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      電子組裝用SnAgCu系無鉛釬料的研究進(jìn)展

      2013-12-01 06:38:16陳建勛趙興科劉大勇黃繼華鄒旭晨
      材料工程 2013年9期
      關(guān)鍵詞:釬料潤(rùn)濕性潤(rùn)濕

      陳建勛,趙興科,劉大勇,黃繼華,鄒旭晨

      (北京科技大學(xué) 材料科學(xué)與工程學(xué)院,北京100083)

      在電子元器件與基板互連中,釬料作為必需的材料起電連接和機(jī)械連接作用,因此,焊點(diǎn)可靠性與釬料性能的優(yōu)劣緊密相關(guān)。Sn63Pb37釬料作為互連材料已廣泛應(yīng)用在微電子工業(yè)中,由于鉛是有毒物質(zhì),在國(guó)際立法的推動(dòng)下和人類對(duì)環(huán)保意識(shí)的日益增強(qiáng),電子工業(yè)實(shí)行無鉛化已成為大勢(shì)所趨。在眾多無鉛釬料中,SnAgCu釬料以其優(yōu)越的性能被認(rèn)為是傳統(tǒng)SnPb釬料的最佳替代品[1,2]。但與Sn63Pb37釬料相比,SnAgCu釬料含Sn量較高(一般高于90%,質(zhì)量分?jǐn)?shù),下同),熔點(diǎn)相對(duì)較高,釬焊時(shí)釬料容易被氧化,熔融釬料表面的氧化物浮渣會(huì)影響釬料的潤(rùn)濕性能,降低其可焊性。氧化物夾渣還會(huì)降低接頭的力學(xué)性能,危害焊點(diǎn)的可靠性[3]。SnAgCu釬料在凝固過程中過冷度較大,容易形成粗大的β-Sn樹枝晶及大片或柱狀的金屬間化合物(Intermetallic Compound,IMC)組織,并呈不均勻分布,使其抗蠕變性減弱[4,5]。釬焊界面處生成IMC層過厚,在服役過程中會(huì)導(dǎo)致應(yīng)力集中,并在Cu3Sn/Cu界面伴有大量孔洞形成,降低焊點(diǎn)的疲勞壽命和可靠性[6,7]。此外,SnAgCu合金有較高的彈性模量,使焊點(diǎn)抗沖擊/振動(dòng)性能變差,不能保證電子產(chǎn)品的抗跌落性能,尤其對(duì)于使用面陣列封裝的便攜式電子產(chǎn)品,如球柵陣列和芯片尺寸封裝[8,9]。SnAgCu釬料的熱膨脹系數(shù)(Coefficient of Thermal Expansion,CTE)與Cu基體相差較大,導(dǎo)致焊點(diǎn)和基板間CTE不匹配,在熱循環(huán)載荷作用下,易發(fā)生疲勞破壞而導(dǎo)致焊點(diǎn)剝離,降低了焊點(diǎn)可靠性[10]。隨著電子產(chǎn)品功能集成化、結(jié)構(gòu)微型化、高密度組裝及高性能發(fā)展,對(duì)研發(fā)出具有高可靠性和耐用性的SnAgCu釬料提出新的挑戰(zhàn),進(jìn)而引發(fā)了科學(xué)家們對(duì)SnAgCu系無鉛釬料更加深入的研究,以進(jìn)一步提高其可焊性和焊點(diǎn)可靠性。

      1 潤(rùn)濕鋪展性

      為了獲得可靠性高的焊點(diǎn),釬料與母材之間必須有良好的潤(rùn)濕性。目前,測(cè)試無鉛釬料潤(rùn)濕性優(yōu)劣的指標(biāo)主要有潤(rùn)濕角、鋪展面積、潤(rùn)濕狀態(tài)、潤(rùn)濕力和潤(rùn)濕時(shí)間。平衡狀態(tài)時(shí)潤(rùn)濕角θ由界面張力決定,二者之間的關(guān)系由楊氏方程cosθ=(σsg-σs1)/σlg確定,其中σsg為固體表面張力,σlg為液體表面張力,σsl為液固界面張力[4]。因此,通過降低液態(tài)釬料表面張力來減小潤(rùn)濕角,提高釬料的潤(rùn)濕性。

      添加微量Ni對(duì)Sn3.0Ag0.5Cu的潤(rùn)濕性改善并不明顯,釬料熔點(diǎn)會(huì)略有升高,當(dāng)Ni含量超過0.15%時(shí),潤(rùn)濕時(shí)間顯著增加,并且大于未添加Ni的合金,這是由于此時(shí)在釬料中形成了Sn-Cu-Ni化合物,化合物生成會(huì)使σlg增大,降低釬料的潤(rùn)濕力,阻礙釬料在基底的潤(rùn)濕[11,12]。在Sn3.8Ag0.7Cu中引入少量 Ni或Mn納米顆粒,釬料的熔點(diǎn)沒有顯著變化,但隨著Ni或Mn含量的增加,釬料的潤(rùn)濕角升高,鋪展面積下降,這可能是由于納米顆粒的加入增大了釬料黏度,阻礙了釬料在Cu表面的潤(rùn)濕鋪展[13,14]。加In會(huì)顯著降低SnAgCu合金的熔點(diǎn),潤(rùn)濕角減小,改善釬料的潤(rùn)濕性。有研究者指出Sn4.1Ag0.5Cu4In的潤(rùn)濕時(shí)間和潤(rùn)濕力與傳統(tǒng)SnPb釬料接近[15],但I(xiàn)n價(jià)格昂貴,不適合大規(guī)模使用。在Sn3.6Ag0.9Cu中添加0.2%的Fe能增大潤(rùn)濕力,減小潤(rùn)濕角,改善釬料的潤(rùn)濕性,但Fe的加入會(huì)使釬料的熔點(diǎn)有所升高,隨著Fe含量的增多,釬料潤(rùn)濕性逐漸下降[16]。在Sn3Ag-0.5Cu中引入增強(qiáng)相Fe顆粒,由于重力偏聚及界面吸附作用,當(dāng)較多Fe顆粒沉積在焊點(diǎn)界面處時(shí),會(huì)增大液態(tài)釬料黏度而阻礙液態(tài)釬料鋪展,降低釬料在Cu基板上的潤(rùn)濕性[17]。由于加Al和Cr會(huì)在釬料表面形成致密氧化膜,增大液態(tài)釬料表面張力,從而不利于釬料的鋪展[18]。在SnAgCu合金中加Bi可降低釬料的熔點(diǎn)和表面張力,提高釬料的潤(rùn)濕性。但需控制Bi的添加量,過多的Bi會(huì)偏聚在釬料/基體界面,降低釬料的塑性,造成焊點(diǎn)剝離缺陷[19,20]。Sb也能降低液態(tài)釬料的表面張力,使?jié)櫇窠菧p小,提高釬料的潤(rùn)濕性。但加入Sb的量不宜過高,當(dāng)Sb的添加量超過1%時(shí),釬料的熔點(diǎn)會(huì)明顯升高[21]。SnAgCu中摻雜微量Ge能顯著減少熔融釬料表面的氧化物,從而降低液態(tài)釬料的表面張力,潤(rùn)濕角減小,釬料的潤(rùn)濕性得到改善,并且對(duì)釬料的熔化溫度影響不大[22]。Ga對(duì)SnAgCu釬料潤(rùn)濕性的改善與Ge的作用相似,同時(shí)Ga還能降低釬料的熔點(diǎn)[23]。在SnAgCu中添加微量的P能明顯改善釬料的潤(rùn)濕性,這是由于P在釬焊過程中能還原液態(tài)釬料表面的氧化物,減少釬料、銅試件與氧氣的接觸,降低試件與液態(tài)釬料之間的表面張力,從而改善釬料的潤(rùn)濕性[12]。但隨著P含量的增多,釬料的熔化溫度顯著升高。由于Zn容易氧化,使釬焊過程中粒子不能完全熔合在一起,因而在SnAgCu中添加Zn會(huì)明顯降低釬料的潤(rùn)濕性[7,24]。Lu S.等[25]研究Mg對(duì)SnAgCu釬料的影響,發(fā)現(xiàn)盡管加入Mg后SnAgCu釬料的熔化溫度降低了,但Mg會(huì)急劇惡化釬料的潤(rùn)濕性,這是由于Mg易氧化,氧化膜的產(chǎn)生會(huì)增加液態(tài)釬料的表面張力,阻止釬料在Cu表面潤(rùn)濕鋪展。

      稀土(Rare Earth,RE)是表面活性元素,添加適量的稀土Ce,Er,Pr,Y,La等元素均能降低熔融釬料的表面張力,提高釬料的潤(rùn)濕性,如表1所示。但Dong W.X.等[12]將0.05%Ce直接添加到Sn3.0-Ag0.5Cu中,發(fā)現(xiàn)Ce會(huì)惡化釬料的潤(rùn)濕性,這可能是由于Ce化學(xué)性質(zhì)活潑,以單質(zhì)形式添加易被氧化,在釬焊過程中容易產(chǎn)生氧化渣,降低釬料在基底表面的潤(rùn)濕鋪展能力,因此,RE最好以中間合金形式加入,并在冶煉過程中加以保護(hù)。加入過量的RE會(huì)在釬焊過程中產(chǎn)生氧化殘?jiān)?,?dǎo)致熔融釬料的表面張力和黏度增大,釬料的潤(rùn)濕流動(dòng)性變差,當(dāng)Sn3.8Ag0.7Cu中分別加入2%的Ce和La時(shí),釬料內(nèi)部會(huì)形成尺寸較大的稀土相CeSn3和LaSn3。暴露于空氣中的CeSn3和LaSn3將發(fā)生氧化,在其表面會(huì)出現(xiàn)錫晶須的快速生長(zhǎng)現(xiàn)象,降低釬料的潤(rùn)濕性[31]。

      表1 RE對(duì)SnAgCu無鉛釬料潤(rùn)濕性的影響Table 1 The effects of RE elements on the wettability of SnAgCu lead-free solder

      2 抗氧化性

      釬焊過程中,大量氧化渣的生成不僅造成原料的浪費(fèi),增加無鉛釬料的成本,而且熔融釬料表面的氧化物浮渣還會(huì)影響合金的流動(dòng)性能和潤(rùn)濕性能,降低釬料的可焊性。釬料合金的氧化擴(kuò)大會(huì)導(dǎo)致壓應(yīng)力產(chǎn)生,加速錫晶須生長(zhǎng);而且氧化物在焊接后往往會(huì)形成夾渣,降低接頭的力學(xué)性能,危害焊點(diǎn)的可靠性[12,31],通過微合金化的方式可改善SnAgCu釬料的抗氧化性能。根據(jù) ΔG0-T 圖可知[32],同一溫度下 ΔG0的負(fù)值越大,表明該金屬越活潑,容易優(yōu)先發(fā)生氧化,生成的氧化物越穩(wěn)定。因此,Sn基釬料中加入少量具有親氧集膚效應(yīng)的元素,如P,Ga,In,Ge,Al等均能提高釬料的抗氧化性,表2列出一些常見合金元素對(duì)SnAgCu釬料的抗氧化影響。所謂親氧集膚效應(yīng)就是添加的元素與合金基體交互作用使其偏析和富集在液態(tài)合金的表面,形成一層富集的表面吸附層,在高溫條件下,它優(yōu)先與大氣中的氧反應(yīng),在釬料表面形成致密氧化膜阻擋層,阻止氧向液態(tài)釬料內(nèi)部擴(kuò)散,防止釬料被進(jìn)一步氧化。而抗氧化元素在表層的高度富集必然會(huì)造成大量空位,并使電導(dǎo)率降低,導(dǎo)致釬料的氧化速率降低,從而提高釬料的抗氧化性。盡管有學(xué)者指出加入RE(尤其是Ce)能提高釬料的抗氧化性,但由于RE本身易氧化,控制不好會(huì)起相反作用[12,36],因此,目前很少采用 RE來提高SnAgCu釬料的抗氧化性。

      表2 合金元素對(duì)SnAgCu無鉛釬料抗氧化性的影響Table 2 The effects of alloying elements on the anti-oxidization of SnAgCu lead-free solder

      3 微觀組織結(jié)構(gòu)

      釬焊過程中,釬料與母材界面處形成較薄的IMC層有利于獲得質(zhì)量可靠的焊點(diǎn),但若生成過多的IMC既能增加孔洞形成幾率,又由于IMC的脆性大,IMC層過厚或分布不均,在服役過程中導(dǎo)致應(yīng)力集中,嚴(yán)重惡化接頭的力學(xué)性能,降低焊點(diǎn)的疲勞壽命和可靠性[4,37]。

      采用SnAgCu釬料釬焊銅時(shí),Cu6Sn5相因具有最負(fù)的Gibbs自由能而容易先析出,在釬料/銅基體界面會(huì)形成實(shí)心和中空的六方棱柱狀Cu6Sn5,增加了界面IMC層的厚度[38]。La的加入會(huì)取代六方棱柱狀的Cu6Sn5相,所以能減少IMC的平均厚度,從而提高釬料的顯微硬度及焊接接頭的抗剪強(qiáng)度。添加0.1%La可顯著細(xì)化Sn3.0Ag0.5Cu釬料內(nèi)部組織,La含量達(dá)到0.4%時(shí)則會(huì)析出粗大的LaSn3相[30]。在SnAgCu中添加適量的稀土Ce[12,26],Er[27],Pr[28],Y[29],La[30,38],Nd[39]均能細(xì)化釬料內(nèi)部及界面層IMC 組織,減小SnAgCu/Cu界面層的厚度,從而提高釬縫的力學(xué)性能。這主要是由于RE具有親Sn性,易與Sn反應(yīng),減少Cu與Sn的反應(yīng)機(jī)會(huì),從而抑制了Cu6Sn5生長(zhǎng)。但添加要適量,過多RE的加入會(huì)在界面附近出現(xiàn)樹干狀稀土相,在表面出現(xiàn)Sn晶須的快速生長(zhǎng)現(xiàn)象,增加界面層的厚度[31]。

      在Sn3.0Ag0.5Cu中添加Co能降低釬料在凝固過程中的過冷度,抑制釬料中粗大組織的形成,并生成硬度和彈性模量均較高的CoSn2化合物,提高釬料的硬度和彈性模量[40]。在Sn3.0Ag0.5Cu中摻雜少量Ni元素能顯著影響組織轉(zhuǎn)變和界面反應(yīng),界面IMC由扇貝狀 Cu6Sn5轉(zhuǎn)變成(Cu,Ni)6Sn5。Ni能抑制Cu3Sn的形成和生長(zhǎng),但也會(huì)析出更多的棒狀(Cu,Ni)6Sn5相,所以Ni的加入會(huì)增加SnAgCu/Cu界面層厚度,但在老化過程中Ni對(duì)IMC的增長(zhǎng)有抑制作用[12]。加Ni對(duì)過冷影響較小,不能有效地細(xì)化β-Sn枝晶,Co和Ni同時(shí)加入雖細(xì)化了β-Sn枝晶,但對(duì)抗拉強(qiáng)度影響很小,且釬料的韌性明顯變差[40]。在Sn3.8Ag0.7Cu中引入 Co[41],Ni[13],Mo[42]納米顆粒,Co和Ni雖能抑制Cu3Sn生長(zhǎng),卻加速了Cu6Sn5生長(zhǎng),并且Co和Ni會(huì)在Cu6Sn5中溶解,改變IMC成分。因此,均不能抑制時(shí)效過程中IMC層厚度增加,但能有效地降低界面IMC層的生長(zhǎng)速率,所以提高了接頭顯微組織的穩(wěn)定性。而Mo易于偏聚在釬料/Cu6Sn5界面,能減小扇貝狀Cu6Sn5的厚度和直徑,且未出現(xiàn)Mo的溶解或與釬料反應(yīng)。加入一定量的Bi能細(xì)化SnAgCu釬料組織,但隨著Bi含量增加,釬料的脆性增大,降低釬料的力學(xué)性能[20]。加Fe會(huì)增加Cu6Sn5的厚度,卻能顯著抑制時(shí)效過程中Cu3Sn層的生長(zhǎng)及Ag3Sn粒子的粗化,顯示出穩(wěn)定的力學(xué)性能[43]。對(duì)于Cu基體,低的Fe含量更有利于獲得理想的IMC厚度,盡管如此,添加0.2%的Fe僅能輕微地降低界面IMC層的厚度,但對(duì)Ni-P基體,隨著Fe含量的增加,IMC 的 厚 度連續(xù) 降 低[16]。Cr能 促進(jìn)Ag3Sn形核,使其形成更細(xì)小的Ag3Sn粒子,Cr在釬料中彌散分布會(huì)釘扎晶界,阻礙IMC的生長(zhǎng),較薄的IMC層有利于提高熱時(shí)效過程中抗拉強(qiáng)度和伸長(zhǎng)率[44]。添加0.1%的Al能顯著減少過冷,抑制片狀A(yù)g3Sn的形成[45]。加Al后SnAgCu/Cu界面IMC的生長(zhǎng)率減小,這是由于釬料內(nèi)部和界面處形成了含Al的IMC組織,阻礙了Sn的擴(kuò)散,同時(shí)也降低了Sn的活度[46]。在Sn3.5Ag0.5Cu中添加少量 Ti能顯著減小β-Sn過冷度,釬料中粗大的β-Sn晶粒變得細(xì)化均勻,并有新的IMC組織Ti2Sn3形成[5]。少量 Mn添加到SnAgCu中也有與Ti類似的作用,但Mn/Ti的添加量超過1.0%時(shí),共晶組織中會(huì)有粗大的MnSn2和Ti2Sn3相出現(xiàn),降低其伸長(zhǎng)率[47]。在SnAgCu中添加少量Zn能顯著減小β-Sn過冷度,抑制粗大的Ag3Sn化合物形成,減緩IMC的生長(zhǎng)速率,使界面IMC層厚度變薄,還能有效阻止柯肯達(dá)爾孔洞形成及表面錫晶須的生長(zhǎng)[7,48]。Sb可顯著減小SnAgCu釬料的過冷度,抑制粗大的β-Sn枝晶和針狀A(yù)g3Sn的形成,釬料內(nèi)部組織變得細(xì)化均勻。釬料的熔點(diǎn)升高不超過1.5℃[21]。在Sn3.5Ag0.7Cu中添加Sb能阻礙界面IMC生長(zhǎng),Sb的最佳加入量為1.0%。由于Sb與Sn高的親和力,易形成SnSb化合物而降低Sn的活度,導(dǎo)致形成Cu-Sn化合物的驅(qū)動(dòng)力降低,減小了IMC的生長(zhǎng)速率[49]。Mg元素的加入使SnAgCu合金的顯微組織發(fā)生了明顯變化。隨著Mg含量的增加,釬料中樹枝狀的β-Sn初晶逐漸消失,共晶組織變得粗大且取向性不再明顯,逐漸變得雜亂[25]。在Sn2.5Ag0.7Cu中添加Ge元素,使釬焊界面IMC層的厚度增加,但Ge的加入抑制了老化過程中界面IMC的長(zhǎng)大[50]。Chuang C.M.等[51]認(rèn)為 Ge未參與界面反應(yīng),因此,與未摻雜Ge的SnAgCu釬料相比,界面處Cu6Sn5形貌沒有顯著變化。在SnAgCu中添加TiO2,SiC,Al2O3納米顆粒均能細(xì)化β-Sn初晶,還能有效抑制焊點(diǎn)界面處化合物生長(zhǎng)[52-54]。

      4 焊點(diǎn)可靠性

      焊點(diǎn)在電子組裝中起電連接和機(jī)械連接作用,由于電子產(chǎn)品在服役期間承受交變溫度場(chǎng)的作用,在焊點(diǎn)中會(huì)產(chǎn)生熱應(yīng)力而易發(fā)生疲勞破壞,這要求焊點(diǎn)必須具備較高的力學(xué)性能和服役可靠性,防止焊點(diǎn)因發(fā)生疲勞破壞而使電子產(chǎn)品提前失效。通常,焊點(diǎn)可靠性主要取決于熔融釬料/基體間的潤(rùn)濕性,焊點(diǎn)/元件間的CTE,以及焊點(diǎn)的屈服強(qiáng)度、抗剪強(qiáng)度、彈性模量、蠕變-疲勞性能[1,37]。此外,焊點(diǎn)內(nèi)部的孔洞,錫晶須生長(zhǎng),過厚的IMC層,晶粒度大小以及氧化物夾渣均會(huì)嚴(yán)重影響焊點(diǎn)可靠性。目前,焊點(diǎn)力學(xué)性能優(yōu)劣評(píng)價(jià)通常用抗拉強(qiáng)度、抗剪強(qiáng)度和壓縮性能等靜態(tài)方面,而焊點(diǎn)可靠性評(píng)估主要集中在熱循環(huán)、時(shí)效、沖擊等動(dòng)態(tài)方面。

      在Sn3.6Ag0.9Cu中加入少量Fe/In能提高接頭的抗剪強(qiáng)度。當(dāng)加入1.0%Fe時(shí),焊點(diǎn)抗剪強(qiáng)度和顯微硬度均顯著提高[16]。D.A.Shnawah等[43]研究發(fā)現(xiàn),在Sn1Ag0.5Cu中添加Fe會(huì)形成大環(huán)狀FeSn2相以及粗大的β-Sn初晶,F(xiàn)eSn2與β-Sn基體之間界面結(jié)合力較弱,導(dǎo)致釬料的屈服強(qiáng)度顯著減小。降低Ag含量有利于提高焊點(diǎn)的抗跌落性能,在低Ag釬料Sn1.2Ag0.7Cu中添加In,對(duì)提高SnAgCu焊點(diǎn)的沖擊/振動(dòng)可靠性效果不明顯,再添加0.03%Pd則焊點(diǎn)的沖擊/振動(dòng)可靠性顯著升高,此時(shí)已是Sn3.0Ag0.5Cu焊點(diǎn)的3倍[55]。在SnAgCu中加入Mn或Ti能減小彈性模量,顯著提高焊點(diǎn)的沖擊可靠性,Ti的作用更明顯,同時(shí)焊點(diǎn)的抗蠕變性能沒有變差[8,47]。在Sn3.0Ag0.5Cu中加入少量Co對(duì)極限抗拉強(qiáng)度未有顯著影響,卻使釬料的韌性變差,而I.E.Anderson等[56]指出在Sn3.7Ag0.9Cu中將Co部分取代Cu能提高焊點(diǎn)的抗剪強(qiáng)度。微量的Ni能提高SnAgCu合金的抗拉強(qiáng)度及斷后伸長(zhǎng)率,當(dāng)加入0.05%Ni時(shí),抗拉強(qiáng)度最高,加入0.1%的Ni,斷后伸長(zhǎng)率和焊點(diǎn)抗剪強(qiáng)度分別升高了30%和18%[11]。Ni的加入還能抑制高溫時(shí)效后焊點(diǎn)抗剪強(qiáng)度的下降[12],這是由于Ni阻礙了時(shí)效過程中IMC生長(zhǎng)。在相同蠕變條件下,SnAgCuBi焊點(diǎn)顯示出較低的蠕變速率和更長(zhǎng)的蠕變壽命,其抗蠕變性能優(yōu)于Sn60Pb40焊點(diǎn)[57],由于Bi的析出,在Sn3.0Ag0.5Cu中添加Bi也能改善釬料的抗蠕變性能[20]。加Bi雖能增大釬料的硬度,但過多的Bi會(huì)導(dǎo)致釬料的凝固溫度區(qū)間增大,焊點(diǎn)脆性變大,塑性降低,釬料的抗剪強(qiáng)度和可焊性下降,造成焊點(diǎn)剝離缺陷[19]。在SnAgCu中添加Ga會(huì)導(dǎo)致焊點(diǎn)的抗剪強(qiáng)度和硬度下降,由于Ga的原子半徑較大,它的加入會(huì)導(dǎo)致晶格點(diǎn)陣錯(cuò)配,產(chǎn)生位錯(cuò)和空洞等缺陷,從而降低了抗剪強(qiáng)度[23]。在SnAgCu中摻雜Sb能夠有效地抑制IMC的生長(zhǎng),改善其力學(xué)性能,提高接頭的高溫可靠性[49]。Sb可顯著改善Sn1.0Ag0.5Cu釬料的抗蠕變性能,加入0.5%Sb能使Sn1.0Ag0.5Cu合金的蠕變壽命提高近3倍[21]。M.Amagai等[58]研究表明,SnAgCuP合金在動(dòng)態(tài)載荷下顯示出高的可靠性,如沖擊實(shí)驗(yàn)。但經(jīng)過熱時(shí)效后,由于柯肯達(dá)爾孔洞的大量生成,嚴(yán)重降低了合金的抗沖擊性能。加入P含量較高時(shí)會(huì)產(chǎn)生脆性化合物Cu3P,增加焊點(diǎn)表面的結(jié)晶裂紋,造成焊點(diǎn)力學(xué)性能的下降[12],所以P的加入量不應(yīng)過高。在SnAgCu中加入Ge對(duì)界面反應(yīng)沒有影響,卻有助于提高焊點(diǎn)的抗剪強(qiáng)度,這是由于Ge元素易聚集在釬料球表面形成氧化物薄膜,阻止O2與釬料反應(yīng)形成SnOx,改善釬料/基體間的潤(rùn)濕性,提高了焊點(diǎn)的力學(xué)性能[22,59]。由于Cr能減緩時(shí)效過程中IMC的生長(zhǎng),在150℃時(shí)效后,含Cr焊點(diǎn)的抗拉強(qiáng)度和伸長(zhǎng)率優(yōu)于無Cr焊點(diǎn)[44]。由于彌散強(qiáng)化和固溶強(qiáng)化的作用,在SnAgCu中添加少量的Zn將增大屈服應(yīng)力和熱穩(wěn)定性,添加0.4%的Zn就能顯著改善抗蠕變性,阻止焊點(diǎn)經(jīng)時(shí)效處理后屈服應(yīng)力的下降[48]。但在潮濕環(huán)境下,Zn能加速SnAgCu的腐蝕,不利于焊點(diǎn)在特殊環(huán)境下服役[35]。通常隨著IMC層的厚度增加,焊點(diǎn)的力學(xué)性能下降,在SnAgCu中摻雜B不僅增大了界面IMC層的厚度,焊點(diǎn)抗拉強(qiáng)度也明顯升高。這是由于B降低了釬料內(nèi)部的孔洞密度,高的孔洞密度會(huì)影響焊點(diǎn)力學(xué)性能,因?yàn)殡S著時(shí)效或熱循環(huán)時(shí)間的延長(zhǎng),那些最初隨機(jī)分布的小孔洞將會(huì)聯(lián)結(jié)到一起形成裂紋,最終導(dǎo)致焊點(diǎn)斷裂失效。但I(xiàn)MC層中的B是否有晶界強(qiáng)化作用目前尚不清楚,還需進(jìn)行深入的研究[9]。

      添加少量的RE元素能明顯提高Sn3.8Ag0.7Cu焊點(diǎn)的蠕變-疲勞斷裂壽命,這是由于RE細(xì)化了IMC組織,析出的RE相作為釬料基體中的強(qiáng)化相,在恒定應(yīng)力下,降低了Sn3.8Ag0.7Cu釬焊接頭的應(yīng)變幅值,提高了接頭抗蠕變性能,使得在斷裂過程中蠕變-疲勞損害減弱并且焊點(diǎn)裂紋擴(kuò)展率降低,從而提高焊點(diǎn)的可靠性[60]。M.A.Dudek[61]認(rèn)為室溫下(25℃)含RE合金的抗蠕變性會(huì)顯著提高,但在高溫條件下,添加RE并不能改善釬料的抗蠕變性,這歸因于SnAgCuRE釬料的蠕變行為主要受Ag3Sn顆粒控制。Ce對(duì)Sn3.8Ag0.7Cu焊點(diǎn)的抗拉強(qiáng)度和伸長(zhǎng)率有明顯的促進(jìn)作用,Ce的最佳添加量為0.03%[62],而且Ce能明顯改善焊點(diǎn)經(jīng)時(shí)效后的抗剪強(qiáng)度[12]。添加0.1%La可使Sn3.0Ag0.5Cu的抗拉強(qiáng)度和伸長(zhǎng)率分別提高了19%和11%,屈服強(qiáng)度也會(huì)顯著升高,當(dāng)La含量達(dá)到0.4%時(shí)會(huì)析出粗大的LaSn3樹枝晶而降低其力學(xué)性能。這是由于形成的粗大LaSn3相和β-Sn基體不共格,兩者界面結(jié)合力較弱,經(jīng)受變形時(shí)LaSn3不能和基體有效地協(xié)調(diào)運(yùn)動(dòng),導(dǎo)致裂紋在LaSn3和基體的界面處提前形成,隨即失效[30]。Pr/Nd在改善釬料力學(xué)性能方面和Ce,La等相似,主要是由于RE對(duì)SnAgCu釬料組織的細(xì)化作用,提高了釬料的抗拉強(qiáng)度和伸長(zhǎng)率。Pr/Nd最佳添加量為0.05%,超過0.25%時(shí)會(huì)形成Sn-RE相,暴露于空氣中的RESn3易發(fā)生氧化,在其表面會(huì)出現(xiàn)錫晶須的快速生長(zhǎng)現(xiàn)象,惡化焊點(diǎn)的性能[31,39]。Er能顯著提高Sn3.8Ag0.7Cu釬料的抗剪強(qiáng)度和蠕變斷裂壽命,添加0.1%的Er能使釬料的抗剪強(qiáng)度提高近18%。當(dāng)添加量超過0.5%時(shí),隨著RE含量增加,釬料的抗剪強(qiáng)度逐漸下降,但仍比SnAgCu釬料的強(qiáng)度高。添加0.25%的Er可使釬料的蠕變斷裂壽命提高至7.1倍,Er的添加量超過0.25%時(shí),蠕變壽命明顯下降,Er的最適宜添加量為0.05%~0.25%。Er對(duì)SnAgCu釬料強(qiáng)度的影響機(jī)制與Ce和La的作用類似[27]。在SnAgCu中添加Y能夠抑制高溫時(shí)效引起的IMC厚度增加,提高焊點(diǎn)的抗剪強(qiáng)度。加入0.20%的Y時(shí)焊點(diǎn)的抗剪強(qiáng)度達(dá)到最大值。過量的RE將使焊點(diǎn)中產(chǎn)生大量的氣孔或夾雜,會(huì)降低焊點(diǎn)的強(qiáng)度[29]。

      顆粒增強(qiáng)是提高合金性能的重要手段之一,納米顆粒的強(qiáng)化機(jī)制主要為彌散強(qiáng)化和固溶強(qiáng)化兩種方式。在SnAgCu釬料中引入適量的納米顆粒,形成的納米顆粒復(fù)合釬料具有更高的抗剪強(qiáng)度和抗蠕變性能,所以納米顆粒能顯著提高焊點(diǎn)的可靠性。在Sn3.0Ag0.5Cu中引入ZrO2納米顆粒使焊點(diǎn)的抗剪強(qiáng)度顯著升高,這是由于ZrO2粒子在釬料中彌散強(qiáng)化,提高了焊點(diǎn)的強(qiáng)度[63]。在Sn3.5Ag0.7Cu中加入0.5%TiO2納米顆粒,可使焊點(diǎn)的硬度提高近16.5%,抗拉強(qiáng)度提高近12.5%。由于TiO2納米顆?;钚源螅诒砻嫖阶饔孟聲?huì)累積到Ag3Sn表面,阻礙其生長(zhǎng),使Ag3Sn的平均顆粒尺寸減小而得到細(xì)化,由于第二相粒子的彌散強(qiáng)化作用,提高了焊點(diǎn)力學(xué)性能和顯微硬度,但加入TiO2納米顆粒會(huì)升高釬料液相線溫度,因此,添加量不宜過多[52]。在Sn3.8Ag-0.7Cu中加入增強(qiáng)相SiC顆粒,復(fù)合釬料的熔點(diǎn)略有下降,隨著SiC含量的增加,出現(xiàn)了第二相彌散強(qiáng)化作用,使顯微硬度升高,加入0.05%SiC時(shí)顯微硬度達(dá)到最大值[53]。在Sn3.8Ag0.7Cu中添加 Mo納米顆粒能顯著提高焊點(diǎn)屈服強(qiáng)度,焊點(diǎn)斷裂模式由韌性斷裂轉(zhuǎn)變?yōu)轫g性和準(zhǔn)解理混合斷裂[2]。

      5 存在的問題及今后的研究方向

      目前國(guó)內(nèi)外研究中大多針對(duì)改善SnAgCu釬料某方面的性能,缺乏對(duì)其綜合性能進(jìn)行系統(tǒng)研究。如P/Bi能改善SnAgCu釬料的潤(rùn)濕性,但對(duì)焊點(diǎn)服役可靠性帶來負(fù)面影響。Zn雖能提高SnAgCu釬料的力學(xué)性能,但Zn極易氧化,并能加快SnAgCu釬料在潮濕環(huán)境中的腐蝕速率,不利于焊點(diǎn)在特殊環(huán)境下服役。RE能細(xì)化釬料組織,但會(huì)促進(jìn)表面錫晶須的生長(zhǎng),對(duì)于引線節(jié)距越來越小的高密度組裝來說,錫晶須生長(zhǎng)會(huì)引起電子器件相鄰引腳的短路,導(dǎo)致電子器件提前失效而報(bào)廢,因而限制了RE的添加量。添加少量納米顆粒可顯著提高釬料性能,但納米顆粒在釬料基體中易團(tuán)聚,在回流焊中易出現(xiàn)重熔,在服役過程中會(huì)產(chǎn)生溶解、互擴(kuò)散或粗化,導(dǎo)致增強(qiáng)相變粗大或完全消失,進(jìn)而影響焊點(diǎn)整體的可靠性,這些問題都會(huì)嚴(yán)重降低增強(qiáng)相的強(qiáng)化效果。因此,引入納米顆粒必須保證增強(qiáng)相在釬料基體中有穩(wěn)定的尺寸和均勻分布。可從以下方面對(duì)SnAgCu系無鉛釬料的綜合性能進(jìn)行深入系統(tǒng)的研究:(1)從多元化角度設(shè)計(jì)合金成分,在降低釬料成本的同時(shí),提高釬料的可焊性和焊點(diǎn)可靠性。(2)釬焊過程中加助焊劑能改善潤(rùn)濕,提高釬料的抗氧化性和釬焊性,但助焊劑揮發(fā)易使焊點(diǎn)形成宏觀孔洞缺陷,因而,需采用優(yōu)化釬劑與釬料合金化相結(jié)合的方式,來改善SnAgCu釬料的工藝性能,避免氧化夾渣及孔洞等缺陷危害焊點(diǎn)的可靠性。(3)從焊點(diǎn)形成機(jī)理的角度,深入分析組織結(jié)構(gòu)演變和界面行為,減小SnAgCu釬料在凝固過程中過冷度,細(xì)化IMC晶粒;控制界面IMC層的厚度,抑制脆性IMC的形成和生長(zhǎng),減少孔洞的形成,提高焊點(diǎn)服役可靠性。(4)提高電子產(chǎn)品的實(shí)際應(yīng)用價(jià)值,降低SnAgCu合金的熱膨脹系數(shù),提高焊點(diǎn)在交變載荷作用下的抗蠕變-疲勞壽命,改善SnAgCu焊點(diǎn)抗沖擊/振動(dòng)性能,滿足電子產(chǎn)品在特殊條件下的使用要求,研發(fā)出高可靠性和持久耐用的SnAgCu釬料。

      [1]GAIN A K,F(xiàn)OUZDER T,CHAN Y C,etal.The influence of addition of Al nano-particles on the micro structure and shear strength of eutectic Sn-Ag-Cu solder on Au/Ni metallized Cu pads[J].Journal of Alloys and Compounds,2010,506(1):216-223.

      [2]RAO B S S C,KUMAR K M,KRIPESH V,etal.Tensile deformation behavior of nano-sized Mo particles reinforced SnAgCu solders[J].Materials Science and Engineering:A,2011,528(12):4166-4172.

      [3]RAMIREZ M,HENNEKEN L,VIRTANEN S.Oxidation kinetics of thin copper films and wetting behavior of copper and Organic Solderability Preservatives(OSP)with lead-free solder[J].Applied Surface Science,2011,257(15):6481-6488.

      [4]張啟運(yùn),莊鴻壽.釬焊手冊(cè)[M].2版.北京:機(jī)械工業(yè)出版社,2008.

      [5]CHUANG C L,TSAO L C,LIN H K,etal.Effects of small amount of active Ti element additions on micro structure and property of Sn3.5Ag0.5Cu solder[J].Materials Science and Engineering:A,2012,558:478-484.

      [6]KIM K S,HUH S H,SUGANUMA K.Effects of intermetallic compounds on properties of Sn-Ag-Cu lead-free soldered joints[J].Journal of Alloys and Compounds,2003,352(1-2):226-236.

      [7]KOTADIA H R,MOKHTARI O,CLODE M P,etal.Intermetallic compound growth suppression at high temperature in SAC solders with Zn addition on Cu and Ni-P substrates[J].Journal of Alloys and Compounds,2012,511(1):176-188.

      [8]LIU W P,BACHORIK P,LEE N C.The superior drop test performance of SAC-Ti solders and its mechanism[A].Electronic Manufacturing Technology Symposium(IEMT)[C].New York,USA:IEEE,2008.452-458.

      [9]CHOI H,LEE T,KIM Y,etal.Improved strength of borondoped Sn-1.0Ag-0.5Cu solder joints under aging conditions[J].Intermetallics,2012,20(1):155-159.

      [10]ZHANG B,DING H,SHENG X J.Reliability study of boardlevel lead-free interconnections under sequential thermal cycling and drop impact[J].Microelectronics Reliability,2009,49(5):530-536.

      [11]王麗鳳,孫鳳蓮,呂燁,等.Sn-3.0Ag-0.5Cu-xNi無鉛焊料及焊點(diǎn)的性能[J].焊接學(xué)報(bào),2009,30(1):9-12.WANG Li-feng,SUN Feng-lian,Lü Ye,etal.Properties of Sn-3.0Ag-0.5Cu-xNi lead-free solders and soldering joints[J].Transactions of the China Welding Institution,2009,30(1):9-12.

      [12]DONG W X,SHI Y W,LEI Y P,etal.Effects of small amounts of Ni/P/Ce element additions on the micro structure and properties of Sn3.0Ag0.5Cu solder alloy[J].Journal of Materials Science:Materials in Electronics,2009,20(10):1008-1017.

      [13]TAY S L,HASEEB A S M A,JOHAN M R,etal.Influence of Ni nanoparticle on the morphology and growth of interfacial intermetallic compounds between Sn-3.8Ag-0.7Cu lead-free solder and copper substrate[J].Intermetallics,2013,33:8-15.

      [14]KOH K X,HASEEB A S M A,ARAFAT M M,etal.Effects of Mn nanoparticles on wettability and intermetallic compounds in between Sn-3.8Ag-0.7Cu and Cu substrate during multiple reflow [A].Quality Electronic Design(ASQED)[C].New York,USA:IEEE,2012.297-301.

      [15]MOSER Z,SEBO P,GASIOR W,etal.Effect of indium on wettability of Sn-Ag-Cu solders.Experiment vs modeling:Part I[J].Calphad,2009,33(1):63-68.

      [16]FALLAHI H,NURULAKMAL M S,AREZODAR A F,etal.Effect of iron and indium on IMC formation and mechanical properties of lead-free solder[J].Materials Science and Engineering:A,2012,553:22-31.

      [17]劉曉英,馬海濤,羅忠兵,等.Fe粉對(duì)Sn-3Ag-0.5Cu復(fù)合釬料組織及性能的影響[J].中國(guó)有色金屬學(xué)報(bào),2012,22(4):1169-1176.LIU Xiao-ying,MA Hai-tao,LUO Zhong-bing,etal.Effect of Fe particles on micro structures and properties of Sn-3Ag-0.5Cu lead-free solder[J].The Chinese Journal of Nonferrous Metals,2012,22(4):1169-1176.

      [18]劉靜,張富文,徐駿,等.合金元素Cr,Al對(duì)Sn-Ag-Cu基無鉛釬料高溫抗氧化和潤(rùn)濕性的影響[J].稀有金屬,2006,30(1):16-20.LIU Jing,ZHANG Fu-wen,XU Jun,etal.Effect of alloying elements Cr,Al on high-temperature oxidation resistance and wettability of Sn-Ag-Cu based lead-free solder[J].Chinese Journal of Rare Metals,2006,30(1):16-20.

      [19]OHNUMA I,ISHIDA K,MOSER Z,etal.Pb-free solders:Part II application of ADAMIS database in modeling of Sn-Ag-Cu alloys with Bi additions[J].Journal of Phase Equilibria and Diffusion,2006,27(3):245-254.

      [20]HE M,EKPENUMA S N,ACOFF V L.Microstructure and creep deformation of Sn-Ag-Cu-Bi/Cu solder joints[J].Journal of Electronic Materials,2008,37(3):300-306.

      [21]EI-DALY A A,HAMMAD A E,F(xiàn)AWZY A,etal.Microstructure,mechanical properties,and deformation behavior of Sn-1.0Ag-0.5Cu solder after Ni and Sb additions[J].Materials& Design,2013,43:40-49.

      [22]LENG E P,LING W T,AMIN N,etal.BGA lead-free C5 solder system improvement by germanium addition to Sn3.5Ag and Sn-3.8Ag-0.7Cu solder alloy[A].Electronics Packaging Technology Conference[C].New York,USA:IEEE,2009.

      [23]CHEN G H,MA J S,GENG Z T.Fabrication and properties of lead-free Sn-Ag-Cu-Ga solder alloy[J].Materials Science Forum,2005,475-479:1747-1750.

      [24]CHO M G,SEO S K,LEE H M.Wettability and interfacial reactions of Sn-based Pb-free solders with Cu-xZn alloy under bump metallurgies[J].Journal of Alloys and Compounds,2009,474(1-2):510-516.

      [25]LU S,LUO F,CHEN J,etal.Microstructural and physical characteristics of Sn-Ag-Cu-Mg lead-free solders[A].Electronic Packaging Technology & High Density Packaging,International Conference on[C].New York,USA:IEEE,2008.1-4.

      [26]ZHAO X Y,ZHAO M Q,CUI X Q,etal.Effect of cerium on micro structure and mechanical properties of Sn-Ag-Cu system lead-free solder alloys[J].Transactions of Nonferrous Metals Society of China,2007,17(4):805-810.

      [27]SHI Y W,TIAN J,HAO H,etal.Effects of small amount addition of rare earth Er on micro structure and property of SnAgCu solder[J].Journal of Alloys and Compounds,2008,453(1-2):180-184.

      [28]GAO L L,XUE S B,ZHANG L,etal.Effect of praseodymium on the micro structure and properties of Sn3.8Ag0.7Cu solder[J].Journal of Materials Science:Materials in Electronics,2010,21(9):910-916.

      [29]HAO H,TIAN J,SHI Y W,etal.Properties of Sn3.8Ag-0.7Cu solder alloy with trace rare earth element Y additions[J].Journal of Electronic Materials,2007,36(7):766-774.

      [30]ZHOU Y C,PAN Q L,HE Y B,etal.Microstructures and properties of Sn-Ag-Cu lead-free solder alloys containing La[J].Transactions of Nonferrous Metals Society of China,2007,17(S1):1043-1048.

      [31]DUDEK M A,CHAWLA N.Mechanisms for Sn whisker growth in rare earth-containing Pb-free solders[J].Acta Materialia,2009,57(15):4588-4599.

      [32]肖紀(jì)美,朱逢吾.材料能量學(xué)——能量的關(guān)系、計(jì)算和應(yīng)用[M].上海:上海科學(xué)技術(shù)出版社,1999.149.

      [33]栗慧,盧斌,朱華偉.微量Ga元素對(duì)低銀系無鉛釬料抗氧化性能的影響[J].稀有金屬,2012,36(4):584-589.LI Hui,LU Bin,ZHU Hua-wei.Effect of Ga on oxidation resistance of low-silver lead-free solder[J].Chinese Journal of Rare Metals,2012,36(4):584-589.

      [34]栗慧,盧斌,朱華偉.微量In對(duì)Sn-0.3Ag-0.7Cu無鉛釬料抗氧化性能的影響[J].常州工學(xué)院學(xué)報(bào),2011,24(6):11-14.LI Hui,LU Bin,ZHU Hua-wei.Effect of micro in-element on the oxidation resistance of Sn-0.3Ag-0.7Cu lead-free solder[J].Journal of Changzhou Institute of Technology,2011,24(6):11-14.

      [35]HUA L,HOU H N,ZHANG H Q,etal.Effects of Zn,Ge doping on electrochemical migration,oxidation characteristics and corrosion behavior of lead-free Sn-3.0Ag-0.5Cu solder for electronic packaging[A].Electronic Packaging Technology &High Density Packaging(ICEPT-HDP),2010 11thInternational Conference on[C].New York,USA:IEEE,2010.1151-1157.

      [36]DUDEK M A,CHAWLA N.Oxidation behavior of rare-earthcontaining Pb-free solders[J].Journal of Electronic Materials,2009,38(2):210-220.

      [37]CHE F X,PANG J H L.Characterization of IMC layer and its effect on thermomechanical fatigue life of Sn-3.8Ag-0.7Cu solder joints[J].Journal of Alloys and Compounds,2012,541:6-13.

      [38]LI B,SHI Y W,LEI Y P,etal.Effect of rare earth element addition on the micro structure of Sn-Ag-Cu solder joint[J].Jour-nal of Electronic Materials,2005,34(3):217-224.

      [39]GAO L L,XUE S B,ZHANG L,etal.Effects of trace rare earth Nd addition on micro structure and properties of SnAgCu solder[J].Journal of Materials Science:Materials in Electronics,2010,21(7):643-648.

      [40]CHENG F J,NISHIKAWA H,TAKEMOTO T.Microstructural and mechanical properties of Sn-Ag-Cu lead-free solders with minor addition of Ni and/or Co[J].Journal of Materials Science,2008,43(10):3643-3648.

      [41]HASEEB A S M A,LENG T S.Effects of Co nanoparticle addition to Sn-3.8Ag-0.7Cu solder on interfacial structure after reflow and ageing[J].Intermetallics,2011,19(5):707-712.

      [42]HASEEB A S M A,ARAFAT M M,JOHAN M R.Stability of molybdenum nanoparticles in Sn-3.8Ag-0.7Cu solder during multiple reflow and their influence on interfacial intermetallic compounds[J].Materials Characterization,2012,64:27-35.

      [43]SHNAWAH D A,SAID S B M,SABRI M F M,etal.Microstructure,mechanical,and thermal properties of the Sn-1Ag-0.5Cu solder alloy bearing Fe for electronics applications[J].Materials Science and Engineering:A,2012,551:160-168.

      [44]LIN F,BI W,JU G,etal.Evolution of Ag3Sn at Sn-3.0Ag-0.3Cu-0.05Cr/Cu joint interfaces during thermal aging[J].Journal of Alloys and Compounds,2011,509(23):6666-6672.

      [45]BOESENBERG A,ANDERSON I,HARRINGA J.Development of Sn-Ag-Cu-X solders for electronic assembly by micro-alloying with Al[J].Journal of Electronic Materials,2012,41(7):1868-1881.

      [46]LI J F,AGYAKWA P A,JOHNSON C M.Effect of trace Al on growth rates of intermetallic compound layers between Snbased solders and Cu substrate[J].Journal of Alloys and Compounds,2012,545:70-79.

      [47]LIN L W,SONG J M,LAI Y S.Alloying modification of Sn-Ag-Cu solders by manganese and titanium[J].Microelectronics Reliability,2009,49(3):235-241.

      [48]HAMADA N,UESUGI T,TAKIGAWA Y,etal.Effects of Zn addition and aging treatment on tensile properties of Sn-Ag-Cu alloys[J].Journal of Alloys and Compounds,2012,527:226-232.

      [49]LI G Y,CHEN B L,SHI X Q,etal.Effects of Sb addition on tensile strength of Sn-3.5Ag-0.7Cu solder alloy and joint[J].Thin Solid Films,2006,504(1-2):421-425.

      [50]孟工戈,楊拓宇,陳雷達(dá),等.Ge對(duì)SnAgCu/Cu釬焊界面結(jié)構(gòu)的影響[J].焊接學(xué)報(bào),2008,29(7):51-54.MENG Gong-ge,YANG Tuo-yu,CHEN Lei-da,etal.Effect of Ge on the SnAgCu/Cu soldering interface[J].Transactions of the China Welding Institution,2008,29(7):51-54.

      [51]CHUANG C M,LIN K L.Effect of microelements addition on the interfacial reaction between Sn-Ag-Cu solders and the Cu substrate[J].Journal of Electronic Materials,2003,32(12):1426-1431.

      [52]CHANG S Y,JAIN C C,CHUANG T H,etal.Effect of addition of TiO2nanoparticles on the micro structure,microhardness and interfacial reactions of Sn3.5AgXCu solder[J].Materials &Design,2011,32(10):4720-4727.

      [53]LIU P,YAO P,LIU J.Effect of SiC nanoparticle additions on micro structure and microhardness of Sn-Ag-Cu solder alloy[J].Journal of Electronic Materials,2008,37(6):874-879.

      [54]CHANG S,TSAO L,WU M,etal.The morphology and kinetic evolution of intermetallic compounds at Sn-Ag-Cu solder/Cu and Sn-Ag-Cu-0.5Al2O3composite solder/Cu interface during soldering reaction[J].Journal of Materials Science:Materials in Electronics,2012,23(1):100-107.

      [55]YU A,KIM J,LEE J,etal.Pd-doped Sn-Ag-Cu-In solder material for high drop/shock reliability[J].Materials Research Bulletin,2010,45(3):359-361.

      [56]ANDERSON I E,COOK B A,HARRINGA J,etal.Microstructural modifications and properties of Sn-Ag-Cu solder joints induced by alloying[J].Journal of Electronic Materials,2002,31(11):1166-1174.

      [57]ZHANG X P,YIN L M,YU C B.Thermal creep and fracture behaviors of the lead-free Sn-Ag-Cu-Bi solder interconnections under different stress levels[J].J Mater Sci:Mater Electron,2008,19(4):393-398.

      [58]AMAGAI M,TOYODA Y,OHNISHI T,etal.High drop test reliability:lead-free solders [A].Electronic Components and Technology Conference [C].New York,USA:IEEE,2004.1304-1309.

      [59]LAI Y S,SONG J M,CHANG H C,etal.Ball impact responses of Ni-or Ge-doped Sn-Ag-Cu solder joints[J].Journal of Electronic Materials,2008,37(2):201-209.

      [60]XIAO W M,SHI Y W,XU G C,etal.Effect of rare earth on mechanical creep-fatigue property of SnAgCu solder joint[J].Journal of Alloys and Compounds,2009,472(1-2):198-202.

      [61]DUDEK M A,CHAWLA N.Effect of rare-earth(La,Ce,and Y)additions on the micro structure and mechanical behavior of Sn-3.9Ag-0.7Cu solder alloy[J].Metallurgical and Materials Transactions A,2010,41(3):610-620.

      [62]ZHANG L,XUE S B,GAO L L,etal.Effects of trace amount addition of rare earth on properties and micro structure of Sn-Ag-Cu alloys[J].Journal of Materials Science:Materials in Electronics,2009,20(12):1193-1199.

      [63]GAIN A K,CHAN Y C,YUNG W K C.Effect of additions of ZrO2nano-particles on the micro structure and shear strength of Sn-Ag-Cu solder on Au/Ni metallized Cu pads[J].Microelectronics Reliability,2011,51(12):2306-2313.

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