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      直流電子負(fù)載的工作原理及使用方法

      2018-05-09 05:43:00上海市計(jì)量測試技術(shù)研究院
      上海計(jì)量測試 2018年2期
      關(guān)鍵詞:電子負(fù)載恒流直流

      / 上海市計(jì)量測試技術(shù)研究院

      0 引言

      在電子技術(shù)和測試領(lǐng)域,實(shí)驗(yàn)人員經(jīng)常會對直流穩(wěn)壓電源、開關(guān)電源、線性電源、變壓器、整流器、電池、充電器等電子設(shè)備的輸出特性進(jìn)行測試,怎樣可靠全面且較簡單快捷進(jìn)行測試,一直是儀器儀表從業(yè)人員探索的問題。傳統(tǒng)的方法一般采用電阻、滑線變阻器、電感、電容等充當(dāng)測試負(fù)載,這些負(fù)載結(jié)構(gòu)簡單,功能單一,已經(jīng)不能適應(yīng)現(xiàn)代電子設(shè)備對于負(fù)載輸出特性的測試要求。本文介紹的直流電子負(fù)載比一般的負(fù)載具備更多的測試模式。具有直流電子負(fù)載用恒定電流(CC),恒定電壓(CV),恒定電阻(CR)模式,可分別用于不同的電源參數(shù)的測量。它能替代傳統(tǒng)的負(fù)載,更好地用來測試評估直流電源的輸出特性、蓄電池的壽命特性。直流電子負(fù)載在作為一個(gè)可變或恒定電阻時(shí),還可以作為直流電壓、直流電流的測量表具,有一定的測量分辨力和準(zhǔn)確度,而且有保護(hù)功能,這樣既利于提高測量速度也方便測量。因此,深入理解直流電子負(fù)載的設(shè)計(jì)原理,從而正確使用電子負(fù)載在工業(yè)領(lǐng)域顯得尤為重要。

      1 直流電子負(fù)載的工作原理

      直流電子負(fù)載的工作模式有四種:恒流工作模式、恒壓工作模式、恒阻工作模式、恒功率工作模式。

      1.1 恒流電路

      圖1是一個(gè)常用多見的恒流電路,在恒流工作模式時(shí),電子負(fù)載所流入的負(fù)載電流依據(jù)所設(shè)定的電流值而保持恒定,與輸入電壓的大小無關(guān),即負(fù)載電流保持不變。圖1中,R3 為取樣電阻,VREF是參考電壓,其工作原理是:當(dāng)給定一個(gè)參考電壓VREF時(shí),如果R3 上的電壓小于VREF,也就是運(yùn)放的-IN小于+IN時(shí),運(yùn)放加大輸出,使MOS導(dǎo)通程度加深,使MOS管輸出回路電流加大。如果R3上的電壓大于VREF時(shí),-IN 大于+IN,運(yùn)放減小輸出,也就降了MOS管輸出回路電流,這樣也就實(shí)現(xiàn)了恒流工作。如參考電壓VREF為10 mV,R3 為0.01 Ω時(shí)電路恒流為1 A,改變VREF可改變恒流值,VREF可用電位器調(diào)節(jié)輸入或用DAC芯片由MCU 控制輸入,采用電位器可手動(dòng)調(diào)節(jié)輸出電流。如采用DAC 輸入可實(shí)現(xiàn)數(shù)控恒流電子負(fù)載。

      圖1 恒流電路

      1.2 恒壓電路

      圖2為可調(diào)直流恒壓電子負(fù)載電路。在恒壓工作模式時(shí),電子負(fù)載所流入的負(fù)載電流依據(jù)所設(shè)定的負(fù)載電壓而定,此時(shí)負(fù)載電流將會增加直到負(fù)載電壓等于設(shè)定值為止,即負(fù)載電壓保持不變。圖2中MOS 管上的電壓經(jīng)R3與R2分壓后送入運(yùn)放IN+與參考電壓值進(jìn)行比較,當(dāng)電位器在10%時(shí)IN-為1 V,那么MOS 管上的電壓應(yīng)為2 V。

      1.3 恒阻電路

      恒阻功能,在有些數(shù)控電子負(fù)載中并不設(shè)計(jì)專用電路,而是在恒流電路的基礎(chǔ)上通過MCU 檢測到的輸入電壓來計(jì)算電流,達(dá)到恒阻功能的目的。比如要恒定電阻為10 Ω時(shí),MCU 檢測到輸入電壓為20 V,那么會控制輸出電流為2 A,但這種方法響應(yīng)較慢,只適用于輸入變化較慢,且要求不高的場合。專業(yè)的恒阻電子負(fù)載都是由硬件實(shí)現(xiàn)的。

      圖2 恒壓電路

      圖3電路是由硬變件實(shí)現(xiàn)的恒阻電路,R4 為1%,如果輸入電壓為1 V,那么IN+上的電壓為10 mV,也就控制R1上的電壓為10 mV,等效電阻測為1 Ω。

      圖3 恒阻電路

      1.4 恒功率電路

      恒功率功能,大部分電子負(fù)載都采用恒流電路來實(shí)現(xiàn),原理是MCU 采樣到輸入電壓后,根據(jù)設(shè)定的功率值來計(jì)算輸出電流。

      2 直流電子負(fù)載的使用方法

      基本了解直流電子負(fù)載的四種工作模式后,下面介紹電子負(fù)載基本的使用方法。

      其測試接線如圖4所示,直流電子負(fù)載是用電子器件實(shí)現(xiàn)的“負(fù)載”功能,其輸出端口符合歐姆定律。電子負(fù)載是通過控制內(nèi)部功率器件MOSFET或晶體管的導(dǎo)通量,使功率管耗散功率,消耗電能的設(shè)備。

      圖4 電子負(fù)載測試接線

      1)把電子負(fù)載設(shè)定在CC模式,負(fù)載關(guān)閉,此時(shí)用電子負(fù)載以電壓表形式測量直流穩(wěn)壓電源CV態(tài)的開路輸出電壓。

      2)把電子負(fù)載設(shè)定在CC模式,打開負(fù)載及其短路設(shè)置,此時(shí)用電子負(fù)載以電流表形式測量直流穩(wěn)壓電源CC態(tài)的輸出電流。

      3)直流電源的穩(wěn)壓即CV態(tài)的負(fù)載調(diào)整率的測量:

      如有一臺電源,規(guī)格為30 V/30 A,先把電壓調(diào)節(jié)到最小,電流調(diào)節(jié)到適當(dāng)值,設(shè)置負(fù)載在CC態(tài),打開負(fù)載,設(shè)置負(fù)載的CC值為30 A,調(diào)節(jié)電源的電壓值,此時(shí)負(fù)載值隨著外加電壓的改變而變化,直到調(diào)節(jié)電壓為30 V時(shí),電子負(fù)載測量出電源帶載的實(shí)際輸出電壓Um和回路里的電流。再設(shè)置負(fù)載的CC值為0,則此時(shí)相當(dāng)于斷開負(fù)載,此時(shí)電子負(fù)載作為一個(gè)直流電壓表,測量出電源不加載的輸出電壓Un,則電源CV態(tài)的負(fù)載調(diào)整率為

      如果電子負(fù)載的測量準(zhǔn)確度不能滿足測量電源的要求,則可以在測量的同時(shí),在電源的兩端并入直流數(shù)字電壓表進(jìn)行監(jiān)測。

      4 直流電源的穩(wěn)流即CC態(tài)的負(fù)載調(diào)整率的測量

      如有一臺電源,規(guī)格30 V/30 A(把電流調(diào)節(jié)最小,電壓調(diào)節(jié)到適當(dāng)值),則設(shè)置負(fù)載在CV態(tài),打開負(fù)載,設(shè)置負(fù)載的CV值為30 V,調(diào)節(jié)電源的電流值,此時(shí)負(fù)載值隨著回路的電流的改變而變化,直到調(diào)節(jié)電流為30 A時(shí),電子負(fù)載測量出電源帶載的實(shí)際輸出電壓和回路里的電流Im。此時(shí)可以設(shè)置負(fù)載的CV值為0,相當(dāng)于短路負(fù)載,此時(shí)電子負(fù)載作為一個(gè)直流電流表,測量出電源不加載的輸出電流In,則電源CC態(tài)的負(fù)載調(diào)整率為

      如果電子負(fù)載的測量準(zhǔn)確度不能滿足測量電源的要求,則可以在測量的同時(shí),在電源的測量回路中串聯(lián)分流器進(jìn)行測量電流。需要說明的是:用DC電子負(fù)載測量電源時(shí),若不用Vsense端,則若10 mΩ的引線電阻在回路電流為10 A可引起0.1 V的壓降,即電子負(fù)載電壓測量值將小于電源實(shí)際輸出電壓值。為了測量準(zhǔn)確,Vsense兩端要接于電源輸出的兩端,電子負(fù)載則取樣測量Vsense兩端的電壓來測量,而回路電流則與四線Vsense測量無關(guān)。

      3 結(jié)語

      近年來,使用電子負(fù)載進(jìn)行直流電源測量已經(jīng)越來越普遍。但是電子負(fù)載也有各自的功率限制及允許的測量范圍,作為電子儀器,它還會存在波紋。了解電子負(fù)載的基本原理和使用方法,使日常使用和測量更便捷。

      [1]孫肖子.模擬及數(shù)模混合器件的原理與應(yīng)用[M].北京:科學(xué)出版社,2009.

      [2]華成英,童詩白.模擬電子技術(shù)基礎(chǔ)[M].北京:高等教育出版社,2006.

      [3]閻石.電子技術(shù)基礎(chǔ)[M].北京:高等教育出版社,2006.

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