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      4H-SiC pn結(jié)二極管工作區(qū)的研究

      2016-11-10 08:19:12王炯杰陳潔萌
      中國科技縱橫 2016年16期
      關(guān)鍵詞:禁帶二極管天津

      王炯杰陳潔萌

      (1.中石化天津液化天然氣有限責任公司,天津 300457;2.天津津濱發(fā)展股份有限公司,天津 300457)

      4H-SiC pn結(jié)二極管工作區(qū)的研究

      王炯杰1陳潔萌2

      (1.中石化天津液化天然氣有限責任公司,天津 300457;2.天津津濱發(fā)展股份有限公司,天津 300457)

      基于碳化硅材料的優(yōu)越性能,進行了4H-SiC pn結(jié)二極管正向工作區(qū)內(nèi)電學(xué)特性和熱學(xué)特性的模擬研究。仿真分析表明4H-SiC pn結(jié)二極管具有高溫穩(wěn)定性,在溫度達到600K時仍具有穩(wěn)定的擴散區(qū),壓降在1.4V~1.9V區(qū)間,電流范圍為10-8A~10-3A,理想因子n為1.7~1.8,明顯優(yōu)于Si二極管。

      4H型碳化硅 二極管 擴散區(qū) 理想因子

      近年來,以Si技術(shù)為基礎(chǔ)的材料和器件的性能接近理論極限,因此寬緊帶材料及器件逐漸成為半導(dǎo)體領(lǐng)域研究的重點。例如發(fā)光二極管、太陽能電池,幾乎都是基于pn結(jié)原理[1]。因此研究SiC二極管,對于進一步研究和制作各種相關(guān)器件十分關(guān)鍵。

      SiC二極管相比Si二極管的耐高壓、耐高溫、損耗低等優(yōu)越性能,一直是研究者們關(guān)注的熱點。近年來一系列對SiC二極管的研究,均是從二極管的高溫特性和摻雜濃度入手,對正向工作區(qū)的狀態(tài)沒有過深入研究。本文針對4H-SiC pn結(jié)二極管不同溫度下的工作區(qū)進行仿真,對比Si-pn結(jié)二極管,得出可供參考的數(shù)據(jù),對選取4H-SiC pn結(jié)二極管適用擴散區(qū)范圍達到理想工作狀態(tài)有重要意義。

      1 模型

      本文運用仿真軟件建立了4H-SiC pn結(jié)二極管模型,為了反應(yīng)SiC二極管的電學(xué)特性和溫度特性,用到以下模型。

      1.1遷移率模型

      模擬采用了低電場的遷移率模型[2]:

      1.2載流子產(chǎn)生-復(fù)合模型

      應(yīng)用Shockley和Read以及Hall建立起來的效應(yīng)理論,即SRH模型[2]:

      2 仿真與分析

      仿真采用的4H-SiC pn結(jié)二極管p+n-n結(jié)構(gòu)。器件襯底為摻雜n+,襯底上生長n型外延,厚度為3.8μm,濃度為1.0×1016cm-3。其上再生長濃度為2.0×1019cm-3的p+型外延。

      2.1正向I-V特性

      二極管正向工作區(qū)由三部分組成:小電流區(qū)、少子擴散區(qū)、復(fù)合電流區(qū)。圖1所示,正偏電流在10μA附近,Si二極管的電壓為0.6V,SiC二極管為2.55V。已知理想二極管公式(3),得出理想因子n為1,即二極管工作在少子擴散區(qū)。

      因此研究正向工作區(qū)可以反應(yīng)出材料之間的Eg關(guān)系??梢钥闯?,SiC二極管正向壓降較大,因此SiC的禁帶寬度遠高于Si的禁帶寬度。模擬得出在理想因子n=1時,Si半導(dǎo)體材料的禁帶寬度Eg約為1.12eV,4H-SiC半導(dǎo)體材料的禁帶寬度Eg約為3.2eV。

      圖1所示,ID為擴散區(qū)電流,IL為大電流區(qū)電流。Si二極管在0.3V~0.8V的理想因子接近1,即擴散區(qū);在1V以后逐漸進入復(fù)合區(qū)。SiC二極管擴散區(qū)2.1V~2.6V,此時理想因子最接近于1;在電壓為2.7V,電流為20mA時,SiC二極管的理想因子接近于2,復(fù)合作用占主導(dǎo)。

      2.2工作區(qū)理想因子和電學(xué)特性分析

      為了反映不同溫度下,4H-SiC pn結(jié)二極管正向工作區(qū)的變化情況,圖2對300K~600K溫度范圍內(nèi)的SiC二極管正向特性進行了模擬。T=300K時,理想工作區(qū)約在1.7V~2.6V,n為1~1.25。而T=600K時,正偏壓在1.4V~1.8V,n為1.7~1.8。隨著電壓的增加,n逐漸增大至2,電流達到飽和狀態(tài)。隨著溫度升高,SiC二極管擴散區(qū)的理想因子n在1~2之間呈緩慢上升趨勢,體現(xiàn)了其耐高溫特性。

      3 結(jié)語

      本文對4H-SiC pn結(jié)二極管正向工作區(qū)的相關(guān)參數(shù)模擬研究。分析表明,常溫下4H-SiC pn結(jié)二極管正向工作區(qū)在電流范圍10-14A~10-2A,理想因子n為1。隨溫度升至600K,SiC二極管擴散區(qū)n范圍在1~2。這是由于SiC材料的寬緊帶特性,使得電流在高溫下仍因少數(shù)載流子擴散引起,仍具有理想因子接近1的擴散區(qū)范圍。體現(xiàn)了SiC二極管的耐高溫性。本文對選取4H-SiC pn結(jié)二極管適用擴散區(qū)范圍達到理想工作狀態(tài)有重要意義。

      [1]鐘德剛,徐靜平,高俊雄.Pt/6H-SiC肖特基勢壘二極管特性分析[J].微電子學(xué),2003,33(1):26-28.

      [2]S.賽爾勃赫.半導(dǎo)體器件的分析與模擬[M].上海:上??茖W(xué)技術(shù)文獻出版社,1986,100-109.

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