數(shù)控機(jī)床測頭的誤差模型
數(shù)控機(jī)床的測頭不僅可以用于在加工前設(shè)置工件,在加工后進(jìn)行控制,還可以確定機(jī)床的體積誤差。這就是為什么需要了解完整的機(jī)床上測量系統(tǒng)錯誤,還要了解有關(guān)于探頭與機(jī)床分離誤差的知識。本文提出了數(shù)控機(jī)床測頭誤差的理論模型??紤]到機(jī)器測頭的獨(dú)特功能,例如在整個圓周上支持的傳感器和無線通信。數(shù)控機(jī)床通常使用3點(diǎn)運(yùn)動測頭,應(yīng)變計(jì)測頭和1點(diǎn)運(yùn)動測頭。對于所有測試類型的探針,實(shí)現(xiàn)了理論模型和實(shí)驗(yàn)測試結(jié)果的高度一致性。例如,對于m&h IRP32.00-MINI 1點(diǎn)運(yùn)動測頭,R2參數(shù)(實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)切合度)為70.82%,的平均絕對誤差值不超過3.2l微米。該值比觸發(fā)半徑的平均值低28倍。比觸發(fā)半徑的變化范圍低8倍。
根據(jù)以下探頭的測試結(jié)果:雷尼紹RMP60三點(diǎn)運(yùn)動測頭和MP700應(yīng)變計(jì)測頭得出結(jié)論:通過理論模型預(yù)測的特征形狀對應(yīng)于實(shí)驗(yàn)獲得的特征形狀,模型的平均絕對誤差值分別為0.6l微米和0.4l微米,這些值與觸發(fā)半徑平均值相比,分別是低于觸發(fā)半徑的平均值的59倍和31倍。與觸發(fā)半徑的變化范圍相比,低了27倍和5.5倍。
本文開發(fā)的模型可用于預(yù)測數(shù)字機(jī)床測頭的數(shù)字補(bǔ)償誤差。另外,數(shù)控機(jī)床測頭模型中包含的特定變量誤差值對于設(shè)計(jì)階段的測頭制造商以及測頭用戶在選擇測量系統(tǒng)的配置階段起到指導(dǎo)作用,包括觸控筆的選擇和觸發(fā)力的設(shè)置。
刊名:Measurement(英)
刊期:2016年77期
作者:Michal Jankowski et al
編譯:野晨晨