祝國凱,鞏玉鑫,侯岱雙
(1.長(zhǎng)春工程學(xué)院機(jī)電工程學(xué)院,吉林長(zhǎng)春 130012;2.長(zhǎng)春工業(yè)大學(xué)機(jī)電工程學(xué)院,吉林長(zhǎng)春 130012)
近年來,隨著軌道交通行業(yè)的發(fā)展,智能制造逐漸引起了研究人員的重視[1-3],結(jié)構(gòu)健康監(jiān)測(cè)(Structural Health Monitoring,SHM)和無損檢測(cè)(Nondestructive Testing,NDT)在軌道交通、石油天然氣管道、航空航天、核能和電力設(shè)備等重要領(lǐng)域應(yīng)用較為廣泛,及時(shí)有效地對(duì)金屬構(gòu)件(轉(zhuǎn)向架、鋼、鐵、鋁、鈦合金等)進(jìn)行健康檢測(cè)尤為重要[4]。轉(zhuǎn)向架是高鐵穩(wěn)定、安全運(yùn)行的重要部件之一,在高速列車長(zhǎng)期、快速的運(yùn)行中,轉(zhuǎn)向架會(huì)產(chǎn)生疲勞裂紋或是在焊縫處出現(xiàn)裂紋,裂紋會(huì)導(dǎo)致轉(zhuǎn)向架整體結(jié)構(gòu)的安全系數(shù)降低,產(chǎn)生安全隱患,若不及時(shí)發(fā)現(xiàn)會(huì)發(fā)生重大安全事故,造成人員傷亡事故和財(cái)產(chǎn)損失。因此,對(duì)轉(zhuǎn)向架金屬結(jié)構(gòu)的裂紋進(jìn)行檢測(cè)就顯得尤為重要。目前,結(jié)構(gòu)健康監(jiān)測(cè)技術(shù)分為有線和無線兩種,其中有線監(jiān)測(cè)技術(shù)具有高精度、高分辨率、高穩(wěn)定性等優(yōu)點(diǎn),但存在部署復(fù)雜等問題。而無線監(jiān)測(cè)技術(shù)不存在部署復(fù)雜問題。通過無線無源微帶天線進(jìn)行裂紋檢測(cè),有效地解決了電源供電的問題,可在自身簡(jiǎn)易的電路結(jié)構(gòu)環(huán)境中獲取能量,并且制備過程簡(jiǎn)單,大幅降低了制作成本[5]。因此本文選用無源有芯片射頻識(shí)別(Radio Frequency Identification,RFID)標(biāo)簽天線,能夠穩(wěn)定地檢測(cè)金屬裂紋。
目前RFID技術(shù)在國內(nèi)外廣泛應(yīng)用于金屬結(jié)構(gòu)健康監(jiān)測(cè)領(lǐng)域研究中。陳嵐等[6]基于RFID分層式矩形微帶天線檢測(cè)機(jī)床裂紋長(zhǎng)度、寬度、相對(duì)位置和相對(duì)角度的變化情況,通過仿真結(jié)果分析能夠監(jiān)測(cè)出裂紋的變化情況。文豪等[7]采用無源RFID標(biāo)簽天線傳感器對(duì)技術(shù)裂紋深度進(jìn)行檢測(cè),最終通過測(cè)試可達(dá)到毫米級(jí)精度。Caizzone 等[8]提出一種標(biāo)簽天線,裂縫兩端貼有兩個(gè)標(biāo)簽天線,通過相位信息觀察裂縫寬度的變化。Marindra等[9-10]對(duì)金屬裂紋寬度的檢測(cè)進(jìn)行了一系列研究,利用無芯片RFID 傳感標(biāo)簽檢測(cè)金屬裂紋的相關(guān)參數(shù),可以實(shí)現(xiàn)毫米級(jí)的裂紋寬度檢測(cè)。
為了滿足RFID 標(biāo)簽在金屬表面工作的需求,本文設(shè)計(jì)了一種應(yīng)用在超高頻頻段的微帶貼片型RFID抗金屬標(biāo)簽,配合RFID芯片,結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,制造方便,通過貼片與金屬接地板對(duì)電磁波的反射來增加讀取距離,并分析金屬裂紋長(zhǎng)度變化對(duì)標(biāo)簽天線諧振頻率的影響,通過高頻結(jié)構(gòu)仿真(High Freqnency Structure Simulator,HFSS)軟件分析仿真結(jié)果,使其更適合在金屬表面工作。
閱讀器與標(biāo)簽之間主要通過閱讀天線與標(biāo)簽天線的信號(hào)傳遞進(jìn)行工作。其工作原理[11-12]如圖1 所示,RFID系統(tǒng)工作時(shí),閱讀器發(fā)射電磁波,當(dāng)標(biāo)簽天線電感式電壓達(dá)到峰值時(shí),芯片中的集成電路開始工作,將標(biāo)簽中的信息以信號(hào)的形式通過標(biāo)簽天線發(fā)送回閱讀器,閱讀器接收到調(diào)制信息后,將信息傳送到PC 端,通過PC端識(shí)別標(biāo)簽信息。
圖1 RFID系統(tǒng)組成圖
RFID標(biāo)簽中最重要的是標(biāo)簽天線與芯片的阻抗匹配,當(dāng)標(biāo)簽天線與芯片阻抗匹配時(shí),標(biāo)簽的工作效率最高;當(dāng)標(biāo)簽天線和芯片阻抗不匹配時(shí),閱讀器發(fā)出的電磁波的一部分能量會(huì)被反射回源,而不是繼續(xù)向外輻射,標(biāo)簽的工作效率會(huì)降低。
RFID標(biāo)簽中,標(biāo)簽天線的性能是十分重要的,隨著標(biāo)簽天線的尺寸發(fā)生變化,標(biāo)簽天線的性能參數(shù)也會(huì)發(fā)生不同形式的變化。在RFID 系統(tǒng)通信時(shí),通??紤]的是閱讀器與標(biāo)簽天線之間的閱讀距離[13]。在給定的工作頻率下,標(biāo)簽天線的性能對(duì)RFID 系統(tǒng)的最大讀取距離起到很大的影響。其中,阻抗匹配是標(biāo)簽天線極其重要的參數(shù),決定了標(biāo)簽芯片與標(biāo)簽天線之間的能量傳輸。標(biāo)簽天線的增益決定了標(biāo)簽的閱讀距離;標(biāo)簽天線的方向決定了標(biāo)簽的讀取角度范圍。因此標(biāo)簽天線的性能對(duì)RFID 系統(tǒng)能否正常運(yùn)作起到至關(guān)重要的作用。
研究人員常用傳輸線模型、諧振器模型和全波理論來分析微帶天線[14]。本文主要運(yùn)用了前兩種方法。微帶天線設(shè)計(jì)、阻抗匹配以傳輸線模型為理論基礎(chǔ),利用諧振腔模型得到微帶天線的各電磁場(chǎng)量在空間中的分布規(guī)律。微帶天線輻射貼片的尺寸與介質(zhì)基板材料的有效介電常數(shù)εeff、厚度h有關(guān),根據(jù)傳輸線模型,由于微帶天線貼片的長(zhǎng)度與寬度都是有限的,貼片邊緣的少量電力線會(huì)發(fā)生彎曲暴露在空氣中,這被稱為邊緣效應(yīng)[15-16]。由于此效應(yīng)的存在,貼片的電尺寸會(huì)稍微大于實(shí)際幾何尺寸,計(jì)算天線諧振頻率時(shí)應(yīng)該考慮該問題。因此有微帶天線的經(jīng)驗(yàn)公式如下。
諧振頻率:
寬度:
有效介電常數(shù):
電長(zhǎng)度增量:
長(zhǎng)度:
貼片有效長(zhǎng)度:
式中:c0為自由空間的光速;Le為面電流路徑長(zhǎng)度;εe為基材介電常數(shù);εr為介質(zhì)層介電常數(shù);h為介質(zhì)層高度。
天線的復(fù)阻抗為Za=Ra+jXa,芯片的復(fù)阻抗為Zc=Rc+jXc,其中Ra、Rc為電阻,Xa、Xc為電抗。為了使標(biāo)簽天線在工作頻率下有較大的功率傳輸系數(shù),需要實(shí)現(xiàn)微帶天線與標(biāo)簽天線的良好的阻抗匹配[17]。
功率傳輸系數(shù):
芯片可以接收到的最大功率:
式中:Pa為標(biāo)簽天線接收到收發(fā)天線的最大功率。根據(jù)匹配原理Za=,τ =1,當(dāng)天線阻抗與芯片阻抗達(dá)到共軛匹配時(shí),兩者之間的傳輸功率達(dá)到最大。
反射系數(shù)Γ與τ的關(guān)系式為
其中,反射系數(shù):
由式(10)可得τ =|Γ |2=1,功率傳輸系數(shù)與功率反射系數(shù)絕對(duì)值的平方之和為1。
回波損耗S11:
由式(11)可知天線反射系數(shù)越大,回波損耗越大,由此可知阻抗匹配影響天線的各個(gè)參數(shù)。在天線工作諧振頻率處,其接收的激勵(lì)信號(hào)被諧振腔吸收,S11數(shù)值最低,反射能量最小。
在超高頻RFID 系統(tǒng)中,讀寫器天線與標(biāo)簽天線之間的最大讀取距離為RFID 標(biāo)簽天線設(shè)計(jì)中重要的性能參數(shù)[18]。RFID標(biāo)簽的最大讀取距離主要由兩方面決定,分別是前向鏈路與后向鏈路。前向鏈路主要指標(biāo)簽芯片吸收閱讀器所發(fā)射的功率,從而達(dá)到開啟自身功率的最大距離Rtag;后向鏈路主要指讀寫器能夠檢測(cè)到標(biāo)簽所反射信息的最大距離Rread。由于標(biāo)簽芯片的靈敏度遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于閱讀器芯片接收反向散射信號(hào)的靈敏度,故在標(biāo)簽理論設(shè)計(jì)與計(jì)算讀取距離時(shí),通常只考慮前向鏈路Rtag值。對(duì)于前向鏈路,Rtag可以通過Friis方程進(jìn)行計(jì)算。在Friis方程中,接收天線所接收到的信號(hào)功率為
可得到傳輸距離:
故標(biāo)簽天線吸收閱讀器發(fā)射功率達(dá)到開啟自身功率的最大距離:
式中:Pt為讀寫器的發(fā)射功率;Gt為讀寫器天線的增益;R為通信的讀寫距離;λ 為波長(zhǎng);Gr為標(biāo)簽天線的增益;Pth為標(biāo)簽芯片的讀取靈敏度;MEIRP=PtGt,為有效全向輻射功率。
測(cè)試選用的RFID 讀寫器頻率為860 ~960 MHz,取925 MHz為諧振頻率,介質(zhì)材料為FR4,F(xiàn)R4 的介電常數(shù)為εr,介質(zhì)厚度h為1.6 mm。經(jīng)過上述公式計(jì)算設(shè)計(jì)出一款貼片長(zhǎng)度為84 mm×9.43 mm的T形微帶天線模型,如圖2 所示。
圖2 T形貼片天線模型
金屬裂紋檢測(cè)原理為:以金屬表面作為微帶天線的接地板,當(dāng)輻射貼片下方表面出現(xiàn)裂紋時(shí),裂紋處的電導(dǎo)率突變使接地板的電流繞過裂紋尖端流動(dòng),造成電流路徑改變,導(dǎo)致微帶天線的諧振頻率發(fā)生變化[19-20]。
如果產(chǎn)生的裂紋垂直于輻射貼片的寬度方向,將會(huì)引起此次設(shè)計(jì)天線的諧振模式的電流路徑長(zhǎng)度增加。
模擬裂紋置于介質(zhì)基板的下方,如圖3所示。通過HFSS軟件模擬轉(zhuǎn)向架金屬結(jié)構(gòu)裂紋長(zhǎng)度方向的變化。
圖3 裂紋仿真實(shí)驗(yàn)
對(duì)于RFID 標(biāo)簽來說,標(biāo)簽天線與標(biāo)簽芯片間的阻抗所形成的共軛匹配是實(shí)現(xiàn)標(biāo)簽芯片對(duì)標(biāo)簽穩(wěn)定供能與實(shí)現(xiàn)標(biāo)簽最佳性能的關(guān)鍵。本文采用三維電磁仿真軟件HFSS對(duì)標(biāo)簽進(jìn)行設(shè)計(jì)和仿真,HFSS 軟件可以精確地模擬和計(jì)算天線的各種性能參數(shù),包括天線的諧振頻率、回波損耗S11、天線阻抗、增益、電壓駐波比(Voltage Standing Wave Ratio,VSWR)、輻射方向圖等。
圖4 為T形匹配微帶標(biāo)簽的回波損耗S11(X為中心頻率,Y為回波損耗S11)。T 形匹配的微帶貼片標(biāo)簽中心頻率為915 MHz,S11值為-30.798 9 dB。從S11值可以看出其具有較好的傳輸性能。
圖4 標(biāo)簽的回波損耗S11
若使標(biāo)簽具有較好的傳輸性能,則標(biāo)簽與芯片需具備較好的阻抗匹配。本文所選用的標(biāo)簽芯片型號(hào)為Alien Higgs 3,在915 MHz 下的阻抗值為Zin=27 -j201,單位為Ω。則標(biāo)簽天線的共軛匹配應(yīng)為Zin=27+j201。圖5 為T 形匹配微帶標(biāo)簽的阻抗(X 為中心頻率,Y 為阻抗),圖5(a)和圖5(b)分別為T 形匹配微帶貼片天線阻抗的實(shí)部與虛部,標(biāo)簽的輸入阻抗為Zin=27.1 485 +j203.3 329。
圖5 標(biāo)簽的阻抗
圖6 為T 形匹配微帶標(biāo)簽的VSWR(X 為中心頻率,Y為駐波比),VSWR值為1.059 4。由VSWR值可以看出這種標(biāo)簽具有較好的匹配性能與較好的標(biāo)簽入射和反射功率。
圖6 標(biāo)簽的駐波比
綜上所述,本文所設(shè)計(jì)的UHF_RFID 抗金屬標(biāo)簽具有良好的匹配性能與較好的標(biāo)簽入射與反射性能。
使用HFSS對(duì)存在的直裂紋進(jìn)行仿真。首先建模,在介質(zhì)層下表面隨機(jī)位置開一個(gè)長(zhǎng)10 mm、深1.5 mm的槽,模擬金屬接地板出現(xiàn)裂紋的情況,通過仿真改變裂紋長(zhǎng)度為2 mm、4 mm、6 mm、8 mm來發(fā)現(xiàn)裂紋變化對(duì)微帶天線的影響,如圖7 所示。
圖7 不同長(zhǎng)度的裂紋引起的S11參數(shù)圖
通過仿真得出,相較于沒有裂紋時(shí)(長(zhǎng)度為0 mm時(shí)),直裂紋的中心諧振頻率由915 MHz向右偏移,出現(xiàn)少量變化,金屬裂紋引起了中心諧振頻率的上升,從而在理論上使得其讀取距離變大。
RFID系統(tǒng)的工作原理為RFID 閱讀器的發(fā)射功率P1、標(biāo)簽天線接收信號(hào)的功率P2和RFID芯片接收天線得到的功率P3與芯片出廠設(shè)置的激活功率Px之間的關(guān)系。若設(shè)定芯片是完好的且可以正常工作,閱讀器與標(biāo)簽天線之間無障礙阻擋,且端口與極化都匹配,由雷達(dá)散射公式,接收天線收到的最大功率為
式中:G1(θ,Φ)、G2(θ,ψ)分別為讀寫器發(fā)射天線與標(biāo)簽天線的增益;λ0為真空中波長(zhǎng);R 為讀寫器與標(biāo)簽天線的距離;f為諧振頻率。
根據(jù)第2 節(jié)的天線最大傳輸功率理論,天線在工作諧振頻率處可以接收到的功率為
將閱讀器天線的功率大小設(shè)置為在指定距離剛好可以激活RFID芯片,此功率大小可由式(11)得到:
根據(jù)以上原理和仿真,當(dāng)接收天線處于正常工作的諧振頻率時(shí),從設(shè)定好的閱讀器天線中所接收到的功率剛好可以在指定距離激活標(biāo)簽芯片,但是當(dāng)輻射貼片下的金屬表面出現(xiàn)裂紋時(shí),標(biāo)簽天線的諧振頻率發(fā)生偏移,使得閱讀器可以激活RFID 芯片的距離發(fā)生改變,使用以上原理可實(shí)現(xiàn)裂紋檢測(cè)。
基于RFID技術(shù)和微帶天線自身對(duì)裂紋檢測(cè)的原理,設(shè)計(jì)了一款中心頻率為915 MHz 的抗金屬標(biāo)簽,實(shí)現(xiàn)了遠(yuǎn)距離對(duì)裂紋的無損檢測(cè)。當(dāng)輻射貼片下方金屬表面存在裂紋時(shí)會(huì)導(dǎo)致天線的中心諧振頻率變化,從而導(dǎo)致識(shí)別距離偏離標(biāo)定的距離,以此來實(shí)現(xiàn)裂紋檢測(cè)。通過對(duì)標(biāo)簽裂紋的仿真,能夠發(fā)現(xiàn)隨著裂紋長(zhǎng)度的微量變化,標(biāo)簽讀取距離變大。使用HFSS 軟件優(yōu)化結(jié)構(gòu)和尺寸,可以很好地完成RFID 芯片與微帶天線的阻抗匹配,使得天線的性能得到很好的優(yōu)化。通過對(duì)天線裂紋的仿真,雖然只能檢測(cè)垂直裂紋,但是RFID芯片有獨(dú)自的識(shí)別編碼,可以通過合理的陣列進(jìn)行檢測(cè),實(shí)現(xiàn)對(duì)面積較大的金屬表面進(jìn)行裂紋檢測(cè)。在后續(xù)研究中還需考慮裂紋的深度和寬度對(duì)諧振頻率的影響,在實(shí)際應(yīng)用中某些因素需要考慮,例如氣候變化和環(huán)境對(duì)讀寫器與標(biāo)簽天線的影響。