張 軍 王英英 董 會
(中國工程物理研究院機械制造工藝研究所,四川綿陽621900)
研磨機主要用于KDP晶體化學(xué)機械拋光(CMP)的實驗研究,CMP技術(shù)由于化學(xué)作用和機械作用同時參與,且拋光過程化學(xué)反應(yīng)復(fù)雜,難以實現(xiàn)可控,涉及的參數(shù)較為復(fù)雜,因此,研磨機的穩(wěn)定驅(qū)動控制對于有效實現(xiàn)KDP晶體化學(xué)機械拋光具有關(guān)鍵性作用。
為此,根據(jù)研磨機實驗過程的要求和現(xiàn)場情況,結(jié)合市場調(diào)研,通過設(shè)計加裝用于主動控制工件轉(zhuǎn)速的旋轉(zhuǎn)搖臂軸以實現(xiàn)工件轉(zhuǎn)速可調(diào),從而減少由于儀器本身所產(chǎn)生的不可控因素。通過改造加裝了搖臂軸控制系統(tǒng),在保證主轉(zhuǎn)盤公轉(zhuǎn)的前提下,又實現(xiàn)了研磨樣品的自轉(zhuǎn),且方向、速度均可調(diào),拋光環(huán)的速度在20~70 r/min區(qū)間段均勻可調(diào),樣品速度在20~70 r/min相應(yīng)可調(diào),速度波動率為±3 r/min。以下將從研磨機構(gòu)總體結(jié)構(gòu)設(shè)計、電氣控制系統(tǒng)設(shè)計、控制系統(tǒng)調(diào)試等幾個方面進行詳細介紹。
通過前期調(diào)研和試驗,自行設(shè)計的研磨機構(gòu)總體結(jié)構(gòu)如圖1(a)所示,拋光研磨機的運轉(zhuǎn)主要包括主轉(zhuǎn)盤公轉(zhuǎn)和研磨環(huán)即研磨樣品的自轉(zhuǎn)兩部分,主轉(zhuǎn)盤的公轉(zhuǎn)方向分為順時針公轉(zhuǎn)和逆時針公轉(zhuǎn);研磨環(huán)的運轉(zhuǎn)由步進電機帶動小齒輪運轉(zhuǎn),小齒輪作為主動輪與研磨環(huán)上半部分齒輪嚙合,帶動研磨環(huán)即研磨樣品自轉(zhuǎn),同時導(dǎo)向軸承與研磨環(huán)下半部分相切,起到了導(dǎo)向研磨的作用。研磨拋光機運轉(zhuǎn)示意圖如圖1(b)所示。自主設(shè)計的拋光研磨機搖臂軸結(jié)構(gòu)大大改善了研磨拋光機的功能,在保證主轉(zhuǎn)盤公轉(zhuǎn)的同時,又實現(xiàn)了研磨樣品的自轉(zhuǎn),且方向、速度均可調(diào),通過設(shè)置不同的公轉(zhuǎn)和自轉(zhuǎn)參數(shù),可實現(xiàn)研磨樣品拋光軌跡均勻。
圖1 研磨機構(gòu)
根據(jù)研磨機使用要求和現(xiàn)場情況,研磨環(huán)外徑95 mm,內(nèi)徑81 mm,厚29.5 mm;限位軸承外徑30 mm,內(nèi)徑10 mm,厚9 mm。兩個限位軸承之間的軸心距離為100 mm。由此可利用公式(1),計算出研磨環(huán)和限位軸承之間的軸心距離為62.5 mm。
式中:a為中心距;m為模數(shù);z1為大齒輪齒數(shù);z2為小齒輪齒數(shù)。
該機構(gòu)對力矩?zé)o特殊要求,只需尺寸滿足。通過繪圖選型,齒輪模數(shù)m=1,大齒輪公稱直徑110 mm,小齒輪公稱直徑15 mm。因齒輪使用力矩很小,大齒輪安裝方式為臺階定位,過盈配合。
根據(jù)研磨機驅(qū)動特點,初步設(shè)想了兩種方案:直流調(diào)速器+直流電機和上位控制器+步進驅(qū)動+步進電機。但是考慮直流調(diào)速對模擬量要求很高,使用過程中可能會產(chǎn)生較大干擾,后一種方案受影響較小,故最終確定電氣控制方案為上位控制器+步進驅(qū)動+步進電機。詳細電氣圖如圖2所示。
圖2 電氣原理圖
將該研磨拋光機搖臂軸實驗裝置系統(tǒng)用于旋轉(zhuǎn)重力式研磨拋光機。通過該系統(tǒng)對拋光樣品的拋光速度進行調(diào)控,實驗結(jié)果如表1所示。
旋轉(zhuǎn)重力式研磨機搖臂軸智能控制系統(tǒng)操作方便,實現(xiàn)了工件自轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)速穩(wěn)定且可控的控制。通過設(shè)計加裝用于主動控制工件轉(zhuǎn)速的旋轉(zhuǎn)搖臂軸,旋轉(zhuǎn)重力式研磨機設(shè)備能力得到了大幅度提升。
該系統(tǒng)既實現(xiàn)了工件轉(zhuǎn)速可調(diào),又減少了儀器本身所產(chǎn)生的不可控因素的影響,提升了設(shè)備的能力,改善了KDP晶體化學(xué)機械拋光的效果,且提高了工作效率。
表1 改進前后轉(zhuǎn)速比較表