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      基于故障預(yù)測(cè)提高FPGA回寫(xiě)效率

      2018-05-10 06:53:30胡中澤
      銅陵學(xué)院學(xué)報(bào) 2018年1期
      關(guān)鍵詞:內(nèi)存器件邏輯

      胡中澤

      (安徽理工大學(xué),安徽 淮南 232000)

      一、簡(jiǎn)介

      隨著可編程邏輯器件被廣泛應(yīng)用于當(dāng)下人們生活的各個(gè)領(lǐng)域中,其可以通過(guò)硬件修補(bǔ)和升級(jí),使新產(chǎn)品能快速地進(jìn)入市場(chǎng)領(lǐng)先競(jìng)爭(zhēng)對(duì)手而受到生產(chǎn)商的青睞。這些器件,特別是現(xiàn)場(chǎng)可編程門(mén)陣列(FPGA),曾經(jīng)只在開(kāi)發(fā)階段才使用的可編程邏輯器件現(xiàn)在被認(rèn)為是專(zhuān)用集成芯片(ASIC)的很好替代品。FPGA的特點(diǎn)主要包括:易于原型化,減少了設(shè)計(jì)和測(cè)試階段,縮短了進(jìn)入市場(chǎng)的時(shí)間,特別是在生產(chǎn)過(guò)程中可糾正開(kāi)發(fā)缺陷的可能性。

      目前最先進(jìn)的FPGA使用靜態(tài)RAM(SRAM)存儲(chǔ)單元來(lái)存儲(chǔ)實(shí)現(xiàn)的設(shè)計(jì),相比于基于閃存的設(shè)備,提高了配置存儲(chǔ)器存取時(shí)間和提供無(wú)限數(shù)量的配置。基于SRAM的器件最主要缺點(diǎn)是對(duì)輻射的敏感性,表現(xiàn)為一個(gè)單一的事件的形式翻轉(zhuǎn),這使得因其低成本、高性能的能力,包括提高他們的可靠性性能的附加層的自定義的現(xiàn)成(COTS)設(shè)備成為趨勢(shì)。因此,一些制造商已經(jīng)廣泛研究COTS設(shè)備中的輻射效應(yīng),將它們暴露于高輻射劑量,并為系統(tǒng)設(shè)計(jì)者提供諸如回寫(xiě)和時(shí)間/空間冗余等信息和技術(shù),以克服這些影響。在這種情況下,回寫(xiě)指定了一種方法來(lái)處理SRAM配置內(nèi)存中的錯(cuò)誤,隨著時(shí)間的推移,只需刷新它的內(nèi)容即可,它復(fù)制了通常的FPGA啟動(dòng)過(guò)程,指定用戶(hù)設(shè)計(jì)的位流定期從外部永久存儲(chǔ)器加載到內(nèi)部SRAM配置存儲(chǔ)器,系統(tǒng)設(shè)計(jì)人員可以決定回寫(xiě)的使用,并根據(jù)所需的可行性和實(shí)施系統(tǒng)的性能,確定回寫(xiě)是瞬間還是周期。

      基于真實(shí)的FPGA的生產(chǎn)系統(tǒng)受故障影響,表現(xiàn)出高的錯(cuò)誤延遲,并且存在交互故障。在后一種情況下,多個(gè)錯(cuò)誤的組合產(chǎn)生一個(gè)系統(tǒng)故障,當(dāng)單獨(dú)發(fā)生時(shí)不會(huì)發(fā)生,因此,可以通過(guò)使用某種形式的回寫(xiě)技術(shù)來(lái)改善這種系統(tǒng)的可行性。由此提出和探討從FPGA嵌入式傳感器,以及來(lái)自外部來(lái)源的數(shù)據(jù),如何連續(xù)調(diào)整回寫(xiě)參數(shù)。

      在這種情況下,基于故障預(yù)測(cè),使設(shè)備能夠滿(mǎn)足:一減少回寫(xiě)機(jī)制的侵?jǐn)_,通過(guò)激活它只在需要的時(shí)候,而不是使用整個(gè)周期的方法;二通過(guò)激活較少的回寫(xiě)機(jī)制,改善功耗;三增加一級(jí)系統(tǒng)的可靠性,應(yīng)對(duì)動(dòng)態(tài)環(huán)境和硬件老化;此外,這種方法也減輕了系統(tǒng)設(shè)計(jì)人員對(duì)可靠性的考慮及其規(guī)范。

      二、部分動(dòng)態(tài)重構(gòu)

      最高性能和容量的FPGA在操作過(guò)程中使用SRAM單元存儲(chǔ)它們的配置。在啟動(dòng)時(shí),該配置內(nèi)存的內(nèi)容從永久存儲(chǔ)中初始化,該存儲(chǔ)保存用戶(hù)實(shí)現(xiàn)的設(shè)計(jì)(比特流),當(dāng)放置在惡劣的環(huán)境中,甚至在出現(xiàn)一些制造或老化缺陷時(shí),這些設(shè)備可能會(huì)出現(xiàn)故障,從而在配置內(nèi)存中產(chǎn)生錯(cuò)誤。

      為了避免可編程邏輯器件中錯(cuò)誤的積累,制造商引入了錯(cuò)誤檢測(cè)和糾正機(jī)制(如ECC和循環(huán)冗余校驗(yàn)(CRC)),雖然有效,但是提出了一些限制:ECC允許最多,雙錯(cuò)誤檢測(cè)和單糾錯(cuò)每幀——在FPGA最小的可尋址單元和CRC是全局配置存儲(chǔ)器。由于檢測(cè)多比特錯(cuò)誤幀的難度,制造商在FPGA外部引入回寫(xiě)機(jī)制,將可編程邏輯器件中的內(nèi)容定期重新從永久存儲(chǔ)記憶中重載。這種方法有一些缺點(diǎn):一是固定時(shí)間的入侵。由于需要停止所有的模塊在FPGA運(yùn)行,加載原始配置存儲(chǔ)器的內(nèi)容,并重新啟動(dòng);二是系統(tǒng)狀態(tài)在應(yīng)用程序中需要一個(gè)專(zhuān)門(mén)的分布式的內(nèi)存文件系統(tǒng),來(lái)減輕內(nèi)存壓力確保模塊擁有快速大量的數(shù)據(jù)讀寫(xiě)能力;三是需要外部硬件支持,緩慢的外部接入接口(JTAG,Select Map)等。

      隨著部分動(dòng)態(tài)重構(gòu)(PDR)的引入,支持FPGA資源的時(shí)間復(fù)用,可以使用小部分設(shè)備區(qū)域來(lái)執(zhí)行整個(gè)時(shí)間的不同任務(wù),根據(jù)需要重新配置FPGA的專(zhuān)用區(qū)域,從而增加間隔尺寸。使用內(nèi)部配置訪問(wèn)端口(ICAP)接口的可編程邏輯器件,減少了對(duì)外部組件的依賴(lài)支持回寫(xiě),因此,在相同的應(yīng)用程序中使用更小的設(shè)備,降低了功耗;為了減少時(shí)間的侵?jǐn)_和避免額外的外部硬件支持回寫(xiě)使用,可以利用PDR,這讓我們?cè)谑褂肍PGA的邏輯單元實(shí)現(xiàn)回寫(xiě),同時(shí)減少重構(gòu)延遲;為了在回寫(xiě)器和受保護(hù)模塊之間提供必要的隔離,后者可以在可重構(gòu)分區(qū)(RP)中實(shí)現(xiàn)。此RP在圖1中顯示,虛線表示FPGA的區(qū)域,該區(qū)域?qū)⒈凰⑿隆?/p>

      該設(shè)備同時(shí)還包含了幾個(gè)內(nèi)部傳感器(溫度、輸入電壓等),用于監(jiān)視設(shè)備的正確功能,并通過(guò)led的組合通知用戶(hù)各種錯(cuò)誤狀態(tài)。

      圖1 故障預(yù)測(cè)在開(kāi)發(fā)板中實(shí)現(xiàn)

      三、故障預(yù)測(cè)回寫(xiě)

      敏感的實(shí)時(shí)系統(tǒng)有非常嚴(yán)格的時(shí)序要求,在這樣的系統(tǒng)中使用簡(jiǎn)單的技術(shù)回寫(xiě)存在較大的功耗和侵?jǐn)_,并且系統(tǒng)也缺乏改變操作環(huán)境所需的適應(yīng)性。本文研究的方法是試圖使可編程邏輯器件保持相同的能力,以消除潛在的錯(cuò)誤,同時(shí)滿(mǎn)足回寫(xiě)頻率,達(dá)到操作環(huán)境所需的性能和實(shí)際設(shè)備狀態(tài)。

      1.系統(tǒng)架構(gòu)

      本文提出的系統(tǒng)架構(gòu)是基于一個(gè)額外的組件,命名為故障預(yù)測(cè)回寫(xiě),在FPGA可編程邏輯實(shí)現(xiàn)(見(jiàn)圖1)。此組件負(fù)責(zé)在需要時(shí)觸發(fā)受保護(hù)模塊(PM)的部分重新配置。它從FPGA內(nèi)部和外部收集來(lái)自不同來(lái)源的信息。這個(gè)組件由四個(gè)不同的模塊組成:

      配置記憶洗滌器(CMS);

      健康評(píng)估(HA);

      故障預(yù)測(cè)(FP);

      日志記錄器(DL)。

      CMS模塊的接口與ICAP通過(guò)一個(gè)PLB總線連接,用于重新配置的目的和外部永久記憶,也是存儲(chǔ)PM比特流的地方。它是由FP去重啟可編程邏輯器件,也可由故障注入器在評(píng)估階段。

      HA模塊通過(guò)TCP/IP連接從內(nèi)部FPGA傳感器和外部數(shù)據(jù)源接口收集數(shù)據(jù),以收集有關(guān)操作環(huán)境條件的信息此模塊向FP提供相關(guān)數(shù)據(jù)。在特定情況下,PM輸入和輸出的范圍是有界的,并且預(yù)先知道,HA組件可以連續(xù)監(jiān)視其接口以檢測(cè)即將出現(xiàn)的問(wèn)題。

      FP模塊實(shí)現(xiàn)了基于故障預(yù)測(cè)的機(jī)器學(xué)習(xí)算法。它還指示CMS在需要時(shí)觸發(fā)數(shù)據(jù),基于HA發(fā)送的數(shù)據(jù)。

      日志記錄器(DL)也可以存儲(chǔ)所有相關(guān)數(shù)據(jù),以便與其他容錯(cuò)方法的結(jié)果進(jìn)行比較和分析。

      2.數(shù)據(jù)源

      來(lái)自嵌入式傳感器內(nèi)部數(shù)據(jù)提供有關(guān)設(shè)備狀態(tài)的輸入故障預(yù)測(cè)回寫(xiě)組件。由開(kāi)發(fā)板中器件的具體情況,可以知道工作溫度和直流變換器輸出電壓。如果知道變換器輸出電壓的波動(dòng)或預(yù)期的溫度上升,由于高過(guò)載或短路(當(dāng)SEU影響路由資源),則可以預(yù)測(cè)即將發(fā)生故障,還可以實(shí)施新的探針在FPGA配置存儲(chǔ)器,提供關(guān)于FPGA的邏輯元件的退化的有價(jià)值信息:監(jiān)控開(kāi)關(guān)元件在CLB延遲;捕捉它們的輸出持續(xù)時(shí)間很短等問(wèn)題。

      外部信息可來(lái)自其他來(lái)源,如Web服務(wù),提供關(guān)于太陽(yáng)輻射爆發(fā)和環(huán)境條件(溫度、濕度、壓力等)的信息,或連接到FPGA的外部傳感器(瞬時(shí)功耗等)。

      3.系統(tǒng)驗(yàn)證

      在第一階段,系統(tǒng)會(huì)運(yùn)行不同的工作負(fù)載和DL模塊將采集的FPGA傳感器數(shù)據(jù)到外部存儲(chǔ),該實(shí)驗(yàn)將重復(fù)幾次,PM進(jìn)行故障注入,使用故障注入器進(jìn)行可重構(gòu)嵌入式設(shè)備。然后進(jìn)行相關(guān)分析:一是收集的傳感器數(shù)據(jù);二是所引入的配置內(nèi)存錯(cuò)誤;三是檢測(cè)到的系統(tǒng)故障。在系統(tǒng)有故障信號(hào)時(shí)的PM輸出不同于一個(gè)試驗(yàn)輸出 (無(wú)故障注入實(shí)驗(yàn)),利用所采集的數(shù)據(jù)對(duì)機(jī)器學(xué)習(xí)算法進(jìn)行訓(xùn)練并將其投入運(yùn)行。當(dāng)它預(yù)測(cè)一個(gè)即將發(fā)生的由于一個(gè)錯(cuò)誤或長(zhǎng)時(shí)間的延遲或多個(gè)交互錯(cuò)誤累積的故障時(shí),允許觸發(fā)PM的完全回寫(xiě)。然后,將建議的方法與PM的非回寫(xiě)實(shí)現(xiàn)和定期的一次回寫(xiě)實(shí)施,不同的回寫(xiě)頻率進(jìn)行比較。這些方法的可靠性評(píng)估將使用故障注入進(jìn)行。

      四、結(jié)束語(yǔ)

      在本文中,基于故障預(yù)測(cè)提出了一種新的方法,以提高FPGA的性能,通過(guò)自適應(yīng)回寫(xiě),能考慮到嵌入式傳感器的設(shè)備正確信息,以及外部環(huán)境數(shù)據(jù),而不是周期性地對(duì)一個(gè)永久的時(shí)間侵?jǐn)_,消耗更多的功率。

      參考文獻(xiàn):

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