莫熙喆 蘇杰和 李澤 楊家豪 陳繩得
摘要:RS8680高精度測(cè)量板卡的主要功能是采集3路4~20 mA電流測(cè)量值,并將模擬量轉(zhuǎn)化為數(shù)字量返回到廠站SCADA后臺(tái)。針對(duì)從西換流站RS8680測(cè)量板卡產(chǎn)生誤差的原因進(jìn)行了分析,通過(guò)對(duì)器件進(jìn)行實(shí)驗(yàn)測(cè)試,判斷光耦合器A7800老化是引起板卡測(cè)量誤差的主要因素,更換光耦合器A7800可使通道測(cè)量功能恢復(fù)正常,若要進(jìn)一步提高測(cè)量精度可進(jìn)行程序校正,并通過(guò)仿真驗(yàn)證了所述校正方法的有效性。
關(guān)鍵詞:測(cè)量誤差;高壓直流輸電;光耦合器
0 引言
RS8680高精度測(cè)量板卡的主要功能是采集3路4~20 mA電流測(cè)量值,并將模擬量轉(zhuǎn)化為數(shù)字量返回到廠站SCADA后臺(tái),目前從西換流站全站在運(yùn)行的RS8680板卡共有206塊,總體數(shù)目較大。從2018年4月至今,從西換流站共計(jì)更換故障RS8680測(cè)量板測(cè)控板卡32板次,其數(shù)量之多、故障率之高不容忽視。
天廣、牛從工程站點(diǎn)均使用相同類(lèi)型的4~20 mA電流信號(hào)測(cè)量板測(cè)控板卡,可互為備用??紤]到該類(lèi)型測(cè)量板卡運(yùn)行年限已較長(zhǎng),并且合格的采樣精度需保持在較高的0.2%以下,工作強(qiáng)度大且常年使用,板卡不可避免地出現(xiàn)老化現(xiàn)象,存在設(shè)備損壞風(fēng)險(xiǎn)。測(cè)量板卡的運(yùn)行性能好壞直接關(guān)系到直流輸電系統(tǒng)能否安全穩(wěn)定運(yùn)行,從西換流站曾經(jīng)發(fā)生過(guò)因?yàn)橹绷鳒y(cè)量系統(tǒng)部分測(cè)點(diǎn)故障導(dǎo)致直流電壓波動(dòng)的異常事件,嚴(yán)重危害到電網(wǎng)的安全穩(wěn)定運(yùn)行[1-2]。
南方電網(wǎng)超高壓輸電公司目前檢測(cè)板卡所使用的PCS9550測(cè)試儀為RS8680測(cè)量板卡專(zhuān)用的測(cè)試平臺(tái),采用“加量對(duì)比測(cè)試”法,通過(guò)對(duì)測(cè)量板加小電流方式對(duì)比換算后的輸入采樣電流,即可對(duì)其3路通道分別進(jìn)行測(cè)試。但目前的測(cè)試平臺(tái)僅可以確定故障通道編號(hào),無(wú)法最終定位故障元件及故障原因。故障類(lèi)型主要有:(1)沒(méi)有輸出;(2)輸出值明顯偏離正常范圍;(3)輸出值仍在正常值附近,但測(cè)量精度不滿(mǎn)足要求。其中第3類(lèi)情況居多。
針對(duì)目前RS8680(4~20 mA)測(cè)量板測(cè)控板卡存在的問(wèn)題,可通過(guò)分析電路,定位引起誤差增大的元件,并通過(guò)更換元件驗(yàn)證準(zhǔn)確性。針對(duì)板卡的功能要求提出校正零點(diǎn)漂移以及修正變比的校正方法,以確保測(cè)量精度符合要求,通過(guò)仿真驗(yàn)證所述方法的有效性。
1 誤差原因
RS8680測(cè)量板卡可以分為三大部分,如圖1所示。
由故障信息可知,部分板卡僅個(gè)別通道異常,可排除電源及控制器造成的故障。經(jīng)驗(yàn)證,當(dāng)加載電壓后,發(fā)現(xiàn)板卡各部分電源電壓及控制器正常。因此,造成板卡誤差的原因縮小到模擬量采集及轉(zhuǎn)換部分,即前級(jí)電路。其簡(jiǎn)化框圖如圖2所示。
光電信號(hào)電氣隔離電路[3]主要由光電隔離芯片A7800及隔離電源NMV0505SAC構(gòu)成,信號(hào)比例縮放電路主要采用了OP284芯片對(duì)信號(hào)進(jìn)行縮放處理。經(jīng)過(guò)實(shí)驗(yàn)測(cè)試,最終確定光耦合器A7800是引起測(cè)量通道故障或存在測(cè)量誤差的原因。
2 實(shí)驗(yàn)測(cè)試
根據(jù)A7800官方提供的參數(shù),其線性工作區(qū)在輸入-0.2~0.2 V。根據(jù)前級(jí)4~20 mA電流模擬量轉(zhuǎn)換為電壓模擬量可得到該電路輸出電壓范圍為0.04~0.2 V,因此該電路實(shí)際工作于芯片的線性區(qū)。
為判斷存在誤差的板卡的A7800光耦合器的性能,根據(jù)技術(shù)文件搭建芯片的附屬電路以便進(jìn)行測(cè)試,用函數(shù)信號(hào)發(fā)生器產(chǎn)生鋸齒波作為輸入信號(hào),接入A7800的2腳及3腳,并對(duì)芯片輸入側(cè)和輸出側(cè)的電源進(jìn)行獨(dú)立供電隔離。該芯片的6腳及7腳則接入示波器探頭,采用示波器直接對(duì)信號(hào)進(jìn)行觀察測(cè)量。測(cè)試電路如圖3所示。
A7800出廠時(shí)要求的增益允許誤差為±3%,即標(biāo)準(zhǔn)增益倍數(shù)是8,但實(shí)際允許在7.76~8.24變化。對(duì)存在誤差的板卡上的A7800以及全新的A7800進(jìn)行對(duì)比測(cè)試,結(jié)果如表1所示。
通過(guò)對(duì)A7800測(cè)試結(jié)果進(jìn)行對(duì)比分析,可以看出在板卡采樣范圍內(nèi),故障板卡上卸下的A7800輸出值明顯偏高,換算得到的變比也高于正常范圍,而全新的A7800的變比與規(guī)定的出廠誤差相比,基本在允許范圍內(nèi)。因此,可以斷定A7800由于長(zhǎng)期運(yùn)行確實(shí)出現(xiàn)了老化現(xiàn)象,使得器件的特性發(fā)生偏移,與設(shè)計(jì)性能不符。
另外,重點(diǎn)關(guān)注了原板卡上老化的A7800的輸出波形,當(dāng)輸入信號(hào)小時(shí)噪聲表現(xiàn)得尤為明顯,波形中具有大量毛刺,當(dāng)輸入信號(hào)增大時(shí)有所改善,此外部分板卡上卸下的芯片還會(huì)表現(xiàn)出輸出的異常波動(dòng),可以預(yù)見(jiàn)該芯片在板卡上工作將造成輸出信號(hào)的不穩(wěn)定,難以取得正確的采樣結(jié)果,而正常通道的A7800及全新芯片測(cè)試并未出現(xiàn)以上現(xiàn)象。通過(guò)實(shí)驗(yàn)對(duì)比分析,可以斷定由于板卡使用時(shí)間過(guò)久,A7800芯片已經(jīng)出現(xiàn)老化現(xiàn)象。
3 板卡修復(fù)與校正實(shí)例
通過(guò)更換A7800,再利用測(cè)試平臺(tái)進(jìn)行測(cè)試,發(fā)現(xiàn)故障板卡的采樣功能恢復(fù)正常,未出現(xiàn)通道明顯偏離正常的情況,但輸出值精度仍與技術(shù)要求的0.2%存在一定差距,結(jié)合芯片本身工藝參數(shù),A7800出廠要求的準(zhǔn)確度本身就與RS8680要求的技術(shù)精度0.2%存在差距,僅從器件本身難以確保精度在要求范圍內(nèi)。通過(guò)實(shí)驗(yàn)可知其線性度高,因此RS8680應(yīng)采用程序校正,實(shí)現(xiàn)高精度采樣。
以其中一塊板卡為例進(jìn)行分析,比較3個(gè)通道的采樣值絕對(duì)誤差的變化趨勢(shì)。其采樣值絕對(duì)誤差曲線如圖4所示。
由圖4可以看出,3個(gè)通道都存在固有的零點(diǎn)漂移,即當(dāng)放大電路輸入信號(hào)為零時(shí),由于種種不穩(wěn)定因素的影響,靜態(tài)工作點(diǎn)發(fā)生變化,得到非零的輸出。根據(jù)所測(cè)量的數(shù)據(jù),基于MATLAB進(jìn)行仿真分析,對(duì)3個(gè)通道分別校正零漂,即采樣值序列整體扣除掉輸入值為0時(shí)的采樣值,重新繪制特性曲線,校正后的誤差曲線以及采樣值與輸入值比值變化趨勢(shì)分別如圖5和圖6所示。
由此可見(jiàn),校正零漂之后,3個(gè)通道的采樣值絕對(duì)誤差都隨著輸入值的增大而線性增大,曲線較好地還原了芯片線性區(qū)內(nèi)的線性特性。采樣值與輸入值的比值也基本穩(wěn)定,即芯片的增益并未根據(jù)輸入的變化出現(xiàn)明顯變化,誤差百分?jǐn)?shù)也能夠基本保持在固定水平。綜上,校正零漂之后,芯片整體的線性度高,只是增益上存在偏差。分別根據(jù)通道1、通道2、通道3各自的平均實(shí)際變比0.997、1.006、0.995進(jìn)行校正,即對(duì)數(shù)字量進(jìn)行縮放,仿真結(jié)果表明,修正過(guò)后能夠在整個(gè)測(cè)量區(qū)段內(nèi)控制誤差百分?jǐn)?shù)在0.2%以?xún)?nèi)。
綜上,在更換了新的A7800芯片的基礎(chǔ)上,若結(jié)合程序修正,消除零漂以及增益誤差的影響,可確保采樣值更為準(zhǔn)確,誤差百分?jǐn)?shù)在0.2%以?xún)?nèi)。
4 結(jié)語(yǔ)
本文針對(duì)從西換流站高壓直流輸電系統(tǒng)RS8680高精度測(cè)量板卡出現(xiàn)的誤差增大以及故障問(wèn)題,通過(guò)對(duì)測(cè)量板卡產(chǎn)生誤差的原因進(jìn)行分析以及對(duì)器件進(jìn)行實(shí)驗(yàn)測(cè)試,得到光耦合器A7800老化是引起板卡誤差主因的結(jié)論,更換A7800可使通道測(cè)量功能恢復(fù)正常。此外,在A7800線性度高的基礎(chǔ)上,為消除器件固有誤差,提出通過(guò)程序校正提高精度的方法,仿真結(jié)果驗(yàn)證了所述方法的有效性。
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收稿日期:2021-03-31
作者簡(jiǎn)介:莫熙喆(1994—),男,廣東廣州人,助理工程師,研究方向:高壓直流輸電系統(tǒng)運(yùn)維技術(shù)。
通信作者:楊家豪(1990—),男,福建廈門(mén)人,講師,研究方向:電力系統(tǒng)優(yōu)化運(yùn)行。