朱榮華
摘 ? 要:為了簡化立體匹配的復雜度,進一步優(yōu)化雙目立體系統(tǒng)標定算法,文章基于雙目立體視覺視差原理,通過大量實驗對標定立體系統(tǒng)算法以及相關參數(shù)優(yōu)化進行了研究,分析了影響算法各個參數(shù)的設置以及高精度標定板的獲取,總結出了基于HALCON雙目標定的優(yōu)化方法,計算誤差可達到0.15個像素,實驗證明該方法提高了標定精度和計算效率,可滿足各種測量系統(tǒng)的需要。
關鍵詞:HALCON;視差;亞像素級處理;系統(tǒng)標定
近年來,雙目立體視覺系統(tǒng)研究一直是機器視覺的研究熱點和焦點[1]。非接觸式雙目立體視覺具有設備要求較低、連續(xù)性高、非接觸和無損傷等優(yōu)點[2],同時,雙目視覺系統(tǒng)會出現(xiàn)透視、旋轉等幾何失真,以及現(xiàn)實世界中物體之間相互遮擋等情況,這些因素大大增加了匹配的難度[3],而精確標定攝像機參數(shù)可大大提高測量精度,在一定程度上減小匹配的復雜度。HALCON是德國MVtec公司開發(fā)的一套完善的視覺算法包[4],包含三維重建、多目立體視覺和深度學習等高級算法,此軟件應用領域廣泛,需要圖像處理的地方均可以使用HALCON。本文基于HALCON圖像處理平臺,求解左右攝像機參數(shù),提出了基于HALCON雙目標定的優(yōu)化方法,該方法操作簡單、實用性強。
1 ? ?基于HALCON標定實驗
1.1 ?采集標定板圖像
本實驗選用HALCON提供的標準2D精密靶標,靶標大小為(30×30)mm,陣列為7×7的黑色圓點陳列型平面標定板。確定合適的標定板規(guī)格后,通過函數(shù)gen_caltab()生成相標定板描述文件,它描述了標定板的行數(shù)、列數(shù)、方向標記等信息。然后,調用函數(shù)read_image(),循環(huán)讀取15幅標定板圖像。
1.2 ?讀取標定參數(shù)
獲取標定板圖像后,通過函數(shù)find_caltab(),該函數(shù)經過平滑圖像和閾值分割處理后,可以找到標定板位置、分割出標定板區(qū)域。需要注意的是,該算子的參數(shù)設置關系著標定板能否準確提取,影響著標志圓點的精確提取,經循環(huán)處理后嚴重影響整個雙目系統(tǒng)的標定精度。實驗合理設置的參數(shù)為SizeGauss=3,MarkThresh=70,MinDiamMarks=5,可直觀驗證設置的參數(shù)能否準確分割出標定板區(qū)域。為了確定每個標定板區(qū)域中標志圓點的坐標,選用函數(shù)find_marks_and_pose()。首先,通過亞像素閾值分割算法,將標定板內部與背景分離;其次,利用Canny亞像素邊緣提取和圓心確定方法,確定每個標定板區(qū)域中49個圓形標志點的圖像坐標以及左右攝像機的外部參數(shù)初始值。
1.3 ?執(zhí)行標定
通過調用函數(shù)binocular_calibration()完成雙目系統(tǒng)標定,即確定兩攝像機的內外參數(shù)以及兩攝像機的位置關系。實驗采集15組不同姿態(tài)下的標定板圖像,通過對左右拍攝的15幅圖像循環(huán)處理,在提取特征時綜合15幅圖像,左右攝像機各計算出725(49×15)個二維坐標值,計算的坐標精度為亞像素級,同時,確定出左右攝像機與15幅標定板的位置關系,進一步將這些數(shù)據(jù)保存。
2 ? ?結果分析
根據(jù)上述的攝像機標定實驗,獲得雙目系統(tǒng)標定前、后兩攝像的參數(shù),如表1所示。
由表1數(shù)據(jù)可知,右圖像相對于左圖像的位置僅在X軸方向上有平移,不存在Y,Z軸的平移與旋轉,說明校正后雙目測量系統(tǒng)是標準的外極線幾何結構[5]。攝像機標定過程的計算誤差達到0.15個像素,整體實驗精度較高,可滿足各種測量系統(tǒng)的使用要求。
3 ? ?結語
本文基于雙目視差原理,通過大量實驗對標定系統(tǒng)算法以及相關參數(shù)優(yōu)化進行了研究。通過左右攝像機采集了15組不同姿態(tài)下的標定板圖像,然后,利用HALCON軟件相關標定算子進行標定,分析了影響算法的各個參數(shù)。通過大量實驗驗證了該方法操作簡單、實用性強,明顯提高了標定精度和計算速度,簡化了立體匹配的復雜度,可廣泛應用在實際工程中。
[參考文獻]
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[3]張曉東,吳斌.小視場集成成像三維信息獲取技術研究[J].光電子·激光,2017(11),1240-1245.
[4]王桂芝.基于HALCON的雙目視覺系統(tǒng)標定[D].大連:大連理工大學,2014.
[5]張如如,葛廣英,申哲,等.基于HALCON的雙目立體視覺工件尺寸測量[J].計算機測量與控制,2018(1):59-63.