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      一種基于智能機(jī)器視覺識別的工業(yè)探傷技術(shù)*

      2018-03-29 08:20:20劉桂華康含玉
      關(guān)鍵詞:磁痕識別率分類器

      牛 乾,劉桂華,康含玉

      (西南科技大學(xué) 特殊環(huán)境機(jī)器人技術(shù)四川省重點實驗室,四川 綿陽 621000)

      0 引言

      與超聲檢測和射線檢測相比,磁粉探傷具有檢測表面裂紋靈敏度高、操作簡單、結(jié)果可靠、缺陷易辨認(rèn)、速度快等優(yōu)點[1]。目前半自動化磁粉檢測裝備已發(fā)展成熟,但在缺陷的識別階段仍要依靠人工進(jìn)行判別,人長期在暗室環(huán)境下觀測,勞動強(qiáng)度大、容易產(chǎn)生視覺疲勞,極易造成漏檢,且有損人的身體健康。

      為取代人工檢測實現(xiàn)磁粉探傷的自動化、智能化,相關(guān)單位進(jìn)行了一些嘗試,并取得了一些成果:林果等使用PCA-SVM進(jìn)行裂紋識別[2],陳林宇等使用幾何特征和Adaboost算法對磁痕類型進(jìn)行分類[3],王姮等利用分行維數(shù)理論對磁痕圖像進(jìn)行識別[4]。其中文獻(xiàn)[2]和文獻(xiàn)[3]的識別方法將數(shù)字圖像處理技術(shù)與機(jī)器學(xué)習(xí)技術(shù)相結(jié)合, 但是目前使用分類器對缺陷進(jìn)行判別,在工業(yè)現(xiàn)場復(fù)雜的環(huán)境下單一的分類器判別方法識別速度慢,在實際應(yīng)用中難以使用,且以上算法識別率依賴于分割效果的好壞。文獻(xiàn)[4]提取磁痕圖像的分行維數(shù)進(jìn)行缺陷識別,識別率低。為解決以上方法中存在的不足,本文提出一種基于統(tǒng)計判別和分類器判別的級聯(lián)判別方法,首次將LBP特征應(yīng)用于磁痕圖像的特征提取,與其他方法相比較具有更高的識別率和更快的檢測速度。且該方法充分考慮到工業(yè)應(yīng)用中的各種因素的干擾,具有很強(qiáng)的實用價值。

      1 結(jié)構(gòu)設(shè)計

      螺栓表面裂紋硬件結(jié)構(gòu)示意圖如圖1所示,主要分為半自動的磁化裝置和圖像采集裝置,其中半自動的磁化裝置基于現(xiàn)有較成熟的磁粉探傷機(jī)改造。硬件的具體檢測流程為:

      (1)工件由自動上料裝置放置到傳送帶上,由傳送帶輸送工件至磁化裝置下方,磁化觸頭磁化工件的同時,由噴頭均勻噴灑磁懸液至工件表面;

      (2)將磁化后的螺栓傳輸至旋轉(zhuǎn)臺中心,同時啟動旋轉(zhuǎn)平臺旋轉(zhuǎn),在紫光燈照射下采集螺栓表面的磁痕圖像。計算機(jī)對采集到的磁痕圖像進(jìn)行處理得到判別結(jié)果并對控制器發(fā)送執(zhí)行命令,由控制器控制機(jī)械臂將有缺陷的螺栓工件從旋轉(zhuǎn)平臺上剔除。

      2 算法設(shè)計與實現(xiàn)

      工業(yè)相機(jī)獲取螺栓的磁痕圖像后通過圖像處理算法對獲得的磁痕圖像進(jìn)行處理,表面磁痕裂紋識別的算法設(shè)計如圖2所示。

      圖2 算法設(shè)計流程

      (1)磁痕圖像缺陷初次判別。該處理過程主要針對螺栓表面存在的比較明顯的裂紋缺陷,主要包括彩色磁痕圖像的通道分離,并針對磁痕G通道圖像進(jìn)行去噪和分割處理,對分割后得到的目標(biāo)區(qū)域進(jìn)行統(tǒng)計,若螺栓表面缺陷面積大于300的區(qū)域數(shù)量大于0則認(rèn)為該工件為有缺陷工件。

      (2)磁痕圖像缺陷二次判別。收集無缺陷的磁痕圖像,存在裂紋缺陷的磁痕圖像,以及存在磁懸液堆積、纖維物附著的偽缺陷圖像,將樣本分為兩類,對無缺陷樣本和有缺陷樣本進(jìn)行預(yù)處理,提取LBP統(tǒng)一模式特征向量,使用SVM分類器訓(xùn)練樣本得到判別模型。磁痕圖像缺陷初次判別可識別大多數(shù)表面存在裂紋的工件。若磁痕表面存在細(xì)微缺陷目標(biāo)區(qū)域與背景對比度不明顯,則初次判別不能有效地識別,對于初次判別認(rèn)為無缺陷的磁痕圖像提取LBP特征,將提取到的LBP特征輸入判別模型進(jìn)行判斷,得到判別結(jié)果。

      2.1 磁痕圖像預(yù)處理

      柱體金屬表面在紫光燈照射下有不同程度的反光。為減弱金屬表面反光對成像質(zhì)量的影響,對采集到的彩色磁痕圖像進(jìn)行通道分離,分離后得到的G通道圖像裂紋與背景對比度最為明顯同時對反光區(qū)域有明顯的抑制作用。由于圖像采集的過程中不可避免地混有噪聲,因此需要對采集到的圖像進(jìn)行去噪操作;針對圖像采集中存在的椒鹽噪聲,采用自適應(yīng)中值濾波算法對獲取到的G通道圖像進(jìn)行處理。與其他濾波方法相比,自適應(yīng)中值濾波能夠有效地抑制椒鹽噪聲,同時能夠較好地保護(hù)磁痕圖像的邊緣。其算法思想如下:

      圖像(i,j)處的灰度值為f(i,j),Ai,j為當(dāng)前的工作窗口,fmax、fmed、fmin為當(dāng)前工作窗口的灰度最大值、灰度中值、灰度最小值,Amax為預(yù)設(shè)最大窗口。其實現(xiàn)過程如下:

      (1)若fmin

      (2)若fmin

      對G通道圖像經(jīng)過濾波操作之后得到的圖像進(jìn)行分割以獲取目標(biāo)區(qū)域,基于邊緣的分割方法可以有效地避開反光區(qū)域準(zhǔn)確地將目標(biāo)區(qū)域與背景分割開來。本文采用Sobel邊緣檢測算法,其與其他方法對比具有很好的分割效果。

      2.2 缺陷的初次判別

      磁痕裂紋分割后得到目標(biāo)區(qū)域,提取目標(biāo)區(qū)域的面積特征Area和裂紋的長度特征Length。

      依據(jù)現(xiàn)有樣本庫中存在的缺陷特征設(shè)定目標(biāo)區(qū)域面積的閾值為Areaθ、長度的閾值為Lengthθ,其判別結(jié)果為f(x)。則其決策過程如下:

      IF (Area>Areaθ)&&(Length>Lengthθ):

      f(x)=True

      ELSE

      f(x)=False

      2.3 磁痕圖像的二次判斷

      磁痕圖像的初次判別可以識別缺陷明顯的樣本,但是對于缺陷區(qū)域?qū)Ρ榷炔幻黠@或由于磁懸液堆積以及由于纖維物附著工件表面造成的偽缺陷,初次判別無法有效地識別,為解決上述問題本文提出將改進(jìn)的LBP算法應(yīng)用于磁痕裂紋的特征提取中。LBP是Ojala等人提出的一種有效的紋理特征提取方法,是一種灰度范圍內(nèi)的紋理度量,在紋理分類上取得了不錯的效果。原始的LBP特征定義在3×3的鄰域內(nèi),以鄰域的中心像素灰度值為閾值,將其8鄰域像素值與其中心像素值進(jìn)行比較,若鄰域像素灰度值高于中心像素值則標(biāo)記為1,否則標(biāo)記為0[5-6]。

      為方便描述LBP的計算方法,假設(shè)圖像任一點像素值為f(xc,yc),將該點作為中心像素點值gc,在中心像素點周圍等距設(shè)定一個鄰域,其所在的鄰域的其他P個像素點灰度值為g0,g1,…,gP-1,使用比較函數(shù)s(x)使gp與gc進(jìn)行相互比較得到一個二值序列:

      L=s(g0-gc),s(g1-gc),...,s(gp-1-gc)

      其中:

      此時得到序列L的元素為0或者1,此模式為局部二值模式。

      原始的LBP算法只能夠?qū)崿F(xiàn)計算一個3×3的鄰域特征值,適應(yīng)性不強(qiáng),特征維數(shù)過多且缺少旋轉(zhuǎn)不變性,因此基本的LBP算法并沒有達(dá)到理想的識別效果[7-8]。為了增強(qiáng)其計算能力和適用范圍,Ojala等對基本的LBP算子做了進(jìn)一步的改進(jìn)和優(yōu)化。為了達(dá)到減少LBP特征維數(shù)同時提高LBP特征值的統(tǒng)計特性,本文使用Ojala提出的等價模式的LBP特征。等價模式LBP算子可以描述為對一個局部二進(jìn)制串在各元素首尾相連的情況下,若1和0的改變次數(shù)少于兩次,則認(rèn)為該模式為等價模式,否則為非等價模式,其數(shù)學(xué)表達(dá)式如下:

      其中,

      U=|s(gp-1-gc)-s(go-gc)|+

      對于3×3鄰域內(nèi)的8個采樣點,LBP的等價模式將原始的256維特征減少至59維,將LBP特征用于紋理分類識別時,常用LBP的統(tǒng)計直方圖作為圖像的特征描述,較多的模式種類使得數(shù)據(jù)維數(shù)過高,LBP的等價模式使得特征維數(shù)大大減少,且不丟失任何信息,并能夠減少高頻噪聲帶來的影響。

      2.4 分類器設(shè)計

      針對工業(yè)應(yīng)用中存在的樣本數(shù)量相對不足的問題,本文選用SVM作為樣本分類識別的訓(xùn)練模型,該分類器在解決小樣本、非線性、高維模式識別中表現(xiàn)出很多優(yōu)勢[9-10]。該分類器與其他分類器相比具有很好的泛化能力。選取一定數(shù)量現(xiàn)場采集的磁痕圖像作為訓(xùn)練樣本集;正負(fù)樣本的比例為1∶1。對正負(fù)樣本進(jìn)行預(yù)處理操作,提取LBP特征,將LBP的特征直方圖作為該磁痕圖像的描述子送至分類器中進(jìn)行訓(xùn)練。非線性支持向量機(jī)學(xué)習(xí)算法如下:

      輸入:磁痕圖像的特征描述子和標(biāo)簽值T={(x1,y1),(x2,y2),(x3,y3),…,(xN,yN)},其中xi∈=Rn,yi∈y={-1,+1},i=1,2,3,…,N;

      (1)選取合適的核函數(shù)K(x,z)和適當(dāng)?shù)膮?shù)C,構(gòu)造并求解最優(yōu)化問題:

      (2)選取α*的一個正分量0<α*

      (3)構(gòu)造決策函數(shù):

      3 實驗分析

      由以上實驗設(shè)計思路,實驗室搭建實驗平臺如圖3所示。針對螺栓樣件磁化后在實驗室中采集樣本,模擬現(xiàn)場環(huán)境采集工件圖像,其中無缺陷工件樣本圖片1 000張,有缺陷工件樣本圖片1 000張。

      圖3 實驗硬件平臺

      對具有代表性的工件進(jìn)行預(yù)處理。

      圖4(a)為采集到的磁痕圖像;圖4(b)為通道分離后的G通道圖像,通道分離后反光區(qū)域減弱且裂紋區(qū)域與背景對比度增強(qiáng)。圖4(c)為閾值分割后的結(jié)果,圖4(d)為區(qū)域增長法的分割效果,由于反光的影響,目標(biāo)物體和反光區(qū)域不能有效地分離,這兩種分割方法都會影響初次判別的結(jié)果。圖4(e)為Sobel邊緣檢測得到的分割結(jié)果,分割效果明顯優(yōu)于其他分割方法。

      圖4 磁痕圖像預(yù)處理

      圖5(a)為采集到的磁痕圖像的橫向裂紋特征直方圖,(b)為縱向裂紋特征直方圖,(c)為無規(guī)則裂紋的特征直方圖,(d)為無缺陷樣本特征直方圖。以特征直方圖作為該樣本的識別特征,放入分類器進(jìn)行訓(xùn)練。

      圖5 不同類型磁痕圖像Uniform LBP特征直方圖

      工業(yè)現(xiàn)場隨機(jī)抽取1 000個工件進(jìn)行測試,具體的樣本分布如表1所示。

      表1 樣本分布

      為驗證小樣本條件下分類器的準(zhǔn)確率,本文選用SVM分類器、BP神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)和邏輯回歸3種分類器進(jìn)行對比,如圖6所示。

      圖6 不同分類器識別率對比

      由圖6可以看出,在工業(yè)應(yīng)用中樣本量相對不足的情況下,SVM分類器的識別率高于BP神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)和邏輯回歸。

      為驗證本文方法的有效性,分別從識別率、漏檢率、平均識別速度3方面與文獻(xiàn)[2]、文獻(xiàn)[3]和文獻(xiàn)[4]進(jìn)行對比,結(jié)果如表2所示。

      表2 識別算法對比

      實驗結(jié)果表明,在識別率方面本文方法與文獻(xiàn)[2]基于主成分分析的磁痕識別技術(shù)相當(dāng),優(yōu)于文獻(xiàn)[3]幾何特征加Adaboost分類器算法、文獻(xiàn)[4]分形維數(shù)的磁痕圖像缺陷識別算法;在漏檢率方面本文方法比文獻(xiàn)[2]降低了5.28%,同時優(yōu)于文獻(xiàn)[3]、[4];在工件的平均識別速度方面本文方法識別速度為1.02 s,明顯快于以上3種方法。

      4 結(jié)束語

      本文在傳統(tǒng)的缺陷檢測方法基礎(chǔ)上提出將傳統(tǒng)的基于統(tǒng)計的識別方法與基于分類器的識別方法級聯(lián)的兩步法磁痕裂紋檢測系統(tǒng),在特征提取過程中首次將LBP改進(jìn)算法用于磁痕圖像特征提取中,根據(jù)工業(yè)中樣本數(shù)量相對不足的特點使用SVM分類器訓(xùn)練模型并對樣本進(jìn)行識別,與現(xiàn)有算法進(jìn)行對比,在樣本識別率、漏檢率和平均識別速度上都有很大改進(jìn)。該算法能夠滿足工業(yè)中實時性的要求且具有很強(qiáng)的實用性。

      [1] 夏紀(jì)真.工業(yè)無損檢測技術(shù)[M].廣州:中山大學(xué)出版社,2013.

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      [10] 李航.統(tǒng)計學(xué)習(xí)方法[M].北京:清華大學(xué)出版社,2012.

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