愛德萬測試（Advantest）新品發(fā)布

愛德萬測試（Advantest）就新近推出的三款新品日前分別于上海、北京舉行媒體發(fā)布會。發(fā)布會期間，業(yè)務(wù)戰(zhàn)略發(fā)展部的高級總監(jiān)陸亞奇先生就半導(dǎo)體市場需求，產(chǎn)業(yè)結(jié)構(gòu)及增長率進(jìn)行了分析和介紹。

以下是愛德萬測試三款新品的用途和性能介紹：

Advantest推出1.6-Gbps數(shù)字模塊，通過功能強(qiáng)大的EDA-LINK（FTA-ELINK）進(jìn)行Protocol-Aware測試

全球領(lǐng)先的半導(dǎo)體測試設(shè)備供應(yīng)商Advantest推出其全新的T20001.6GDM數(shù)字模塊，旨在提高系統(tǒng)級芯片（SoC）在T2000的測試平臺上的測試效率。

1.6 GDM模塊集成了FTA+（Functional Test Abstraction Plus）新功能以實(shí)現(xiàn)Protocol-Aware測試，在測試過程中測試儀將直接以各種協(xié)議語言與待測芯片（DUT）進(jìn)行通信。EDA工具FTA-ELINK將設(shè)計仿真器直接連接到T2000測試平臺，此外，Verilog代碼可以在帶有1.6GDM模塊的T2000 EPP（增強(qiáng)型性能套件）系統(tǒng)上運(yùn)行。由于其向量發(fā)生器擁有了具備獨(dú)立時序及存儲功能的Protocol-Aware引擎，T2000可以在本地進(jìn)行基于協(xié)議的I/O測試，從而實(shí)現(xiàn)高效的并行、并發(fā)測試，顯著加快了用戶從設(shè)計到出樣的時間，提高了產(chǎn)品面市速度。

隨著1.6GDM模塊的推出，T2000EPP大大提高了其并行測試的能力，每個DUT的功能可以獨(dú)立地監(jiān)測和評價。新模塊具有的矢量模式使得它在具有更高產(chǎn)能和可靠性的同時，與現(xiàn)有的1GDM數(shù)字模塊完全兼容。

Advantest推出新款芯片供電電源，提高T2000測試平臺的通用性和成本效益新DPS150AE模塊為高、低電流器件提供高產(chǎn)出、高同測能力

全新的T2000增強(qiáng)型芯片供電電源DPS150AE模塊，使得T2000測試平臺可用于針對包括MPU、ASIC和FPGA等在內(nèi)的大電流和低電壓芯片的高精度測試。該模塊提高了T2000以最低測試成本對以上芯片進(jìn)行高產(chǎn)出、高同測的能力。

DPS150AE模塊極大地提高了測試的靈活性，用戶可以現(xiàn)場升級或者作為T2000 EPP（增強(qiáng)型性能套件）系統(tǒng)的選件進(jìn)行出廠安裝。通過模塊的高速總線和Advantest的智能測試條件存儲器（TCM），T2000 EPP系統(tǒng)可以使該模塊同時測試多個器件，并且每個待測器件都可以進(jìn)行獨(dú)立監(jiān)測和評估。

通過T2000EPP的TCM，用戶可以迅速地設(shè)定和調(diào)整測試條件。這個功能預(yù)先加載了測試程序的所有參數(shù)并且具有編輯能力，測試工程師能夠以圖形方式在程序運(yùn)行中實(shí)時進(jìn)行修改。

DPS150AE有8個可支持高達(dá)16安培的大電流通道（HL）以及8個可支持2.66安培的低電流（LC）通道。DPS150AE還可以將不同模塊上的多個通道并聯(lián)，通過80個HC通道，每個通道提供16安培電流，產(chǎn)生高達(dá)1280安培的大電流。

Advantest最新推出基于V93000平臺的PVI8懸浮式電源，進(jìn)軍高電壓、大電流IC測試領(lǐng)域助力V93000應(yīng)對SOC市場日益融合的趨勢

最新推出了PVI8懸浮電源，擴(kuò)展了其市場領(lǐng)先的V93000測試平臺為嵌入式電源器件進(jìn)行高電壓、大電流測試的能力。該項性能的提升使V93000能夠在同一平臺上具有強(qiáng)大的電源以及足夠的數(shù)字和模擬通道，從而為用戶提供高并行度、低成本的嵌入式電源IC測試解決方案。

PVI8電源具有8懸浮通道和4象限運(yùn)行設(shè)計，每通道可以提供高達(dá)80 V的電壓和10 A的電流。它的8通道可以組合輸出高達(dá)±80 A的電流，從而對待測器件進(jìn)行高功率下的耐壓測試。為了測試高壓源，PVI8可憑借其懸浮設(shè)計通過堆疊產(chǎn)生±160 V的電壓。

PVI8的測量范圍和驅(qū)動范圍是獨(dú)立的，用戶可以任意切換測量范圍而不必?fù)?dān)心待測器件遭到（電壓或電流的）尖峰、斷電、死鎖或者損壞。

通過內(nèi)在的向量控制運(yùn)行模式，PVI8在電源測試過程中不需要與測試系統(tǒng)的CPU進(jìn)行交互，大大加快了測試速度。通過保持恒定的向量速度，以及使用短功率脈沖以防止DUT過熱，PVI8可以得到穩(wěn)定的測試結(jié)果。

PVI8的每個VI通道都有自己的處理器和一個高達(dá)56 MB的內(nèi)存，這使得其16位任意波形發(fā)生器（AWG）和全向量控制的數(shù)字化儀得以高效運(yùn)行。在程序運(yùn)行過程中，該處理器的大容量內(nèi)存使得基于向量控制的儀器無需重新載入波形，從而允許在一次向量運(yùn)行過程中進(jìn)行多次測量。

Advantest的PVI8懸浮電源已經(jīng)開始向全球的客戶發(fā)貨。該模塊可作為V93000的選件在出廠時安裝，也可以進(jìn)行現(xiàn)場升級。

愛德萬測試向長期合作客戶Amkor出貨第1000臺V93000 Smart Scale

全球領(lǐng)先的半導(dǎo)體測試設(shè)備供應(yīng)商愛德萬測試已將其具有里程碑意義的第1000臺V93000 Smart Scale測試設(shè)備出貨長期合作客戶Amkor。安靠技術(shù)是世界上最大的半導(dǎo)體封裝測試服務(wù)提供商之一，也是超過300家世界領(lǐng)先的半導(dǎo)體公司和電子OEM的戰(zhàn)略生產(chǎn)合作伙伴。安靠技術(shù)將利用此配置Pin Scale 1600和Pin Scale 9G卡的系統(tǒng)，為最新一代支援高畫質(zhì)多媒體介面（HDMI）與行動高畫質(zhì)連結(jié) （MHL）技術(shù)的半導(dǎo)體產(chǎn)品打造具成本經(jīng)濟(jì)效益的測試解決方案。

所有種類的V93000 Smart Scale測試設(shè)備都互相兼容，讓客戶可以隨著IC產(chǎn)量和測試要求的變化，將他們的產(chǎn)品測試從一種設(shè)備轉(zhuǎn)向另一種設(shè)備。

V93000測試平臺被安靠和全球眾多OSAT公司廣泛使用，以通用per-pin結(jié)構(gòu)為特點(diǎn)，為高級半導(dǎo)體設(shè)計公司提供最靈活和經(jīng)濟(jì)的測試解決方案。公司的Pin Scale 1600電子信道卡性能廣，通過運(yùn)用此種電子信道卡，測試設(shè)備可以履行被測設(shè)備所需的任何功能。愛德萬測試的創(chuàng)新技術(shù)讓每個pin以自己的時鐘域運(yùn)行，與任意被測設(shè)備精確數(shù)據(jù)速率的要求匹配，提供全面的測試。這使V93000具有電源調(diào)制、抖動注入、協(xié)定通訊和其他關(guān)鍵功能，提供自動測試設(shè)備層面的模擬系統(tǒng)壓力測試。