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      超連續(xù)譜激光對(duì)可見(jiàn)光跟瞄設(shè)備干擾實(shí)驗(yàn)研究

      2023-09-22 09:01:10程相正
      激光與紅外 2023年8期
      關(guān)鍵詞:連續(xù)譜跟蹤目標(biāo)功率密度

      范 瑜,程相正,邵 銘,劉 偉

      (63891部隊(duì),光電對(duì)抗測(cè)試評(píng)估技術(shù)重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室,河南 洛陽(yáng) 471000)

      1 引 言

      隨著光電技術(shù)[1-2]的飛速發(fā)展,各種光電探測(cè)器[3-5]與光電跟瞄裝備[6-7]層出不窮,極大拓展了人眼視覺(jué)范圍,廣泛應(yīng)用在偵察預(yù)警[8]、衛(wèi)星遙感、成像跟瞄[9]、精確制導(dǎo)[10]、靶場(chǎng)測(cè)量等軍事領(lǐng)域[11]。跟瞄設(shè)備成像技術(shù)在軍事上應(yīng)用廣泛,已用于搜索、跟蹤、制導(dǎo)[12]等多種領(lǐng)域[13-[14]。超連續(xù)譜激光具有傳統(tǒng)寬帶光源的寬光譜特性和激光光源的高空間相干性,是激光干擾的理想光源[15-16]。超連續(xù)譜激光[17-18]干擾作為國(guó)內(nèi)外迅速發(fā)展的一種新型激光干擾手段,其干擾機(jī)理不同于單波長(zhǎng)激光。本文主要采用白光光纖激光器產(chǎn)生超連續(xù)譜激光輻照不同工作模式下的可見(jiàn)光成像跟瞄設(shè)備,分析比較不同工作模式下的實(shí)驗(yàn)結(jié)果。

      2 實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)布局及步驟

      實(shí)驗(yàn)選用白光光纖激光器對(duì)可見(jiàn)光成像跟瞄設(shè)備模擬器進(jìn)行干擾。白光光纖激光器的輸出波長(zhǎng)范圍0.45~1.2 μm,光譜平坦度6.4 dB@0.50~1.05 μm,重復(fù)頻率200.0 kHz,脈沖寬度5.6 ns,出光口光斑直徑8.9 mm,功率不穩(wěn)定性0.5 %??梢?jiàn)光成像跟瞄設(shè)備模擬器CCD探測(cè)器分辨率1280×1280,光學(xué)系統(tǒng)焦距21 mm,光闌孔徑約4 mm,干擾激光器距離跟瞄設(shè)備18.165 m。實(shí)驗(yàn)布局如圖1所示,合作目標(biāo)置于白光光纖激光器旁,可見(jiàn)光成像跟瞄設(shè)備對(duì)合作目標(biāo)進(jìn)行捕獲跟蹤。在激光器出口處加光闌,經(jīng)激光分束器分光,激光分束器將一路激光導(dǎo)入激光功率計(jì)進(jìn)行功率監(jiān)測(cè),另一路激光對(duì)可見(jiàn)光成像跟瞄設(shè)備進(jìn)行直瞄式干擾,圖像采集處理系統(tǒng)實(shí)時(shí)采集和存儲(chǔ)跟瞄設(shè)備的輸出圖像。該實(shí)驗(yàn)通過(guò)改變白光光纖激光器輸出功率,完成了對(duì)可見(jiàn)光成像跟瞄設(shè)備全透、抗1.06 μm干擾等模式的輻照實(shí)驗(yàn)。

      圖1 白光光纖激光器對(duì)可見(jiàn)光成像跟瞄設(shè)備干擾實(shí)驗(yàn)布局圖

      3 實(shí)驗(yàn)結(jié)果分析及歸納

      3.1 全透模式下的干擾實(shí)驗(yàn)

      可見(jiàn)光成像跟瞄設(shè)備工作在全透模式,即未加窄帶濾光片,光譜響應(yīng)范圍為0.45~1.2 μm。成像跟瞄設(shè)備采用邊緣跟蹤算法,首先工作在線(xiàn)性工作區(qū)狀態(tài),隨著激光發(fā)射功率的增加,探測(cè)器處在點(diǎn)飽和狀態(tài),此時(shí)跟瞄設(shè)備仍能夠穩(wěn)定跟蹤目標(biāo)。當(dāng)跟瞄設(shè)備入瞳處輻射功率密度進(jìn)一步增大時(shí),無(wú)法正常跟蹤目標(biāo)。

      實(shí)驗(yàn)時(shí),當(dāng)入瞳激光功率密度為4.9×10-2W/cm2時(shí),跟瞄設(shè)備探測(cè)器飽和像素個(gè)數(shù)約為43,此時(shí)跟瞄設(shè)備探測(cè)器處在飽和狀態(tài)下,激光光斑如圖2(a)所示,圖中央的白色亮點(diǎn)即為激光光斑中較強(qiáng)部分的像點(diǎn)。圖2(b)表示該狀態(tài)下三維能量分布情況,z軸表示光斑區(qū)域的灰度值。此時(shí),目標(biāo)與干擾光斑存在一定的位置偏差,如圖2(c)所示,干擾光斑小于目標(biāo)且無(wú)法覆蓋目標(biāo),跟瞄設(shè)備仍能穩(wěn)定跟蹤目標(biāo)。

      圖2 全透模式穩(wěn)定跟蹤狀態(tài)下激光光斑成像及三維能量分布圖

      逐漸增大激光功率,當(dāng)入瞳激光功率密度為1.7×10-1W/cm2時(shí),跟瞄設(shè)備能夠跟蹤目標(biāo),但無(wú)法穩(wěn)定跟蹤,處于跟蹤狀態(tài)臨界。此時(shí),跟瞄設(shè)備探測(cè)器飽和像素個(gè)數(shù)約為1610,此時(shí)成像跟瞄設(shè)備探測(cè)器處在中度飽和狀態(tài),激光光斑如圖3(a)所示,圖3(b)表示該狀態(tài)下三維能量分布情況,圖3(c)為合作目標(biāo)與干擾光斑位置關(guān)系。從圖中可以看出,干擾光斑遠(yuǎn)大于目標(biāo),目標(biāo)處于干擾光斑的邊緣,跟瞄設(shè)備無(wú)法穩(wěn)定跟蹤目標(biāo)。

      圖3 全透模式臨界跟蹤狀態(tài)下激光光斑成像及三維能量分布圖

      隨著入瞳激光功率的增加,跟瞄設(shè)備探測(cè)器光斑面積隨之增大,跟瞄設(shè)備無(wú)法跟蹤目標(biāo),光斑的能量分布圖橫截面積進(jìn)一步增大。由于跟瞄設(shè)備成像探測(cè)器主要用于遠(yuǎn)距離信號(hào)檢測(cè),其靈敏度較高,即使在激光功率未造成探測(cè)器損傷也可對(duì)其構(gòu)成干擾。點(diǎn)飽和時(shí),飽和像元數(shù)為40個(gè)左右,在中度飽和情況下,飽和像元個(gè)數(shù)已經(jīng)增大到約1500個(gè)左右,跟瞄設(shè)備已經(jīng)無(wú)法穩(wěn)定跟蹤目標(biāo)。若在遠(yuǎn)距離進(jìn)行干擾,由于光學(xué)系統(tǒng)衍射等原因,飽和像元數(shù)量會(huì)進(jìn)一步增大。

      根據(jù)弗朗和費(fèi)衍射規(guī)律,經(jīng)推導(dǎo)可得飽和光斑半徑r為:

      (1)

      式(1)中,P為入瞳激光功率密度;λ為入射激光波長(zhǎng);α為與成像探測(cè)器材料、工藝等相關(guān)的系數(shù),f為光學(xué)系統(tǒng)焦距;F為光學(xué)系統(tǒng)F#;Eth為探測(cè)器飽和閾值。

      假設(shè)探測(cè)器單個(gè)像素(像元)面積為Sd,則飽和像素個(gè)數(shù)N為:

      (2)

      對(duì)式(2)等號(hào)兩邊分別取對(duì)數(shù)得到式(3):

      lg(N)=2αlg(P)+2α[lg(λ)+2lg(f)-lg(8Fπ2Eth)]+lg(π)-lg(Sd)

      (3)

      式中,除N,P外其余各項(xiàng)均為常數(shù),從式(3)可以看出,飽和像素個(gè)數(shù)對(duì)數(shù)值與入射功率對(duì)數(shù)值之間呈線(xiàn)性關(guān)系。

      處理實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù),可得如圖4所示的飽和像素個(gè)數(shù)與激光發(fā)射功率的關(guān)系。其中,縱坐標(biāo)采用飽和像素個(gè)數(shù)的對(duì)數(shù)作為縱軸,橫坐標(biāo)采用入瞳激光功率密度的對(duì)數(shù)作為橫軸,擬合得到直線(xiàn)方程lg(N)=3.07524×lg(P)+5.4749,擬合系數(shù)0.97432。其中擬合系數(shù)越接近1,說(shuō)明擬合程度越好,反之,說(shuō)明直線(xiàn)的擬合程度越差。

      圖4 全透模式下飽和像素個(gè)數(shù)與發(fā)射功率的關(guān)系及對(duì)應(yīng)擬合曲線(xiàn)

      3.2 抗1.06 μm干擾模式下的干擾實(shí)驗(yàn)

      可見(jiàn)光成像跟瞄設(shè)備工作在抗1.06 μm干擾模式時(shí),跟瞄設(shè)備光學(xué)系統(tǒng)加載1.06 μm窄帶陷波濾光片,對(duì)1060 nm±10 nm波段的激光透過(guò)率較低,從而達(dá)到抗1.06 μm單波長(zhǎng)激光干擾的目的。

      實(shí)驗(yàn)時(shí),當(dāng)輻照激光功率密度在2.8×10-2W/cm2時(shí),跟瞄設(shè)備探測(cè)器飽和像素個(gè)數(shù)約為2個(gè),此時(shí)跟瞄設(shè)備探測(cè)器處在點(diǎn)飽和狀態(tài)下,激光光斑如圖5(a)所示,圖中央的白色亮點(diǎn)即為激光光斑中較強(qiáng)部分的像點(diǎn)。圖5(b)表示該狀態(tài)下三維能量分布情況。此時(shí),飽和光斑很小,跟瞄設(shè)備能夠穩(wěn)定跟蹤目標(biāo)。

      圖5 抗1.06 μm模式穩(wěn)定跟蹤狀態(tài)下激光光斑成像及三維能量分布圖

      進(jìn)一步增大激光功率,當(dāng)入瞳激光功率密度為1.7×10-1W/cm2時(shí),跟瞄設(shè)備能夠跟蹤目標(biāo),但無(wú)法穩(wěn)定跟蹤,處于跟蹤狀態(tài)臨界。此時(shí),跟瞄設(shè)備探測(cè)器飽和像素個(gè)數(shù)約為1473個(gè),此時(shí)成像跟瞄設(shè)備探測(cè)器處在中度飽和狀態(tài),激光光斑如圖6(a)所示,圖6(b)表示該狀態(tài)下三維能量分布情況,圖6(c)為合作目標(biāo)與干擾光斑位置關(guān)系。對(duì)比圖3、圖6以及跟蹤狀態(tài)可知,超連續(xù)譜激光對(duì)全透模式和抗1.06 μm干擾模式的跟瞄設(shè)備干擾效果相當(dāng),這是因?yàn)楦樵O(shè)備抗1.06 μm干擾模式加載1.06 μm窄帶陷波濾光片,對(duì)1060 nm±10 nm波段的激光透過(guò)率較低,而超連續(xù)譜具有較寬的光譜特性,在0.45~1.2 μm波段范圍內(nèi)均具有光譜激光輸出。由于陷波濾光片帶通較窄,半波寬一般為10nm,因此超連續(xù)譜激光對(duì)采用這種抗干擾體制的跟瞄設(shè)備和全透的跟瞄設(shè)備干擾效果相當(dāng)。

      圖6 抗1.06 μm模式臨界跟蹤狀態(tài)下激光光斑成像及三維能量分布圖

      隨著入瞳激光功率的增加,跟瞄設(shè)備探測(cè)器光斑面積隨之增大,跟瞄設(shè)備無(wú)法跟蹤目標(biāo),光斑的能量分布圖橫截面積進(jìn)一步增大。依據(jù)式(3),處理實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)可得如圖7所示的飽和像素個(gè)數(shù)與激光發(fā)射功率的關(guān)系,其中縱坐標(biāo)采用飽和像素個(gè)數(shù)的對(duì)數(shù)作為縱軸,橫坐標(biāo)采用入瞳激光功率密度的對(duì)數(shù)作為橫軸,擬合得到直線(xiàn)方程lg(N)=3.59956×lg(P)+5.94188,橫坐標(biāo)單位W/cm2,擬合系數(shù)0.99403。

      圖7 抗1.06 μm模式下飽和像素個(gè)數(shù)與發(fā)射功率的關(guān)系及對(duì)應(yīng)擬合曲線(xiàn)

      3.3 實(shí)驗(yàn)結(jié)果及分析

      可見(jiàn)光成像跟瞄設(shè)備工作在全透模式,輻照激光功率密度為4.9×10-2W/cm2,跟瞄設(shè)備探測(cè)器呈現(xiàn)飽和但仍能跟蹤目標(biāo);入瞳功率密度為1.7×10-1W/cm2時(shí),跟瞄設(shè)備探測(cè)器呈現(xiàn)中度飽和,但無(wú)法穩(wěn)定跟蹤,處于跟蹤臨界狀態(tài)。

      可見(jiàn)光成像跟瞄設(shè)備工作在抗1.06 μm干擾模式,輻照激光功率密度為2.8×10-2W/cm2,跟瞄設(shè)備探測(cè)器呈現(xiàn)點(diǎn)飽和,能夠穩(wěn)定跟蹤目標(biāo);入瞳功率密度為1.7×10-1W/cm2時(shí),跟瞄設(shè)備探測(cè)器呈現(xiàn)中度飽和,但無(wú)法穩(wěn)定跟蹤,處于跟蹤臨界狀態(tài)。

      對(duì)比超連續(xù)譜激光對(duì)可見(jiàn)光成像跟瞄設(shè)備全透模式和抗1.06 μm干擾模式下的實(shí)驗(yàn)結(jié)果可知,超連續(xù)譜激光對(duì)這兩種模式的跟瞄設(shè)備干擾效果相當(dāng);相比1.06 μm單波長(zhǎng)激光,超連續(xù)譜激光能夠有效對(duì)抗鍍有截止膜的可見(jiàn)光成像跟瞄設(shè)備。

      4 結(jié) 語(yǔ)

      本文主要采用白光光纖激光器產(chǎn)生超連續(xù)譜激光,對(duì)不同模式下的可見(jiàn)光成像跟瞄設(shè)備進(jìn)行輻照,得到了不同工作模式下跟瞄設(shè)備探測(cè)器干擾閾值數(shù)據(jù),通過(guò)擬合得到了探測(cè)器飽和像元數(shù)與干擾激光功率密度之間的數(shù)學(xué)關(guān)系式,并對(duì)跟瞄設(shè)備不同工作模式下的實(shí)驗(yàn)結(jié)果進(jìn)行了分析比較。實(shí)驗(yàn)結(jié)果對(duì)超連續(xù)譜激光干擾裝備的論證、設(shè)計(jì)具有一定的參考意義。

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