徐賓

物理實(shí)驗(yàn)誤差通常分為偶然誤差和系統(tǒng)誤差.偶然誤差是由于實(shí)驗(yàn)者本人的主觀意識、測量環(huán)境、儀器等不確定因素所帶來的不可避免的波動，使得在多次測量時出現(xiàn)實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)偏離實(shí)際值的現(xiàn)象.這種誤差可以通過多次測量求平均值的方法來盡量減小.

實(shí)驗(yàn)中系統(tǒng)誤差則是由實(shí)驗(yàn)中的一些確定因素引起的，如儀器本身的缺陷、測量時的客觀環(huán)境條件、實(shí)驗(yàn)方案的完備程度及理論模型的抽象與近似等.它所帶來的誤差不會時而偏大、時而偏小，且每次實(shí)驗(yàn)都會出現(xiàn).因而系統(tǒng)誤差具有單向性和重復(fù)性的特點(diǎn)，用“多次測量求平均值”的方法難以有效控制系統(tǒng)誤差.欲減小系統(tǒng)誤差的影響，必須通過可靠方法對系統(tǒng)誤差的根源及產(chǎn)生結(jié)果作出分析.圖象法是處理實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)的重要方法，亦可形象直觀地反映系統(tǒng)誤差的結(jié)果.下面以“測定電池的電動勢和內(nèi)阻”實(shí)驗(yàn)為例，作簡要探討.