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      Ka波段開槽加匹配膜片型SIW魔T的設計*

      2018-05-05 07:30:08張開寧汪曉光
      通信技術 2018年4期
      關鍵詞:基片通孔膜片

      張開寧,汪曉光

      (電子科技大學 電子科學與工程學院,四川 成都 610054)

      0 引 言

      作為一種常用的微波電橋,魔T可以廣泛應用于E-H調(diào)配器、阻抗測量、雙工器以及雷達系統(tǒng)所需的和差網(wǎng)絡中。傳統(tǒng)波導魔T是通過公共對稱面ET、HT接頭的組合來實現(xiàn)的,具有功率容量高、端口特性好等優(yōu)點,但存在尺寸較大、調(diào)諧困難等缺點。隨著現(xiàn)代微波電路的發(fā)展,器件的小型化和集成化變得非常重要。因此,提出了一種新的平面集成波導技術-基片集成波導(SIW)[1],且其通過PCB工藝在低損耗介質(zhì)基板上制作金屬通孔實現(xiàn)[2]。與傳統(tǒng)波導相比,它具有高Q值、高功率容量、低損耗、易于集成等優(yōu)點[3]。本文主要介紹基片集成波導魔T的設計過程及相關研究。

      1 魔T的基本工作原理

      傳統(tǒng)波導魔T的結(jié)構(gòu)如圖1所示,是由公共對稱面上的E-T分支和H-T分支構(gòu)成。如果在端口2和端口3輸入等幅同相的微波,那么它們在對稱平面的位置將形成駐波電壓波腹。在端口4所在的支臂(E臂)中形成等幅反相的電場而正好抵消,則沒有能量輸出;而在端口1(H臂)所在的支臂中因為同相疊加的原因,從而得到最大能量輸出。同理,如果在端口2、端口3同時輸入等幅反相的微波時,在對稱平面上將形成電壓的波節(jié)點,從而使端口1沒有能量輸出,端口4獲得最大輸出。

      圖1 傳統(tǒng)魔T結(jié)構(gòu)

      作為一種互易四端口器件,魔T還具有下列特性:

      (1)端口1、端口4在對稱工作情況下相互隔離,端口2、端口3在對稱工作時相互隔離。

      (2)因為端口1、端口4相互隔離,所以2個端口能夠分別進行調(diào)配而不相互影響;同理,端口2、端口3也是如此。這種相互隔離的特性有利于進行魔T的匹配。

      (3)如果端口1、端口4達到匹配且隔離,那么端口2、端口3自動達到匹配且隔離。

      以上魔T的基本工作原理為本基片集成波導魔T的設計基礎,且在進行設計魔T時可以僅僅考慮E臂和H臂的匹配與隔離特性,從而簡化設計。

      2 SIW傳輸線的設計

      SIW的窄臂由金屬通孔形成,相當于開槽。若開槽切割管壁電流,則會產(chǎn)生能量輻射,造成較大損耗。所以,SIW只可以傳輸TEn0模。我們要求只傳輸主模TE10模,又因為SIW TE10模與TE20模的截止頻率為[4-5]:

      這里C0為光速,a'為SIW的寬度,d為金屬通孔直徑,b為金屬通孔間距。此處,SIW的介質(zhì)基板基板材料選擇Duroid(tm),其相對介電常數(shù)是2.2,厚度0.8 mm,d為0.5 mm,b為0.8 mm。根據(jù)頻段29~31 GHz,利用以式(1)和式(2)計算并優(yōu)化可以得到此SIW魔T的寬度a'為5.6 mm。

      3 H-T分支的匹配研究及其設計

      對于下層H-T分支,如果不添加任何匹配元件,則端口1的回波損耗很大。這里使用H-T主波導開金屬通孔槽和感性匹配膜片搭配使用的方式匹配。下層H-T分支的結(jié)構(gòu)如圖2所示,o為開槽的寬度,r1為開槽金屬通孔的半徑,l為匹配膜片的長度。

      圖2 H-T分支結(jié)構(gòu)

      根據(jù)波導傳輸線理論,H-T接頭的H臂相當于并聯(lián)在主波導傳輸線中的電抗jX,而金屬通孔開槽等效于并聯(lián)其中的電納jB。通過調(diào)節(jié)金屬通孔開槽的寬度o、開槽中金屬通孔的半徑r1以及其間距t,使其等效電納能夠抵消H臂并聯(lián)電抗。之所以要加入感性匹配膜片,是因為主波導金屬通孔開槽會產(chǎn)生寄生電容。使用感性匹配膜片來消除寄生電容產(chǎn)生的影響,調(diào)節(jié)金屬膜片的長度l,就能夠?qū)崿F(xiàn)良好的匹配。

      圖3、圖4、圖5以及圖6分別為開槽寬度o、開槽中金屬通孔的半徑r1以及其間距t和感性匹配膜片長度l對下層H臂回波損耗的影響。

      圖3 r1對端口1回波損耗影響

      圖5 t對端口1回波損耗的影響

      圖6 l對端口1回波損耗的影響

      通過分析可以得到,隨著開槽寬度o的增加,諧振頻率變大;隨著匹配膜片長度l的增加,諧振頻率幾乎不變,但回波損耗的性能先變好后變差。這里確定的開槽寬度o為0.4 mm,感性匹配膜片長度l為0.6 mm。通過分析開槽金屬孔之間距離t和開槽金屬孔的半徑r1對回波損耗的影響可以得到,隨著t的增大,諧振頻率變大,且端口1回波損耗性能先變好再變差;隨著r1的增大,諧振頻率變大,端口1回波損耗性能幾乎不變。這里確定t為0.41 mm,r1為0.15 mm。

      4 上層E-T分支的設計

      從圖1中上層的機構(gòu)分析,所設計的魔T的E-T分支與傳統(tǒng)波導魔T不同。這里將魔T的E-T分支放平,同時通過耦合縫來實現(xiàn)與主基片波導的強耦合,俯視圖如圖7所示。

      圖7 E-T分支俯視圖

      根據(jù)導行電磁波理論,SIW表面電流分布具有周期性。當耦合縫與表面電流平行時,不切割電流,無耦合產(chǎn)生,則端口4反射很大;反之,若耦合縫與表面電流垂直,則能夠很好地切割表面電流,產(chǎn)生很大耦合,使反射減小。所以,確定耦合縫離E-T分支底層的距離e為1/4個波長,這里取1.45 mm。同時,耦合縫開在H-T分支的寬邊中心處,使H-T分支與E-T分支天然隔離。由耦合縫和匹配膜片搭配使用,達到端口2、端口3、端口4之間匹配的目的,這里耦合縫長度u取4.4 mm。通過HFSS軟件仿真可得,隨著耦合縫寬度w的增加,諧振頻率增大,且端口4回波損耗性能先變好再變差;隨著匹配膜片長度q增加,諧振頻率減小,且端口4回波損耗性能先變好再變差。這里優(yōu)化后確定w為0.4 mm,q為0.68 mm。

      5 綜合性能

      使用HFSS仿真可以得到該SIW魔T在28.6~30.4 GHz的綜合性能。

      5.1 回波損耗

      各端口回波損耗均優(yōu)于-20 dB,如圖8所示。

      5.2 隔離度

      端口2、端口3隔離度優(yōu)于-23.5 dB,E臂、H臂隔離度優(yōu)于-43 dB,如圖9所示。

      圖8 各端口回波損耗

      圖9 隔離度

      5.3 幅度平分度

      同相輸出的幅度不平衡度小于0.1 dB,反相輸出的幅度不平衡度小于0.12 dB。圖10、圖11分別是同相功分圖和反相功分圖。

      圖10 反相幅度不平衡度

      圖11 同相幅度不平衡度

      6 結(jié) 語

      一個基片集成波導魔T已經(jīng)通過金屬通孔開槽和膜片匹配的方法設計出來,且基片集成波導可以使用PCB工藝制作,大大減小了加工難度。該魔T使用在H-T分支中心開耦合縫的方式實現(xiàn)E-T分支的強耦合,從而使H-T分支和E-T分支本身具有良好的隔離性,可以單獨調(diào)節(jié)各自的匹配。綜上所述,該魔T不但兼含矩形波導魔T和微帶線魔T的優(yōu)點,而且具有插入損耗低和幅度相位高度一致等優(yōu)點。

      參考文獻:

      [1] Ke W,Deslandes D,Cassivi Y.The Substrate i-Ntegrated Circuits a New Concept for Highfrequency Electronics and Optoslectronics[C].Nis,Yug-oslavia,Yugoslavia:TELSIKS International Conference,2003.

      [2] Deslandes D,Wu K.Integratedmicrostrip and Rectangular Waveguide in Planar Form[J].IEEE Microstrip Wireless Components Lett.,2001(01):68-70.

      [3] Wei H.Development of Microwave Antennas,Components and Subsystems Based on SIW Technology,Microwave,A ntenna,Propagation and EM-C Technologies for Wireless Communications[C].Beijing:International Symposium on MAPE,2005.

      [4] Cassivi Y,Perregrini L,Arcioni P,et al.Dispersi-on Chancteristics of Substrate Integrated rectang-ular Waveguide[J].IEEE Microwave Wireless Compon.Lett.,2002,12(09):333-335.

      [5] Xu F,Wu K.Guidedwave and Leakage Characteristics of Substrate Integrated Waveguide[J].IEEE Trans Microwave Theory Tech,2005,53(01):66-73.

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