梁詩(shī)靜,韓啟超,殷松明,梁 漢

(1.廣東工業(yè)大學(xué) 機(jī)電工程學(xué)院,廣東 廣州 510006;2.甘肅東興鋁業(yè)有限責(zé)任公司,甘肅 嘉峪關(guān) 735100;3.國(guó)家鋁電投資有限公司 青銅峽分公司,寧夏 青銅峽 751600;4.華中科技大學(xué) 電氣與電子工程學(xué)院,湖北 武漢 430074)

預(yù)焙陽(yáng)極鋁電解槽的使用壽命被認(rèn)為由焙燒啟動(dòng)階段的焙燒質(zhì)量所決定。在焙燒溫升期間,由于升溫梯度和膨脹系數(shù)的差異,極易使搗固糊形成裂縫,影響電解槽使用壽命。

目前,大多數(shù)觀點(diǎn)認(rèn)為[5-8，10],焦粒法焙燒中,由焦粒電阻變化引起的電流正反饋增大是導(dǎo)致焙燒電流不均衡的主要起因,而電流分布的不均衡導(dǎo)致溫度分布的不均衡,是陰極搗固糊燒結(jié)碳化不均勻并產(chǎn)生槽底縫隙的重要誘因。因而,及早的發(fā)現(xiàn)電流變化并作出調(diào)整是解決該問(wèn)題的核心和關(guān)鍵。但是,以目前技術(shù)能力而言,電解槽內(nèi)部的電流分布是無(wú)法獲知的,最接近的只能是陽(yáng)極電流和陰極電流的分布狀況。

由此,焙燒期間電流分布的均勻程度就成為表征焙燒質(zhì)量好壞的重要參考指標(biāo)。但實(shí)際上,國(guó)內(nèi)大多數(shù)鋁廠并不進(jìn)行電解槽陰極電流分布的測(cè)量。究其原因,一是因?yàn)榇笮皖A(yù)焙槽目前還處于安全運(yùn)行期,發(fā)生槽底破損的情況很少,二是沒(méi)有合適的測(cè)量工具。

上世紀(jì)90年代中期,國(guó)內(nèi)鋁廠所使用的電解槽大多是160 kA以下的中小型預(yù)焙槽,甚至還有自焙槽,槽齡一般只有4～5年。當(dāng)時(shí),如何延長(zhǎng)槽齡成為管理者十分關(guān)注的課題。一個(gè)共識(shí)是,槽底的破損和槽齡的終止是與陰極電流的分布密切相關(guān)的[2-3]。從新世紀(jì)開(kāi)始,我國(guó)在引進(jìn)和吸收的基礎(chǔ)上,自行開(kāi)發(fā)出350 kA、400 kA、500 kA的大型預(yù)焙槽,較快淘汰了各種中小型預(yù)焙槽和自焙槽。由于大型預(yù)焙槽的壽命相對(duì)較長(zhǎng),槽齡一般在7～8年以上,而且陰極鋼棒的結(jié)構(gòu)比小型槽更加緊湊,因而陰極電流分布的測(cè)試進(jìn)一步擱置。

近期,隨著測(cè)量工具和測(cè)量技術(shù)的改善,電解槽陰極電流和陽(yáng)極電流分布再次被引起重視。其中,陽(yáng)極電流被認(rèn)為主要與槽內(nèi)鋁液波動(dòng)有關(guān),而陰極電流則主要與炭陰極結(jié)構(gòu)有關(guān)。由于炭陰極是由許多不同電阻系數(shù)的物質(zhì)編排而成,因此陰極電流分布實(shí)質(zhì)上是由炭陰極電阻的分布所決定的。

炭陰極電阻分布并不是一開(kāi)始就固定成型的,而是要經(jīng)過(guò)焙燒期的燒結(jié)和固化過(guò)程后,才具備最終的形態(tài)和結(jié)構(gòu)。通過(guò)對(duì)焙燒期陰極電流分布的觀察,可以及時(shí)人工調(diào)節(jié)迫使電流均衡分布,使炭陰極在燒結(jié)過(guò)程中獲得相對(duì)均勻的電流值和溫度值,從而獲得較高質(zhì)量的焙燒結(jié)果。

1 陰極電流采集與測(cè)量

由于鋁電解槽的陰極鋼棒電流并不是傳統(tǒng)需要測(cè)量的參數(shù),因此,一般電解槽在陰極結(jié)構(gòu)的設(shè)計(jì)上并沒(méi)有預(yù)留測(cè)量?jī)x器的接入位置。而通過(guò)測(cè)量電流所產(chǎn)生的磁場(chǎng)大小,從而間接獲得電流數(shù)值的方法是目前通常采用的辦法。

由畢奧-薩伐爾定律可知,空間中任意一點(diǎn)P的磁感應(yīng)強(qiáng)度B為:

(1)

r——無(wú)限小電流單元與點(diǎn)P之間距離的絕對(duì)值。

因此,每一根陰極鋼棒的電流均可以在測(cè)量其周邊空間某位置的磁感應(yīng)強(qiáng)度后,按照畢奧-薩伐爾定律公式倒推而獲得。

單根導(dǎo)電體的磁場(chǎng)分布如圖1所示。在圖示情況下,畢奧-薩伐爾定律公式可以簡(jiǎn)化為:

圖1 陰極鋼棒表面周?chē)艌?chǎng)強(qiáng)度分布圖

(2)

式中:I——鋼棒電流,A;

r——為點(diǎn)P至鋼棒截面物理重心的距離,m。

因此,只要獲得了P點(diǎn)位置的磁感應(yīng)強(qiáng)度B,就能得到鋼棒電流I的值。

實(shí)際上,由于電解槽陰極鋼棒的排列十分緊密,P點(diǎn)位置的磁場(chǎng)還受到相鄰鋼棒電流所產(chǎn)生的磁場(chǎng)影響,俗稱外磁場(chǎng)或干擾磁場(chǎng),僅憑公式(2)推導(dǎo)出的電流值并不能實(shí)際反映被測(cè)鋼棒電流的大小,存在測(cè)量誤差。因此需要采取適當(dāng)?shù)钠帘未胧?屏蔽外磁場(chǎng)的干擾,使測(cè)量產(chǎn)生的誤差盡量減小,才能使測(cè)量數(shù)據(jù)達(dá)到可以使用的水平。

圖2 陰極電流數(shù)據(jù)采集

本文所采集的電流數(shù)據(jù),使用華中科技大學(xué)大電流實(shí)驗(yàn)室研發(fā)并推廣的LH-80型陰陽(yáng)極電流測(cè)量?jī)x進(jìn)行測(cè)量。該儀表能較好地屏蔽其它鋼棒電流所產(chǎn)生的外磁場(chǎng)干擾,總體測(cè)量誤差≤±10%。由于該儀表使用微小型傳感器,能伸入狹小空間直達(dá)鋼棒頭表面,因此測(cè)量速度快,完成一次全槽陰極鋼棒電流的測(cè)量只需要10～15分鐘時(shí)間,從而極大的保證了各鋼棒之間電流數(shù)據(jù)的同步性。

本次采集的數(shù)據(jù)主要包括:

(1)A鋁廠350 kA#9332電解槽焙燒啟動(dòng)期間4次陰極電流分布采集數(shù)據(jù),以及350 kA#8101電解槽焙燒啟動(dòng)期間3次陰極電流分布采集數(shù)據(jù);

(2)B鋁廠500 kA#5118電解槽焙燒啟動(dòng)期間15次陰極電流分布采集數(shù)據(jù)。

(3)A鋁廠200 kA #6109、#6112、#7102、#7110、#7128共5臺(tái)不同槽齡的電解槽陰極電流分布數(shù)據(jù);

(4)B鋁廠500 kA#5110、#5120、#5136共3臺(tái)槽齡相近的電解槽陰極電流分布數(shù)據(jù);

本文使用其中的部分?jǐn)?shù)據(jù)進(jìn)行分析,可以驗(yàn)證一些舊的理論猜想,以及提出一些新的分析理論,并由此能夠?qū)︿X電解生產(chǎn)提出較實(shí)用的量化考核標(biāo)準(zhǔn)。

2 電解槽等效電阻陣列

文獻(xiàn)[5]認(rèn)為,可用等效電阻模型來(lái)描述電解槽的內(nèi)部結(jié)構(gòu),并通過(guò)測(cè)量其電流的變化間接表征電解槽內(nèi)部的變化。

圖3所示為改進(jìn)的電解槽焙燒期等效電阻陣列。從整個(gè)宏觀回路來(lái)看,電解槽垂直方向電阻主要分為5個(gè)層次。其中:

圖3 電解槽等效電阻陣列

(1)R11、R12所在的首層電阻是陽(yáng)極電阻,包括卡具接觸電阻、鋁導(dǎo)桿、陽(yáng)極爪與炭塊接觸電阻、炭塊電阻。

(2)R21、R22所在層的電阻是焦粒層電阻。

(3)R31、R32所在層的電阻是陰極炭塊電阻。

(4)R41、R42所在層的電阻是陰極炭塊與陰極棒的接觸電阻。

(5)R51、R52所在層的電阻是陰極鋼棒與軟母線之間的焊接電阻。

當(dāng)然,如果再細(xì)分下去的話,還可以有R61、R71、R81,等等。在無(wú)限細(xì)分后,圖中等效電阻就變?yōu)闊o(wú)限小電阻單元。

在任意點(diǎn)位置,電流在這些電阻單元中的流動(dòng)方向指向低電位方向,且大小分布與電阻大小成反比例。根據(jù)對(duì)稱分量法,可以將任意方向電流看做是橫向電流和縱向電流的向量和。

一般在焙燒期間,上述5個(gè)層級(jí)的宏觀等效電阻中焦粒電阻和陰極炭塊電阻是隨溫度變化而變化較大的,且都是隨著溫度升高,電阻降低,而電流增大的。其它層級(jí)的電阻隨溫度的變化并不明顯,因而電流變化也不明顯。

這里需要指出的是,當(dāng)某一層級(jí)的電阻內(nèi)流過(guò)的電流較大時(shí),并不意味著其下一層級(jí)相應(yīng)位置的電阻內(nèi)流過(guò)的電流也同樣較大。這是因?yàn)樵跈M向電阻通道的影響下,電流存在向任意低電位方向流動(dòng)的可能,因此上、下層級(jí)電流并不絕對(duì)一一對(duì)應(yīng)。

3 焙燒期陰極電流分布

從采集的實(shí)際數(shù)據(jù)來(lái)看,在大型預(yù)焙槽的焙燒啟動(dòng)的前半階段,電流分布是相對(duì)不均勻的。由前述分析可知,這是由于電阻的不均勻分布造成的,并且是焦粒層電阻分布不均所造成的。無(wú)論什么配方組合,不同位置焦粒熔化的速度不能確保一致,因而電阻變化也不完全一樣。并且先軟化的電阻變小,形成電阻↓-電流↑-溫度↑-電阻↓的正反饋效應(yīng),極易造成局部電流集中、溫度過(guò)高的情況。此時(shí),其它層面的電阻還沒(méi)有來(lái)得及變化。若不及時(shí)干預(yù)調(diào)整,情況會(huì)向更壞的方向發(fā)展。

圖4展示了某一350 kA預(yù)焙槽在焙燒期間的陰極電流分布變化過(guò)程。在這個(gè)過(guò)程中,陰極電流分布持續(xù)向著均衡的方向變化發(fā)展。

圖4所示350 kA電解槽的通電時(shí)間為2021年3月18日10:30時(shí)。從通電后10分鐘的陰極電流情況來(lái)看,其分布是不均勻的。此時(shí)A面電流分布的標(biāo)準(zhǔn)差為0.814,B面電流分布的標(biāo)準(zhǔn)差為0.672(見(jiàn)表1),此時(shí)反映出的是焙燒準(zhǔn)備階段的電阻分布情況,其中包括焦粒厚度、焦粒顆粒、陽(yáng)極縫隙、陰極質(zhì)量等各部分的電阻分布。

圖4 350kA槽焙燒期陰極電流分布曲線

在經(jīng)過(guò)一段時(shí)間的焙燒,于11小時(shí)后重新測(cè)量陰極電流分布,A面的標(biāo)準(zhǔn)差為0.791,B面的標(biāo)準(zhǔn)差為0.740(見(jiàn)表1)。此時(shí)A面的標(biāo)準(zhǔn)差和均流系數(shù)均有所改善,而B(niǎo)面的標(biāo)準(zhǔn)差轉(zhuǎn)差、均流系數(shù)轉(zhuǎn)好。這表明B面更多點(diǎn)的電流在偏離平均值,而最偏的電流值卻在靠近平均值。這意味著B(niǎo)面焦粒層電阻的正反饋效應(yīng)正在發(fā)生,但最大或最小位置的電流所引起的溫度變化導(dǎo)致了其它層級(jí)電阻的變化,反而使電流大小朝著相反的方向變化。

表1 350 kA焙燒槽陰極電流分布參數(shù)指標(biāo)

再焙燒23小時(shí)后測(cè)得的電流分布數(shù)據(jù)顯示槽內(nèi)電阻分布狀況在持續(xù)改善。此時(shí)A面和B面的均流系數(shù)和標(biāo)準(zhǔn)差都比前次有所進(jìn)步。焙燒期最后一次的陰極電流分布測(cè)量是再經(jīng)過(guò)14小時(shí)后,也就是通電后48小時(shí),其分布如圖4中最后一條曲線所示。

該曲線中,A面出現(xiàn)了一個(gè)明顯偏大的尖峰值,B面也出現(xiàn)了兩個(gè)明顯偏大的尖峰值,這三個(gè)尖峰均出現(xiàn)在槽的中部偏左的位置。考慮到測(cè)量的過(guò)程是先測(cè)一面,再測(cè)另一面,因此基本能夠排除人為誤差的可能性,而判斷為是電阻異常導(dǎo)致的電流異常。由于此時(shí)已經(jīng)進(jìn)入了焙燒的末尾階段,因此可基本判斷為陰極內(nèi)襯電阻出現(xiàn)了異常。隨著后期鋁液和電解質(zhì)的滲入,這種異常會(huì)被慢慢掩蓋,電流也會(huì)重新恢復(fù)正常。但這種隱患會(huì)一直存在,在后續(xù)的生產(chǎn)中可以重點(diǎn)關(guān)注。

如果不計(jì)及該異常數(shù)據(jù),最后一次測(cè)得的陰極電流分布,其均流系數(shù)和標(biāo)準(zhǔn)差均達(dá)到了最好狀態(tài)。由圖4可以直觀看出,整個(gè)焙燒過(guò)程中,電解槽的陰極電流分布曲線總體變化趨勢(shì)是由曲折變?yōu)槠骄彽摹?/p>

但這種平緩均衡的過(guò)程并不總是單向發(fā)展的,而是可能出現(xiàn)平緩→曲折→平緩→曲折的反復(fù)變化過(guò)程,并且有時(shí)還會(huì)反復(fù)變化得較大,如圖5所示。

圖5 500kA槽焙燒期陰極電流分布曲線

圖5所示為一500 kA電解槽焙燒啟動(dòng)期間5個(gè)不同時(shí)間點(diǎn)的陰極電流分布圖。該槽通電時(shí)間為2021年5月23日8:50時(shí)。從圖中可以直觀的觀察到2個(gè)趨勢(shì),一是電流曲線由曲折逐漸變?yōu)槠骄?二是A面電流曲線與B面電流曲線逐漸“相互靠近”。

如果將表2中的數(shù)據(jù)利用圖形的形式表示出來(lái),則更能看清楚電流曲線的這種變化趨勢(shì)。如圖6所示。

表2 500kA焙燒槽陰極電流分布參數(shù)指標(biāo)

圖6 500kA#5118槽焙燒期均流參數(shù)曲線圖

從圖6中#5118槽焙燒期A、B面電流差值曲線可以看出,A、B面的電流差距是逐漸縮小的。只是在灌鋁前后出現(xiàn)了差值的短暫增大,然后再次迅速縮小,這是由于人工操作對(duì)電流分布產(chǎn)生的特殊影響。僅從電阻陣列的角度來(lái)看,這表明電解槽各點(diǎn)電阻在相互趨同。

同時(shí),從圖6中的電流分布均流系數(shù)和標(biāo)準(zhǔn)差還能看出,A面的均流系數(shù)和標(biāo)準(zhǔn)差的變化趨勢(shì)總是相反的,當(dāng)均流系數(shù)增加時(shí),標(biāo)準(zhǔn)差則減小。這在前臺(tái)#9332槽的B面電流分布曲線中也出現(xiàn)過(guò)。這可以理解為當(dāng)更多點(diǎn)的電流值在偏離平均值時(shí),最偏的電流值卻在靠近平均值。反之亦是如此。這反映了電解槽內(nèi)電阻的某種相互矛盾的變化規(guī)律。而與此同時(shí),B面的均流系數(shù)一直圍繞在某一數(shù)值上下徘徊,標(biāo)準(zhǔn)差卻呈現(xiàn)指數(shù)振蕩收斂的趨勢(shì)。這反映了電解槽內(nèi)電阻的另一變化規(guī)律。

綜上所述,無(wú)論是#9332槽,還是#5118槽,從其焙燒期的電流分布曲線來(lái)看,總體變化趨勢(shì)是由曲折變?yōu)槠骄彽?。盡管變化的過(guò)程各有不同,A、B面也呈現(xiàn)不同的變化方式,有的呈指數(shù)衰減,有的一直向好,但總體都是越來(lái)越均勻的。

在電解槽焙燒初期的焦粒層中,由于各位置軟化速度不一致,因此,電阻值大小分布也不一致,導(dǎo)致各點(diǎn)電流也不一致。電流較大的位置溫升也較快。在溫度最先到達(dá)1000℃的地方,上方的冰晶石和電解質(zhì)開(kāi)始熔化下滲,并受到洛倫茲力的作用產(chǎn)生橫向移動(dòng)。這使得物質(zhì)密度逐步趨向于中和,因此電阻值也逐步趨向于相同,電流在焦粒層的分布也逐步趨向于平衡。這是采用焦粒焙燒工藝的優(yōu)點(diǎn),不會(huì)使電解槽的某一局部在整個(gè)焙燒期因電流的過(guò)于集中而產(chǎn)生畸形高溫。這使得電解槽的壽命能得以延長(zhǎng)。

然而,這種自動(dòng)調(diào)整是發(fā)生在焦粒層軟化和電解質(zhì)熔化之后的,在這之前,陰極炭塊層的搗固糊已經(jīng)開(kāi)始高溫脫水,燒結(jié)碳化。如果脫水速度較快的話,在燒結(jié)完成后,陰極炭塊層的電阻分布就完成固化,并不再變動(dòng)。

因此,如果將預(yù)焙槽的焙燒過(guò)程分為前半部分和后半部分,那么前半部分電阻的變化主要在焦粒層,后半部分的電阻變化主要在陰極炭塊層。并且前半部分的焙燒質(zhì)量直接影響后半部分的焙燒質(zhì)量。圖4#9332槽的啟動(dòng)時(shí)間為2天,圖5#5118槽的啟動(dòng)時(shí)間為3天。一般取中間時(shí)間點(diǎn)作為區(qū)分前、后半段的分界點(diǎn)較好。

圖7 200kA預(yù)焙槽不同槽齡段陰極電流分布曲線

可以看出,在焙燒前半部分對(duì)電解槽的維護(hù)顯得至關(guān)重要。在此期間,如果在焦粒層和液態(tài)電解質(zhì)沒(méi)有完全融合成膠狀前出現(xiàn)急劇的電流分布不均勻時(shí),必須人為介入進(jìn)行強(qiáng)制調(diào)整。由于此時(shí)電阻、電流的正反饋效應(yīng),電流大的地方會(huì)進(jìn)一步增大,電流小的地方會(huì)進(jìn)一步減小,所以焙燒不能依靠自身的中和反應(yīng),而必須依靠強(qiáng)制措施迫使電流重新分布,才能使底部的陰極炭塊層獲得相對(duì)均勻的焙燒電流。

從圖4和圖5的顯示結(jié)果來(lái)看,雖然現(xiàn)代大型預(yù)焙槽焙燒過(guò)程的前、后半程的電流曲線分布特征區(qū)分得非常明顯,但并沒(méi)有電流分布極其不均勻的情況出現(xiàn)。這應(yīng)該得益于現(xiàn)代焙燒工藝的改進(jìn)和技術(shù)管理的規(guī)范,包括晶體質(zhì)量、鋪設(shè)工藝、監(jiān)測(cè)和管理手段的提升等等。

4 生產(chǎn)期陰極電流分布

文獻(xiàn)[2-3]均認(rèn)為,電解槽的陰極電流分布曲線形狀能夠反映槽的健康狀況?；蛘哒f(shuō),從陰極電流分布的均流系數(shù)、電流極差和電流標(biāo)準(zhǔn)差等參數(shù),可以反映電解槽的健康狀況[9]。并指出,槽齡較短的電解槽,陰極電流分布曲線也較平坦,均流系數(shù)等參數(shù)也表現(xiàn)較好;而槽齡較長(zhǎng)的電解槽,陰極電流分布曲線也較曲折,均流系數(shù)等參數(shù)則表現(xiàn)較差。

從圖3所示的等效電阻陣列的角度進(jìn)行分析,預(yù)焙槽在完成焙燒進(jìn)入正常生產(chǎn)期后,陰極炭塊層的電阻分布已經(jīng)固化,變化較少。

圖8 500kA預(yù)焙槽相近槽齡段陰極電流分布曲線

原來(lái)的焦粒層電阻雖然被氧化鋁溶液和鋁液層電阻所替代,R21、R22層電阻由焦粒電阻變?yōu)殡娊赓|(zhì)和鋁液電阻,但等效電阻陣列的形式并不發(fā)生變化,該層中各點(diǎn)位置的電阻仍然保持動(dòng)態(tài)變化。同時(shí)在R21層和R31層之間產(chǎn)生沉淀物電阻層,該電阻也會(huì)動(dòng)態(tài)變化。整個(gè)電阻陣列阻值變化反映到陰極電流分布當(dāng)中,即電流分布產(chǎn)生緩慢而平緩的變化。

如果在焙燒期間陰極內(nèi)襯的燒結(jié)和固化質(zhì)量比較好的話,那么在轉(zhuǎn)入正常生產(chǎn)后的電解槽底部將保持較長(zhǎng)時(shí)間的平穩(wěn)運(yùn)行,陰極電流的分布也將一直保持相對(duì)均勻和穩(wěn)定。電流的差異主要由電解質(zhì)溶液和鋁液的橫向位移、縱向波動(dòng)造成的動(dòng)態(tài)電阻分布差異所決定。但這些過(guò)程一般具有負(fù)反饋調(diào)節(jié)能力,基本對(duì)電解槽壽命沒(méi)有較大的影響。

由于工業(yè)化的電解過(guò)程會(huì)在電解槽中產(chǎn)生一些殘?jiān)镔|(zhì),這對(duì)電解槽會(huì)造成一定程度的磨損,從而導(dǎo)致槽底的老化。這是一個(gè)不可逆的變化過(guò)程,會(huì)在槽底的陰極電流分布中表現(xiàn)出來(lái)。如果維護(hù)打撈及時(shí),這種磨損和老化的過(guò)程是十分緩慢的。

從表3和表4的數(shù)據(jù)可以看出,通過(guò)對(duì)生產(chǎn)期電解槽進(jìn)行體檢式陰極電流分布檢測(cè),采用均流系數(shù)、標(biāo)準(zhǔn)差等參數(shù)指標(biāo)進(jìn)行量化分析,能及時(shí)發(fā)現(xiàn)電解槽底部的電阻變化。與其它參數(shù)指標(biāo)相結(jié)合,則能提早預(yù)判電解槽的狀態(tài)變化趨勢(shì)。若此時(shí)采取相應(yīng)防范措施,則可適當(dāng)延緩電解槽衰老,延長(zhǎng)電解槽使用壽命,從而降低維修成本,降低綜合能耗,并提高整體經(jīng)濟(jì)效益。

表3 200 kA不同槽齡生產(chǎn)槽陰極電流分布參數(shù)指標(biāo)

表4 500kA相近槽齡生產(chǎn)槽陰極電流分布參數(shù)指標(biāo)

5 結(jié) 語(yǔ)

大型預(yù)焙型電解槽的使用壽命可以通過(guò)精心維護(hù)和嚴(yán)格管理而獲得實(shí)質(zhì)性的提高。通過(guò)對(duì)電解槽焙燒期和生產(chǎn)期陰極電流分布的測(cè)試,可以為這一維護(hù)和管理過(guò)程提供數(shù)字化的參考依據(jù)。

電解槽的使用壽命不取決于運(yùn)行時(shí)長(zhǎng),而取決于槽底陰極電流均勻分布的程度。由于陰極電流分布曲線能夠表征電解槽的健康狀況,因此長(zhǎng)期以來(lái)不進(jìn)行陰極電流測(cè)量的習(xí)慣應(yīng)該予以改正,并將陰極電流分布測(cè)量作為工程管理的常規(guī)檢測(cè)項(xiàng)目之一,并及時(shí)根據(jù)檢測(cè)結(jié)果清理炭陰極出現(xiàn)的異常狀況。

目前電解槽陰極電流的測(cè)量數(shù)據(jù)仍然十分匱乏,數(shù)據(jù)的同步性要求、測(cè)量的周期頻次、對(duì)數(shù)據(jù)的分析方法等重要問(wèn)題仍然沒(méi)有答案,這對(duì)于掌握電解槽的運(yùn)行特性是非常不利的。因此需要有不同階段、不同時(shí)期的大量的陰極電流分布數(shù)據(jù)用以進(jìn)一步開(kāi)展分析和研究。