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      基于CoFe/Pd的自旋閥底電極中增強(qiáng)的垂直磁各向異性

      2012-01-05 08:16:12娜,竺
      關(guān)鍵詞:膜結(jié)構(gòu)磁化器件

      韓 娜,竺 云

      (天津師范大學(xué) 物理與電子信息學(xué)院,天津 300387)

      基于CoFe/Pd的自旋閥底電極中增強(qiáng)的垂直磁各向異性

      韓 娜,竺 云

      (天津師范大學(xué) 物理與電子信息學(xué)院,天津 300387)

      采用磁控濺射方法制備了Pd(3 nm)/CoFe(0.8 nm)/納米氧化層/CoFe(tnm)/Cu(4 nm)/Pd(5 nm)自旋閥底電極薄膜,并用振動(dòng)樣品磁強(qiáng)計(jì)對(duì)樣品的磁性能進(jìn)行了測(cè)量.研究結(jié)果表明:納米氧化層的引入可以使電極薄膜的磁各向異性在退火后從面內(nèi)轉(zhuǎn)到垂直膜面方向,并且這種強(qiáng)烈的垂直磁各向異性在CoFe有效厚度為2 nm時(shí)仍能保持.這種具有非多層膜結(jié)構(gòu)、鐵磁層較厚、熱穩(wěn)定性較高的底電極有利于基于自旋轉(zhuǎn)移矩的垂直磁各向異性全金屬贗自旋閥的發(fā)展.

      納米氧化層;垂直磁各向異性;自旋閥

      自1988年巨磁電阻(Giant Magnetor esistance,GMR)效應(yīng)[1]被發(fā)現(xiàn)以來(lái),金屬磁性多層膜被迅速應(yīng)用到計(jì)算機(jī)硬盤(pán)讀出磁頭材料、磁性傳感器和磁隨機(jī)存儲(chǔ)器(Magnetic Random Access Memory,MRAM)等器件中,1991年,Dieny等[2]提出的巨磁電阻自旋閥是這類器件中用途較為廣泛的一種結(jié)構(gòu).傳統(tǒng)的自旋閥主要由鐵磁自由層、非磁隔離層、鐵磁被釘扎層(或稱為參考層)和反鐵磁釘扎層等構(gòu)成,電流模式可分為電流平行于膜面(Current In Plance,CIP)和電流垂直于膜面(Cur-rent Perpendicular-to-Plance,CPP)兩種.隨著器件發(fā)展的微型化和存儲(chǔ)密度的提高,基于垂直磁各向 異 性 (Perpendicular Magnetic Anisotropy PMA)的器件由于具有更好的熱穩(wěn)定性、更低的能耗和不受尺寸減小限制等優(yōu)點(diǎn)引起了人們極大的興趣.1996年,Slonczewski[3]和 Berger[4]理論預(yù)測(cè)出通過(guò)納米尺寸(<100 nm)鐵磁體薄膜的自旋極化電流可以產(chǎn)生自旋角動(dòng)量轉(zhuǎn)移矩(Spin Transfer Torque,STT),因此可以在鐵磁性薄膜中產(chǎn)生磁激發(fā),甚至引起磁化方向的翻轉(zhuǎn).此后,這種基于電流誘導(dǎo)磁化翻轉(zhuǎn)(Current Induce Magnetization Switching,CIMS)的STT器件成為發(fā)展的主流.近年來(lái),在電流垂直于膜面的模式下,基于自旋轉(zhuǎn)移矩的垂直磁各向異性全金屬贗自旋閥已經(jīng)得到廣泛研究[5-6].在這些研究中,自旋閥磁性層內(nèi)較強(qiáng)的垂直磁各向異性可以保證獲得更好的熱穩(wěn)定性和更低的開(kāi)關(guān)電流密度[7].目前,僅有少量的材料體系可以表現(xiàn)出較強(qiáng)的垂直磁各向異性,如Co/Pt,Co/Pd和Co/Ni等多層膜結(jié)構(gòu)[8];TbFeCo和 Gd-FeCo稀土過(guò)渡族金屬無(wú)定形膜[9];(001)取向L10有序相結(jié)構(gòu)的FePt和CoPt薄膜[10]等.而每種體系都有相應(yīng)的限制,如L10有序相結(jié)構(gòu)的FePt和CoPt在室溫下無(wú)法制備;稀土過(guò)渡族合金居里溫度較低;Co系多層膜中,磁性層厚度一般不能超過(guò)0.6 nm,而超薄的厚度會(huì)大大降低有效自旋極化并影響磁電阻效應(yīng).此外,多層膜結(jié)構(gòu)制備復(fù)雜,并且在后續(xù)退火過(guò)程中由于界面擴(kuò)散會(huì)造成多層膜結(jié)構(gòu)的毀壞.

      為了制備出的薄膜在具有較強(qiáng)垂直磁各向異性的同時(shí),還保證其磁性層的厚度和熱穩(wěn)定性,本研究采用了一種基于CoFe/Pd的自旋閥底電極結(jié)構(gòu),考慮在CoFe層中引入納米氧化層.一方面,希望CoFe基的薄膜可以獲得比Co基薄膜更低的開(kāi)關(guān)場(chǎng)[11];另一方面,希望引入的納米氧化層可以大大增強(qiáng)薄膜的垂直磁各向異性.

      1 實(shí)驗(yàn)方法

      本研究采用直流磁控濺射系統(tǒng),在熱氧化的Si基片上沉積薄膜.制備的自旋閥底電極結(jié)構(gòu)(由底層到頂層)為Pd(3)/CoFe(0.8)/納米氧化層/CoFe(t)/Cu(4)/Pd(5),所標(biāo)膜層厚度單位均為nm(全文下同),t的范圍為從1.2 nm到2.5 nm;為了對(duì)比研究,同時(shí)還制備了結(jié)構(gòu)為Pd(3)/CoFe(m)/Cu(4)/Pd(5)的薄膜,m的范圍從0.2 nm到0.6 nm.Pd、Cu和CoFe薄膜由相應(yīng)的金屬靶和合金靶沉積,CoFe合金的成分為Co90Fe10,所用靶材的純度均高于99.99%.濺射系統(tǒng)的本底真空低于4×10-5Pa,用于薄膜沉積的Ar氣氣壓為0.5 Pa,純度高于99.999%.沉積薄膜時(shí),在基片位置沿平行膜面方向施加約24 k A/m的磁場(chǎng),以便誘導(dǎo)出面內(nèi)單軸各向異性.其中,納米氧化層通過(guò)在0.5 Pa的高純氧氣中自然氧化3 min形成,制備后的樣品在300℃下真空退火30 min,退火真空低于4×10-5Pa.使用DMS Model 4振動(dòng)樣品磁強(qiáng)計(jì)(Vibrating Sam-ple Magnetemeter,VSM)對(duì)樣品的磁化曲線(MH)進(jìn)行測(cè)量.

      2 實(shí)驗(yàn)結(jié)果及討論

      對(duì)制備態(tài)和300℃退火后的樣品在室溫下進(jìn)行磁化曲線的測(cè)量,測(cè)量時(shí),外加磁場(chǎng)的方向垂直于膜面.圖1是Pd(3)/CoFe(0.8)/納米氧化層/CoFe(t)/Cu(4)/Pd(5)在t=1.8、2和2.2 nm時(shí)的磁化曲線.

      圖1 Pd(3)/CoFe(0.8)/納米氧化層/CoFe(t)/Cu(4)/Pd(5)薄膜的磁化曲線Fig.1 M -H curves for Pd(3)/CoFe(0.8)/native oxide/CoFe(t)/Cu(4)/Pd(5)when t=1.8,2 and 2.2 nm

      從圖1可以觀察到,制備態(tài)的樣品都表現(xiàn)出面內(nèi)磁各向異性,而退火后樣品的磁各向異性明顯地從面內(nèi)轉(zhuǎn)向垂直膜面方向.即使是CoFe厚度為2 nm時(shí),樣品仍舊可以表現(xiàn)出很強(qiáng)的垂直磁各向異性.在其他CoFe/Pd多層膜的研究中,為了獲得垂直磁各向異性,CoFe層厚度不能超過(guò)0.6 nm[11]并且多層膜樣品不能經(jīng)受高溫退火,這是因?yàn)榻缑娼Y(jié)構(gòu)會(huì)隨著退火溫度的升高而被破壞.而含有納米氧化層的自旋閥底電極不僅不需要做成多層膜結(jié)構(gòu),而且在CoFe層總厚度達(dá)到2.8 nm時(shí)仍可以獲得很強(qiáng)的垂直磁各向異性.

      為了進(jìn)一步研究納米氧化層對(duì)垂直磁各向異性增強(qiáng)的作用,對(duì)沒(méi)有納米氧化層的Pd(3)/CoFe(m)/Cu(4)/Pd(5)薄膜進(jìn)行對(duì)比研究,其中m的范圍從0.2到0.6 nm.測(cè)量結(jié)果顯示,無(wú)論是制備態(tài)還是退火后,沒(méi)有納米氧化層的薄膜即使在CoFe層厚度薄到0.2 nm時(shí),也不能形成垂直磁各向異性.由此可見(jiàn),含有納米氧化層的底電極薄膜中極強(qiáng)的垂直磁各向異性不同于單純由CoFe/Pd界面效應(yīng)產(chǎn)生的垂直磁各向異性.

      圖2 退火前后 Pd(3)/CoFe(0.8)/納米氧化層/CoFe(t)/Cu(4)/Pd(5)薄膜的磁各向異性能密度Keff與CoFe層厚度t的關(guān)系Fig.2 Variations of Keff as a function of the thickness of the CoFe layer(t)for the as-deposited and 300℃annealed films Pd(3)/CoFe(0.8)/native oxide/CoFe(t)/Cu(4)/Pd(5)

      考慮到自旋閥開(kāi)關(guān)場(chǎng)的大小和開(kāi)關(guān)迅速程度密切影響到器件性能,對(duì)引入納米氧化層的底電極退火后的剩磁比Mr/Ms和矯頑力Hc隨CoFe厚度t的變化關(guān)系進(jìn)行分析,如圖3所示.

      圖3 退火后Pd(3)/CoFe(0.8)/納米氧化層/CoFe(t)/Cu(4)/Pd(5)薄膜的垂直膜面方向剩磁比和矯頑力隨CoFe厚度t的變化情況Fig.3 Variations of the perpendicular Mr/Ms andHc as a function of the thickness of the CoFe layer(t)for the annealed films Pd(3)/CoFe(0.8)/native oxide/CoFe(t)/Cu(4)/Pd(5)

      從圖3可以觀察到,在CoFe有效厚度小于1.8 nm時(shí),垂直方向剩磁比均在0.9左右.矯頑力Hc在t=1.2 nm時(shí)達(dá)到最大,約為35.7 k A/m,然后隨著CoFe有效厚度的增加而逐漸減小.這里由矯頑力推測(cè)出Co Fe基薄膜的開(kāi)關(guān)場(chǎng)確實(shí)比Co基薄膜的開(kāi)關(guān)場(chǎng)小[11-12].通過(guò)對(duì)圖3進(jìn)行分析可知調(diào)節(jié)CoFe層的有效厚度可以優(yōu)化底電極膜的性能,如在t=1.8 nm時(shí),底電極薄膜可以在維持較強(qiáng)垂直磁各向異性的同時(shí)減小器件的開(kāi)關(guān)場(chǎng).

      3 結(jié)論

      本研究通過(guò)磁控濺射方法制備了一種基于CoFe/Pd的 自 旋 閥 底 電 極 結(jié) 構(gòu) Pd(3 nm)/CoFe(0.8 nm)/納 米 氧 化 層/CoFe(tnm)/Cu(4 nm)/Pd(5 nm).研究發(fā)現(xiàn),納米氧化層的引入可以大大增強(qiáng)退火后底電極薄膜的垂直磁各向異性甚至在t達(dá)到2 nm時(shí)仍能維持這種垂直磁各向異性,并且CoFe基薄膜可以獲得比Co基薄膜更低的開(kāi)關(guān)場(chǎng).同時(shí),本研究制備的引入納米氧化層的底電極無(wú)需采用多層膜結(jié)構(gòu)就可以將鐵磁層厚度增大并得到較強(qiáng)的垂直磁各向異性,而且這種底電極更易于制備,具有較小的開(kāi)關(guān)場(chǎng)、更高的自旋極化和熱穩(wěn)定性,這為基于自旋轉(zhuǎn)移矩的垂直磁各向異性全金屬贗自旋閥的發(fā)展提供了一定的參考.

      [1] BAIBICH M N,BROTO J M,F(xiàn)ERT A,et al.Giant Magnetoresistance of(001)Fe/(001)Cr Magnetic Superlattices[J].Phys Rev Lett,1988,61:2472-2475.

      [2] DIENY B,SPERIOSU V S,PARKIN S S P,et al.Giant magnetoresistive in soft ferromagnetic multilayers[J].Phys Rev B,1991,43:1297-1300.

      [3] SLONCZEWSKI J C,Current-driven excitation of magnetic multilayers[J].J Magn Magn Mater,1996,159:1-7.

      [4] BERGER L.Emission of spin waves by a magnetic multilayer traversed by a current[J].Phys Rev B,1996,54:9353-9358.

      [5] MANGIN S,Ravelosona D,Katine J A,et al.Current-inducedmagnetization reversal in nanopillars with perpendicular anisotropy[J].Nat Mater,2006,5:210-215.

      [6] MENG H,WANG J P.Spin transfer in nanomagnetic devices with perpendicular anisotropy[J].Appl Phys Lett,2006,88:1-3.

      [7] IKEDA S,MIURA K,YAMAMOTO H,et al.A perpendic ular-anisotropy CoFeB-MgO magnetic tunnel junction[J].Na ture Mater,2010,9:721-724.

      [8] JOHNSON M T,BLOEMEN P J H,Broeder F J A,et al Magnetic anisotropy in metallic multilayers[J].Rep Prog Phys,1996,59:1409-1458.

      [9] LEE C M,YE L X,LEE J M,et al.Ultrathin(Gd,Tb)-Fe Co films with perpendicular magnetic anisotropy[J].IEEE Trans Magn,2009,45:3808-3811.

      [10] BARMAK K,KIM J,LEWIS L H,et al.On the relation ship of magnetocrystalline anisotropy and stoichiometry in epitaxial L10 CoPt(001)and FePt(001)thin films[J].J App Phys,2005,98:1-10.

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      Enhanced perpendicular magnetic anisotropy in CoFe/Pd based bottom electrode of spin valves

      HANNa,ZHUYun

      (College of Physics and Electronic Information Science,Tianjin Normal University,Tianjin 300387,China)

      A bottom electrode structure of spin valves(SVs)is reported,the film prepared by the magnetron sputtering method stacks Pd(3 nm)/CoFe(0.8 nm)/native oxide/CoFe(tnm)/Cu(4 nm)/Pd(5 nm).The magnetic properties of the film are measured by vibrating sample magnetometer(VSM).The results indicate that the magnetic anisotropy of the film has been transformed from in-plane to out-of-plane after annealing,and the strong perpendicular magnetic anisotropy(PMA)is still presented even for the film with effective CoFe thickness as large as 2 nm.This kind of bottom electrode film with non-multilayer structure,thick ferromagnetic layer and high thermal stability is beneficial to the development of the spin transfer torque all-metal pseudo-spin-valves with perpendicular magnetic anisotropy.

      native oxide layer;perpendicular magnetic anisotropy;spin valves

      O484.4+3

      A

      1671-1114(2012)01-0035-04

      2011-09-11

      國(guó)家自然科學(xué)基金資助項(xiàng)目(51001081);天津市高等學(xué)??萍及l(fā)展計(jì)劃資助項(xiàng)目(20081101);天津師范大學(xué)引進(jìn)人才基金資助項(xiàng)目(5RL075)

      韓 娜(1987—),女,碩士研究生.

      竺 云(1981—),女,講師,主要從事磁性材料方面的研究.

      (責(zé)任編校 紀(jì)翠榮)

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