朱 輪 馬慶功
(江蘇工業(yè)學(xué)院,江蘇 常州 213016)
高精度的信號(hào)源在現(xiàn)代電子系統(tǒng)中占有十分重要的地位,它是進(jìn)行科學(xué)研究、開(kāi)發(fā)研制新產(chǎn)品、各種測(cè)試和實(shí)驗(yàn)必不可少的工具之一,在通信、電子、控制、雷達(dá)、測(cè)量、教學(xué)等領(lǐng)域應(yīng)用十分廣泛。一般要求頻率穩(wěn)定度高,大的功率輸出動(dòng)態(tài)范圍,良好的輸出頻率響應(yīng),應(yīng)具有調(diào)制功能,頻譜純度高,頻率、相位、幅度可程控。精度高等特點(diǎn)。因此傳統(tǒng)的模擬信號(hào)源已經(jīng)遠(yuǎn)遠(yuǎn)不能滿足要求,而直接數(shù)字合成技術(shù)(DDS)的應(yīng)用,產(chǎn)生了全數(shù)字化的信號(hào)源,以數(shù)字為基礎(chǔ)的程控化、智能化的信號(hào)源,不僅性能指標(biāo)有了質(zhì)的飛躍,功能也更為強(qiáng)大,操作更加簡(jiǎn)便。
隨著數(shù)字技術(shù)的飛速發(fā)展,高精度大動(dòng)態(tài)范圍數(shù)字/模擬(D/A)轉(zhuǎn)換器的出現(xiàn)和廣泛應(yīng)用,用數(shù)字控制方法從一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)參考頻率源產(chǎn)生多個(gè)頻率信號(hào)的技術(shù),即直接數(shù)字合成(DDS)技術(shù)異軍突起。其主要優(yōu)點(diǎn)有:(1)頻率轉(zhuǎn)換快:DDS頻率轉(zhuǎn)換時(shí)間短,一般在納秒級(jí);(2)分辨率高:大多數(shù)DDS可提供的頻率分辨率在1 Hz數(shù)量級(jí),許多可達(dá)0.001Hz;(3)頻率合成范圍寬;(4)相位噪聲低,信號(hào)純度高;(5)可控制相位:DDS可方便地控制輸出信號(hào)的相位,在頻率變換時(shí)也能保持相位聯(lián)系;(6)生成的正弦/余弦信號(hào)正交特性好等。因此,利用DDS技術(shù)特別容易產(chǎn)生頻率快速轉(zhuǎn)換、分辨率高、相位可控的信號(hào),這在電子測(cè)量、雷達(dá)系統(tǒng)、調(diào)頻通信、電子對(duì)抗等領(lǐng)域具有十分廣泛的應(yīng)用前景。
簡(jiǎn)易低頻信號(hào)發(fā)生器要求能輸出0.1~50Hz范圍的正弦波、三角波和方波信號(hào),其中正弦波和三角波信號(hào)可以用按鍵選擇輸出,輸出信號(hào)的頻率可以從0.1~50Hz范圍內(nèi)調(diào)整。由于輸出信號(hào)的頻率較低,因此考慮使用單片機(jī)作為控制器,用中斷查表法完成波形數(shù)據(jù)的輸出,再用D/A轉(zhuǎn)換器輸出規(guī)定的波形信號(hào)。本系統(tǒng)使用AT89C51單片機(jī)作為控制器,用DAC0832作為D/A轉(zhuǎn)換器。功能按鍵使用單片機(jī)的3個(gè)端口。實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)框圖如圖1所示。
系統(tǒng)的硬件組成主要包括控制部分和數(shù)模轉(zhuǎn)換兩部分,電路原理圖如圖2所示。
2.2.1 控制部分
圖1 簡(jiǎn)易低頻信號(hào)源系統(tǒng)結(jié)構(gòu)框圖
圖2 簡(jiǎn)易低頻信號(hào)源電路原理圖
控制芯片選擇ATMEL公司生產(chǎn)的低電壓、高性能CMOS 8位單片機(jī)AT89C51。片內(nèi)含4K bytes的可反復(fù)擦寫(xiě)的Flash只讀程序存儲(chǔ)器和128bytes的隨機(jī)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器(RAM),器件采用 ATMEL公司的高密度,非易失性存儲(chǔ)技術(shù)生產(chǎn),兼容標(biāo)準(zhǔn)MCS-51指令系統(tǒng)。89C51單片機(jī)引腳排列如圖3所示。89C51單片機(jī)邏輯符號(hào)如圖4所示。
2.2.2 數(shù)模轉(zhuǎn)換部分
DAC0832是CMOS工藝制造的8位數(shù)/模(D/A)轉(zhuǎn)換器,屬于8位電流輸出型D/A轉(zhuǎn)換器,轉(zhuǎn)換時(shí)間為1微秒,片內(nèi)帶輸入數(shù)字鎖存器,其引腳排列和內(nèi)部組成原理圖如圖5和圖6所示。DAC0832與單片機(jī)接成數(shù)據(jù)直接寫(xiě)入方式,當(dāng)單片機(jī)把一個(gè)數(shù)據(jù)直接寫(xiě)入DAC寄存器時(shí),DAC0832的輸出模擬電壓信號(hào)隨之對(duì)應(yīng)變化。利用D/A轉(zhuǎn)換器可以產(chǎn)生各種波形,如方波、三角波、鋸齒波等以及它們組合產(chǎn)生的復(fù)合波形和不規(guī)則波形。這些復(fù)合波形利用標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試設(shè)備是很難產(chǎn)生的。
2.3.1 初始化子程序
初始化子程序的主要工作是設(shè)置定時(shí)器的工作模式,初值預(yù)置,開(kāi)中斷和打開(kāi)定時(shí)器等。在這里,定時(shí)器T1工作于16位定時(shí)模式,單片機(jī)按定時(shí)時(shí)間重復(fù)的把波形數(shù)據(jù)送到DAC0832的寄存器。初始化子程序流程圖如圖7所示。
2.3.2 鍵掃描子程序
鍵掃描子程序的任務(wù)是檢查3個(gè)按鍵是否有鍵按下,若有鍵按下,則執(zhí)行相應(yīng)的功能。在這里,3個(gè)按鍵分別用于頻率增加,頻率減小和正弦波與三角波的選擇功能。鍵掃描子程序流程圖如圖8所示。
2.3.3 波形數(shù)據(jù)產(chǎn)生子程序
波形數(shù)據(jù)產(chǎn)生子程序是定時(shí)器T1的中斷程序,當(dāng)定時(shí)器計(jì)時(shí)溢出時(shí),發(fā)生一次中斷,當(dāng)發(fā)生中斷時(shí),單片機(jī)將按次序?qū)⒉ㄐ螖?shù)據(jù)表中的波形數(shù)據(jù)一一送入DAC0832,DAC0832再根據(jù)輸入的數(shù)據(jù)大小輸出對(duì)應(yīng)的電壓。波形數(shù)據(jù)產(chǎn)生子程序如圖9所示。
圖3 AT89C51的引腳排列結(jié)構(gòu)
圖4 邏輯符號(hào)圖
圖5 DAC0832引腳排列
圖6 DAC0832內(nèi)部組成原理圖
圖7 初始化子程序流程圖
圖8 掃描鍵子程序流程圖
圖9 波形數(shù)據(jù)產(chǎn)生子程序流程圖
在電子技術(shù)中,AM調(diào)制信號(hào)源具有重要地位。傳統(tǒng)的基于模擬方法實(shí)現(xiàn)的低頻信號(hào)發(fā)生器具有頻率穩(wěn)定度差等缺點(diǎn),隨著電子技術(shù)的不斷發(fā)展,基于DDS技術(shù)實(shí)現(xiàn)的低頻信號(hào)發(fā)生器具有頻率穩(wěn)定度高、分辨率高等優(yōu)點(diǎn),將其應(yīng)用于AM調(diào)制可得到優(yōu)良的性能。本文基于模擬電路和單片機(jī)AT89C51組成的單片機(jī)系統(tǒng)進(jìn)行硬件和軟件的設(shè)計(jì)。本系統(tǒng)主要由硬件和軟件兩部分組成。DDS頻率合成器工作穩(wěn)定,易于實(shí)現(xiàn),輸出頻率分辨率高可以滿足人們不斷提高的要求。本設(shè)計(jì)在系統(tǒng)總體設(shè)計(jì)方面,充分利用單片機(jī)AT89C51和直接數(shù)字頻率合成技術(shù),完成了模擬調(diào)制低頻信號(hào)源的設(shè)計(jì)。
[1]張玉梅,闊永紅,傅豐林.基于DSP和DDS的高精度頻率信號(hào)源實(shí)現(xiàn)[J].電子工程師,2004,30(1):43-45.
[2]陸原,劉國(guó)英,崔帥.一種基于DDS的幅值可調(diào)信號(hào)發(fā)生器的設(shè)計(jì)[J].國(guó)外電子元器件,2008,(6):23-25.
[3]石雄,楊加功,彭世旋.DDS芯片AD9850的工作原理及其與單片機(jī)的接口 [J].國(guó)外電子元器件,2001,(5):53-56.
[4]Analog Devices Inc.CMOS 125MHz Complete DDSSynthesizer AD9850[Z],1998.
[5]凌玉華.單片機(jī)原理及應(yīng)用系統(tǒng)設(shè)計(jì)[M].長(zhǎng)沙:中南大學(xué)出版社,2006.
[6]鮑麗星,陳曉爭(zhēng).一種高精度信號(hào)源的設(shè)計(jì)[J].計(jì)算機(jī)測(cè)量與控制,2008.16(4):588-590
[7]崔健鵬,趙敏,江帆.采用DDS技術(shù)實(shí)現(xiàn)的虛擬任意波形發(fā)生器 [J].計(jì)算機(jī)測(cè)量與控制,2003,11(7):553-555.
[8]蔣獻(xiàn)豐,錢(qián)衛(wèi)飛.基于單片機(jī)與FPGA的波形發(fā)生器[J].中國(guó)測(cè)試技術(shù),2008,34(3):77-79.