近日,中國科學(xué)技術(shù)大學(xué)的研究團隊在實現(xiàn)兩個半導(dǎo)體量子比特與微波諧振腔強耦合的基礎(chǔ)上,開發(fā)出新型譜學(xué)方法并系統(tǒng)表征了兩比特間的耦合強度演化。研究人員制備了千歐姆量級的高阻抗SQUID(超導(dǎo)量子干涉器)陣列諧振腔,大幅提高了半導(dǎo)體量子比特與諧振腔的耦合強度,實現(xiàn)了兩個非近鄰量子比特間的強耦合。
在此基礎(chǔ)上,課題組進一步發(fā)展了新型譜表征方法。與傳統(tǒng)表征方法不同,研究人員通過改變兩個量子比特的工作頻率得到兩比特相關(guān)演化譜,發(fā)現(xiàn)這一演化譜隨比特最小工作頻率呈現(xiàn)出截然不同的幾何圖案,并系統(tǒng)分析了圖案隨體系特征參數(shù)的演化規(guī)律。該方法從一個新的角度(參數(shù)空間)對雜化系統(tǒng)進行表征,提供了一種在多比特情況下也適用的新型譜學(xué)表征方法,有效地提高了表征多比特雜化系統(tǒng)、調(diào)制比特參數(shù)的效率,為研究以光子為耦合媒介的多比特系統(tǒng)的相互作用提供了新的研究思路。