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      一種夫蘭克-赫茲實(shí)驗(yàn)的改進(jìn)方法

      2013-11-18 07:16:48潘正坤萬(wàn)猛石興奇
      關(guān)鍵詞:蘭克燈絲參量

      潘正坤,萬(wàn)猛,石興奇

      (1.遵義師范學(xué)院物理與機(jī)電工程學(xué)院,貴州遵義,563002;2.遵義市第十三中學(xué)貴州遵義563000)

      夫蘭克-赫茲實(shí)驗(yàn)是近代物理實(shí)驗(yàn)中一個(gè)較為重要的實(shí)驗(yàn)[1],是探索原子結(jié)構(gòu)的一種重要手段。夫蘭克-赫茲實(shí)驗(yàn)是用“慢”電子與稀薄氣體原子碰撞的方法,使原子從低能級(jí)激發(fā)到高能級(jí),并通過測(cè)量電子和原子碰撞時(shí)交換的定值能量,來(lái)直接證明玻爾提出的原子能級(jí)的存在[1]。

      通常,學(xué)生在做夫蘭克-赫茲實(shí)驗(yàn)時(shí),由于對(duì)實(shí)驗(yàn)理論、實(shí)驗(yàn)儀器和實(shí)驗(yàn)方法等不熟悉,往往得不到理想的實(shí)驗(yàn)結(jié)果。為了在實(shí)驗(yàn)教學(xué)中讓學(xué)生得到較好的實(shí)驗(yàn)結(jié)果,我們?cè)诂F(xiàn)有實(shí)驗(yàn)平臺(tái)的基礎(chǔ)上改進(jìn)實(shí)驗(yàn)方法,找出了最佳工作參量。本文以南京泰普教學(xué)儀器廠產(chǎn)FH-Ⅳ型微機(jī)夫蘭克-赫茲實(shí)驗(yàn)儀(赫茲管為充氬氣的四極管)為例,改進(jìn)實(shí)驗(yàn)方法,直觀確定優(yōu)化的工作參量,根據(jù)工作參量得出Ia~UG2K關(guān)系曲線,最后精確地確定第一激發(fā)電位。

      1 夫蘭克-赫茲實(shí)驗(yàn)的改進(jìn)意義

      1913年,夫蘭克與赫茲改進(jìn)了勒納的單柵三極式碰撞管的結(jié)構(gòu),設(shè)計(jì)了新的電子與原子碰撞實(shí)驗(yàn)。他們考慮到汞是單原子分子,結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,而且在常溫下是液態(tài),同時(shí)還由于汞的原子量大,電子與其原子碰撞時(shí),能量損失極小,因而可以用汞蒸氣來(lái)替換管內(nèi)的氣體。實(shí)驗(yàn)中,可以通過改變溫度來(lái)大幅度地改變汞原子的密度,方便而且有效。利用該實(shí)驗(yàn)裝置,盡管獲得了比較準(zhǔn)確的第一激發(fā)勢(shì),但很多較高的能級(jí)和準(zhǔn)靜態(tài)能級(jí)仍然無(wú)法準(zhǔn)確測(cè)量。1920年,夫蘭克和愛因西朋將原來(lái)的實(shí)驗(yàn)裝置作了改進(jìn)[2],進(jìn)一步提升了實(shí)驗(yàn)測(cè)量精度。

      現(xiàn)在實(shí)驗(yàn)中使用的夫蘭克-赫茲實(shí)驗(yàn)儀,是基于夫蘭克-赫茲基本實(shí)驗(yàn)裝置不斷改進(jìn)、完善的儀器設(shè)備。這些改進(jìn),一是提升測(cè)量精度;二是追求實(shí)驗(yàn)過程的簡(jiǎn)便和可視化;三是實(shí)驗(yàn)設(shè)備的小型化、多功能發(fā)展等。教學(xué)中使用的儀器設(shè)備,不僅需要操作方便、可重復(fù)性和穩(wěn)定性好,而且還兼顧演示性、分析性和可視性特征。目前教學(xué)中使用的夫蘭克-赫茲實(shí)驗(yàn)裝置正是如此,利用微機(jī)進(jìn)行可視化曲線繪制和曲線分析、數(shù)據(jù)采集,但是最佳工作參量很難確定,因而,本文提出的改進(jìn)就是基于這樣的夫蘭克-赫茲多功能平臺(tái),配合示波器對(duì)曲線波形修改的直觀性,進(jìn)行整合實(shí)驗(yàn)處理,以達(dá)到提升測(cè)量精度的目的。

      2 實(shí)驗(yàn)方法的優(yōu)化和改進(jìn)

      夫蘭克-赫茲實(shí)驗(yàn)平臺(tái),最早使用的是充汞赫茲管,但是考慮到實(shí)驗(yàn)存在許多難以控制的因素且測(cè)量結(jié)果不穩(wěn)定而被充氬赫茲管所代替。我院現(xiàn)在使用的是南京泰普教學(xué)儀器廠生產(chǎn)的FH-Ⅳ型微機(jī)夫蘭克-赫茲實(shí)驗(yàn)儀。這套實(shí)驗(yàn)平臺(tái),通過說明書和實(shí)驗(yàn)指導(dǎo)書雖能很好地可視化實(shí)驗(yàn)和測(cè)量數(shù)據(jù),但是通過一段時(shí)間的學(xué)生實(shí)驗(yàn)我們發(fā)現(xiàn)實(shí)驗(yàn)效果并不理想。因而,充分考慮各種實(shí)驗(yàn)條件和要素,設(shè)計(jì)較佳的實(shí)驗(yàn)方案,以獲得最佳的第一激發(fā)電位測(cè)量值,成為實(shí)驗(yàn)教師一個(gè)重要的教學(xué)實(shí)踐任務(wù)和急迫解決的問題。

      2.1 FH-Ⅳ型微機(jī)夫蘭克-赫茲實(shí)驗(yàn)的常規(guī)方案

      實(shí)驗(yàn)裝置如圖1所示,陰極K由于受到燈絲加熱和KG2電勢(shì)差的誘導(dǎo)射出熱電子。這些電子首先通過第一柵極G1、KG1之間的可控電壓對(duì)電子的數(shù)目進(jìn)行調(diào)控。G1G2區(qū)是一個(gè)寬敞的電子碰撞區(qū),也是電子的加速區(qū)。G1G2電勢(shì)差(或者加速電壓UG2K)的大小決定了電子加速獲得的能量,然后與內(nèi)部的原子進(jìn)行碰撞而交換能量,使得原子能級(jí)獲得提升。AG2是一個(gè)拒斥電壓,其目的是使失去動(dòng)能的電子不能到達(dá)A級(jí)。因而,碰撞中電子能量被大量吸收,則沒有能力闖過拒斥電壓而貢獻(xiàn)電流。

      圖1 夫蘭克-赫茲管工作原理圖

      此實(shí)驗(yàn)裝置盡管實(shí)驗(yàn)原理很簡(jiǎn)單,但是在實(shí)驗(yàn)中許多因素必須很好地控制和優(yōu)化。主要包括燈絲電壓、KG1電勢(shì)差和UG2K的參數(shù)確定。

      圖2 IP-VG2k曲線隨UH的變化

      (1)優(yōu)化燈絲電壓對(duì)陰極發(fā)射電子數(shù)量的控制。當(dāng)燈絲電壓很小時(shí),板極電流IP的大小起伏變化很小。隨著燈絲電壓的增大,板極電流增大。燈絲電壓增大,IP-VG2曲線上移,曲線起伏越大,板極電流的波峰波谷越明顯。但是燈絲電壓不宜選擇過大,如果燈絲電壓太大,使陰極發(fā)射電子太多,管子易于老化。取UG1K為2.0V和UG2A為7.0V(儀器參考數(shù)據(jù)),我們根據(jù)實(shí)際測(cè)量,得到圖2所示IP-VG2曲線,通過改變燈絲電壓來(lái)觀察曲線波形,分析比較UH為3.20V時(shí)實(shí)驗(yàn)測(cè)量比較合適。

      (2)考慮第一柵極(G1)與陰極(K)之間的電壓,以保證其最優(yōu)化地消除空間電荷對(duì)陰極散射電子的影響。給燈絲(H)通電加熱時(shí),陰極發(fā)射電子,在G1G2兩極板間的電場(chǎng)作用下被加速而取得越來(lái)越大的能量。由于陰極的發(fā)射系數(shù)各不相同,而且G1與K的間距也可略有差異,因此在實(shí)驗(yàn)中應(yīng)對(duì)每個(gè)夫蘭克-赫茲管選取最佳的VG1K。取UH=3.2V、UG2A=7.0V(儀器參考數(shù)據(jù)),改變UG1K電壓觀察曲線波形,如圖3所示,分析比較UG1k=2.00V為宜。

      圖3 IP-VG2k曲線隨UG1K的變化

      (3)優(yōu)化拒斥電壓UG2A,使能量較低的電子不能有效到達(dá)板極A,形成板極電流Ip。換而言之,這時(shí)電子達(dá)板極A還必須具有足夠能量,最終形成板極電流Ip。因此,UG2A越大,到達(dá)板極的電子數(shù)越少,板極電流越小。測(cè)定不同UG2A的IP-VG2曲線,當(dāng)UG2A為某一合適值時(shí),曲線波形最佳。取UH=3.2V、UG1K=1.80V(儀器參考數(shù)據(jù)),改變UG2A電壓觀察曲線波形,如圖4所示,分析比較UG2A約為6.50V為宜。

      圖4 IP-VG2k曲線隨UG2A的變化

      2.2 FH-Ⅳ型夫蘭克-赫茲實(shí)驗(yàn)的整合改進(jìn)方案

      以上是微機(jī)型夫蘭克-赫茲實(shí)驗(yàn)通常使用的方法,但在具體實(shí)驗(yàn)的過程中卻很不方便。主要體現(xiàn)在在修改工作參量時(shí)不能直觀觀察曲線波形的變化,不易理解各個(gè)工作參量的意義,只有重新從0V-100V加入U(xiǎn)G2K(加速電壓)才能得到新的曲線波形。因此,很難從上述的實(shí)驗(yàn)方法中判斷最佳工作參量,從而較難獲得最佳曲線波形,對(duì)經(jīng)典的夫蘭克-赫茲實(shí)驗(yàn)也不能很好的理解。但是在夫蘭克-赫茲實(shí)驗(yàn)中如果改用示波器來(lái)觀察,又沒有微機(jī)處理數(shù)據(jù)的簡(jiǎn)便性、修改工作參量時(shí)曲線波形變化的直觀性。因而,整合微機(jī)平臺(tái)和示波器平臺(tái)的優(yōu)點(diǎn),同時(shí)彌補(bǔ)其單獨(dú)使用時(shí)的缺陷,將很好地解決上述問題。

      整合改進(jìn)實(shí)驗(yàn)可以分兩步走:(1)用2.1方法的工作參量,改在示波器上作出基本的Ia~UG2K關(guān)系曲線圖;通過觀察曲線波形,進(jìn)一步修改各個(gè)工作參量,得到最佳曲線波形,從而獲得最佳工作參量:UH:3.15V,UG1K:1.80V,UG2A:7.09V;(2)保持各個(gè)工作參量不變,改用微機(jī)實(shí)驗(yàn)觀察(主要方便數(shù)據(jù)采集),得Ia~UG2K最佳關(guān)系曲線波形(如圖6)和最終的測(cè)量數(shù)據(jù)(如表2)。從波形圖分析、處理、得待測(cè)氣體(氬)的第一激發(fā)電位U0=12.85V(理論值13.1V)。與通常的實(shí)驗(yàn)方案相比,提高了實(shí)驗(yàn)測(cè)量結(jié)果的精確度。

      圖5 優(yōu)化參數(shù)下的Ia~UG2K關(guān)系曲線

      按傳統(tǒng)的測(cè)量方法下,依次優(yōu)化上述參數(shù),獲得最佳的實(shí)驗(yàn)工作參量:UH:3.20V,UG1K:2.00V,UG2A:6.50V,這時(shí)實(shí)驗(yàn)結(jié)果如圖5所示Ia~UG2K波形,以及表1的測(cè)量值。容易從波形圖和數(shù)據(jù)分析中獲得待測(cè)氣體(氬)的第一激發(fā)電位U0:12.80V(理論值13.1V)。

      圖6 整合改進(jìn)實(shí)驗(yàn)Ia~UG2K曲線

      表1 測(cè)量結(jié)果

      表2 改進(jìn)實(shí)驗(yàn)的測(cè)量結(jié)果

      3 小結(jié)

      通過整合示波器的直觀性、微機(jī)數(shù)據(jù)采集和處理的簡(jiǎn)便及準(zhǔn)確性,與原有的單一微機(jī)平臺(tái)夫蘭克-赫茲實(shí)驗(yàn)進(jìn)行對(duì)比,發(fā)現(xiàn)改進(jìn)方案能有效地提升測(cè)量的精度,最大限度地抑制了微機(jī)夫蘭克-赫茲實(shí)驗(yàn)的不足。改進(jìn)實(shí)驗(yàn)方法直觀、直接,非常方便地在關(guān)系曲線圖上通過圖型的變化修改各個(gè)工作參量,讓學(xué)生在修改工作參量、圖型變化中真正理解各個(gè)工作參量的意義,有較好的實(shí)驗(yàn)效果與啟發(fā)作用。同時(shí),也建議產(chǎn)FH-Ⅳ型微機(jī)夫蘭克-赫茲實(shí)驗(yàn)儀(充氬氣的四極管)可以通過進(jìn)一步的軟件開發(fā),在直觀地修改各個(gè)工作參量的同時(shí),考慮對(duì)曲線圖像變化的直觀和實(shí)時(shí)控制,不斷改進(jìn)實(shí)驗(yàn)中的不足。

      [1]鄔鴻彥,朱明剛.近代物理實(shí)驗(yàn)[M].北京:科學(xué)出版社,1998.34.

      [2]J Franck,E Einsporn.ü ber die Anregungspotentiale des Quecksilberdampfes[J].Zeitschr f Physik,1920,(2):18.

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