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      一種低電平工頻電場探頭的校準方法

      2023-01-25 12:17:08黎亮文徐文娟史云雷邵鄂李帥男李宣毅劉斌輝
      環(huán)境技術 2022年6期
      關鍵詞:芯板小室工頻

      黎亮文,徐文娟,史云雷,邵鄂,李帥男,李宣毅,劉斌輝

      (1.工業(yè)和信息化部電子第五研究所, 廣州 511370;2.智能產品質量評價與可靠性保障技術工業(yè)和信息化部重點實驗室, 廣州 511370)

      引言

      工頻電場是指交流電壓工作頻率的電場強度,我國電力系統(tǒng)的供電頻率為50 Hz,工頻電場即為50 Hz的電場。工頻電場測量應用廣泛,尤其是在電力系統(tǒng)、電磁兼容和生物效應等領域,具有重要意義[1]。隨著現(xiàn)今社會對環(huán)境電磁輻射危害的重視,工頻電場也越來越受到關注。

      測量工頻電場主要使用工具為工頻電場探頭或工頻電場測量儀,兩者原理相同,均是利用電場傳感器測量,轉成電信號,通過數(shù)據(jù)處理分析還原電場強度。為保證工頻電場測量準確可靠,工頻電場探頭或工頻電場測量儀必須定期進行校準。目前國內工頻電場探頭校準方法,多數(shù)適用于高電場強度(10 V/m以上),而低電平電場強度(mV/m級別)校準誤差較大。本文采用GTEM小室和低頻信號發(fā)生器,介紹一種低電場強度工頻電場探頭校準方法,并對此校準方法進行驗證。

      1 工頻電場探頭校準裝置

      傳統(tǒng)工頻電場探頭校準裝置原理是施加一定電壓到平行板上,使其產生均勻電場,根據(jù)電場公式計算工頻電場探頭校準區(qū)域中的電場,對比工頻電場探頭顯示數(shù)值,得出校正系數(shù)。平行板間電場強度大小由公式(1)確定。

      式中:

      U—兩板間電壓,單位為伏(V);

      d—平行板距離,單位為米(m)。

      為避免平行板的邊緣效應,需要平行板的間距相對板的尺寸足夠小,以便產生用于校準大小和方向已知的均勻場區(qū)域[2],同時,被校探頭尺寸相對于平行板尺寸盡可能小,才能忽略探頭置于電場中對電場的影響,因此,工頻電場校準裝置尺寸往往較大。

      尺寸過大的校準裝置存在明顯缺點,公式(2)是平板電容計算公式,相同條件下,平行板面積越大,電容值越大,電壓源需要高壓驅動從而產生高電場強度。另外,平行板尺寸大屏蔽困難,建造屏蔽外殼造價高,以至于校準裝置無法屏蔽外界信號,校準低電場強度時容易受到周圍工頻環(huán)境影響。

      2 GTEM小室

      GTEM小室是采用同軸及非對稱矩形傳輸線設計原理,整體外形設計為劈尖形狀,以避免內部電磁波產生發(fā)射和諧振,輸入端在尖端位置,采用N型同軸接頭,隨后漸變至非對稱矩形結構[3]。芯板延伸至后蓋板,使用50 Ω負載作為阻抗匹配網絡,芯板和底板之間形成矩形均勻電場區(qū)域,可以用于電磁兼容輻射騷擾發(fā)射和輻射抗擾度的測試。

      GTEM可用頻率范圍取決于GTEM的橫截面積尺寸和長度,頻率范圍常見為直流到GHz級別。小室內部電場分布如圖3所示[4],3 dB區(qū)域為測試區(qū)域,電磁兼容測試在此區(qū)域內進行,1 dB區(qū)域為高準確區(qū),誤差很小,可以用作探頭校準[5]。

      圖3 GTEM室最大開口處場分布示意圖

      3 工頻電場探頭GTEM小室校準法

      GTEM小室校準區(qū)域電場強度計算公式如下:

      式中:

      Z—GTEM小室特性阻抗,單位為歐姆(Ω);

      P—輸入凈功率,單位為瓦(W);

      圖1 傳統(tǒng)工頻電場校準裝置

      圖2 GTEM小室結構

      h—GTEM小室芯板和底板之間的距離,單位為米(m)。

      3.1 系統(tǒng)搭建

      結合工頻信號發(fā)生器,定向耦合器,EMI接收機和GTEM小室搭建工頻電場探頭校準系統(tǒng)。系統(tǒng)整體原理:信號發(fā)生器輸出工頻信號,經過定向耦合器輸入到GTEM小室,EMI接收機通過定向耦合器記錄GTEM小室接收到的凈功率,利用公式(3)計算GTEM小室內的電場強度。

      嚴格來說,EMI接收機記錄GTEM小室輸入凈功率,但是由于工頻信號是極低頻信號,波長非常長,無需考慮傳輸線反射問題,保證信號發(fā)生器輸出阻抗和GTEM小室阻抗一致,那么,信號發(fā)生器輸出功率就是GTEM小室輸入凈功率。同時考慮到定向耦合器有較大衰減,而校準低強度電場所需信號較小,使用定向耦合器測量準確度不高。另外,定向耦合器常用于射頻電路,對于工頻這種極低頻信號,適用性不強。因此校準系統(tǒng)可以簡化為由工頻信號發(fā)生器和GTEM小室組成。

      圖4 GTEM小室工頻電場探頭校準系統(tǒng)

      圖6 校準系統(tǒng)試驗平臺搭建

      3.2 系統(tǒng)驗證

      德國Narda公司生產的EHP-50F低頻探頭測試頻率覆蓋1 Hz~400 kHz,且可選頻測量,電場強度測試范圍1 mV/m~100 kV/m。可使用EHP-50F對GTEM小室工頻電場探頭校準系統(tǒng)進行驗證。

      利用瑞士TESEQ公司的GTEM 250小室和Keysight公司的33500B信號發(fā)生器搭建工頻電場探頭校準系統(tǒng),并對系統(tǒng)進行驗證。系統(tǒng)校驗原理如圖5所示,將EHP-50F低頻探頭置于GTEM小室校準區(qū)域中間,開機后使探頭檢測頻率設置為50 Hz,觀察無信號輸入時低頻探頭工頻電場底噪。信號發(fā)生器設置輸出阻抗為50 Ω,輸出工頻信號,直至低頻探頭測量到的工頻電場明顯超過底噪,記錄電場強度和信號發(fā)生器的輸出功率。輸出不同信號強度,根據(jù)GTEM小室電場計算公式,驗證此校準系統(tǒng)。

      圖5 校準系統(tǒng)校驗原理框圖

      EHP-50F低頻探頭在GTEM小室內工頻電場底噪為(8~12)mV/m,信號發(fā)生器輸出至-35 dBm時可以明顯看到50 Hz頻點電場強度高于底噪,GTEM小室校準區(qū)域芯板到底板的距離為0.217 m,增大輸出功率,對比分析理論電場強度和實測電場強度。驗證結果見表1所示,選擇10個功率點測試,實測GTEM小室電場強度均在1 dB誤差范圍內。

      表1 校準系統(tǒng)驗證結果

      使用GTEM小室校準低電平工頻電場探頭,最低可以校準20 mV/m以下電場強度,且誤差也在1 dB允許范圍內。但需要注意,在低電平工頻電場校準過程中,探頭放置高度對測量結果影響很大,同時考慮到探頭會對GTEM小室內電磁場產生擾動現(xiàn)象,因此,被校探頭相對于GTEM小室測試區(qū)域盡可能小,尺寸應小于芯板到底板距離的10 %,以減小探頭校準不確定度。另外,GTEM小室的電場方向是由芯板到底板,可以通過翻轉電場探頭來校準其電場方向性。

      4 結論

      GTEM小室既是一個電場發(fā)生器,也是一個屏蔽體,無需天線即可產生均勻電場,根據(jù)理論推導,GTEM小室可以產生幾毫伏每米到幾百伏每米的電場強度,最高電場強度主要取決于小室最大可承受功率。溫濕度對工頻電場影響較大,GTEM小室體積小,對溫濕度控制的準確定和便捷性都很高。采用GTEM和信號發(fā)生器組成的工頻電場探頭校準系統(tǒng),可以實現(xiàn)三維極化的工頻電場探頭的校準。

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