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      氣泡的ζ電位

      2014-10-17 09:18:40顧幗華
      應(yīng)用化工 2014年1期
      關(guān)鍵詞:電泳電解質(zhì)活性劑

      黃 斌,王 暉,顧幗華

      (1.中南大學(xué)化學(xué)化工學(xué)院有色金屬資源化學(xué)教育部重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室,湖南長沙 410083;2.中南大學(xué)資源加工與生物工程學(xué)院,湖南長沙 410083)

      氣泡表面的動(dòng)電位是指氣泡與水溶液作相對(duì)運(yùn)動(dòng)時(shí)在其滑移面上的電位,通常稱之為ζ電位,它是由于在兩相作相對(duì)運(yùn)動(dòng)時(shí),配衡離子隨表面擴(kuò)散層移開而形成的。由于靜電力在氣/液/固界面相互作用中占有重要地位,氣泡表面的ζ電位往往成為有氣泡參與的某些過程的重要參數(shù),這些過程涉及起泡劑的選擇、氣泡的穩(wěn)定性、固體表面的潤濕以及固體與氣泡間的附著等研究內(nèi)容,特別是在礦物浮選、塑料浮選、微生物發(fā)酵、水處理、食品加工等領(lǐng)域的基礎(chǔ)研究中不可回避。

      固體顆粒表面ζ電位的測定方法包括電泳法、電滲法、流動(dòng)電位法和沉降電位法。測量方法在早期發(fā)展和改進(jìn)較多,近10年來的發(fā)展較緩慢,大部分都是采用不同的方法進(jìn)行測定,然后和前人的測量進(jìn)行比較驗(yàn)證。

      近年來,一些儀器公司開發(fā)出專業(yè)的ζ電位測量設(shè)備,比如美國布魯克海文儀器公司生產(chǎn)的Zeta-PALS分析儀[1-2],通過測得外加電場下氣泡電泳時(shí)的多普勒頻移獲得電泳遷移率,再利用相關(guān)ζ電位與電泳遷移率的關(guān)聯(lián)式推導(dǎo)出氣泡的ζ電位值,專業(yè)的激光ζ電位儀已成為測量氣泡ζ電位的標(biāo)準(zhǔn)化設(shè)備。Cho等[3]將待測溶液在20 kHz頻率下超聲,獲得尺寸約為800 nm的氣泡溶液。Najafi[1]通過快速升高溶液的溫度,破壞氣體的溶解平衡得到尺寸為290 nm的氣泡溶液,之后再借助ZetaPALS分析儀測得氣泡的ζ電位。

      本文對(duì)氣泡ζ電位的測量方法(包括旋轉(zhuǎn)管電泳法、常規(guī)電泳法、沉降電位法,其中常規(guī)電泳法較常用)以及純水中、表面活性劑體系中、電解質(zhì)體系中氣泡ζ電位的測量結(jié)果進(jìn)行綜述,以期能對(duì)上述領(lǐng)域的研究起到一定的借鑒作用。

      1 氣泡的ζ電位

      1.1 純水中氣泡的ζ電位

      純水中氣泡的ζ電位是研究氣-液界面電性質(zhì)的基礎(chǔ)。分子動(dòng)力學(xué)模擬認(rèn)為,H+在水表面的富集,使得純水表面為酸性。宏觀的氣-液界面帶電實(shí)驗(yàn)表明,不同方法測得的氣泡ζ電位均為負(fù)值[4-6],其等電點(diǎn)都在pH處于1.5~3.5之間,見表1。

      表1 純水中氣泡的等電點(diǎn)Table1 ζPotential of air bubble in pure water

      1.2 表面活性劑體系中氣泡的ζ電位

      圖1~圖3分別對(duì)表面活性劑體系中氣泡的ζ電位進(jìn)行了總結(jié)。包括三種陰離子表面活性劑[十六烷基硫酸鈉(SDS)、十二烷基硫酸鈉(DS)、十六烷基苯磺酸鈉(8ΦC16)]、三種陽離子表面活性劑[十二胺(DAH)、十六烷基甲基溴化銨(HTAB)、十四烷基三甲基溴化銨(C14TAB)]以及聚氧乙烯十二烷基醚(POE)、丁醇、聚丙二醇(PPG)三種非離子型表面活性劑。泳槽常規(guī)電泳[13];曲線2為SDS蒸餾水溶液,用多恩效應(yīng)測得[14];曲線 3 為 DSNa 溶液,pH 5.6,靜止面上常規(guī)電泳[15];曲線4為SDS溶液,pH 7,改變溫度獲得納米氣泡,激光 Zeta電位儀[1];曲線 5為8ΦC16 溶液,pH 7.5,采用旋轉(zhuǎn)管電泳法[6]。

      圖1 陰離子表面活性劑濃度對(duì)氣泡ζ電位的影響Fig.1 ζPotential of air bubble under different concentration of anion surfactant

      圖2 陽離子表面活性劑濃度對(duì)氣泡ζ電位的影響Fig.2 ζPotential of air bubble under different concentration of cation surfactant

      在圖1中,曲線1為SDS溶液,pH 10.3,U型電在圖2中,曲線1為DAH溶液,pH 7.1,U型電泳槽常規(guī)電泳法[13];曲線2為 HTAB溶液,用多恩效應(yīng)測得[14];曲線 3 為 DAH 溶液,pH 4.1,在靜止面上采用常規(guī)電泳法[8];曲線4為C14TAB溶液中,0.01 mol/L KBr,通過超聲獲得納米氣泡,pH 5.5,激光 zeta電位儀[3]。

      圖3 非離子型離子表面活性劑濃度對(duì)氣泡ζ電位的影響Fig.3 ζPotential of air bubble under different concentration of nonionic surfactant

      在圖3中,曲線1為丁醇溶液,用多恩效應(yīng)測得[14];曲線 2 為 POE 溶液,用多恩效應(yīng)測得[14];曲線3為POE溶液,pH 4.0,在靜止面上采用常規(guī)電泳[8];曲線 4 為 POE 溶液,pH 7.5,采用旋轉(zhuǎn)管電泳法[6];曲線5為 PPG 溶液,pH 7,U 型電泳槽常規(guī)電泳法[13]。

      對(duì)于同一類型的表面活性劑,疏水端碳鏈長度不同,測得的氣泡的ζ電位存在差異。在Sakai的實(shí)驗(yàn)中,低碳數(shù)的烷基氯化銨幾乎不具表面活性,不會(huì)改變氣泡的ζ電位[16]。圖4列出了pH為5.5的去離子水中不同烷基鏈的陽離子表面活性劑烷基三甲基溴化銨(CnTAB)溶液中氣泡的ζ電位[3],其中長鏈的C16TAB由于具有更小的分子截面積,使得單位面積下的吸附量較多,從而低濃度的C16TAB就能顯著地改變氣泡的ζ電位。

      圖4 0.01 mol/L KBr溶液中不同烷基鏈長度的Cn TAB對(duì)氣泡ζ電位的影響Fig.4 ζPotential of air bubble under different alkyl chain of Cn TAB in 0.01 mol/L KBr solution

      1.3 電解質(zhì)體系中氣泡的ζ電位

      無機(jī)電解質(zhì)不同于表面活性劑,其不具有疏水端,不一定能在氣-液界面上富集。Conway[17]認(rèn)為,氣-液界面是一個(gè)二維或者二維半的結(jié)構(gòu),離子在該區(qū)域只能部分水化,該區(qū)域較主體溶液在能量上處于不利的位置,因而離子呈負(fù)吸附傾向(但實(shí)驗(yàn)中一些簡單強(qiáng)酸性溶液HCl、HBr、HNO3的表面張力隨著濃度的增加反而變小,通過Gibbs吸附方程可推出這些離子在界面為正吸附[18])。無機(jī)電解質(zhì)對(duì)氣泡ζ電位的影響很多文獻(xiàn)中都有提及,通常認(rèn)為無機(jī)電解質(zhì)的加入壓縮了雙電層從而改變?chǔ)齐娢弧?/p>

      Li等[19-21]就不同pH下不同濃度的NaCl及多價(jià)態(tài)的MgCl2、AlCl3和LaCl3對(duì)氣泡帶電性的影響進(jìn)行了研究。其中NaCl的結(jié)果見圖5,均可推出其等電點(diǎn)約為1.5,認(rèn)為Na+和Cl-在界面的吸附?jīng)]有差別。AlCl3結(jié)果見圖6。ζ電位的變化趨勢明顯不同,其等電點(diǎn)隨AlCl3濃度變化而變化,作者運(yùn)用物質(zhì)分布圖來解釋,認(rèn)為ζ電位的變化是由于對(duì)應(yīng)pH下存在的鋁的氫氧化物在界面上吸附所引起。在MgCl2和 LaCl3實(shí)驗(yàn)中,獲得了與AlCl3類似的結(jié)果。通過上述實(shí)驗(yàn),他們認(rèn)為氣泡的帶電性與電解質(zhì)的濃度以及對(duì)該濃度有影響的pH有關(guān),利用電解質(zhì)的物質(zhì)分布圖,通過加入一定量的該電解質(zhì),并調(diào)節(jié)合適的pH值,最終能使氣泡獲得所需要的帶電性。

      圖5 NaCl溶液中pH對(duì)氣泡ζ電位的影響Fig.5 ζPotential of air bubble under different pH in NaCl solution

      圖6 AlCl3溶液中pH對(duì)氣泡ζ電位的影響Fig.6 ζPotential of air bubble under different pH in AlCl3 solution

      Yang 等[11]也分別對(duì) NaCl、CaCl2和 AlCl3體系進(jìn)行了研究。在NaCl實(shí)驗(yàn)中,隨著濃度的增大ζ電位負(fù)值減小,他們將其歸因于擴(kuò)散和靜電吸附使更多的Na+吸附在界面以及雙電層的壓縮。在AlCl3中他們得到與Li類似的結(jié)果,認(rèn)為ζ電位同樣受金屬離子在不同pH下的分布情況有關(guān)。但對(duì)為什么ζ電位主要由金屬離子決定而不受高濃度Cl-的影響沒有定論。

      Cho 等[3]對(duì) 比 了 不 同 濃 度 NaCl、CaCl2和Na2SO4對(duì)ζ電位的影響,結(jié)果見圖7。

      圖7 NaCl、CaCl2、Na2 SO4濃度對(duì)氣泡ζ電位的影響Fig.7 ζPotential of air bubble under different concentrationof NaCl/CaCl2/Na2SO4 in NaCl solution

      由圖7可知,隨著濃度增大ζ電位的負(fù)值均減小,更多的陽離子在界面上吸附。相同濃度下,二價(jià)的陽離子Ca2+較Na+對(duì)ζ電位影響更大,二價(jià)的陰離子也較Cl-影響更大。

      2 其他影響因素

      除表面活性劑、電解質(zhì)以及pH的影響之外,氣泡大小、氣泡內(nèi)氣體的類型等因素也會(huì)對(duì)氣泡的ζ電位產(chǎn)生影響。

      Usui等[20]用不同孔徑的微孔陶瓷獲得一定尺寸的氣泡群,利用多恩效應(yīng)得到氣泡的ζ電位值,發(fā)現(xiàn)隨著氣泡尺寸的減小ζ電位的負(fù)值明顯增大。Kelsall等[7,10]分別通過改進(jìn)的常規(guī)電泳法均得到了與Usui類似的結(jié)果。

      測量過程中由于產(chǎn)生氣泡的方式不同,氣泡內(nèi)的氣體成分也有一定的差異(空氣、氫氣或氧氣等),研究表明,氣泡成分對(duì)氣泡帶電性均無明顯影響[7,21]。

      離子在界面上的吸附過程是一個(gè)傳質(zhì)過程,需要一定的時(shí)間才能達(dá)到平衡,因而,新形成的氣-液界面其帶電性會(huì)隨時(shí)間發(fā)生變化,在測量過程中應(yīng)充分考慮氣泡形成過程中的時(shí)間效應(yīng)。

      3 結(jié)束語

      在一定離子強(qiáng)度的純水中,氣泡的等電點(diǎn)處于pH 1.5~3.5之間。表面活性劑溶液中,隨著濃度增長,陰離子型表面活性劑使ζ電位負(fù)值更大,陽離子型表面活性劑則使氣泡ζ電位由負(fù)轉(zhuǎn)正,非離子型表面活性劑對(duì)ζ電位的影響與其結(jié)構(gòu)和基團(tuán)有關(guān),當(dāng)濃度達(dá)到臨界膠束濃度時(shí),ζ電位不再發(fā)生變化。無機(jī)電解質(zhì)對(duì)ζ電位的影響與離子在溶液中的存在形式及吸附狀態(tài)有關(guān),pH對(duì)ζ電位的影響主要是通過影響H+和OH-的吸附量以及溶液中表面活性劑和無機(jī)電解質(zhì)的存在形式來實(shí)現(xiàn)。

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