粘到膠片上,其形狀有點(diǎn)狀、線狀、條形等,晾片前在反射光下可見,此時(shí)用水或者定影液擦洗可消除大部分,晾干后很難去除(有些污跡在透射光下看不到)。

      6.3花片(顯影斑紋)

      底片上黑白影像不規(guī)則分布,多為整張底片出現(xiàn)該偽像,一般是顯影時(shí)間短(暗室操作人員看到膠片的曝光量太大,減少了正常的顯影時(shí)間;操作時(shí)抖動(dòng)方式不合適或沒抖動(dòng);有時(shí)停顯時(shí)間不足也會(huì)產(chǎn)生花片)造成的。

      6.4黑點(diǎn)

      底片上各處分布相對(duì)均勻的小黑點(diǎn)是顯影時(shí)間長(zhǎng)導(dǎo)致的。顯影分不同批次時(shí),顯影完一批底片提走時(shí)留下一個(gè)繼續(xù)與下一批進(jìn)行顯影,造成底片黑度和灰度均增大,同時(shí)有小黑點(diǎn)出現(xiàn)。

      6.5灰片

      底片黑度均勻,但看起來灰度大,有的底片靈敏度也滿足要求。分析原因時(shí),首先,要考慮散射線的影響;其次,考慮暗室紅燈照射、顯影的時(shí)間、顯影液老化以及溫度是否偏高等因素;另外,配置溶液的水質(zhì)不好也可能導(dǎo)致灰片。

      6.6粘片

      暗室處理時(shí)的粘片情況,一般是由于一個(gè)洗片夾子里裝了兩張膠片(也可能是同一個(gè)暗袋裝了兩張膠片)引起的,顯影后、定影后或晾片時(shí)可能發(fā)現(xiàn)這種情況。由于在同一個(gè)夾子里,顯影時(shí)兩張片面對(duì)面的兩個(gè)面就會(huì)有部分區(qū)域接觸不到顯影液,未被顯影的部分在隨后的移動(dòng)和定影過程的操作中,粘片的面積會(huì)減少或消失,出現(xiàn)底片單面“通透”現(xiàn)象,兩張片有著近似一樣形狀的不規(guī)則圖像;另外一種就是在定影過程或晾片過程中兩張片粘在一起,兩張片的圖像輪廓可以說完全一致。

      6.7黃片

      底片泛黃,黑度越小越明顯,稱之為“未定透”。此現(xiàn)象是定影時(shí)間不夠、溫度低或老化等造成的。

      6.8顯影液飛濺

      操作不當(dāng)使得顯影液飛濺到膠片上,而在底片上出現(xiàn)黑點(diǎn)。該偽像分布、大小無規(guī)律,反射光下在底片的一面可看到。

      6.9定影液飛濺

      操作不當(dāng)使得定影液飛濺到膠片上,而在底片上出現(xiàn)白點(diǎn)。其分布、大小無規(guī)律,反射光下在底片的一面可看到。

      6.10紅燈曝光

      暗室處理前,膠片從暗袋取出來分散放置在操作臺(tái)上,紅燈亮度較大,且(或)膠片在紅燈下暴露時(shí)間長(zhǎng);暗室處理后,底片上出現(xiàn)明顯的黑度不規(guī)則變化,且過渡的邊緣呈直線顯示。

      6.11夾子印用來洗片的夾子是周邊打孔的不銹鋼框架,如果孔的影像較深,則是曝光所致;如果紅燈太亮,或是在架子內(nèi)的膠片受紅燈照射時(shí)間長(zhǎng),底片往往灰霧度較大;如果孔的影像較淺,則說明夾子沒干燥徹底。

      7 其他偽像

      7.1折痕壓痕膠片顯影前的暗室、運(yùn)送或現(xiàn)場(chǎng)操作過程中指甲或其他外力產(chǎn)生的折痕,或是受到物件的砸、壓等情況時(shí)產(chǎn)生的壓痕。指甲造成的折痕在底片上的顯示為月牙形的、黑度較大的影像,受到砸、壓時(shí)則出現(xiàn)與接觸面形狀接近的折、壓的形變,該位置黑度增大;膠片暗室處理后受到的折痕、壓痕有形變但不產(chǎn)生影像。出現(xiàn)折痕、壓痕現(xiàn)象時(shí),要檢查暗袋和增感屏。

      7.2靜電感光

      底片上顯示閃電狀、樹枝狀黑色影像,或?yàn)辄c(diǎn)狀或冠狀斑紋影像,越多越容易識(shí)別,如果恰巧在焊縫上,且只有一根或少數(shù),則可能被誤判?,F(xiàn)在筆者單位常用的柯達(dá)、愛克發(fā)膠片極少產(chǎn)生這類現(xiàn)象。靜電感光底片如圖3所示。

      圖3 靜電感光底片

      8 結(jié)語

      由于射線的輻射生物效應(yīng),射線檢測(cè)作業(yè)一般安排在其他工種的休息期間進(jìn)行,多是夜間作業(yè),且有高空作業(yè)。底片評(píng)定中,偽像的出現(xiàn)不是事故,但可以參照事故處理的“四不放過”原則對(duì)偽像依照以上所列類型進(jìn)行辨識(shí),進(jìn)而查找原因,提醒操作人員避免再次發(fā)生同類問題。其實(shí),每個(gè)單位都會(huì)制定相關(guān)的制度,制度內(nèi)容會(huì)涉及到材料采購(gòu)、存儲(chǔ)、測(cè)試、使用,以及環(huán)境控制、操作要領(lǐng)、注意事項(xiàng)、定期維護(hù)保養(yǎng)等方面,但是否落實(shí)到位決定了最終底片的質(zhì)量。

      [1] GB/T 12604.2 無損檢測(cè)術(shù)語 無損檢測(cè) 射線照相檢測(cè)[S].

      PreventionandDiscriminationforFalseImageinRadiographicTestingFilm

      ZHANG Zhiyong

      (Tianjin Huaxin Engineering Testing Co., Ltd., Tianjin 300270, China)

      This paper provides guidelines on the identification and prevention of RT films false images which affect RT evaluation directly. The corresponding discrimination method by inductive analysis on the characteristics of false image was put forward, and the targeted prevention measures for improving RT film quality was taken by inductive analysis on the cause of false image.

      radiographic testing; false image; characteristic

      TG115.28

      : B

      :1000-6656(2017)09-0065-04

      2016-11-28

      張志勇(1971-),男,工程師,主要從事石化建設(shè)工程無損檢測(cè)工作

      張志勇,401991597@qq.com

      10.11973/wsjc201709016

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