2018年 6月23日,作為全球等離子發(fā)射檢測器主要供應(yīng)商LDETEK公司授權(quán)的中國區(qū)技術(shù)服務(wù)中心,北京華宇博泰科技發(fā)展有限公司在北京發(fā)布了5項氣體分析檢測新技術(shù)及相應(yīng)新設(shè)備產(chǎn)品。這意味著世界先進的氣體分析檢測技術(shù)設(shè)備將便捷高效地服務(wù)于國內(nèi)企業(yè)。
會上發(fā)布的氣體分析檢測新技術(shù)包括第三代低溫等離子發(fā)射技術(shù)、氧氬分離技術(shù)、痕量氖(Ne)的分析技術(shù)、氮氣做載氣的等離子體發(fā)射技術(shù),相應(yīng)的新設(shè)備則包括基于第三代等離子發(fā)射技術(shù)而開發(fā)的MD2(MultiDetek第二代)專用氣相色譜儀和PlasmaDetek 3檢測器等。
據(jù)北京華宇博泰科技發(fā)展有限公司總經(jīng)理黎文宇介紹,第三代等離子發(fā)射技術(shù)的發(fā)布和應(yīng)用,為我國的氣體產(chǎn)業(yè)升級、石油化工、冶金、環(huán)保、生化醫(yī)療等領(lǐng)域提供了一種高效分析手段,特別在氣體微量含量分析領(lǐng)域具有應(yīng)用優(yōu)勢,LDETEK成為世界上首家擁有此技術(shù)的廠家?;谶@一技術(shù),該公司開發(fā)了一系列衍生技術(shù)和產(chǎn)品。其中,氧氬分離技術(shù)采用了專有的色譜柱和光譜濾光技術(shù),可減少檢測的中間環(huán)節(jié)以及誤差和誤操作,提高安全性,適用于高純氣體、特種氣體、電子氣體行業(yè)的分析應(yīng)用;痕量Ne的分析技術(shù)已在中國計量院等單位得到了應(yīng)用和驗證,對Ne的檢測有很高的響應(yīng)度,可以實現(xiàn)1ppb等級的痕量Ne分析;氮氣做載氣的等離子體發(fā)射技術(shù)可以替代火焰離子化檢測儀(FID),檢測烴類、揮發(fā)性有機化合物(VOCs)等氣體,可達到ppb級分析靈敏度,且運行成本極低。
“基于第三代低溫等離子發(fā)射技術(shù),LDETEK開發(fā)出MD2專用氣相色譜儀新產(chǎn)品和PlasmaDetek 3檢測器產(chǎn)品?!?MD2專用氣相色譜儀可實現(xiàn)用N2作為載氣、氧氬分離以及痕量Ne檢測。與MD2色譜儀配套的PlasmaDetek 3檢測器產(chǎn)品不僅可更換濾光片、可加熱,還具有多方面的應(yīng)用優(yōu)勢。一是具有較高的選擇性,可最大程度避免主組分干擾,且其直線型結(jié)構(gòu)可實現(xiàn)無死體積、吹掃快速。二是根據(jù)不同的檢測要求,氦(He)、氮(N2)、氬(Ar)、氖(Ne)均可作為載氣,且檢測過程無放射性、無放電電極,能避免載氣或樣品氣的污染。三是檢測靈敏度高,同等條件下,可達0.5ppb~1ppb的檢出限,特別對苯、VOCs等氣體雜質(zhì)均有很高的響應(yīng),如Ne、H2S、COS、C6H6均能達到1ppb檢出限。四是不需使用脫氧肼或脫氧柱就能實現(xiàn)對O2、Ar的直接檢測。
北京市華宇博泰專業(yè)提供微量痕量氣體分析儀器和分析應(yīng)用技術(shù),集氣體分析業(yè)務(wù)的設(shè)計、生產(chǎn)、集成、銷售、服務(wù)為一體,可實現(xiàn)一站式的“交鑰匙工程”服務(wù)。由華宇博泰主導(dǎo)制訂的國家推薦性標準《氣體分析—等離子發(fā)射色譜法》已于去年8月完成所有測試和審核,將為氣體生產(chǎn)及應(yīng)用等行業(yè)提供一套可靠的微量痕量分析方法。