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      清洗液溫度及濃度對(duì)硅研磨片清洗效果的影響

      2011-06-28 02:57:48陳琪昊韓煥鵬
      電子工業(yè)專用設(shè)備 2011年7期
      關(guān)鍵詞:清洗液硅片空化

      陳琪昊,呂 菲,劉 峰,韓煥鵬,莫 宇

      (中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第四十六研究所天津300220)

      單晶硅是一種比較活潑的非金屬,是晶體材料的重要組成部分,處于新材料發(fā)展的前沿。硅晶體結(jié)構(gòu)屬于金剛石結(jié)構(gòu),其晶格是由兩個(gè)相同原子構(gòu)成的面心立方晶格沿立方的體對(duì)角線錯(cuò)開1/4長(zhǎng)度套構(gòu)而成,是一種由相同原子構(gòu)成的復(fù)式晶格。

      單晶硅在實(shí)際生產(chǎn)過(guò)程中,無(wú)論是拋光片還是研磨片,研磨工藝之后都需經(jīng)過(guò)清洗。如果硅片表面潔凈度較低,表面發(fā)生變花、發(fā)藍(lán)以及發(fā)黑等現(xiàn)象時(shí),所得到的研磨片是不合格的;另外硅研磨片清洗的潔凈度直接影響著化拋和拋光工序,因此硅研磨片的清洗在半導(dǎo)體清洗工作中具有重要的作用[1]。

      1 硅片表面被污染的來(lái)源

      在硅片加工及器件制造過(guò)程中,所有與硅接觸的外部媒介都是硅片污染雜質(zhì)的來(lái)源。主要包括以下幾方面:硅片加工成型過(guò)程中的污染、環(huán)境污染、水造成的污染,試劑帶來(lái)的污染、工業(yè)氣體造成的污染、工藝本身造成的污染、人體造成的污染等[2]。

      對(duì)于硅研磨片而言,表面的玷污主要來(lái)源于研磨工序。具體來(lái)說(shuō),玷污主要來(lái)自于以下幾方面:

      (1)研磨之后,若不及時(shí)將硅片放入水中,其表面將與大氣中的氣體發(fā)生反應(yīng)而產(chǎn)生一薄層,其中以氧化層為主。

      (2)在研磨結(jié)束取片的過(guò)程中由于操作者的不正當(dāng)操作而引起的玷污,例如操作者不戴手套直接接觸硅片,此時(shí)硅片表面將被操作者手上的油性物質(zhì)玷污。

      (3)研磨后硅片表面殘余的助磨劑,金剛砂以及白剛玉等引起的玷污。

      (4)與硅片接觸的水引起的玷污。

      由于硅片經(jīng)過(guò)研磨之后其表面污染主要來(lái)自于以上幾個(gè)方面,所以研磨片清洗的主要目的就是去除硅片表面的氧化層和有機(jī)物等。

      在半導(dǎo)體行業(yè)中,超聲波清洗由于具有效率高,易于實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化以及不受清洗件表面復(fù)雜形狀限制等優(yōu)點(diǎn)被廣泛運(yùn)用。超聲波清洗原理簡(jiǎn)要概述如下:由超聲波發(fā)生器發(fā)出的高頻振蕩信號(hào)通過(guò)換能器轉(zhuǎn)換成高頻機(jī)械振蕩而傳播到清洗液中,超聲波在清洗液中疏密相間的向前輻射,使液體流動(dòng)產(chǎn)生數(shù)以萬(wàn)計(jì)的微小氣泡,這些氣泡在超聲波縱向傳播的負(fù)壓區(qū)形成生長(zhǎng),而在正壓區(qū)迅速閉合,在這種被稱為“空化”效應(yīng)的過(guò)程中,氣泡閉合可形成瞬間高壓,連續(xù)不斷地產(chǎn)生瞬間高壓就像一連串小“爆炸”不斷地沖擊物件表面,使物件的表面及縫隙中的污垢迅速剝落,從而達(dá)到物件表面凈化的目的。另外由于清洗液本身的化學(xué)作用,在一定的溫度下,清洗液與硅片表面的污垢發(fā)生化學(xué)反應(yīng)也使污垢脫落。對(duì)于超聲波清洗方法,影響硅片清洗效果的因素很多,比如清洗時(shí)間,超聲功率,超聲頻率,液體溫度,清洗液濃度以及駐波的影響等。

      在實(shí)際生產(chǎn)過(guò)程中,由于提高生產(chǎn)效率以及降低成本是每個(gè)企業(yè)都努力追求的目標(biāo),所以分析清洗液溫度以及清洗液濃度對(duì)硅片清洗效果的影響就顯得尤為重要。

      本實(shí)驗(yàn)所選用的超聲波清洗機(jī)型號(hào)為KPDW-QC7144-40C/60C全自動(dòng)硅片洗凈機(jī),由7個(gè)液槽組成,1、2、3、5 槽為藥液槽,4、6 和 7 槽為清水槽。

      本實(shí)驗(yàn)所選用的硅片均為直徑為100 mm的單晶硅片,硅片種類分為4種,具體情況見(jiàn)表1。

      表1 實(shí)驗(yàn)用單晶硅片種類

      2 清洗液溫度對(duì)硅研磨片清洗效果的影響

      一般來(lái)說(shuō)溫度升高,空化閾值下降,空化容易發(fā)生,對(duì)清洗是有利的;但是另一方面,溫度越高,空化氣泡崩潰瞬間產(chǎn)生的能量會(huì)隨之降低,減弱了空化強(qiáng)度,對(duì)清洗是不利的,可見(jiàn)溫度升高后,即產(chǎn)生有利的影響同時(shí)也存在不利的一面,兩者是互相矛盾的。

      一個(gè)半徑為Re的氣泡在液體中處于平衡態(tài)的情況下,當(dāng)液體中無(wú)超聲波時(shí)其受力要滿足如下關(guān)系式

      式中:Pv代表氣泡內(nèi)的蒸汽壓,Pg代表氣泡內(nèi)其他氣體壓力,Ph代表流體靜壓力,2σ/Re代表氣泡的表面張力。

      氣泡膨脹長(zhǎng)大的條件是內(nèi)力大于外力,即Pv+Pg>Ph+2σ/Re,假設(shè)表面張力和氣泡內(nèi)其他氣體壓力都很小,我們將之忽略,則就有以下關(guān)系式:

      當(dāng)水中有超聲波存在時(shí),液體中就會(huì)有聲壓,則氣泡所受到的外壓力就變?yōu)榱黧w靜壓力和聲壓的合力Ph+Pa,Pa隨時(shí)間t變化,交替產(chǎn)生正負(fù)壓,在負(fù)壓下氣泡張力,存在如下關(guān)系式:

      如果表面張力和氣泡內(nèi)壓力均可忽略,則上式變?yōu)?/p>

      因?yàn)闇囟仍降?,其蒸汽壓越低,所以低溫下氣泡要長(zhǎng)大,發(fā)生空化現(xiàn)象,需要很高的聲壓。在表面張力不可忽略時(shí),上式變?yōu)椋?/p>

      由此式可見(jiàn),溫度升高后,由于表面張力下降,同時(shí)蒸汽壓上升,氣泡張大所需的聲壓值就會(huì)降低,空化容易發(fā)生。

      此外,溫度升高會(huì)使液體黏滯系數(shù)(η)下降,從而空化閾值亦會(huì)下降,綜上所述,溫度升高會(huì)使空化泡的產(chǎn)生變得容易[4]。

      以上介紹了溫度升高后產(chǎn)生的有利一面,下面介紹一下溫度升高后產(chǎn)生的不利一面。

      根據(jù)瞬態(tài)空化理論,空化泡內(nèi)最大壓力和溫度分別如以下兩式:

      Pmax和Tmax分別代表空化泡崩潰時(shí)產(chǎn)生的最大壓力和最高溫度,可見(jiàn)Pmax和Tmax都和Pg成反比,此時(shí)Pg相當(dāng)于蒸汽壓,當(dāng)溫度升高后蒸汽壓會(huì)升高,所以Pmax和Tmax都要下降,空化強(qiáng)度減弱,對(duì)清洗是不利的。

      綜上所述,溫度升高后即有有利的一面也有不利的一面,那么溫度對(duì)空化的最終影響是什么樣的呢?陜西師范大學(xué)某課題組利用超聲波空化產(chǎn)生發(fā)光效應(yīng),研究了溫度和空化強(qiáng)度的關(guān)系,得到以下結(jié)果(見(jiàn)圖1):

      圖1 發(fā)光強(qiáng)度隨溫度的變化曲線

      從圖1中可以看出隨著溫度的升高發(fā)光強(qiáng)度先升高后降低,在溫度達(dá)到某一值時(shí),空化強(qiáng)度最大,此時(shí)清洗效果最佳[5]。

      3 清洗液濃度對(duì)硅研磨片清洗效果的影響

      我們知道要在液體中形成空腔或充汽空腔,要求在聲波膨脹相內(nèi)產(chǎn)生的負(fù)聲壓能克服液體分子間的引力,因此在黏滯性大的液體中空化較難發(fā)生。當(dāng)清洗液濃度增大后,清洗液的密度也增大,單位體積內(nèi)的分子數(shù)增多,則氣泡膨脹所要克服的分子力就越大,氣泡膨脹需要較高的聲壓。但是當(dāng)清洗液濃度過(guò)低時(shí),清洗液的化學(xué)作用就會(huì)減弱,對(duì)清洗效果也是不利的,可見(jiàn)清洗液濃度不是越高越好,相反可以找到一個(gè)最低濃度值,也是臨界值,低于此濃度后清洗效果變差,高于此濃度的清洗效果沒(méi)有明顯變化。濃度對(duì)空化效果的影響可以用圖2來(lái)概括:

      圖2 濃度對(duì)空化效果的影響

      4 實(shí)驗(yàn)工藝及分析

      4.1 清洗液溫度對(duì)清洗效果的影響

      為了分析清洗液溫度對(duì)硅研磨片清洗效果的影響,實(shí)驗(yàn)中通過(guò)對(duì)清洗液溫度參數(shù)進(jìn)行調(diào)整,而其他實(shí)驗(yàn)條件保持不變,最后分析在不同清洗液溫度下的硅片表面潔凈情況。

      4.1.1 實(shí)驗(yàn)工藝參數(shù)

      各槽藥液成分為:

      1槽:YZ-318助洗劑1000 mL,YZ-319清洗粉1000 mL,去離子水76 L;

      2槽,3槽,5槽:Q325-B 清洗劑16L,Q325-D活性劑4 L,去離子水128 L;

      實(shí)驗(yàn)中設(shè)計(jì)三組對(duì)比實(shí)驗(yàn):清洗液溫度分別為35℃、45℃、55℃,三組對(duì)比實(shí)驗(yàn)清洗時(shí)間都相同,各槽清洗時(shí)間均為240 s,另外超聲功率也相同,500 W左右,唯一變量就是清洗液的溫度。

      4.1.2 結(jié)果分析

      由圖3所示,清洗液溫度為45℃時(shí),片子表面合格率均達(dá)到100%,比35℃和55℃時(shí)的清洗效果都要好,另外可以發(fā)現(xiàn)55℃要比35℃時(shí)的清洗效果更好,根據(jù)之前的理論分析,可知在現(xiàn)在清洗工藝下,空化最活躍時(shí)的溫度應(yīng)該在45℃附近,在45℃左右,空化強(qiáng)度最高,清洗效果最佳,超過(guò)此溫度或低于此溫度,清洗效果都要減弱。

      圖3 清洗液溫度對(duì)清洗效果的影響

      4.2 清洗液濃度對(duì)硅研磨片清洗效果的影響

      隨著清洗液濃度的增大,清洗液黏度變大,流動(dòng)性變差,不易于清洗,同樣若清洗液濃度過(guò)低,其有效成分的含量就會(huì)減少,硅片的清洗也會(huì)變差。一般地為了增加超聲清洗效果,常在清洗液中加入表面活性劑,但表面活性劑和其它化學(xué)試劑以下也是對(duì)硅片有作用的有機(jī)物,無(wú)機(jī)物被去除后,化學(xué)試劑本身的粒子被留下,也會(huì)對(duì)硅片的表面帶來(lái)影響[3]。所以清洗液的濃度對(duì)硅片清洗效果的影響較大。本實(shí)驗(yàn)中我們改變了2、3、5槽的清洗液濃度,1槽清洗液濃度不變,最后觀察硅片表面的清洗效果。

      4.2.1 實(shí)驗(yàn)工藝參數(shù)

      具體實(shí)驗(yàn)工藝參數(shù)見(jiàn)表2。

      表2 清洗液濃度對(duì)單晶硅片表面清洗效果的影響工藝參數(shù)

      為了研究濃度對(duì)清洗效果的影響設(shè)計(jì)兩組對(duì)比實(shí)驗(yàn),實(shí)驗(yàn)的變量就是2.3.5槽的濃度不同,1槽配比不變,兩組實(shí)驗(yàn)中2.3.5槽的濃度分別為1:8 和 1:6;1:6 時(shí) 2.3.5 槽藥液配比為:2 槽,3槽,5槽:Q325-B清洗劑20 L,Q325-D活性劑5 L,去離子水120 L;Q325-B清洗劑:去離子水=1:6;而一槽配比不變,YZ-318助洗劑1000 mL,YZ-319清洗粉1000 mL,去離子水76 L;

      4.2.2 實(shí)驗(yàn)結(jié)果分析

      根據(jù)圖4我們可以看到,高濃度1:6的清洗效果明顯比低濃度1:8時(shí)的差,而且1:8時(shí)清洗出的硅片表面合格率都達(dá)到了100%,根據(jù)前邊理論分析,濃度增大后,空化不易發(fā)生,影響最終的清洗效果,所以清洗液的濃度應(yīng)該盡量低些,只要清洗液的化學(xué)作用不是太弱即可,因?yàn)闈舛冗^(guò)低的話,清洗液中的有效化學(xué)成分可能就過(guò)少,清洗效果就會(huì)不佳??梢?jiàn)降低濃度一方面符合理論分析,另一方面也達(dá)到了節(jié)約成本目的,在本實(shí)驗(yàn)所采用的清洗工藝下,濃度為1:8時(shí)硅片合格率仍為100%,那么清洗液的濃度一定還可以繼續(xù)降低,直到降到一臨界值,濃度低于臨界值后清洗效果就會(huì)明顯變差,對(duì)于臨界濃度值問(wèn)題也是本實(shí)驗(yàn)后續(xù)主要要研究的內(nèi)容。

      圖4 清洗液濃度對(duì)清洗效果的影響

      4.3 清洗時(shí)間對(duì)硅片表面清洗效果的影響

      本實(shí)驗(yàn)中,我們還研究了清洗時(shí)間對(duì)硅片清洗效果的影響,實(shí)驗(yàn)工藝參數(shù)如下所示:

      各槽藥液成分:1槽:YZ-318助洗劑1000mL,YZ-319清洗粉1000mL,去離子水76L;2槽,3槽,5槽:Q325-B清洗劑16 L,Q325-D活性劑4 L,去離子水128 L;為了分析清洗時(shí)間對(duì)清洗效果的影響,設(shè)計(jì)了3組對(duì)比實(shí)驗(yàn),3組實(shí)驗(yàn)的不同之處即是清洗時(shí)間不同,分別為120 s、240 s和 360 s;超聲功率和清洗液溫度都相同。

      4.3.1 實(shí)驗(yàn)結(jié)果分析

      由圖5清洗結(jié)果可以看到,三種清洗時(shí)間下得到的硅片表面合格率差別不大,沒(méi)有一個(gè)合格率均達(dá)到100%的,從圖中很難找到某些明顯的變化規(guī)律;但在另一方面我們也可以發(fā)現(xiàn),對(duì)比360 s和240 s兩種清洗結(jié)果,雖然360 s清洗時(shí)間相對(duì)較長(zhǎng),但清洗效果對(duì)比240 s時(shí)差別不大,沒(méi)有明顯上升,甚至有的反而下降,綜合分析,得到這種結(jié)果還是有原因的,因?yàn)榍逑匆褐泻谢钚詣?,活性劑本身就屬于有機(jī)物,長(zhǎng)時(shí)間在清洗液中浸泡的話,會(huì)被有機(jī)物2次玷污,不利于清洗;另外清洗液一般都是堿性的的,長(zhǎng)時(shí)間浸泡加之超聲波振動(dòng)會(huì)對(duì)硅片造成空化腐蝕,表面容易造成損傷,綜合以上分析,清洗時(shí)間不能過(guò)長(zhǎng),長(zhǎng)時(shí)間在清洗液中浸泡對(duì)硅片清洗是不利的。

      圖5 清洗時(shí)間對(duì)清洗效果的影響

      5 結(jié)論

      (1)清洗液溫度越高越容易形成空化現(xiàn)象,但是由于蒸汽壓也隨之增大,又會(huì)影響空化強(qiáng)度,對(duì)硅片清洗也是不利的,在實(shí)際生產(chǎn)中,溫度通常控制在45℃左右;

      (2)增加清洗液濃度導(dǎo)致清洗液的黏度增大,影響超聲空化強(qiáng)度,進(jìn)而不利于硅片表面的清洗;

      (3)清洗時(shí)間不是越長(zhǎng)越好,相反隨著清洗時(shí)間的延長(zhǎng),清洗液對(duì)硅片造成二次玷污的機(jī)會(huì)就大,不利于清洗,另外超聲波會(huì)對(duì)硅片表面造成空化腐蝕,時(shí)間越長(zhǎng),空化腐蝕越明顯,對(duì)硅研磨片表面造成損傷。

      [1]劉玉玲,常美茹.硅研磨片超聲波清洗技術(shù)的研究[J].電子工藝技術(shù),2006,27(4):215-217.

      [2]劉傳軍,趙權(quán),劉春香,楊紅星.硅片清洗原理與方法綜述[J].半導(dǎo)體情報(bào),2000,37(2):30-38.

      [3]杜虎明,牛進(jìn)毅,王莉,馬斌.光伏太陽(yáng)能硅片清洗工藝的探索[J].電子專用設(shè)備,2010,(185):37-39.

      [4]王萍輝.超聲空化影響因素[J].河北理工學(xué)院學(xué)報(bào),2003,(4):154-161.

      [5]朱秀麗,牛勇.溫度對(duì)超聲空化聲場(chǎng)的影響[J].陜西師范大學(xué)學(xué)報(bào),2008,36(5):35-37.

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