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      引發(fā)電控模塊短路之PCB孔口發(fā)黑原因研究

      2014-11-05 02:23:42袁繼旺
      印制電路信息 2014年9期
      關(guān)鍵詞:阻焊銅層孔壁

      袁繼旺

      (東莞生益電子有限公司,廣東 東莞 523039)

      1 電子產(chǎn)品之PCB短路問題

      電子產(chǎn)品在使用過程中,PCB在過孔孔口產(chǎn)生黑色物質(zhì),此種黑色物質(zhì)具有導(dǎo)電功能,但PCB在使用過程中不同網(wǎng)絡(luò)之間會出現(xiàn)阻值的變化,嚴(yán)重者出現(xiàn)短路問題,而導(dǎo)致這種結(jié)果的共同特點是在問題處生長黑色物質(zhì),此種黑色物質(zhì)一般出現(xiàn)在過孔塞孔位置。經(jīng)過對黑色物質(zhì)進行元素分析,主要成分為“Cu”和“S”。目前此問題已在個別用戶產(chǎn)品使用過程中出現(xiàn)。其中有化學(xué)鎳金板及熱風(fēng)整平焊錫板。

      根據(jù)相關(guān)資料,對于此種問題,早在2005年在國外都有出現(xiàn),主要發(fā)生的表面處理為化學(xué)銀、化學(xué)鎳金和OSP,發(fā)生的位置主要為導(dǎo)通孔測試環(huán)。由于此問題的普遍性和破壞性,對其機理進行研究勢在必行。

      2 實驗分析

      2.1 體視鏡下表觀檢查

      對缺陷板在體視鏡下進行表觀檢查,發(fā)現(xiàn)板兩面均有孔口發(fā)黑現(xiàn)象,全部集中在有阻焊油墨塞孔的孔口周圍,而開窗孔周圍則沒有發(fā)現(xiàn)發(fā)黑現(xiàn)象,說明發(fā)黑現(xiàn)象應(yīng)與阻焊油墨塞孔有關(guān),如圖1、圖2。

      2.2 電鏡下表觀檢查

      對阻焊油墨塞孔孔口發(fā)黑處在掃描電鏡下觀察,發(fā)黑物質(zhì)均呈顆粒狀晶粒結(jié)構(gòu),發(fā)黑物質(zhì)還呈現(xiàn)樹枝狀生長態(tài)勢,似電遷移現(xiàn)象,說明這些黑色物質(zhì)不是機械的沾上去的,而是通過化學(xué)反應(yīng)或遷移生長出來的。

      通過對多個孔口發(fā)黑的阻焊油墨塞孔表觀進行觀察,發(fā)現(xiàn)有孔口發(fā)黑的阻焊油墨塞孔都有明顯的阻焊油墨塞孔裂縫,發(fā)黑物質(zhì)基本都是集中在阻焊油墨裂縫的區(qū)域,而沒有孔口發(fā)黑的阻焊油墨塞孔則無發(fā)現(xiàn)明顯的阻焊油墨塞孔裂縫,說明發(fā)黑物質(zhì)可能是從阻焊油墨塞孔裂縫內(nèi)生長出來的。

      圖1 阻焊油墨塞孔孔口發(fā)黑現(xiàn)象

      圖2 開窗孔孔口無發(fā)黑現(xiàn)象

      2.3 發(fā)黑物質(zhì)成分

      對孔口發(fā)黑物質(zhì)做元素分析,其成分為C、O、S、Cl、Cu,從成分組成來看,黑色物質(zhì)應(yīng)該是硫化物,從銅與硫的原子比例進一步來分析,判斷黑色物質(zhì)可能為硫化銅,如圖3。

      圖3 孔口發(fā)黑物質(zhì)成分

      2.4 垂直切片分析

      對孔口發(fā)黑的阻焊油墨塞孔和無孔口發(fā)黑的阻焊油墨塞孔做垂直切片,然后在電鏡下放大觀察,發(fā)現(xiàn)兩者有明顯差別。

      2.4.1 發(fā)黑阻焊油墨塞孔

      阻焊油墨塞孔孔口有明顯的裂縫,此裂縫一端通向板面,一端與孔壁銅層相連,部分孔壁銅層已被腐蝕爛掉,通過元素分析,確認(rèn)孔口的發(fā)黑物質(zhì)與通向孔外裂縫及被腐蝕孔壁銅的元素成分相似。

      2.4.2 無發(fā)黑阻焊油墨塞孔

      阻焊油墨塞孔孔內(nèi)也存在裂縫,但此裂縫沒有通達到孔外,即沒有與孔外相連,孔壁銅層也完好無缺。

      由以上現(xiàn)象可以判斷,孔口的黑色物質(zhì)應(yīng)該是含S物質(zhì)與孔壁銅層在某種條件下發(fā)生反應(yīng),生成的硫化物通過阻焊油墨塞孔的裂縫遷移到孔外。

      2.5 分析

      根據(jù)以上相關(guān)分析,初步得出如下規(guī)律性結(jié)論:

      (1)發(fā)黑物質(zhì)只發(fā)生在部分阻焊油墨塞孔孔口,阻焊開窗通孔孔口沒有發(fā)現(xiàn)發(fā)黑物質(zhì);

      (2)發(fā)黑物質(zhì)呈有規(guī)則的顆粒狀晶格結(jié)構(gòu),其整體形狀似樹枝狀遷移生長態(tài)勢,應(yīng)為化學(xué)反應(yīng)生成;

      (3)有孔口發(fā)黑的阻焊油墨塞孔均有明顯的塞孔裂縫現(xiàn)象,無發(fā)黑的塞孔則無發(fā)現(xiàn)明顯塞孔裂縫現(xiàn)象;

      (4)發(fā)黑物質(zhì)應(yīng)為硫化銅物質(zhì);

      (5)孔口發(fā)黑阻焊油墨塞孔孔內(nèi)有明顯阻焊油墨裂縫,此裂縫一端與孔壁銅層相連,一端由孔口通向板外,無發(fā)黑阻焊油墨塞孔雖也有孔內(nèi)阻焊油墨裂縫,但此裂縫無與外界相通;

      (6)孔口發(fā)黑阻焊油墨塞孔孔口處銅層已明顯被腐蝕;

      (7) 塞孔油墨含有約4.27%的硫元素。

      通過以上分析可以判斷,PCB的孔口發(fā)黑物質(zhì)全部來自孔口有裂縫的阻焊油墨塞孔孔內(nèi),可能是孔壁銅層與含硫的物質(zhì)發(fā)生反應(yīng)生成硫化銅,這些硫化銅物質(zhì)沿著孔口裂縫逐漸生長,最終形成我們所看到的黑色物質(zhì),但這些硫化銅是在什么條件下生成的還進行試驗論證。

      3 機理分析

      經(jīng)分析發(fā)現(xiàn),已知可發(fā)生黑色物質(zhì)生長的表面處理包括:化學(xué)銀、HASL、ENIG、OSP。且物質(zhì)生長形態(tài)相同,均為樹枝狀。通過對黑色物質(zhì)進行元素分析,其主要含有“Cu”和“S”,從理論上分析,主要可能有以下原因所致:

      (1)存在裸銅面——被氧化腐蝕的物質(zhì)

      (2)具備特定環(huán)境——濕度,即必須具備較高的濕度。——腐蝕性介質(zhì),最有可能的為H2S。

      對于化學(xué)鎳金和化學(xué)銀而言,由于存在電位差,一旦腐蝕發(fā)生,很快形成“腐蝕電池效應(yīng)”,腐蝕速度會更快。

      通過機理研究得出初步結(jié)論如下:

      (1)孔口發(fā)黑物質(zhì)為有孔口裂縫的阻焊油墨塞孔內(nèi)生長出來的硫化銅物質(zhì);

      (2)此硫化銅可能是孔壁銅層在濕氣、空氣中的硫化氫發(fā)生反應(yīng)所致;

      (3)此缺陷有導(dǎo)致孔壁開路的風(fēng)險(孔壁銅層被腐蝕斷開)。

      4 模擬實驗

      鑒于以上分析,為定位原因,制定以下模擬實驗進行論證。

      4.1 目的

      (1)確認(rèn)不同表面處理差異;(2)確認(rèn)腐蝕影響因素。

      4.2 條件

      (1)濕度:60%、85%

      (2)溫度:室溫

      (3)腐蝕物質(zhì):H2S、S

      (4)表面處理:HAL/ENIG/IT/IS/OSP

      ①回流三次/不過回流

      ②使用封孔劑處理/不用封孔劑處理(針對回流三次/不過回流)

      (5)實驗裝置及持續(xù)時間:密閉容器,放置時間為96 h。示意圖圖4。

      4.3 實驗結(jié)果

      根據(jù)上面的實驗設(shè)計,分別進行模擬實驗,結(jié)果:(1)在60%和85%的濕度下,對于所有表面處理而言(過回流爐和不過回流爐),“S”的環(huán)境都未出現(xiàn)腐蝕問題;(2)在60%的濕度下,對于所有表面處理而言,“H2S”的環(huán)境下只有ENIG和I-Silver產(chǎn)生黑色物質(zhì)。過回流爐的相對較為嚴(yán)重。

      圖4 模擬實驗測試設(shè)計示意圖

      不過回流腐蝕僅出現(xiàn)在開窗焊盤和板塞孔的開窗面,而對于過回流的情況,個別塞孔位出現(xiàn)黑色物質(zhì),點數(shù)較少且較為輕微。

      在85%的濕度下,對于所有表面處理而言,“H2S”的環(huán)境下幾種表面處理都產(chǎn)生黑色物質(zhì)。過回流爐的相對較為嚴(yán)重,其中I-S和OSP在焊盤的邊沿出現(xiàn)嚴(yán)重黑色物質(zhì)生長。對于過回流爐的情況,情況都相對加重。

      特別說明,所有塞孔出現(xiàn)黑色物質(zhì)的情況都存在阻焊涂層的裂紋情況。

      4.4 模擬實驗黑色物質(zhì)元素分析

      分別對長出黑色物質(zhì)的塞孔進行切片分析和元素分析,結(jié)果都含有“Cu”和“S”元素,參見圖5、圖6。

      圖5 模擬實驗孔口發(fā)黑物質(zhì)切片分析及元素分析

      模擬實驗孔口發(fā)黑物質(zhì)表面元素分析。

      綜上所述,模擬實驗中不同條件下出現(xiàn)的黑色物質(zhì)從表面形態(tài)和成分都與客戶實際生產(chǎn)板出現(xiàn)的完全相同。

      圖6

      5 硫化氫的來源

      5.1 火山爆發(fā)

      由于溫度很高,氧氣消耗很快,會在局部形成缺氧環(huán)境,從而產(chǎn)生硫化氫。

      5.2 污水處理

      現(xiàn)在絡(luò)合銅廢水的處理工藝大都采用Na2S法,因為這種處理方法成本較低。Na2S法絡(luò)合銅廢水處理是一種化學(xué)沉淀法,先是采用硫化鈉破絡(luò),再結(jié)合投加硫酸亞鐵徹底清除廢水中的微污染。其實投加硫化鈉主要是利用硫化鈉的性質(zhì)破壞絡(luò)合物的穩(wěn)定結(jié)構(gòu)。

      絡(luò)合銅廢水治理正確加藥順序。

      (1)絡(luò)合銅的主要成分為CuSO4·5H2O

      (2)先加過量硫化鈉Na2S+CuSO4·5H2O——Na2SO4+CuS(沉淀)+5H2O

      (3)然后加入硫酸亞鐵,和過量的硫化鈉反應(yīng)Na2S+FeSO4——Na2SO4+FeS(沉淀)

      (4)最好加入氫氧化鈉中和酸和過量的硫酸亞鐵NaOH+H2SO4——NaSO4+H2O

      (5)NaOH+FeSO4——NaSO4+Fe(OH)2——沉淀

      6 結(jié)論

      通過對PCB孔口黑色物質(zhì)的分析和模擬試驗論證,得出以下結(jié)論:

      (1)黑色物質(zhì)是在一定環(huán)境下“Cu”與“H2S”反應(yīng)形成的硫化物——Cu2S。

      (2)不同的表面處理根據(jù)其特性,生長黑色物質(zhì)的能力不同,較強者為ENIG和I-Silver。

      (3)黑色物質(zhì)的生長必須經(jīng)過具備一定的濕度和H2S的環(huán)境存放,濕度越大黑色物質(zhì)的生長速度越大。

      (4)阻焊塞孔位黑色物質(zhì)的形成根源是焊接時PCB受熱因S/R和板材收縮系數(shù)的差異導(dǎo)致出現(xiàn)裂紋而形成的“裸銅”被腐蝕與“H2S”形成化合物。

      7 預(yù)防措施

      對于因H2S導(dǎo)致的Cu腐蝕問題,預(yù)防方法主要從以下兩個方法進行。

      (1)控制電子產(chǎn)品使用環(huán)境濕度。

      試驗表明,環(huán)境濕度越低,其腐蝕能力越低,如果能將環(huán)境濕度控制在50%以下,相信電子產(chǎn)品的受腐蝕程度將大大降低。

      (2)采用環(huán)氧樹脂塞孔代替阻焊油墨塞孔。

      因為環(huán)氧樹脂的CTE大大低于阻焊油墨,采用環(huán)氧樹脂油墨塞孔能較好地解決塞孔位因受熱產(chǎn)生裂縫而產(chǎn)生的銅面裸露問題,目前國內(nèi)大的通信公司華為、中興已在多種產(chǎn)品中應(yīng)用,效果非常好。

      (3)將阻焊塞孔放于表面處理之后。

      為了預(yù)防裸露銅面的產(chǎn)生,采用先進行表面處理再進行阻焊塞孔的做法,表面處理一般采用HASL或者ENIG與ENEPIG,目前此做法在一些高可靠性要求的汽車產(chǎn)品中被要求使用。

      [1]Dr. Chris Hunt, Sulphur Corrosion on Solder Joints,Printed Circuit Design & Fab, 30 May 2014.

      [2]Jing Li Fang, Daniel K. Chan.(2007),The advantages of mildly alkaline immersion silver as a fi nal fi nish for solderability, Circuit World, Vol. 33 Iss:2, pp43 -51.

      [3]Changqing Liu,David A. Hutt. (2003),Surface coatings for fluxless soldering of copper, Circuit World, Vol. 29 Iss:1, pp19-23.

      [4]Lenora Toscano. A Brief Summary of Creep Corrosion,Printed Circuit Design & Fab, 07 October 2010.

      [5]Paul T. Vianco.(1999), An overview of surface finishes and their role in printed circuit board solderability and solder joint performance, Circuit World,Vol.25 Iss: 1, pp6-24.

      [6]C. C. Lee*, H. Y. Chuang,C. K. Chung,and C. Robert K ao. Oxidation behavior of ENIG and ENEPIG surface fi nish, Department of Materials Science and Engineering,National Taiwan University, Taipei 106,Taiwan, ROC.

      [7]Paul Mazurkiewicz, ph.D, Accelerated Corrosion of printed circuit bodrds due to high levers of reduced sulfur gasses in industrial environments,November-12-16, 2006,renaissance Austin hotel,Austin,texas, USA.

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