王耕,謝宇
(國家廣電總局726臺,云南 宣威 655400)
瞬態(tài)干擾是時間短、幅度大、頻譜寬的電磁干擾類型,它對電子設(shè)備穩(wěn)定性的影響極大。在實際工作中,我們經(jīng)常遇到的瞬態(tài)干擾主要有3種,即電快速瞬變脈沖群(EFT:Electrical Fast Transient)、 浪涌(SURGE)和靜電放電(ESD:Electrostatic Discharge)。在廣播發(fā)射機的運行維護工作中,應(yīng)當(dāng)重視EFT干擾的影響。它很容易造成發(fā)射機運行不穩(wěn)定,嚴重時將導(dǎo)致播出事故的發(fā)生。對發(fā)射機穩(wěn)定運行造成不良影響的、較為常見的一類EFT干擾是伴隨振動產(chǎn)生的間歇式觸點作用。本文將結(jié)合設(shè)備的運行維護情況,以EFT造成的發(fā)射機故障為例,對高頻電磁環(huán)境中的EFT干擾進行探討,請各位同行指正。
在電感性負載電路中,如圖1所示,根據(jù)楞次定律和電路的暫態(tài)分析,當(dāng)開關(guān)K斷開時,由于電感上的電流不能突變,所以,為了維持這個電流,電感上會產(chǎn)生一個反向電動勢,即:
式中:φ——電感中的磁通(T·m);
L——電感(H);
i——電感中的電流(A)。
由于電感中存在著寄生電容C,反向電動勢便對寄生電容C反向充電。同時,觸點上的電壓隨充電電壓的升高而升高。當(dāng)電壓升高到一定程度時,就將觸點擊穿,形成導(dǎo)電通路。由于導(dǎo)電通路的形成,寄生電容C就開始放電,電壓開始下降;當(dāng)電壓低于維持觸點空氣導(dǎo)通的電壓時,導(dǎo)電通路斷開,反向電動勢再次對寄生電容C充電,重復(fù)上述過程。隨著觸點之間的距離增加,電容上的電壓不能將觸點擊穿時,這個過程結(jié)束。
圖1 感性負載斷開時產(chǎn)生的EFT干擾
當(dāng)由觸點擊穿而形成的導(dǎo)電通路斷開時,電容C將通過電感回路放電,直到電感中的能量被耗盡為止。
由于觸點斷開的距離增大,擊穿觸點所需要的電壓必然增加,電容上的電壓便相應(yīng)地增高,從而使電容充電時間增長,振蕩波形的頻率降低,如圖1(b)所示。
電容C每次擊穿觸點向電源回路反向放電時,就會在電源回路產(chǎn)生很大的脈沖電流。由于電源阻抗的存在,脈沖電流就會在電源兩端形成脈沖電壓,從而對共用該電源的其它電路造成影響。
由于擊穿電壓的上升時間在納秒級,因此干擾的帶寬可達數(shù)百MHz。
通過上述分析可見,無論觸點斷開還是接通,在觸點之間都會產(chǎn)生電擊穿現(xiàn)象。這種電擊穿在觸點似接觸而非接觸的時候產(chǎn)生。當(dāng)觸點之間的距離逐漸減小,即觸點逐漸靠近時,電擊穿現(xiàn)象一直維持到觸點閉合;當(dāng)觸點之間的距離逐漸增大時,電擊穿現(xiàn)象一直維持到無法滿足擊穿條件為止。電感負載開關(guān)系統(tǒng)斷開時,在斷開點處將產(chǎn)生瞬態(tài)干擾(EFT),并且這種干擾由大量脈沖組成。
在實際工作中,應(yīng)當(dāng)關(guān)注兩種開關(guān)觸點被擊穿導(dǎo)通的現(xiàn)象:一種是輝光放電;一種是弧光放電。
a)輝光放電
當(dāng)加在兩個觸點間的電場強度足夠大時,觸點之間的氣體開始電離,就會在觸點之間產(chǎn)生一種能自行維持的輝光放電,這種現(xiàn)象也被稱作湯森放電(Townsend Discharge)。激發(fā)氣體電離的電壓被稱為起輝電壓,起輝電壓是氣體、氣體壓力和觸點之間距離的函數(shù)。
由如圖2所示的輝光放電電壓與觸點間距離之間的關(guān)系可見,在標準大氣壓和標準溫度下的空氣,當(dāng)觸點間距為0.08 mm時,其起輝電壓大約為320 V,即只需320 V電壓便可以激發(fā)一次輝光放電。當(dāng)氣隙長度越長或者越短,觸點間距增加或減小時,激發(fā)輝光放電的電壓就會增高。
氣體發(fā)生電離以后,只需要較低的維持電壓就能維持氣體的電離狀態(tài)。在空氣中,維持電壓大約為300 V。由圖2可見,維持電壓為常數(shù),即說明維持電壓與觸點間的距離無關(guān)。另外,為了維持輝光放電,還需要一個通常為幾毫安的最小電流值。
圖2 輝光放電電壓與觸點間距的關(guān)系
輝光放電的特征是具有較高的電壓和較小的電流。
b)弧光放電
弧光放電是由電場感應(yīng)的電子發(fā)射而引發(fā)的。在金屬中,有些電子的速度足夠高,可以逸出金屬表面。而在通常情況下,它們很快就會被自己產(chǎn)生的電場拉回到金屬表面。但如果有一個外加電場能夠克服這個拉回逸出電子的場,那么逸出的電子就可以克服拉力而逸出金屬表面,成為空間的自由電子。產(chǎn)生這種電子發(fā)射所需要的電壓梯度一般為0.5 MV/cm,即觸點間距為1cm時,電壓變化為5 V。
由圖3所示的弧光放電可見,在外界電場的作用下,電子從陰極射向陽極。最大電壓梯度值在陰極的最高凸出部位,是發(fā)射電子的電子源。電子流穿過觸點間隙轟擊陽極。由于局部電流很大,產(chǎn)生功率損耗,從而使得觸點局部在短時間內(nèi)溫升很快,造成金屬汽化。一旦出現(xiàn)金屬汽化,就會在觸點之間形成一個導(dǎo)電性的金屬氣體橋。即使此時的電壓梯度小于產(chǎn)生弧光放電的電壓梯度,弧光放電也可以繼續(xù)維持?;」夥烹姷奶卣魇请妷翰桓撸娏髟龃蟮膬蓸O間電壓反而下降,有強烈的光輝。
一旦發(fā)生了弧光放電,形成金屬氣體橋,只要有足夠高的外界電壓克服陰極電位,并且有足夠的電流使陰極或者陽極的金屬汽化,弧光放電就能夠維持。維持電壓一般為10~30 V,維持電流一般為1 A。氣體金屬橋上流過的電流取決于電源電壓和電路阻抗。
弧光放電的特征是具有較低的電壓和較大的電流。
下面,舉例說明EFT干擾對廣播發(fā)射機穩(wěn)定運行造成的不良影響。
使用螺絲搭接是在廣播發(fā)射機中最常用的搭接手段之一,而這種搭接也容易產(chǎn)生搭接不良的現(xiàn)象。當(dāng)因螺絲搭接不良時,極易產(chǎn)生EFT電磁干擾,造成元器件損壞或性能下降,嚴重時甚至導(dǎo)致播出事故的發(fā)生。故障產(chǎn)生的原因通常為綜合因素,但通過梳理,我們可以分析出其主要原因。
a)故障現(xiàn)象
檢修中發(fā)現(xiàn)DX-600中波發(fā)射機的PB模式控制接口板(PB MODE CONTROL INTERFACE BD)的固定螺絲燒,板卡的4個安裝孔位置被燒壞,重則露出覆銅。如果不及時處理,該板卡失效后將使發(fā)射機不能正常運行,影響安全傳輸發(fā)射。
b)故障分析
DX-600中波發(fā)射機合成器系統(tǒng)的PB模式控制接口板共有兩塊,分別被安裝在并機柜A2上方的中間前后機箱,其安裝結(jié)構(gòu)如圖4所示。
由于板卡處于強電磁場環(huán)境,為了防止高頻干擾,在板卡上使用了開孔的屏蔽罩對高頻進行屏蔽,并用4顆螺絲穿過板卡安裝孔固定于機柜壁,構(gòu)成了一個干擾源在屏蔽體外部的被動屏蔽結(jié)構(gòu)。
在正常情況下,板卡固定螺絲緊固,搭接電阻很小,高頻能量可被迅速地泄放到地,不會對板卡造成不良的影響。而當(dāng)機器運行產(chǎn)生的振動造成固定螺絲松動時,原來良好的電氣低阻抗路徑被阻斷,高頻能量便不能通過屏蔽體被有效地泄放,形成如圖5所示的電路。
圖3 弧光放電
圖4 PB模式控制接口板安裝結(jié)構(gòu)
圖5(a)為螺絲緊固時的等效電路,因為螺絲緊固,形成的搭接電阻很小,可以忽略不計,高頻能量便被有效地泄放到地。圖5(b)為螺絲松動后的等效電路,由于固定螺絲松動,形成搭接阻抗,高頻能量不能被迅速、有效地泄放,并在搭接阻抗上產(chǎn)生壓降,從而對板卡產(chǎn)生不良的影響,致使板卡燒壞。由于發(fā)射機在運行當(dāng)中產(chǎn)生的振動,使固定螺絲伴隨振動而產(chǎn)生了間歇式觸點作用,導(dǎo)致電擊穿,加速了板卡的燒損。另外,由于螺絲松動的程度不同,使得搭接阻抗大小不同,電擊穿的程度不同,勢必導(dǎo)致板卡的4個安裝孔位置被燒壞的程度不一致。
圖5 螺絲松動前后的等效電路
綜上所述,造成PB模式控制接口板損壞的原因為:
1)固定螺絲松動,產(chǎn)生搭接阻抗;
2)伴隨機器在運行中的振動,在搭接點處產(chǎn)生了間歇式觸點作用,加快了板卡的燒壞;
3)螺絲松動程度不一致,搭接阻抗大小不同,高頻能量在其上產(chǎn)生的壓降不同,間歇式觸點作用的程度不同,使得板卡固定位置燒壞的程度不同。
由于常見的觸點保護方案在很多技術(shù)資料中都有詳細的分析,這里就不再贅述。為了避免發(fā)射機中這一類特殊的EFT干擾對設(shè)備穩(wěn)定運行造成的不良影響,應(yīng)采取如下措施:
1)制定檢修周期,定期對發(fā)射機所有的搭接部位進行檢查,保證搭接部位接觸良好,壓接密實;
2)對易以伴隨振動而產(chǎn)生EFT干擾的部位,對其固定件進行可靠性處理,例如:對螺絲緊固、增加彈簧墊片、甚至可將原用的螺絲加大等措施。
由于EFT干擾具有時間短而幅度大的特點,它對發(fā)射機的穩(wěn)定運行將造成不良的影響,在技術(shù)維護工作中應(yīng)當(dāng)采取措施加強對它的防護,從而保證安全傳輸發(fā)射的順利進行。
[1]王耕.大功率廣播發(fā)射機的地線干擾與抑制[J].電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗,2009,27(4):54-58.
[2]楊克俊.電磁兼容原理與設(shè)計技術(shù)[M].北京:人民郵電出版社,2004.