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      彩膜微觀缺陷修補(bǔ)自動(dòng)化實(shí)現(xiàn)和效率提升

      2019-08-27 01:10:10王蘭健何晨彤武占英董宏達(dá)李海飛
      液晶與顯示 2019年7期
      關(guān)鍵詞:填色基板研磨

      蔣 遷,王 旭,王蘭健,何晨彤,武占英,董宏達(dá),李海飛

      (北京京東方顯示技術(shù)有限公司,北京 100176)

      1 引 言

      隨著工業(yè)4.0、中國制造2025戰(zhàn)略提出,制造業(yè)正逐步朝著自動(dòng)化、智能化發(fā)展[1]。TFT-LCD產(chǎn)業(yè)制程本身是高度自動(dòng)化的[2~6],其人力投入主要分為兩部分:維護(hù)設(shè)備正常運(yùn)轉(zhuǎn)的工程師和對(duì)產(chǎn)品品質(zhì)進(jìn)行檢測(cè)、修復(fù)的作業(yè)員,而后者的人數(shù)是前者的數(shù)倍之多。實(shí)際上,作業(yè)員進(jìn)行的檢測(cè)、修復(fù)等作業(yè)內(nèi)容相對(duì)簡單、單一,如果該部分作業(yè)能實(shí)現(xiàn)設(shè)備自動(dòng)化,能節(jié)省大量的人力成本,提高作業(yè)效率。

      本文對(duì)8.5代線彩膜(Color Filter,CF)工廠的微觀缺陷修補(bǔ)工位進(jìn)行研究,檢討無人化可行性,并研究設(shè)備自動(dòng)化運(yùn)營邏輯,最終將自動(dòng)修補(bǔ)邏輯寫入設(shè)備軟件,實(shí)現(xiàn)了修補(bǔ)工序自動(dòng)化。

      2 CF工藝流程和微觀缺陷修補(bǔ)方式

      2.1 CF工藝流程

      TFT-LCD制程可以分為陣列(Array)、彩膜(CF)、對(duì)盒(Cell)、模組(Module)4部分,其中CF段良率最高,一般產(chǎn)品均在99.5%以上。高良率與CF的微觀缺陷修補(bǔ)工藝密不可分[7],如圖1所示,在CF黑矩陣(Black Matrix,BM)、色阻(RGB)、柱狀物(Photo Spacer,PS)工序完成后,均可對(duì)相應(yīng)膜層的微觀缺陷進(jìn)行修補(bǔ),提升良率。

      圖1 CF工藝流程Fig.1 Process flow of color filter

      2.2 CF微觀缺陷種類和修補(bǔ)方式

      根據(jù)不同的劃分原則,可以對(duì)CF微觀缺陷進(jìn)行多種劃分。從產(chǎn)生工序區(qū)分,可以分為BM缺陷、RGB缺陷、OC缺陷、PS缺陷;從缺陷形態(tài)區(qū)分,可以分為異物類、纖維類、PR殘留類、劃傷類、掉膜類等等;從缺陷檢測(cè)原理區(qū)分,可以分為黑缺陷和白缺陷。由于微觀缺陷的修補(bǔ)是基于缺陷的檢出進(jìn)行的,本文僅以黑缺陷和白缺陷分類對(duì)缺陷進(jìn)行區(qū)分。

      CF采用自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)機(jī)(Automatic Optical Inspection,AOI)對(duì)微觀缺陷進(jìn)行檢測(cè),當(dāng)AOI自動(dòng)檢測(cè)時(shí),機(jī)器通過一排CCD自動(dòng)掃描基板,采集圖像,經(jīng)過圖像處理,進(jìn)行單周期Pitch比較,從而檢查出基板上的缺陷。缺陷檢出采用5點(diǎn)比對(duì)法,如圖2中5個(gè)點(diǎn),假設(shè)其灰階為A1、A2、A3、A4、A5,其中A2、A3、A4、A5為參考點(diǎn),A1為比較點(diǎn)。取上述5個(gè)點(diǎn)中間值(假設(shè)這5點(diǎn)的灰階大小關(guān)系為A2

      當(dāng) |A1-A5| > 設(shè)定閾值, A1點(diǎn)為缺陷點(diǎn);

      當(dāng) |A1-A5| < 設(shè)定閾值, A1點(diǎn)為正常點(diǎn)。

      當(dāng)A1>A5時(shí),為黑缺陷;反之為白缺陷。通常黑缺陷為金屬異物、PR殘留、纖維等,白缺陷為膜層缺失。

      圖2 AOI檢測(cè)原理Fig.2 Inspect principle of AOI

      CF修補(bǔ)方式有3種:研磨(Tape)、激光(Laser)和填色(Ink)。實(shí)際生產(chǎn)中,研磨用于磨掉膜上的黑缺陷,激光用于去除BM膜層PR殘留和RGB白缺陷填色前規(guī)整圖形準(zhǔn)備,填色是在激光去除缺陷后,在相應(yīng)位置處填補(bǔ)上RGB色阻,3種修補(bǔ)方式效果如圖3~圖5所示。

      圖3 研磨修補(bǔ)Fig.3 Tape repair

      圖4 激光修補(bǔ)Fig.4 Laser repair

      圖5 激光和填色修補(bǔ)Fig.5 Laser and ink repair

      3 CF微觀缺陷修補(bǔ)自動(dòng)化實(shí)現(xiàn)

      CF微觀缺陷人工修補(bǔ)流程如圖6所示,基板經(jīng)過AOI檢測(cè)后,AOI將所檢測(cè)的缺陷信息,包括:(1)不良面積;(2)不良坐標(biāo)(X、Y);(3)不良種類(黑缺Reflect Black,RB;白缺Transmit White,TW);(4)不良數(shù)量;(5)不良尺寸(ΔX、ΔY、最大長度);(6)灰階差值(Bright2)等6部分上傳到服務(wù)器上。當(dāng)基板流經(jīng)修補(bǔ)設(shè)備時(shí),修補(bǔ)設(shè)備從服務(wù)器提取缺陷信息并逐一提示作業(yè)員,作業(yè)員根據(jù)提示,逐一手動(dòng)操作鏡頭移動(dòng)至缺陷點(diǎn)坐標(biāo)處,肉眼確認(rèn)是否存在真缺陷以及真缺陷類型,并手動(dòng)點(diǎn)擊缺陷中心位置,讓修補(bǔ)設(shè)備移動(dòng)至該位置,針對(duì)不同類型的缺陷進(jìn)行相應(yīng)的研磨、激光或填色作業(yè),值得一提的是,填色作業(yè)也是需要人眼識(shí)別顏色后選擇紅、綠、藍(lán)或者黑色墨盒進(jìn)行填色。

      圖6 微觀缺陷人工修補(bǔ)流程Fig.6 Process flow of micro-defect repair by human

      要想實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化修補(bǔ),即用設(shè)備替代人工進(jìn)行缺陷類型判定、缺陷精確位置查找、修補(bǔ)方式選擇等工作。AOI只提供了缺陷類型、面積、尺寸和坐標(biāo),還有極低的誤檢性(把假缺陷檢測(cè)成真缺陷),如何讓修補(bǔ)設(shè)備像人眼一樣“認(rèn)出”缺陷并選擇正確的方式進(jìn)行作業(yè)呢?尤其填色作業(yè)的時(shí)候,設(shè)備如何像人眼一樣“認(rèn)出”顏色呢?

      本文中提出最小循環(huán)標(biāo)準(zhǔn)圖像比對(duì)法解決這一問題。CF圖形是循環(huán)重復(fù)排列的,選擇最小不重復(fù)的一組正常區(qū)域作為標(biāo)準(zhǔn)圖像,將被檢測(cè)區(qū)域同樣劃分為N個(gè)小區(qū)域,逐一與標(biāo)準(zhǔn)圖像進(jìn)行比對(duì),則可以發(fā)現(xiàn)缺陷并確認(rèn)缺陷類型,最后選擇修補(bǔ)作業(yè)。以下結(jié)合各具體修補(bǔ)工序進(jìn)行闡述。

      3.1 BM后微觀缺陷自動(dòng)修補(bǔ)實(shí)現(xiàn)

      BM工藝之后,僅對(duì)黑缺陷進(jìn)行自動(dòng)激光修補(bǔ),基板進(jìn)入修補(bǔ)設(shè)備后,修補(bǔ)鏡頭和修補(bǔ)單元可根據(jù)AOI提供的坐標(biāo)移動(dòng)至缺陷點(diǎn)附近,接下來是如何識(shí)別缺陷的準(zhǔn)確位置和使用激光作業(yè)。

      將像素的最小子循環(huán)圖像設(shè)置成標(biāo)準(zhǔn)圖像,并在框內(nèi)設(shè)置幾個(gè)激光區(qū)域。鏡頭移動(dòng)至缺陷點(diǎn)坐標(biāo)后,使用2倍鏡頭自動(dòng)對(duì)焦,然后逐一區(qū)域進(jìn)行與最小循環(huán)單元比對(duì),比對(duì)結(jié)果一致默認(rèn)為無缺陷,進(jìn)行下一區(qū)域比對(duì),當(dāng)比對(duì)結(jié)果不一致時(shí),則找到了缺陷。當(dāng)視野內(nèi)未找到缺陷時(shí),設(shè)備會(huì)報(bào)警,提示人員進(jìn)行確認(rèn),是否為AOI誤檢。找到缺陷后,設(shè)備切換20倍鏡頭再次對(duì)焦和比對(duì),確認(rèn)缺陷的精確位置,然后執(zhí)行激光動(dòng)作。

      圖7 BM工藝后自動(dòng)修補(bǔ)設(shè)置Fig.7 Setting of auto repair after BM process

      如圖7所示,對(duì)于該產(chǎn)品,設(shè)置2個(gè)子像素為最小循環(huán)單元,并在最小循環(huán)單元內(nèi)設(shè)置2個(gè)激光框。圖7中的圓形黑缺陷,設(shè)備經(jīng)過2倍鏡圖像比對(duì)后找到缺陷,切換20倍鏡頭再次比對(duì),識(shí)別缺陷準(zhǔn)確位置在最小循環(huán)單元的左側(cè),并位于激光框1中,接下來執(zhí)行預(yù)設(shè)好的Laser1框的激光動(dòng)作(包括使用的激光能量和激光框面積)。執(zhí)行完1次之后再次進(jìn)行圖像比對(duì),比對(duì)結(jié)果一致認(rèn)為修補(bǔ)完成,切換2倍鏡移動(dòng)至下一缺陷點(diǎn),如果比對(duì)結(jié)果不一致,認(rèn)為激光修復(fù)一次不能將缺陷完全去除,再次進(jìn)行激光動(dòng)作,兩次之后仍然有缺陷,認(rèn)為出現(xiàn)異常,設(shè)備報(bào)警提示人員確認(rèn)(一般情況下,兩次激光能完成修補(bǔ))。

      BM工藝后自動(dòng)修補(bǔ)流程如圖8所示。

      圖8 BM自動(dòng)修補(bǔ)流程圖Fig.8 Auto repair process flow of BM repair

      3.2 RGB后微觀缺陷自動(dòng)修補(bǔ)實(shí)現(xiàn)

      RGB工藝之后,需要修補(bǔ)的缺陷分為黑缺陷(RB)和白缺陷(TW)兩種,修補(bǔ)設(shè)備根據(jù)從AOI提取的缺陷信息RB或TW,選擇不同的作業(yè)。

      同BM工藝后的修補(bǔ)一樣,RGB工藝后的修補(bǔ)也需要設(shè)置最小循環(huán)單元,以便設(shè)備進(jìn)行缺陷比對(duì)查找。此外,RGB像素的填色作業(yè)涉及不同顏色的墨盒選擇,也是通過圖像比對(duì)實(shí)現(xiàn)的。

      圖9 RGB工藝后自動(dòng)修補(bǔ)設(shè)置Fig.9 Setting of auto repair after RGB process

      如圖9所示,對(duì)于該產(chǎn)品,設(shè)置2組RGB像素為最小循環(huán)單元,并在最小循環(huán)單元內(nèi)設(shè)置6個(gè)激光框。在一個(gè)最小循環(huán)內(nèi),設(shè)置R、G、B像素開口區(qū)填色作業(yè)時(shí)選擇對(duì)應(yīng)的紅、綠、藍(lán)色的墨盒,其余區(qū)域選擇黑色墨盒。圖9中位于R像素內(nèi)部的黑缺陷,設(shè)備經(jīng)過2倍鏡圖像比對(duì)后找到缺陷,首先進(jìn)行測(cè)高,如果高度在規(guī)格內(nèi)(各產(chǎn)品規(guī)格不同),判定OK,進(jìn)行下一個(gè)缺陷點(diǎn)修補(bǔ);如果高度超出規(guī)格,則進(jìn)行研磨作業(yè),研磨后再次測(cè)高,如果一次研磨后高度在規(guī)格內(nèi),判定OK,進(jìn)行下一個(gè)缺陷點(diǎn)修補(bǔ);如果一次研磨后高度超出規(guī)格,則再次進(jìn)行研磨作業(yè),研磨后再次測(cè)高,如果二次研磨后高度在規(guī)格內(nèi),判定OK,進(jìn)行下一個(gè)缺陷點(diǎn)修補(bǔ);如果二次研磨后高度仍然超出規(guī)格,則切換20倍鏡進(jìn)行激光+填色作業(yè)。切換20倍鏡頭后通過比對(duì)識(shí)別缺陷準(zhǔn)確位置在激光框2中,應(yīng)該填充紅色墨盒。接下來執(zhí)行預(yù)設(shè)好的激光和填色動(dòng)作。切換2倍鏡再次比對(duì),比對(duì)結(jié)果一致,認(rèn)為修補(bǔ)完成,移動(dòng)至下一缺陷點(diǎn),否則設(shè)備報(bào)警,提示人員確認(rèn)。RGB工藝后自動(dòng)修補(bǔ)流程如圖10所示。

      圖10 RGB自動(dòng)修補(bǔ)流程圖Fig.10 Auto repair process flow of RGB repair

      3.3 PS后微觀缺陷自動(dòng)修補(bǔ)實(shí)現(xiàn)

      BM工藝和RGB工藝產(chǎn)生的微觀缺陷已經(jīng)在前工藝完成了修補(bǔ),至PS工藝后,可進(jìn)行修補(bǔ)的缺陷為OC膜上的黑缺陷,其修補(bǔ)邏輯和方法與RGB工藝產(chǎn)生的黑缺陷類此,在此不再贅述。

      將上述修補(bǔ)邏輯分別寫入修補(bǔ)設(shè)備軟件,可實(shí)現(xiàn)各工序的自動(dòng)修補(bǔ)。以PS 修補(bǔ)良率進(jìn)行統(tǒng)計(jì),自動(dòng)化修補(bǔ)成功率為99.8%,與人工修補(bǔ)成功率99.9%相當(dāng),滿足生產(chǎn)需求(>99.5%)。8.5代線CF工廠修補(bǔ)設(shè)備共10組,自動(dòng)修補(bǔ)導(dǎo)入前后機(jī)組和人員配置如表1所示,自動(dòng)導(dǎo)入完成后,修補(bǔ)人員從20人降低為7人,主要進(jìn)行設(shè)備報(bào)警處理和異常情況對(duì)應(yīng),節(jié)省人力13人。

      表1 修補(bǔ)機(jī)組和人員配置Tab.1 Arrangement of repair equipment and personnel

      4 CF微觀缺陷自動(dòng)化修補(bǔ)效率的提升

      圖11 各工序修補(bǔ)時(shí)間/卡夾Fig.11 Repair time per cassette of each repair process

      雖然所有的基板都存在大小不一的缺陷,但并不是所有的缺陷都需要修補(bǔ)。圖11統(tǒng)計(jì)了隨機(jī)10個(gè)卡夾(一個(gè)卡夾40 sh基板)自動(dòng)修補(bǔ)所需要的時(shí)間,BM、RGB、PS 平均修補(bǔ)一個(gè)卡夾需要時(shí)間分別為29,42,53 min,其中存在著部分時(shí)間浪費(fèi)。例如有些缺陷由于其面積非常小,經(jīng)過實(shí)際驗(yàn)證不會(huì)對(duì)顯示造成任何影響,是可以不修補(bǔ)的,也就是所謂的缺陷容忍度。而還有一些缺陷則是過大,無法進(jìn)行修補(bǔ),可以直接進(jìn)行NG(Not Good)判定,也是無須進(jìn)行修補(bǔ)的。這些無須經(jīng)過修補(bǔ)的基板也進(jìn)入修補(bǔ)設(shè)備勢(shì)必造成產(chǎn)能浪費(fèi),通過給AOI設(shè)備添加基板判定功能,可以解決這個(gè)問題。

      AOI每檢測(cè)完一張基板后,得到基板所有的缺陷信息。對(duì)這些信息進(jìn)行篩選判定,沒有任何一個(gè)缺陷達(dá)到修補(bǔ)基準(zhǔn)的,AOI給該基板判定Code“Good”;缺陷過多過大無法修補(bǔ)的,AOI給該基板判定Code“Rework”;而需要進(jìn)行修補(bǔ)的給予其他Code,并對(duì)不同Code的基板單獨(dú)收集,進(jìn)入到不同的下游,具體運(yùn)營如圖12~14所示。

      圖12 BM 修補(bǔ)自動(dòng)分片示意圖Fig.12 Auto sorting of BM repair

      圖12為BM 修補(bǔ)自動(dòng)分片流程圖,BM 修補(bǔ)只進(jìn)行激光修補(bǔ),基板經(jīng)過AOI后,AOI給基板G(無須修補(bǔ))、R(無法修補(bǔ))、Q(進(jìn)行Laser修補(bǔ))3種判級(jí),進(jìn)入修補(bǔ)設(shè)備前,無缺陷基板收集在一起進(jìn)行下一工藝,R基板收集在一起進(jìn)行返工作業(yè),Q基板進(jìn)入設(shè)備進(jìn)行激光修補(bǔ)。

      圖13為RGB 修補(bǔ)自動(dòng)分片流程圖,RGB 修補(bǔ)進(jìn)行研磨和填色修補(bǔ),基板經(jīng)過AOI后,AOI給基板G(無須修補(bǔ))、R(無法修補(bǔ))、Q(進(jìn)行研磨修補(bǔ))和C(進(jìn)行填色修補(bǔ))4種判級(jí)。

      圖14為PS 修補(bǔ)自動(dòng)分片流程圖,同BM類似,分為G、R、Q 3種,Q進(jìn)行研磨作業(yè)。

      圖14 PS 修補(bǔ)自動(dòng)分片示意圖Fig.14 Auto sorting of RGB repair

      圖15 優(yōu)化前后各工序修補(bǔ)時(shí)間/卡夾Fig.15 Repair time per cassette of each repair process before and after optimization

      經(jīng)過AOI自動(dòng)判級(jí)后,BM 修補(bǔ)、RGB 修補(bǔ)和PS 修補(bǔ)分別有70%、35%和14%的玻璃直通,這部分玻璃不經(jīng)過修補(bǔ)設(shè)備,節(jié)省了修補(bǔ)時(shí)間,圖15為優(yōu)化前后各工序修補(bǔ)時(shí)間,優(yōu)化后BM、RGB、PS 平均修補(bǔ)一個(gè)卡夾需要時(shí)間分別為22,37,50 min,分別減少了7,5,3 min,減少量分別為24%、12%和6%。

      5 結(jié) 論

      本文根據(jù)制造業(yè)智能化、自動(dòng)化的發(fā)展趨勢(shì),提出了CF修補(bǔ)工序自動(dòng)化,介紹了微觀修補(bǔ)方式,檢討了自動(dòng)修補(bǔ)邏輯和可行性,并在8.5代線CF工廠中實(shí)現(xiàn)了設(shè)備自動(dòng)修補(bǔ),將修補(bǔ)工序作業(yè)員由20人降低為7人,節(jié)省人力13人,節(jié)省量65%。此外,通過賦予檢測(cè)設(shè)備給基板判級(jí)功能,使不需要修補(bǔ)的基板不進(jìn)入修補(bǔ)設(shè)備,進(jìn)一步優(yōu)化基板流向和設(shè)備負(fù)荷,優(yōu)化后,BM、RGB、PS 修補(bǔ)分別有70%、35%和14%的玻璃直通,平均修補(bǔ)一個(gè)卡夾的時(shí)間分別減少了24%、12%和6%。經(jīng)與其他世代線CF工廠對(duì)標(biāo),本文所闡述的邏輯可平行推廣至其他生產(chǎn)線,節(jié)省人力成本,提高自動(dòng)化程度。

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