余 龍,孔德文,張成永
(江蘇信息職業(yè)技術(shù)學(xué)院 機(jī)電工程學(xué)院,江蘇 無錫 214153)
在國內(nèi),絕大多數(shù)的火力發(fā)電廠都配備了除灰系統(tǒng),并采用料位計(jì)來檢測灰斗和倉泵的灰位,以實(shí)現(xiàn)除灰作業(yè)的自動(dòng)化控制[1]。但是,這些料位計(jì)絕大多數(shù)為接觸式料位計(jì),在使用時(shí)容易因掛灰而產(chǎn)生誤報(bào)警,需要技術(shù)人員不斷地跑現(xiàn)場對料位計(jì)的誤報(bào)警進(jìn)行確認(rèn)和處理,增加了技術(shù)人員的工作強(qiáng)度;同時(shí),誤報(bào)警會(huì)導(dǎo)致氣力輸灰提前,輸送灰氣比低,耗氣量大,系統(tǒng)能耗高;較低的輸送灰氣比增大了輸送流速,增加了設(shè)備磨損[2]。
目前市面上用于解決上述問題的一種手段是采用無源核子料位計(jì),用非接觸式測量代替接觸式測量[3]。但是,這些料位計(jì)普遍存在指向性差、抗干擾能力弱、溫度漂移嚴(yán)重等問題,導(dǎo)致在電廠的應(yīng)用并不理想,普及率很低。
無源核子料位計(jì)的工作原理如圖1所示。γ射線照射到碘化鈉晶體后,發(fā)生作用后產(chǎn)生次級帶電粒子,碘化鈉晶體吸收其能量后,從而使碘化鈉原子、分子發(fā)生電離和激發(fā),接著發(fā)射出閃爍光子[4];光電子在光電倍增管中逐級倍增,最終在陽極上收集到電流;高壓偏置電路用于為光電倍增管提供高壓偏置電壓,并將陽極的電流信號轉(zhuǎn)換為電壓脈沖信號;脈沖調(diào)理與放大器對電壓脈沖進(jìn)行整形和放大,以便于后面的AD轉(zhuǎn)換;處理分析單元整個(gè)料位計(jì)的核心,用于對脈沖信號進(jìn)行處理,并根據(jù)計(jì)算模型計(jì)算實(shí)時(shí)料位;用戶接口用于實(shí)現(xiàn)和用戶的信息交互,包括輸出開關(guān)量報(bào)警信號、模擬量料位信號,實(shí)現(xiàn)和手持調(diào)試器的交互等功能。
圖1 無源核子料位計(jì)工作原理Fig.1 Working principle of passive nuclear material level meter
圖2 光電信號轉(zhuǎn)換Fig.2 Optical signal conversion
粉煤灰中的γ射線入射到晶體中產(chǎn)生微弱的光信號,這些光信號只有經(jīng)過光電管的光電轉(zhuǎn)換以后才能變?yōu)殡娮与娐纺軌蛱幚淼碾娦盘朳6]。由光電管的光電轉(zhuǎn)換原理可知,光電管只有在合適的高壓偏置下才能夠?qū)⒐庑盘栟D(zhuǎn)換為電信號。因此,必須要配備專門的高壓偏置電路,電路設(shè)計(jì)中采用的是經(jīng)典的電阻鏈分壓方式。由于光電轉(zhuǎn)換得到的電信號并不一定在后續(xù)AD電路的輸入范圍內(nèi),還需要對該電信號進(jìn)行必要的放大和調(diào)理。實(shí)現(xiàn)整個(gè)上述過程的原理框圖如圖2所示。
經(jīng)過調(diào)理和放大后的信號通過AD轉(zhuǎn)換進(jìn)入微處理器,微處理器根據(jù)所接收到的信號,采用特定的算法計(jì)算出料位高度[7]。用戶接口用于完成接收用戶指令、顯示料位高度和系統(tǒng)信息和上位機(jī)通信等功能。這部分功能邏輯如圖3所示。
圖3 信號分析處理與用戶接口Fig.3 Signal analysis processing and user interface
圖4 信號調(diào)理與放大電路Fig.4 Signal conditioning and amplification circuit
無源核子料位計(jì)的硬件系統(tǒng)主要包括主控模塊、信號處理模塊、無線通信模塊、人機(jī)接口模塊以及電源模塊。
其中信號調(diào)理和放大電路是硬件系統(tǒng)的核心,其采用的是電壓反饋型AD8065芯片,具有工作噪聲低和輸入阻抗高的特點(diǎn),并且可以直流5V~24V寬電壓輸入,其額定溫度范圍為-40℃~+85℃,簡單易于使用,完全可以滿足工業(yè)上的使用要求,電路圖如圖4所示。
無源核子料位計(jì)是通過檢測粉煤灰中微量放射性元素衰變時(shí)發(fā)射出的γ射線來計(jì)算料位。接收的γ射線經(jīng)過閃爍體和光電倍增管轉(zhuǎn)換成電脈沖信號,電脈沖信號經(jīng)過處理后,單片機(jī)記錄單位時(shí)間內(nèi)脈沖個(gè)數(shù)。
流程圖如圖5所示。當(dāng)系統(tǒng)通電時(shí),必須要對各個(gè)模塊進(jìn)行初始化,其中包括定時(shí)器初始化,串口初始化、LED初始化、繼電器初始化、OLED初始化等初始化。初始化完成進(jìn)入主循環(huán),在主循環(huán)中通過定時(shí)器進(jìn)行外部指令獲取單位時(shí)間內(nèi)記錄射線數(shù)的值,然后進(jìn)行均值濾波處理,掃描按鍵狀態(tài),讀取系統(tǒng)溫度值,并且更新系統(tǒng)變量,顯示屏實(shí)時(shí)顯示射線數(shù)和系統(tǒng)參數(shù)。報(bào)警點(diǎn)當(dāng)料位到達(dá)設(shè)置值時(shí),程序計(jì)算模擬量輸出ma值,并且LED亮起繼電器閉合,對外輸出報(bào)警信號。
圖5 程序工作流程圖Fig.5 Program workflow flowchart
圖6 抗干擾對比試驗(yàn)Fig.6 Contrast test against interference
為了避免環(huán)境中無關(guān)γ射線的干擾,提高其指向性,如圖6所示設(shè)置了由鉛皮材料和坡莫合金材料制作的屏蔽層。測試結(jié)果如圖7所示,在安裝屏蔽層后,計(jì)數(shù)率明顯降低了,說明無關(guān)的γ射線被屏蔽掉了;同時(shí),測量結(jié)果的波動(dòng)也基本消失了,說明屏蔽層確實(shí)起到了預(yù)期的效果。
圖7 抗干擾對比測試數(shù)據(jù)Fig.7 Anti-jamming contrast test data
圖8 溫度適應(yīng)性對比測試數(shù)據(jù)Fig.8 Temperature adaptability comparison test data
如果采用固定的甄別閾值,則測量結(jié)果必然會(huì)受到溫度的影響。為了解決這個(gè)問題,通過特征提取來識別K40的主峰,并以其為基準(zhǔn)來計(jì)算料位[8]。由圖8測試結(jié)果可以看出:料位計(jì)1不使用溫度自適應(yīng)算法,則隨著溫度的升高,計(jì)數(shù)率降低;料位計(jì)2使用溫度自適應(yīng)算法以后,計(jì)數(shù)率基本不隨溫度而變化。由此可見,溫度自適應(yīng)法可以有效地減少溫度對于測試結(jié)果的影響。
本文設(shè)計(jì)了一種無源核心料位計(jì)測量系統(tǒng),通過軟硬件的安裝與調(diào)試,經(jīng)過試驗(yàn)研究得知:采用屏蔽層來屏蔽磁場和環(huán)境中無關(guān)γ射線的干擾,提高了料位計(jì)的指向性和穩(wěn)定性,采用溫度自適應(yīng)算法大大降低了溫度對測量結(jié)果的影響。