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      帶GARCH誤差項非線性ESTAR模型的單位根檢驗

      2018-01-27 07:14:32胡俊娟
      浙江科技學(xué)院學(xué)報 2018年1期
      關(guān)鍵詞:單位根樣本量均值

      胡俊娟,王 偉

      (浙江科技學(xué)院 理學(xué)院,杭州 310023)

      近年來,非線性模型受到了國內(nèi)外研究者的廣泛關(guān)注[1-3]。然而,對線性模型的單位根檢驗已經(jīng)不適用于非線性STAR模型。因此,許多研究者對指數(shù)STAR(ESTAR)模型進(jìn)行了探討。Kapetanios等[4]提出了Dickey-Fuller型KSS檢驗統(tǒng)計量;Kruse[5]在位置參數(shù)取值任意的情況下,用修正的Wald統(tǒng)計量對ESTAR模型進(jìn)行了研究;Hanck[6]修正了Kapetanios等提出的KSS檢驗統(tǒng)計量在帶趨勢項情況下的極限分布。張凌翔等[7]討論了局部隨機游走STAR模型、局部隨機趨勢STAR模型的線性檢驗問題,構(gòu)造了 Wald類檢驗統(tǒng)計量,提出了在局部平穩(wěn)性未知的條件下進(jìn)行STAR模型的線性檢驗方法。在實際研究中,經(jīng)濟變量的波動在不同時期通常具有時變性和波動集群性,因此非線性STAR-GARCH 模型在現(xiàn)實中有著很重要的應(yīng)用[8]。近年來, 對帶GARCH誤差項模型的單位根檢驗引起了研究者的廣泛關(guān)注,參見Ling和Li[9]、 Wang[10]、 Yuan和Zhang[11]等。這些研究主要針對AR-GARCH模型的單位根檢驗進(jìn)行了研究,然而針對STAR-GARCH模型的單位根檢驗,卻鮮有文獻(xiàn)提及。由于非線性的ESTAR-GARCH過程和帶GARCH的單位根過程數(shù)據(jù)表現(xiàn)非常相近,為了有效地建立合適的模型,在對數(shù)據(jù)建模前應(yīng)對其進(jìn)行單位根檢驗。因此,對ESTAR-GARCH模型的單位根檢驗進(jìn)行研究是必要的。我們擬采用KSS型檢驗統(tǒng)計量,將其表示成自標(biāo)準(zhǔn)化的部分和形式,從而推導(dǎo)出在有均值和無均值2種情況下該統(tǒng)計量的漸進(jìn)分布。通過蒙特卡羅模擬驗證了該統(tǒng)計量的檢驗效果,并將該檢驗統(tǒng)計量與常規(guī)的DF檢驗統(tǒng)計量進(jìn)行比較。

      1 關(guān)于平穩(wěn)ESTAR過程的單位根檢驗

      對于時間序列,Kapetanios等[4]361對一階ESTAR模型(ESTAR(1))進(jìn)行檢驗:

      Δyt=γyt -1G(yt -1;θ)+εt,t=1,…,T。

      (1)

      1.1 Kapetanios等關(guān)于平穩(wěn)ESTAR模型的單位根檢驗

      進(jìn)一步,為了解決誤差項相關(guān)問題,Kapetanios等[4]365通過增加Δyt的滯后項來消除。即考慮以下ESTAR(k)模型:

      (2)

      (3)

      對模型(2),Kapetanios等[4]363基于式(3)提出了Dickey-Fuller型t統(tǒng)計量進(jìn)行單位根檢驗:

      (4)

      1.2 關(guān)于ESTAR-GARCH模型的單位根檢驗

      考慮以下帶GARCH誤差項的ESTAR模型(ESTAR(k)-GARCH(p,q)模型):

      (5)

      (6)

      式(6)中:ω>0;αi≥0;βj≥0;i=1,…,p;j=1,…,q;et為獨立同分布且均值為0,方差為1的序列。顯然,當(dāng)所有的αi和βj為零時,εt變成均值為零,方差為常數(shù)的獨立同分布序列。

      對于上述的ESTAR(k)-GARCH(p,q)模型(式(5)~(6)),通過對平滑轉(zhuǎn)換函數(shù)的一階泰勒展開,得到相應(yīng)的輔助方程為:

      (7)

      相應(yīng)地,在GARCH(p,q)誤差項情況下,采用KSS型檢驗統(tǒng)計量來檢驗原假設(shè)H0:θ=0(即檢驗H0:δ=0),記為τ:

      (8)

      (9)

      (10)

      (11)

      接著討論統(tǒng)計量τ和τu的漸進(jìn)分布。為了考察ESTAR-GARCH模型,不妨把GARCH(p,q)模型的嚴(yán)平穩(wěn)性作為必要條件事先給定, 首先給出用于推導(dǎo)漸進(jìn)分布的假設(shè)1和假設(shè)2。

      假設(shè)2多項式ρ(z):=1-ρ1z-…-ρkzk滿足ρ(z)=0的根在單位圓外。

      引理1在假設(shè)1成立的情況下,則

      證明:根據(jù)文獻(xiàn)[11]的引理5.1和引理5.2,可以得出,在假設(shè)1成立的條件下,

      且對于任意的x>0,

      根據(jù)Hall等[14]的定理4.1,可以得到

      得證。

      定理1在假設(shè)1和假設(shè)2成立的條件下,考慮非線性ESTAR(k)-GARCH(p,q)模型 (式(5)~(6)),統(tǒng)計量τ在原假設(shè)H0:θ=0下的漸進(jìn)分布為:

      (12)

      (13)

      (14)

      進(jìn)一步,則有

      Q1+Q2+Q3+Q4

      定理2在假設(shè)1和假設(shè)2成立的條件下,考慮非線性ESTAR(k)-GARCH(p,q)模型(式(9)~(11))(u≠0),統(tǒng)計量τu在原假設(shè)H0:θ=0條件下的漸進(jìn)分布為:

      (15)

      證明:考慮序列去掉漂移項。在原假設(shè)H0:θ=0的條件下, 根據(jù)最小二乘法,檢驗統(tǒng)計量為:

      (16)

      根據(jù)引理1和連續(xù)映射定理[18],則有

      得證。

      2 Monte Carlo 模擬

      從上述檢驗統(tǒng)計量的漸進(jìn)分布可以看出,在單位根檢驗下, 該分布與模型中的參數(shù)無關(guān)。為此,我們采用Monte Carlo隨機模擬方法,考察檢驗統(tǒng)計量τ和τu的檢驗效果。

      首先考察以下幾種不同的數(shù)據(jù)生成過程。數(shù)據(jù)生成過程設(shè)為:

      yt=yt -1+εt,

      其中:{et}~i.i.d.(0,1);(ω,α1,β1)={(1,0,0),(0.1,0.2,0.7),(0.1,0.1,0.8),(0.1,0.05,0.9)}。這里考慮不同的GARCH模型系數(shù)(誤差項εt是獨立同分布和異方差情況)。為了考察不同情況統(tǒng)計量的漸進(jìn)分布,蒙特卡羅模擬過程的數(shù)據(jù)樣本容量設(shè)為1 000,重復(fù)50 000次。從定理1和定理2可以看出,檢驗統(tǒng)計量τ和τu的漸進(jìn)分布與滯后項k無關(guān),即對模型(5)和模型(10)而言,有無滯后項k都不會影響檢驗統(tǒng)計量的漸進(jìn)分布。因此,在這里主要關(guān)注沒有滯后項的情況??紤]到統(tǒng)計量的漸進(jìn)分布與誤差項GARCH模型中p,q無關(guān),根據(jù)實際應(yīng)用取p=q=1來進(jìn)行討論。圖1給出了原始數(shù)據(jù)和去均值數(shù)據(jù)對應(yīng)檢驗統(tǒng)計量τ和τu的經(jīng)驗累積分布。顯然,無論在誤差項為獨立同分布序列還是GARCH情況下,檢驗統(tǒng)計量的漸進(jìn)分布是一致的。相對而言,帶漂移項的情況下,統(tǒng)計量的絕對臨界值比無漂移項情況下稍大。

      圖1 不同系數(shù)(ω,α1,β1)下統(tǒng)計量τ和τu的累積分布Fig.1 Cumulative distributions of τ and τu for different coefficients (ω,α1,β1)

      由于STAR模型的應(yīng)用領(lǐng)域涉及很多宏觀數(shù)據(jù)是小樣本的情況,比如像失業(yè)率和利率等[5]77。接下來,在小樣本的情況下,對各種數(shù)據(jù)生成過程中檢驗統(tǒng)計量臨界值與漸進(jìn)臨界值進(jìn)行比較。誤差項中GARCH模型的參數(shù)設(shè)為(ω,α1,β1)=(0.1,0.1,0.8),樣本容量T設(shè)為50、100、200、1 000這4種情況。數(shù)據(jù)生成過程重復(fù)50 000次。圖2給出了不同樣本容量情況下檢驗統(tǒng)計量τ和τu的經(jīng)驗累積分布。對不同樣本量而言,統(tǒng)計量τ和τu的經(jīng)驗累積分布非常接近。特別是對無漂移項的數(shù)據(jù)生成過程,樣本容量的變化對臨界值并沒有造成很大的影響,所以漸進(jìn)臨界值可以用來對不同的樣本進(jìn)行檢驗。進(jìn)一步,從圖2可以看出,如果給定名義水平和該水平下的臨界值,則不同樣本量產(chǎn)生的實際拒絕水平與名義水平接近。所以漸進(jìn)臨界值表在小樣本情況下對檢驗非線性平穩(wěn)的ESTAR-GARCH模型仍然適用。

      圖2 不同樣本量下統(tǒng)計量τ 和τu的累積分布Fig.2 Cumulative distributions of τ and τu for different sample sizes

      為了評估在備擇假設(shè)下即在平穩(wěn)ESTAR過程中檢驗統(tǒng)計量的勢,不妨設(shè)數(shù)據(jù)生成過程為

      其中{et}~i.i.d.(0,1)且γ=-1。在實際應(yīng)用中,通常設(shè)γ=-1(參見文獻(xiàn)[19])。由于在實際應(yīng)用中在給定γ=-1的情況下,θ的估計值通常都比較小(參見Kapetanios等[4]374),所以在模擬過程中,僅考慮θ={0.01,0.05,0.1}的情況。表1~2中給出了檢驗統(tǒng)計量的勢,并將它們與常規(guī)的DF檢驗統(tǒng)計量(記為DF)進(jìn)行比較,檢驗的實際水平設(shè)為5%。從表中可以看出當(dāng)θ較小時,無論(ω,α1,β1)如何取值,τ和τu比常規(guī)的DF具有更高的勢。舉個例子來說明,觀察表1~2中當(dāng)θ=0.01,(ω,α1,β1)=(0.1,0.2,0.7)時,樣本量從50到100,統(tǒng)計量τ的勢從0.376 9到0.856 6,而DF檢驗的勢是0.217 4到0.762 6;統(tǒng)計量τu的勢從0.211 6到0.531 4,而DF檢驗的勢是0.118 2 到0.329 0。當(dāng)然,當(dāng)θ取值變大,因為模型漸進(jìn)線性,DF檢驗統(tǒng)計量會有更高的勢。當(dāng)樣本量比較大時(比如T=200),可以看出,所有檢驗統(tǒng)計量的勢都接近1。對比表1和表2可以看出,在原始數(shù)據(jù)和去均值數(shù)據(jù)情況下,前者檢驗統(tǒng)計量的勢更高。

      表1 備擇假設(shè)下統(tǒng)計量τ的勢Table 1 Power of τ under alternative hypothesis

      注:顯著性水平為5%。

      表2 備擇假設(shè)下統(tǒng)計量τu的勢Table 2 Power of τu under alternative hypothesis

      3 結(jié) 論

      在實際應(yīng)用中,GARCH模型被廣泛地應(yīng)用于對經(jīng)濟(金融)時間序列波動性的研究,它能較好地解決波動群集問題, 即大(小)的波動后緊跟的是大(小)的波動。由于GARCH模型的系數(shù)是未知的,考慮了KSS型檢驗統(tǒng)計量來檢驗,檢驗功效及檢驗水平分析表明,該統(tǒng)計量具有良好的檢驗水平及較高的檢驗功效。因此,在應(yīng)用中,無論數(shù)據(jù)生成過程中誤差項是常數(shù)還是異方差情景,都可以通過模擬對臨界值加以估計。從蒙特卡羅模擬可以得出,KSS型檢驗統(tǒng)計量比常規(guī)的DF檢驗量具有更高的檢驗功效,為誤差項不獨立(相依)的非線性ESTAR模型的單位根檢驗(對這種過程的購買力平價理論的檢驗)提供了一定的參考依據(jù)。

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