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      基于NI數(shù)據(jù)采集卡的鉑電阻溫度系數(shù)測(cè)量

      2022-11-04 01:47:12徐一清周益民周國泉倪涌舟
      大學(xué)物理實(shí)驗(yàn) 2022年4期
      關(guān)鍵詞:鉑電阻電橋采集卡

      徐一清,周益民,周國泉,倪涌舟

      (浙江農(nóng)林大學(xué) 光機(jī)電工程學(xué)院,江蘇 杭州 311300)

      用非平衡電橋測(cè)鉑電阻溫度系數(shù)是大學(xué)物理實(shí)驗(yàn)課中開設(shè)比較普遍的熱學(xué)實(shí)驗(yàn)[1-3]。傳統(tǒng)實(shí)驗(yàn)過程中需要人工讀數(shù),手動(dòng)記錄溫度和電壓數(shù)據(jù),在另外的平臺(tái)使用第三方工具進(jìn)行繪圖和計(jì)算。這種方法步驟繁瑣,效率低下,采集的數(shù)據(jù)量少,只能看到數(shù)據(jù)本身,不能同步觀察數(shù)據(jù)的變化趨勢(shì),更難以捕捉物理量快速變化過程中的細(xì)節(jié)。隨著計(jì)算機(jī)的廣泛應(yīng)用和信息技術(shù)的快速發(fā)展,實(shí)驗(yàn)教學(xué)的數(shù)字化、信息化及相關(guān)資源的共享利用已成我國當(dāng)前實(shí)驗(yàn)教學(xué)發(fā)展的熱點(diǎn)話題[4,5]。目前,基于LabVIEW的數(shù)據(jù)采集實(shí)驗(yàn)平臺(tái)作為實(shí)驗(yàn)教學(xué)輔助系統(tǒng)在高校廣泛使用,尤其是在工程學(xué)和物理學(xué)等學(xué)科領(lǐng)域[6-10]。

      基于美國國家儀器公司(簡(jiǎn)稱NI)的NI USB-6210數(shù)據(jù)采集卡,用LabVIEW設(shè)計(jì)了鉑電阻溫度系數(shù)自動(dòng)測(cè)量系統(tǒng)[11,12]。該系統(tǒng)克服了傳統(tǒng)實(shí)驗(yàn)的諸多弊端,由“傳感器+NI數(shù)據(jù)采集卡+實(shí)驗(yàn)軟件LabVIEW+計(jì)算機(jī)”構(gòu)成,實(shí)現(xiàn)了溫度和非平衡電橋輸出電壓數(shù)據(jù)在計(jì)算機(jī)上的自動(dòng)采集和處理,以及電壓溫度變化曲線實(shí)時(shí)顯示和存儲(chǔ)功能,實(shí)驗(yàn)求得的鉑電阻溫度系數(shù)與理論值相吻合。

      1 實(shí)驗(yàn)原理

      Pt100鉑電阻是一種利用導(dǎo)體電阻隨溫度變化而變化的特性制成的溫度傳感器。鉑的物理化學(xué)性質(zhì)都非常穩(wěn)定,電阻率較高、線性度好,容易批量生產(chǎn)。因此鉑電阻大多用于工業(yè)檢測(cè)中的精密測(cè)溫,以及作為溫度標(biāo)準(zhǔn)使用[1]。在0~100 ℃范圍內(nèi),鉑的輸出電阻Rt的表達(dá)式近似線性,為

      Rt=R0(1+At).

      (1)

      式中,A為溫度系數(shù),近似為3.85×10-3(℃)-1。R0為溫度0 ℃時(shí),鉑電阻輸出的電阻值,Pt100鉑電阻R0=100 Ω。

      使用非平衡電橋測(cè)量鉑電阻溫度系數(shù)的電路結(jié)構(gòu)如圖1(a)所示。R1、R2為固定電阻,組成比例電阻;RP為可調(diào)電阻,用作平衡電阻;RT為鉑電阻Pt100;Uout為非平衡電橋的輸出電壓。當(dāng)電源的輸出電壓E一定時(shí),非平衡電橋的輸出電壓

      Uout=[RT/(R1+RT)-RP/(R2+RP)]E

      (2)

      I1=E/(R1+RT)

      (3)

      I2=E/(R2+RP)

      (4)

      則有

      Uout=I1RT-I2RP

      (5)

      若取R1=R2,且R1?RT,R2?RP,則有

      I1≈I2

      (6)

      Uout=I1(RT-RP)

      (7)

      設(shè)總電流為I,則

      (8)

      (9)

      令RP等于鉑電阻在0 ℃(tp為0 ℃)時(shí)的阻值R0,并將式(1)代入式(9),則有

      (10)

      2 實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)

      2.1 實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)硬件結(jié)構(gòu)

      基于NI數(shù)據(jù)采集卡的鉑電阻溫度系數(shù)測(cè)量系統(tǒng)由硬件電路、數(shù)據(jù)采集卡和LabVIEW上位機(jī)軟件三部分組成,實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)原理框圖如圖1所示。

      圖1 實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)原理框圖

      系統(tǒng)采用的數(shù)據(jù)采集卡是NI USB-6210,它是一款USB總線供電M系列多功能DAQ模塊,在高采樣率下也能保持高精度,是測(cè)試、控制和設(shè)計(jì)應(yīng)用的理想選擇[13]。USB-6210引腳如圖2所示,該模塊提供了8路A/D轉(zhuǎn)換精度達(dá)到16位的差分式模擬信號(hào)輸入通道,采樣率可達(dá)250 kS/s。在實(shí)驗(yàn)中,AI 0通道采集非平衡電橋輸出電壓Uout,AI 1通道采集加熱爐溫度傳感器輸出信號(hào),兩路信號(hào)均采用差分配置接線。

      圖2 USB-6210引腳圖

      按照?qǐng)D1(a)連接非平衡電橋測(cè)量電路,其中R1、R2、RP用ZX21型直流電阻箱設(shè)置,Rt為鉑電阻Pt100。取R1=R2=9 000 Ω,RP=100 Ω。開啟直流穩(wěn)壓電源,調(diào)節(jié)輸出電壓至毫安表讀數(shù)為4 mA,并且在以后的實(shí)驗(yàn)過程中保持總電流為4 mA不變。將鉑電阻Pt100插入加熱爐內(nèi),所用加熱爐為FB203型恒流智能控溫實(shí)驗(yàn)儀,連接圖如圖3所示。將加熱爐設(shè)定溫度設(shè)置為100 ℃,然后將加熱選擇擋位開關(guān)調(diào)至“低”,開始持續(xù)均勻升溫。數(shù)據(jù)采集卡將采集的兩路差分信號(hào)通過USB接口傳輸至上位機(jī)。

      圖3 FB203型恒流智能控溫實(shí)驗(yàn)儀連接圖

      2.2 實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)軟件結(jié)構(gòu)

      實(shí)驗(yàn)上位機(jī)系統(tǒng)軟件是基于LabVIEW平臺(tái)開發(fā)的,由前面板程序界面和后面板程序框圖兩部分組成[14],軟件流程圖如圖4所示[15]?;贚abVIEW的測(cè)控程序包括參量設(shè)定、加熱爐溫度和非平衡電橋輸出電壓數(shù)據(jù)采集、溫度時(shí)間變化曲線和電壓時(shí)間變化曲線實(shí)時(shí)顯示、數(shù)據(jù)記錄及保存、數(shù)據(jù)分析計(jì)算和自動(dòng)游標(biāo)獲取任意位置數(shù)據(jù)等主要功能。

      圖4 測(cè)量系統(tǒng)軟件流程圖

      軟件的前面板如圖5所示,LabVIEW后面板程序設(shè)計(jì)與前面板功能一一對(duì)應(yīng),如圖6所示。

      圖5 實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)軟件前面板圖

      圖6 LabVIEW程序框圖

      參量設(shè)定模塊可對(duì)采樣通道、采樣模式、采樣率等進(jìn)行設(shè)置;本實(shí)驗(yàn)設(shè)置采樣通道為AI 0和AI 1兩路通道,采樣模式設(shè)置為差分,和接線端保持一致,由于加熱爐升溫較為緩慢,采樣率設(shè)置為1 Hz;數(shù)據(jù)采集模塊可對(duì)加熱爐溫度和非平衡電橋輸出電壓進(jìn)行實(shí)時(shí)測(cè)量,實(shí)驗(yàn)設(shè)置為1秒采集一次數(shù)據(jù),加熱爐從室溫加熱至94 ℃,共采集1230組數(shù)據(jù);數(shù)據(jù)顯示模塊上位機(jī)波形圖表實(shí)時(shí)顯示溫度和電壓數(shù)據(jù),便于測(cè)量者直觀地查看和初步分析;數(shù)據(jù)處理模塊可實(shí)時(shí)讀取數(shù)據(jù)緩沖區(qū)里的溫度和電壓數(shù)據(jù),繪制U-Δt變化曲線,用最小二乘法擬合計(jì)算曲線斜率和鉑電阻溫度系數(shù);數(shù)據(jù)記錄模塊實(shí)現(xiàn)原始數(shù)據(jù)存儲(chǔ)功能,通過LabVIEW中的簇功能將時(shí)間數(shù)據(jù)、溫度數(shù)值、電壓數(shù)值等數(shù)據(jù)捆綁到一起,再經(jīng)過移位寄存器變成數(shù)組存入到制定的Excel表格中,方便后續(xù)的數(shù)據(jù)查看、提取和處理。另外U-Δt變化曲線圖增加了自動(dòng)游標(biāo),可獲取任意位置的坐標(biāo)數(shù)據(jù)。

      3 結(jié)果與討論

      實(shí)驗(yàn)整個(gè)系統(tǒng)是利用LabVIEW的DAQmx驅(qū)動(dòng)程序?qū)?shù)據(jù)采集模塊進(jìn)行配置,由于采集的兩路信號(hào)強(qiáng)度較弱,均為毫伏級(jí),在進(jìn)行溫度和電壓數(shù)據(jù)采集的過程中,電磁干擾或零點(diǎn)漂移會(huì)引起電壓的上下浮動(dòng),從而使測(cè)量的數(shù)據(jù)值出現(xiàn)小范圍的波動(dòng),導(dǎo)致測(cè)量的結(jié)果精度降低,但誤差均在允許范圍之內(nèi)。

      將LabVIEW程序采集的電壓溫度原始數(shù)據(jù)文件(excel格式,內(nèi)含1230個(gè)數(shù)據(jù))導(dǎo)入SigmaPlot軟件處理實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)[16],可以得U-Δt曲線,使用最小二乘法對(duì)實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)進(jìn)行擬合,擬合結(jié)果:ελ=0.7626x-0.031,標(biāo)準(zhǔn)偏差ERMSE=0.000 6,相關(guān)系數(shù)R=0.999 6。擬合的精度較高,擬合曲線如圖7所示。擬合求出斜率k=0.762 6,與LabVIEW程序擬合的結(jié)果一致。

      溫度/℃

      4 結(jié) 語

      基于NI數(shù)據(jù)采集卡的鉑電阻溫度系數(shù)測(cè)量系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)了數(shù)據(jù)的自動(dòng)化測(cè)量,智能分析與處理,還實(shí)現(xiàn)了電壓溫度變化曲線實(shí)時(shí)顯示和存儲(chǔ)功能,提高了實(shí)驗(yàn)的可視化和自動(dòng)化程度,更好的滿足了科研測(cè)試和教學(xué)實(shí)驗(yàn)的要求。讓學(xué)生把實(shí)踐的重點(diǎn)放在對(duì)整個(gè)實(shí)驗(yàn)過程原理的理解和結(jié)果的分析探究上,而不是花費(fèi)更多的時(shí)間在數(shù)據(jù)記錄、計(jì)算和手工作圖上,從而提高了實(shí)驗(yàn)的效率,教學(xué)效果良好。

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