李紅衛(wèi),徐 林,廖 霜,譚 峰
(1.廣東交通職業(yè)技術(shù)學(xué)院海事學(xué)院,廣東 廣州 510800;2.電子科技大學(xué)自動化工程學(xué)院,四川 成都 610054)
低相噪晶體振蕩器在電子系統(tǒng)中用作高穩(wěn)定時鐘基準(zhǔn)或者低相噪?yún)⒖蓟鶞?zhǔn),在系統(tǒng)中起著“心臟”的地位[1]。為了追求性能指標(biāo),一些電子系統(tǒng)高速采樣測試系統(tǒng)、低噪聲合成頻率源、雷達(dá)系統(tǒng)以及高頻時鐘同步系統(tǒng)都要求其內(nèi)部參考源向高頻化的方向發(fā)展。比如參考源的頻率從5 MHz/10 MHz 提升到100 MHz。參考源高頻化帶來的好處是可以減少參考信號的倍頻次數(shù),降低倍頻引起的相位噪聲性能惡化,提高了信號的信噪比,從而改善系統(tǒng)的性能。
隨著電子技術(shù)的發(fā)展,在一些復(fù)雜的電子系統(tǒng)中,通常需要包括高頻和低頻同時存在的多種頻率參考信號,并且要求這些參考信號同源。尤其是要求合成頻率源能覆蓋較寬的頻率范圍,產(chǎn)生低頻段的同源信號。低頻同源信號的產(chǎn)生從技術(shù)上可以用直接數(shù)字頻率合成(DDS)、鎖相環(huán)(PLL)、下變頻等方式來實現(xiàn)。但是,以上幾種方式會帶來其他問題,比如DDS 采用全數(shù)字結(jié)構(gòu),會引入雜散,其主要來源分別是DDS 相位累加器相位舍位誤差雜散;幅度量化誤差(由存儲器有限字長引起)雜散和DAC 非理想特性造成的雜散[2-6]。PLL 最終的相噪是由參考源的相噪和環(huán)路內(nèi)部的壓控振蕩器(VCO)相噪在環(huán)路共同作用下的結(jié)果,但是兩者的作用區(qū)域不同,參考源主要決定了環(huán)路濾波器以內(nèi)的相位噪聲。VCO 則不同,VCO 主要決定了環(huán)路帶寬以外的相位噪聲,而且交疊處的相位噪聲會表現(xiàn)出一個過渡性的“臺階式”特性[7-10]。另外,鎖相環(huán)路中的鑒相器泄露也會引入雜散信號。整體來講,用PLL 方式產(chǎn)生低頻信號時,其相位噪聲性能表現(xiàn)一般。下變頻方式需要用到乘法器或者混頻器[2]。在產(chǎn)生低頻段頻率信號時會引入組合頻率,在其載波頻率附近產(chǎn)生雜散信號,從而影響頻譜純度和相位噪聲。
另外一種獲得低頻信號的方式是分頻。從技術(shù)實現(xiàn)角度來講,分頻的方式有直接模擬式分頻、數(shù)字式分頻和基于PLL 的分頻[12]。直接基于模擬方式實現(xiàn)的分頻器電路鮮有報導(dǎo),Driscoll 給出了一種基于變?nèi)荻O管結(jié)構(gòu)的參量二分頻器電路[11],將40 MHz 的信號分頻到20 MHz,這種電路對信號的噪底惡化比較嚴(yán)重。數(shù)字式分頻往往受限于器件的噪底,比如基于數(shù)字邏輯器件,D 觸發(fā)器構(gòu)成的二分頻電路,其噪底只有-160 dBc 左右[13-14]。因此,為了解決上述問題,本文提出一種基于再生模擬分頻技術(shù)的低相噪低頻信號產(chǎn)生方法。
晶體振蕩器可以看成是一個帶有高Q(Q為品質(zhì)因數(shù),是衡量電路能量存儲能力的重要參數(shù)。)諧振回路的正反饋放大電路系統(tǒng),如圖1 所示,業(yè)界稱之為Leeson 模型[15-16]。對于晶體振蕩器,其高Q諧振回路是包含晶體諧振在內(nèi)的有電阻電容電感等構(gòu)成的諧振網(wǎng)絡(luò)。放大器主要考慮其低噪聲特性,主要是由低噪聲三極管、低噪聲場效應(yīng)管組成的低噪聲反相器電路構(gòu)成。當(dāng)然,從原理上也可以用數(shù)字式反相器。
圖1 反饋型振蕩器噪聲的Leeson 模型
根據(jù)Leeson 模型,可使用式(1)表示振蕩器輸出端的單邊帶相位噪聲譜密度:
式中:fc是拐角頻率;fm是偏離載波頻率;F是噪聲系數(shù);k是波爾茲曼常數(shù);T是絕對溫度;Pi是信號功率;QL是諧振回路的有載品質(zhì)因數(shù)。由式(1)可知,振蕩器的相位噪聲與F、fc、QL值的大小具有直接關(guān)系。同時也從理論上給出了晶體振蕩器低相噪設(shè)計的方向性指導(dǎo),即減小F、fc,提高諧振回路QL值。
當(dāng)晶體振蕩器的輸出信號經(jīng)過理想分頻器N分頻以后,其相位噪聲會發(fā)生一定程度的變化,其變化程度由相關(guān)理論可知,N分頻以后相位噪聲會降低N2倍[17-18]。經(jīng)過理想分頻器N分頻后的相位噪聲功率譜密度可以用對數(shù)形式表示為:
式中:L(fm)是振蕩器的相位噪聲;N是分頻次數(shù)。式(2)表明,經(jīng)分頻器N分頻后,晶體振蕩器的相位噪聲會得到改善,其改善的理論值為20lgN。但是,基于二極管參量分頻和數(shù)字式的分頻方式,相位噪聲的噪底都達(dá)不到-170 dBc 以下。Driscoll 報道的再生二分頻,將160 MHz 信號變?yōu)?0 MHz,相位噪聲的噪底達(dá)到了-170 dBc,表現(xiàn)出比傳統(tǒng)數(shù)字分頻方式更好的相位噪聲特性[11,26-27]。
再生分頻的基本結(jié)構(gòu)如圖2 所示,主要由6 部分構(gòu)成,包括混頻器、濾波器、移相器、倍頻器、放大器以及功分器等[19-20]。
圖2 再生分頻基本模型
其中,ψ是中頻信號IF 的相位,θ是混頻器本振信號輸入端的相位,η是分頻后功分器輸出端信號的相位,ξ是倍頻器引起的滯后相位,χ是濾波器和放大器引入的滯后相位,γ是再生分頻環(huán)路其他部分引入的總的滯后相位。
在圖2 所示電路中,混頻器輸出經(jīng)過濾波器進(jìn)行頻率選擇后,可以表示為fo=fRF-fLO。由于放大器只是對信號的功率進(jìn)行放大,并不會引入新的頻率。因此,信號經(jīng)過功分器后,一路作為輸出,一路經(jīng)過移相器進(jìn)行相位調(diào)節(jié)后作為返回信號輸入到倍頻器。顯然,倍頻后得到的信號對混頻器而言是其本振信號fLO=Nfo,該本振信號LO 與射頻輸入RF 共同再生了IF,因此,總的輸出頻率可表示為:
不妨假設(shè)RF、LO 和IF 分別表示如下[21]:
其中Ao、ALO和ARF分別為混頻器的射頻輸入信號、本振信號以及輸出信號的幅度。顯然,這三個信號在幅度和頻率上是有聯(lián)系的。另外,由于混頻器是非線性的,在進(jìn)行混頻時也會產(chǎn)生多個輸入信號的組合頻率,這對信號xo(t)的產(chǎn)生是有利的。另外,幅值A(chǔ)o和相位ψ是θ的函數(shù),也會影響分頻器的穩(wěn)定性和噪聲[22-23]。
再生分頻器的相位噪聲模型如圖2 所示。放大器輸入端的相位噪聲可以看成是電路中濾波器引入的滯后相位χ的一個微小的擾動dχ。同理,倍頻器引入的滯后相位ξ的微小擾動為dξ。這兩個擾動是相互獨立的,對輸出端信號的相位η都有影響。分頻器環(huán)路的相位滿足[19-20]:
用式(6)表示輸出相位η的功率譜密度:
式中,Sη(f)、Sχ(f)和Sξ(f)分別定義為η、χ和ξ的功率譜密度,G=dψ/dθ為混頻器本振信號和中頻信號的相位差(理想混頻器為-1),N是分頻次數(shù)。Sη(f)則表示分頻器的相位噪聲功率譜。
為簡化表示,本文假設(shè)再生分頻器中的混頻是理想混頻,則式(6)可表示為:
式(6)和式(7)中,盡管沒有直接體現(xiàn)出移相器的相位γ與分頻器的最終輸出相位噪聲有相關(guān)性,但是并不意味著移相器并不重要。事實上,移相器的相位γ與參數(shù)G有關(guān)。通過調(diào)整γ,不但可以獲得最大輸出幅度,而且可獲得最大工作帶寬,從而實現(xiàn)低噪聲分頻的目的。而在實現(xiàn)低噪聲分頻的同時,分頻器的啟動和穩(wěn)定性能也能達(dá)到最佳。
本文采用的100 MHz 低相噪晶體振蕩器的電路原理框圖如圖3 所示。其中,晶體諧振器采用100 MHz,SC 切,5 次泛音的高Q諧振器。
圖3 100 MHz 低噪聲電路原理框圖
圖3 表明,晶體諧振器并沒有直接參與振蕩。事實上,該主振電路被調(diào)諧到晶體諧振器的諧振頻率后,晶體諧振器起到兩個作用,其不但作為電路諧振元件,同時還起著窄帶濾波器的作用。如此不但保證了振蕩諧振電路的高Q特性,而且又因為高Q窄帶濾波具有良好頻率選擇性,從而呈現(xiàn)更好的頻譜純度,達(dá)到提升電路有載Q值的效果,降低相位噪聲。
本文設(shè)計的低相噪再生二分頻電路如圖4 所示。其中,混頻器采用ADE_R1LH+,環(huán)路放大器選擇HMC476SC70,功分器采用LRPS-2-1+。濾波器采用LC 器件搭建,在設(shè)計時,對于二分頻器,該濾波器可設(shè)計為帶通濾波器,也可以設(shè)計成低通濾波器。設(shè)計為帶通濾波器或低通濾波器的作用益處不同。若設(shè)計為低通型濾波器,可以使二分頻器的輸入頻率具有更廣范圍;若設(shè)計為帶通濾波器,則可以使環(huán)路的工作更加穩(wěn)定。在設(shè)計電路時需注意,濾波器通帶的截止頻率一定要小于分頻器輸入頻率,從而達(dá)到盡量抑制不需要的頻譜成分的目的,此措施有利于環(huán)路穩(wěn)定[23-24]。設(shè)計電路后經(jīng)過大量調(diào)試發(fā)現(xiàn),若要使分頻器輸出的功率和相噪達(dá)到較好性能,更接近理想狀態(tài),可通過調(diào)整環(huán)路中固定的相位實現(xiàn)。本文所設(shè)計電路通過改變RC 移相網(wǎng)絡(luò)和微調(diào)環(huán)路濾波器實現(xiàn)。
圖4 低相噪再生二分頻電路原理圖
對圖3 中100 MHz 低噪聲電路原理框圖所對應(yīng)的實際振蕩器電路,采用ADS(Advanced Design System)的EDA 工具對該電路進(jìn)行仿真分析,其仿真結(jié)果如圖5 所示。
圖5 100 MHz 低噪聲電路相位噪聲仿真結(jié)果
由仿真結(jié)果可知,該電路的相位噪聲特性表現(xiàn)優(yōu)秀,仿真數(shù)據(jù)為:-143 dBc/Hz@ 100 Hz,-171 dBc/Hz@1 kHz,-183 dBc/Hz@10 kHz,-184 dBc/Hz@ >10 kHz。事實上,由于仿真軟件采用的器件模型是理想的,因此仿真的相位噪聲結(jié)果偏好。
同樣,采用ADS 對低噪聲再生分頻電路仿真分析得到的結(jié)果如圖6 所示。其中虛線(Ref_PN)表示再生分頻器輸入100 MHz 信號的相位噪聲,實線(Div_PN)表示100 MHz 信號經(jīng)過再生分頻器二分頻后得到的50 MHz 信號的相位噪聲。從仿真結(jié)果來看,經(jīng)過分頻器后50 MHz 信號的相位噪聲有6 dB的優(yōu)化。
圖6 100 MHz 信號經(jīng)過再生二分頻后的仿真結(jié)果
為了進(jìn)一步驗證,我們設(shè)計制作了100 MHz 低相噪恒溫晶體振蕩器和50 MHz 再生二分頻器電路。晶體振蕩器的輸出功率為10 dBm,采用的測試儀器為是德科技的信號分析儀E5052B,其相位噪聲實測結(jié)果如圖7(a)所示。100 MHz 晶體振蕩器的輸出信號在頻偏10 Hz、100 Hz 和1 kHz 處的相噪分別為-104 dBc/Hz、-136 dBc/Hz 和-161 dBc/Hz。將100 MHz 低相噪恒溫晶體振蕩器的輸出端接到50 MHz 再生二分頻器電路,分頻器電路的輸出端接到信號分析儀E5052B,其測試結(jié)果如圖7(b)所示。測試結(jié)果表明,分頻后得到的50 MHz 信號在頻偏10 Hz、100 Hz 和1 kHz 處的相噪分別為-109 dBc/Hz、-142 dBc/Hz 和-162 dBc/Hz。在幾百Hz 內(nèi),兩條曲線相差約6 dB,這和二分頻相噪惡化的理論值一致。在頻偏幾百kHz 及其以外,出現(xiàn)了50 MHz 的噪底與100 MHz 信號的噪底相當(dāng)?shù)默F(xiàn)象。這是由于分頻器中的混頻器和放大器均為非理想器件,限制了信號的噪底[25]。
圖7 100 MHz 低相噪恒溫晶體振蕩器和50 MHz 再生二分頻器電路實測結(jié)果
針對幾種常用低頻同源信號的產(chǎn)生方式,比如參量二極管分頻方式、鎖相環(huán)分頻方式、數(shù)字分頻方式以及下變頻方式,存在噪聲大的缺點,驗證了基于低噪聲再生分頻技術(shù)的可行性。本文設(shè)計的基于100 MHz 低相噪晶體振蕩器經(jīng)過再生二分頻后得到的50 MHz 信號,其相位噪聲底部達(dá)到了-175 dBc/Hz@100 kHz。該技術(shù)可以應(yīng)用于頻率源、多路同源時鐘產(chǎn)生、多路同步時鐘信號單元等電路中,具有非常好的價值。