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      某軸承內(nèi)圈內(nèi)部缺陷分析

      2019-07-25 08:52:46張凱勝趙開禮蘇偉強(qiáng)王歡
      軸承 2019年9期
      關(guān)鍵詞:水浸偏析內(nèi)圈

      張凱勝,趙開禮,蘇偉強(qiáng),王歡

      (中國航發(fā)哈爾濱軸承有限公司,哈爾濱 150025)

      航空軸承在可靠性、質(zhì)量、推重比、工況條件、使用壽命等方面提出了更高的要求,因此對航空軸承材料的缺陷控制也越來越嚴(yán)格。

      套圈是軸承的重要零件,其原材料一般為鍛軋狀態(tài),若存在裂紋、縮孔、脆性夾雜物、白點(diǎn)、嚴(yán)重偏析等缺陷,或在鍛造后出現(xiàn)折疊等,會降低成品的抗沖擊、疲勞載荷的能力[1]。對于存在于表面、近表面的缺陷[2],一般通過套圈終磨滾道后磁粉檢查即可發(fā)現(xiàn);而內(nèi)部缺陷則需通過超聲法檢查[3]。結(jié)合這2種方法可確保所有孔洞、裂紋類缺陷的有效檢出,對于表面缺陷的磁粉檢查結(jié)果一般較為直觀,而內(nèi)部缺陷的檢查結(jié)果需要通過儀器反映,其方法的有效性及結(jié)果的準(zhǔn)確性至關(guān)重要。

      現(xiàn)針對實(shí)際檢測時發(fā)現(xiàn)的某批內(nèi)圈缺陷進(jìn)行金相檢查和水浸超聲檢查。

      1 金相分析

      以某型軸承內(nèi)圈缺陷為例進(jìn)行分析,其外徑148.7 mm、內(nèi)徑130 mm、寬度24 mm,選取典型件,對熒光磁粉探傷發(fā)現(xiàn)的缺陷位置進(jìn)行軸向截取試樣,垂直磁痕磨拋,通過37081體視顯微鏡觀察其缺陷位置及對應(yīng)部位截面形貌,分別如圖1、圖2所示。

      圖1 典型聚磁缺陷位置

      圖2 典型聚磁缺陷截面形貌

      由圖可知,在內(nèi)圈內(nèi)徑面存在周向線性磁痕,磁痕位置可見折線形裂紋,由內(nèi)徑面向內(nèi)延伸,長約0.55 mm,深約0.26 mm。在距內(nèi)徑面約0.5 mm處同時存在另一條長約0.22 mm裂紋。

      將試樣逐層磨拋,在顯微鏡下觀察缺陷形貌,結(jié)果如圖3、圖4所示。由圖可知,缺陷呈線性分布,長約1.91 mm。

      圖3 磨拋的內(nèi)部缺陷

      圖4 缺陷微觀形貌

      2 掃描電鏡分析

      原材料8CrMo4V鋼的化學(xué)成分見表1。對缺陷及其附近區(qū)域進(jìn)行掃描電鏡分析,EDS圖像如圖5所示,不同測試點(diǎn)的成分見表2。由圖、表可知,缺陷位置及其附近Al,Si,O元素存在異常情況,由此可知夾雜有少量的SiO2及Al2O3,同時有簇群狀夾雜,因此可能是原材料夾雜引起的缺陷。

      表1 8Cr4Mo4V鋼的化學(xué)成分

      表2 測點(diǎn)的化學(xué)成分

      3 超聲檢測

      因表層存在缺陷,采用ScanMaster水浸超聲和高頻(頻率10 MHz)聚焦探頭,對100件該軸承內(nèi)圈進(jìn)行縱波直入射掃查[4],發(fā)現(xiàn)反射信號超過驗收標(biāo)準(zhǔn)(φ0.4 mm-10 dB)的內(nèi)圈12件,其具體情況見表3,表中超標(biāo)信號定位均在滾道與內(nèi)徑面之間的區(qū)域。由表可知,信號定位位置距滾道1.14~4.57 mm,長度為0.80~10.39 mm。此外,確定了缺陷埋深位置,缺陷距內(nèi)徑面約4.5 mm,距滾道表面約1.3 mm,截取試樣(圖6)進(jìn)行分析。

      表3 水浸超聲超標(biāo)信號情況表

      在表3中選2件典型內(nèi)圈(10#和12#)進(jìn)行解剖分析。這2件中都有多個缺陷,為便于分析,選擇缺陷較大位置進(jìn)行解剖分析,超聲檢測結(jié)果如圖7所示,圖中,顏色比例尺反應(yīng)波幅高度。由圖可知內(nèi)圈內(nèi)部存在缺陷。內(nèi)圈缺陷的2種檢測結(jié)果見表4。

      圖7 內(nèi)圈超聲C掃圖

      表4 內(nèi)圈缺陷的檢測結(jié)果對比

      由表4可知,理化測量尺寸與水浸超聲檢測結(jié)果基本一致,但12#內(nèi)圈缺陷在超聲圖中顯示為一個整體長度,而理化結(jié)果顯示多個斷續(xù)線狀缺陷,這是因為超聲測量的缺陷長度為整個內(nèi)圈深度在C掃圖上的整體反映,而實(shí)際解剖時僅為某一磨剖面,因此缺陷實(shí)際連續(xù)性與超聲C掃圖有一定差異。12#內(nèi)圈缺陷形貌如圖8所示。 測試結(jié)果表明,采用超聲方法檢測該類缺陷是準(zhǔn)確有效的。

      圖8 12#內(nèi)圈缺陷微觀形貌

      4 結(jié)束語

      對入廠原材料的非金屬夾雜、碳化物不均勻性、晶粒度、低倍組織、化學(xué)成分等進(jìn)行檢查,未發(fā)現(xiàn)不合格。由于C含量偏高,可能是原材料在鍛造過程中混入雜質(zhì),該情況應(yīng)為偶發(fā)事件。因原材料多處存在Al,Si元素較多的情況,而入廠一般采用抽樣檢查,所以不能完全對成分偏析進(jìn)行識別,因此考慮為元素偏析引起的缺陷。缺陷(裂紋)處Al,Si元素存在偏析,較嚴(yán)重的偏析將顯著降低材料的強(qiáng)度,在鍛造塑性變形過程中形成內(nèi)部缺陷,使其在鍛壓成形過程中變形、延展[5]。采用高頻水浸超聲法可以有效檢出該類缺陷。

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