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      基于FDTD算法的微帶線輻射特性研究

      2015-04-19 04:55:04陳建華李瑛祁志娟侯云山
      科技創(chuàng)新導(dǎo)報(bào) 2015年33期
      關(guān)鍵詞:特性阻抗微帶線

      陳建華 李瑛 祁志娟 侯云山

      摘 要:用時(shí)域有限差分(FDTD)分析方法,吸收邊界為單軸各向異性介質(zhì)完全匹配層(UPML),信號(hào)源用峰值為1V,帶寬0~10 GHz的高斯脈沖。微帶線特性阻抗50 、激勵(lì)信號(hào)源內(nèi)阻及負(fù)載均與微帶線相匹配。先求得微帶線輻射近場,再用近場到遠(yuǎn)場的轉(zhuǎn)換方法研究微帶線在半徑為3 m原點(diǎn)為球心的球面上輻射場分布特征。結(jié)果有助于PCB布局、布線及電磁兼容性設(shè)計(jì)。

      關(guān)鍵詞:時(shí)域有限差分法 微帶線 特性阻抗 輻射場

      中圖分類號(hào):O441.4 文獻(xiàn)標(biāo)識(shí)碼:A 文章編號(hào):1674-098X(2015)11(c)-0018-03

      隨著科學(xué)技術(shù)和工藝技術(shù)的發(fā)展,電子設(shè)備呈現(xiàn)出高速、寬帶、高靈敏度、布線及元器件密度大、體積小等特點(diǎn),由電磁輻射引發(fā)的問題更加突出。電磁輻射不僅對設(shè)備內(nèi)部的其它電路和周圍空間設(shè)備形成電磁干擾,影響其正常工作,甚至引發(fā)重大事故,而且造成環(huán)境污染,對人身健康造成傷害。發(fā)達(dá)國家均制定了強(qiáng)制性標(biāo)準(zhǔn)來限制電子設(shè)備的輻射發(fā)射。電磁輻射是當(dāng)前的研究熱點(diǎn)和重要的研究課題。PCB上的微帶線是承載信號(hào)的主要載體之一,因此研究其輻射特性具有重要的意義。

      由于FDTD方法是以Maxwell方程為基礎(chǔ),其結(jié)果是三維的“完備”的矢量場,同時(shí)FDTD方法經(jīng)過長期發(fā)展完善,使其成功地在時(shí)域內(nèi)應(yīng)用于分析微帶線和其它電磁問題[1]。因此,該文選用FDTD方法研究50微帶線的輻射場分布特征。

      用FDTD方法對微帶電路進(jìn)行研究時(shí),吸收邊界選用單軸各向異性介質(zhì)完全匹配層(UPML)[1],層數(shù)為10;激勵(lì)信號(hào)源采用峰值為1V、帶寬為0~10 GHz高斯脈沖,用平面激勵(lì)網(wǎng)絡(luò)的方式對微帶線進(jìn)行激勵(lì)[2]。在微帶線的特性阻抗、激勵(lì)信號(hào)源及負(fù)載均為50 的條件下,在用FDTD方法得到微帶線輻射近區(qū)場的基礎(chǔ)上,用近場到遠(yuǎn)場轉(zhuǎn)換方法[2]研究微帶線在圖1所示的坐標(biāo)原點(diǎn)為球心,半徑為3 m的球面上輻射場特征。

      文獻(xiàn)[1]及該文作者在文獻(xiàn)[2]中均介紹了UPML吸收邊界、有集總元件的FDTD迭代公式、微帶線的激勵(lì)方式、FDTD法的近場到遠(yuǎn)場轉(zhuǎn)換方法。該文重點(diǎn)介紹所研究微帶線結(jié)構(gòu)參數(shù)及高斯脈沖信號(hào)源,對結(jié)果進(jìn)行分析。

      1 時(shí)域仿真分析

      1.1 微帶線結(jié)構(gòu)模型

      PCB結(jié)構(gòu)如圖1所示,(a)為俯視圖,(b)為正視圖,微帶線(PCB)的長度為l1,PCB的寬度為l2,微帶線寬度為w,微帶線及返回路徑為銅(εr=1、μr=1、σ=5.8×107S/m),厚度t=0.1mm,微帶線在PCB上對稱分布,h、μr、εr分別為PCB介質(zhì)基板厚度、相對磁導(dǎo)率和相對介電常數(shù)為,μr=1,tanδ=0.02。port 1和port 2分別接與微帶線特性阻抗匹配的激勵(lì)信號(hào)源和負(fù)載。

      1.2 激勵(lì)信號(hào)源

      1.3 微帶線參數(shù)及數(shù)值分析

      1.3.1 微帶線參數(shù)

      50微帶線的參數(shù)如表1所示。表1中l(wèi)1、l2、w、t和h的單位為mm,特性阻抗Z的單位為。

      取△x=0.125 mm,△y=0.5 mm,△z=0.1 mm,△t=0.2ps;選取UPML為吸收邊界,層數(shù)取10;采用平面網(wǎng)絡(luò)激勵(lì)方式[2]激勵(lì)微帶線;數(shù)據(jù)輸出邊界面距PCB的邊緣均為10個(gè)網(wǎng)格單元。

      1.3.2數(shù)值結(jié)果分析

      結(jié)果表明,在激勵(lì)端口1(port1),信號(hào)峰值為500 mV,表明激勵(lì)源與微帶線阻抗匹配;在端口2(port2),信號(hào)峰值為482.4 mV,說明微帶線對信號(hào)有衰減。

      由于PCB結(jié)構(gòu)、信號(hào)源與負(fù)載端信號(hào)幅度在圖1所示坐標(biāo)系中存在x和y方向的對稱性,選取xoz和yoz平面內(nèi)的五個(gè)點(diǎn),,,,研究微帶線輻射場在x方向及y方向的分布特征。

      圖3、圖4和圖5分別為、和總場E的幅值在xoz平面內(nèi)的變化規(guī)律。在xoz平面內(nèi),隨θ的增加,Eθ的峰值增加,EΦ的峰值減?。辉谕稽c(diǎn),EΦ的峰值大于Eθ的峰值,且二者之差隨θ的增加而減??;在點(diǎn),即PCB的正上方,,,且遠(yuǎn)大于,故電場主要在y方向,總場最大,且總場隨θ的增加而減小。

      圖6、圖7和圖8分別為、和總場E的幅值在yoz平面內(nèi)的變化規(guī)律。在yoz平面內(nèi),隨θ的增加Eθ減小,但在點(diǎn)處的Eθ峰值遠(yuǎn)小于其余兩個(gè)方向;隨θ的增加EΦ減小,且在點(diǎn)處EΦ峰值遠(yuǎn)大于其余兩個(gè)方向;在點(diǎn)處,因,,且遠(yuǎn)大于,故電場主要在y方向,且總場隨θ的增加而減小。

      2 結(jié)語

      50微帶線所產(chǎn)生輻射場在其正上方最大,正上方EΦ峰值遠(yuǎn)大于Eθ峰值,輻射場沿微帶線長度方向?yàn)橹鞑㈦Sθ的增加而減?。辉趚oz平面,隨θ的增加,Eθ增加而EΦ減小,且EΦ峰值大于Eθ峰值;在yoz平面,Eθ在點(diǎn)處很小,在其它兩個(gè)方向,隨θ的增加,Eθ減小,隨θ增加,EΦ減小。

      參考文獻(xiàn)

      [1] 葛德彪,閆玉波.電磁波時(shí)域有限差分方法[M].西安:西安電子科技大學(xué)出版社,2005.

      [2] 陳建華,周立鵬,李瑛.差分對非對稱性對信號(hào)完整性及噪聲的影響[J].河南科技大學(xué)學(xué)報(bào),2013,34(4):45-50.

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