吳勝華,田海波,許天驕,馬偉東
(1.國電南京自動(dòng)化股份有限公司,南京 210032;2.南京國電南自維美德自動(dòng)化有限公司,南京 210061)
在工業(yè)過程控制領(lǐng)域,高精度溫度測(cè)量是一種很常見的測(cè)量參數(shù)。工業(yè)上常用的溫度傳感器有熱電阻和熱電偶,由于熱電偶測(cè)量的是相對(duì)溫度,需要冷端補(bǔ)償,導(dǎo)致測(cè)量結(jié)果不準(zhǔn),所以熱電偶一般適用于測(cè)量500℃以上的較高溫度。而熱電阻不存在冷端補(bǔ)償?shù)膯栴},準(zhǔn)確度高,性能穩(wěn)定,線性度好。常用的熱電阻有兩線制、三線制和四線制,三線制熱電阻由于實(shí)現(xiàn)成本較低,接線較方便,是目前應(yīng)用最多的一種方法。
與熱電偶的測(cè)溫原理不同的是,熱電阻是基于電阻的熱效應(yīng)進(jìn)行溫度測(cè)量的,即電阻體的阻值隨溫度的變化而變化的特性。因此,只要測(cè)量出感溫?zé)犭娮璧淖柚底兓涂梢詼y(cè)量出溫度。
一般的處理方式是溫度變送器通過給熱電阻施加一已知激勵(lì)電流測(cè)量其兩端電壓的方法得到電阻值(電壓/電流),再將電阻值轉(zhuǎn)換成溫度值,從而實(shí)現(xiàn)溫度測(cè)量。
目前應(yīng)用最廣泛的熱電阻材料是鉑和銅。鉑電阻精度高,適用于中性和氧化性介質(zhì),穩(wěn)定性好,具有一定的非線性,溫度越高電阻變化率越??;銅電阻在測(cè)溫范圍內(nèi)電阻值和溫度呈線性關(guān)系,溫度線數(shù)大,適用于無腐蝕介質(zhì),超過150℃易被氧化,所以普遍采用銅熱電阻來測(cè)量-50℃~150℃的溫度。國內(nèi)最常用的熱電阻材料有:R0=10Ω、R0=100Ω和R0=1000Ω等,它們的分度號(hào)分別為Pt10、Pt100、Pt1000;銅電阻有:R0=50Ω和R0=100Ω兩種,它們的分度號(hào)為Cu50和Cu100,R0表示熱電阻材料在溫度為0℃時(shí)對(duì)應(yīng)的電阻值,其中,Pt100和Cu50的應(yīng)用最為廣泛。
金屬熱電阻的電阻值和溫度,一般可以用以下的近似關(guān)系式表示,即
式(1)中,Rt為溫度t時(shí)的阻值;R0為溫度t0(通常t0=0℃)時(shí)對(duì)應(yīng)電阻值;α為熱電阻溫度系數(shù)。
根據(jù)國標(biāo)《GB/T 36293-2018 火力發(fā)電廠分散控制系統(tǒng)技術(shù)條件》中5.6條輸入輸出模件(I/O)中5.6.1.8精確度要求:模擬量輸入信號(hào)(高電平)±0.1%;模擬量輸入信號(hào)(低電平)±0.15%;模擬量輸出信號(hào)±0.25%可知,對(duì)熱電阻溫度測(cè)量的精確度要求為±0.15%[1]。
從熱電阻的測(cè)溫原理可知,被測(cè)溫度的變化是直接通過熱電阻阻值的變化來測(cè)量的,因此,熱電阻體的引出線等各種導(dǎo)線電阻的變化會(huì)給溫度測(cè)量帶來影響。
引線的導(dǎo)體電阻計(jì)算公式為:R=ρ×L/S,其中,ρ為導(dǎo)體電阻率,L為導(dǎo)體長(zhǎng)度,S為導(dǎo)體橫截面積。銅的電阻率ρ=0.017Ω·mm2/m,表示截面積1mm2,長(zhǎng)度1m的銅絲電阻為0.017Ω。首先,在實(shí)際現(xiàn)場(chǎng)中,在被測(cè)熱電阻距離測(cè)量設(shè)備較遠(yuǎn)的情況下,必須要用較長(zhǎng)的引線將被測(cè)量傳送到測(cè)量設(shè)備信號(hào)輸入端,假設(shè)引線線徑為0.5mm2,引線長(zhǎng)度500m左右,這樣引線電阻最高可達(dá)十幾歐姆;其次,引線電阻的阻值會(huì)隨著溫度的變化而改變,且阻值與溫度變化的函數(shù)關(guān)系是非線性的,很難找到相應(yīng)的函數(shù)關(guān)系算法去消除[2]。
在通常工業(yè)應(yīng)用場(chǎng)合中,被測(cè)熱電阻阻值范圍為0Ω~1000Ω,當(dāng)熱電阻阻值越小或者引線越長(zhǎng),則引線電阻對(duì)熱電阻測(cè)量精確度影響就越大,這樣如果不消除引線電阻對(duì)熱電阻測(cè)量帶來的影響,則熱電阻溫度測(cè)量的精確度不能滿足國標(biāo)《GB/T 36293-2018 火力發(fā)電廠分散控制系統(tǒng)技術(shù)條件》中模擬量輸入信號(hào)(低電平)精確度±0.15%的要求[3]。
圖1 通用單通道AD芯片消除引線電阻實(shí)現(xiàn)原理圖Fig.1 General single-channel AD chip elimination lead resistance implementation schematic
在各大分散控制系統(tǒng)(DCS)設(shè)計(jì)中,RTD(Resistance Temperature Detector)模件是最基本的IO模件之一,各個(gè)廠家針對(duì)引線電阻對(duì)RTD測(cè)量精確度帶來的影響都有充分地認(rèn)識(shí),都有特殊的設(shè)計(jì)來消除此影響。下面就兩種主流的實(shí)現(xiàn)方案進(jìn)行詳細(xì)的分析。
方法一
本方法使用通用的單通道AD轉(zhuǎn)換芯片即可消除引線電阻對(duì)RTD測(cè)量精確度的影響,具體實(shí)現(xiàn)電路如圖1所示。
圖1中,r為引線線阻,范圍在0Ω~20Ω范圍內(nèi),其阻值和1M相比,可忽略不計(jì);R為熱電阻阻值,其阻值隨著溫度變化而變化,范圍為0Ω~1000Ω。
根據(jù)深度負(fù)反饋中運(yùn)算放大器兩個(gè)輸入端的電流通常可視為零,即“虛斷”的特性可知
根據(jù)深度負(fù)反饋中運(yùn)算放大器兩個(gè)輸入端之間的電壓通常非常接近于零[3]。即“虛短”的特性可知:Ua = Ub
在電路設(shè)計(jì)時(shí),選擇Ra= Rc
同理根據(jù)“虛斷”的特性可知
計(jì)算可得,運(yùn)算放大器第一級(jí)輸出電壓U0 = - R×I,此時(shí)運(yùn)算放大器輸出電壓與熱電阻阻值為線性關(guān)系,并且已與引線線阻r無關(guān),即消除了引線電阻對(duì)熱電阻測(cè)量帶來的影響。
同理,可計(jì)算出運(yùn)算放大器第二級(jí)輸出電壓U1=R×I×Rf/Rd,U1接入AD轉(zhuǎn)換芯片信號(hào)輸入管腳。在實(shí)際設(shè)計(jì)中,需要根據(jù)AD轉(zhuǎn)換芯片的基準(zhǔn)電壓來選擇Rf和Rd的電阻值,保證在熱電阻阻值(R)最大時(shí)U1的電壓范圍不超過AD轉(zhuǎn)換芯片基準(zhǔn)電壓。
此方法通用性較強(qiáng),可配合任意通用單通道AD芯片即可實(shí)現(xiàn)對(duì)RTD的精確測(cè)量。
圖2 專用芯片消除引線電阻實(shí)現(xiàn)原理圖Fig.2 Special chip elimination lead resistance implementation schematic
方法二
隨著電子技術(shù)的發(fā)展,ADI公司推出了適用于熱電偶測(cè)量、RTD測(cè)量以及熱敏電阻測(cè)量的專用芯片。
AD7792為適合高精度測(cè)量應(yīng)用的低功耗、低噪聲、完整模擬前端、內(nèi)置一個(gè)低噪聲,帶有3個(gè)差分模擬輸入的16/24位Σ-Δ型ADC。本方法將結(jié)合專用芯片AD7792的具體電路設(shè)計(jì)來分析如何消除引線電阻對(duì)熱電阻測(cè)量精確度的影響。具體實(shí)現(xiàn)電路如圖2所示。
圖2中,r為線阻,范圍在0Ω~20Ω范圍內(nèi),R為熱電阻阻值,范圍為0Ω~1000Ω。
AD采樣第一通道輸入電壓:Uai1= (R+r)×I
AD采樣第二通道輸入電壓:Uai2= (R+2r) ×I
在軟件設(shè)計(jì)時(shí),需要同時(shí)啟動(dòng)AD芯片的兩個(gè)輸入通道進(jìn)行采樣并得到采樣數(shù)據(jù),然后采用如下計(jì)算公式:2Uai1- Uai2=2(R+r) ×I-(R+2r) ×I = R×I進(jìn)行計(jì)算,由此公式可知其計(jì)算結(jié)果與熱電阻阻值為線性關(guān)系,并與引線電阻r無關(guān),此方法同樣也消除了引線電阻對(duì)熱電阻測(cè)量精確度的影響。
此方法電路設(shè)計(jì)簡(jiǎn)單,但是必須要配合專用芯片才能實(shí)現(xiàn)。
本文對(duì)熱電阻測(cè)溫原理、引線電阻對(duì)熱電阻測(cè)量精確度的影響進(jìn)行了詳細(xì)的論述,并就如何消除引線電阻對(duì)熱電阻測(cè)量精確度帶來的影響給出了兩種解決方案。針對(duì)兩種方案分別從電路設(shè)計(jì)、計(jì)算方法以及優(yōu)缺點(diǎn)等方面進(jìn)行了詳細(xì)分析。上述兩種實(shí)現(xiàn)方法在DCS系統(tǒng)設(shè)計(jì)中均已得到廣泛的使用,效果顯著。