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      薄膜電容器引腳焊接位置的改進(jìn)對(duì)損耗性能的影響

      2018-08-17 06:12:38邱小波
      電子工業(yè)專用設(shè)備 2018年4期
      關(guān)鍵詞:點(diǎn)焊充放電電容器

      邱小波

      (智新電子(廈門)有限公司,福建 廈門 361115)

      行業(yè)所稱的安規(guī)薄膜電容器一般指通過(guò)VQE/CQC/UL/CB等認(rèn)證,安全系數(shù)高,可工作在交流電壓下,耐壓常用AC標(biāo)注的金屬化薄膜電容器。結(jié)構(gòu)如圖1所示,主要是由芯子、引腳、環(huán)氧樹(shù)脂填充材料及絕緣盒子組成。其中芯子由兩層非常薄的聚丙烯金屬膜(又稱PP膜)或者聚酯金屬膜(又稱PE膜)纏繞而成。

      圖1 安規(guī)薄膜電容器結(jié)構(gòu)圖

      1 薄膜電容器制造工藝

      薄膜電容器的制造工藝大致是將纏繞好的芯子經(jīng)過(guò)熱壓工序以排除里面殘余的空氣,熱壓后的芯子兩端噴上金屬粉層以保證金屬層與兩端粉層良好的導(dǎo)電接觸作用。再經(jīng)過(guò)高壓清除工序以淘汰掉噴金時(shí)噴得厚薄不均或者接觸不良的失效品,合格品兩端點(diǎn)焊上引線起導(dǎo)通作用,同時(shí)灌上環(huán)氧樹(shù)脂并在一定溫度和時(shí)間下固化,固化后的產(chǎn)品經(jīng)過(guò)篩選就可以得到合格的產(chǎn)品。

      安規(guī)薄膜電容器在生產(chǎn)過(guò)程中主要工序如圖2所示。

      2 薄膜電容器的損耗

      體現(xiàn)電容器產(chǎn)品質(zhì)量的主要技術(shù)指標(biāo)有:電容器的損耗角正切值、容量及偏差、絕緣電阻、電容器的介電強(qiáng)度又稱耐壓。

      圖2 安規(guī)薄膜電容器的主要生產(chǎn)工序

      薄膜電容器的損耗是衡量電容器品質(zhì)優(yōu)劣的一個(gè)重要指標(biāo),可以衡量電容的基本無(wú)效性,可定義為電容器在外加電壓的作用下,單位時(shí)間內(nèi)因發(fā)熱而消耗的能量稱為電容器的損耗。損耗因數(shù)常常隨著溫度和頻率而改變。采用云母和玻璃電介質(zhì)的電容,其DF值一般在0.03%至1.0%。室溫時(shí),陶瓷電容的DF范圍是0.1%至2.5%。電解電容的DF值通常會(huì)超出上述范圍。薄膜電容通常是最佳的,其DF值小于0.1%。損耗越大發(fā)熱越嚴(yán)重,則表示電容器傳遞能量的效率越差。

      在生產(chǎn)過(guò)程中降低金屬化薄膜電容器損耗的主要措施有:

      (1)保證原材料特別是金屬化薄膜和引線的質(zhì)量;

      (2)電容器應(yīng)在特定的溫度和濕度下生產(chǎn);

      (3)在電容器生產(chǎn)的各道工序中降低電容器的接觸電阻,從而降低電容器的損耗。

      在電容器的制造過(guò)程中對(duì)薄膜電容器損耗的主要影響因素有噴金層與金屬化膜層的結(jié)合力,而這又與噴金層粒子的細(xì)度,金屬粒子的溫度,噴金層的厚度等有直接的關(guān)系。本文主要從引腳的焊接工藝改善的角度來(lái)分析對(duì)電容器損耗的影響。

      對(duì)于生產(chǎn)量大,且結(jié)構(gòu)單一的薄膜電容器產(chǎn)品的點(diǎn)焊工序,一般都通過(guò)自動(dòng)點(diǎn)焊機(jī)生產(chǎn)。同手工焊接相比,自動(dòng)點(diǎn)焊機(jī)實(shí)現(xiàn)了多個(gè)工序同時(shí)自動(dòng)進(jìn)行,比如自動(dòng)進(jìn)行高壓清除、兩端點(diǎn)焊、灌環(huán)氧膠、高溫固化及篩選測(cè)試等一系列工序。機(jī)臺(tái)調(diào)整好后,其焊接的引線位置固定,偏差很小,能保證產(chǎn)品質(zhì)量的穩(wěn)定性。

      由于薄膜電容器種類多樣,有少部分是因尺寸、材料等差異性很大,并不適合自動(dòng)點(diǎn)焊機(jī)的情況。比如電容器芯子的尺寸過(guò)大,或者引線采用需要?jiǎng)兤さ娜嵝跃€纜等,這時(shí)用手工點(diǎn)焊就有明顯的優(yōu)勢(shì)。

      不論手工點(diǎn)焊還是自動(dòng)點(diǎn)焊,引線焊接的位置及焊接的深淺對(duì)電容器的容量、損耗值等都會(huì)產(chǎn)生一定的影響。

      其中一個(gè)影響是點(diǎn)焊后引腳的點(diǎn)焊位置與噴金層的結(jié)合很好,沒(méi)有裂痕,所產(chǎn)生的內(nèi)部阻抗的一致性就很小,在施加高電壓的短路充放電過(guò)程中,能承受的電壓能力就越強(qiáng)。如果焊接狀態(tài)不好,會(huì)降低芯子端面的金屬層與噴金層或引線與噴金層的結(jié)合度,從而造成接觸電阻變化。在這種條件下,在產(chǎn)品的兩極施加破壞性的高電壓短路充放電,就很可能引起焊接層面遭到破壞,從而引起容量和損耗的變化,嚴(yán)重的引起產(chǎn)品功能性失效。

      3 試驗(yàn)原理

      本次試驗(yàn)充分考慮到點(diǎn)焊位置的變化對(duì)于產(chǎn)品性能的影響,分別考慮點(diǎn)焊位置在噴金層的1/3處(對(duì)噴金層影響較?。┖?/3處(對(duì)噴金層影響較大)各制作了30只左右的樣品,點(diǎn)焊位置如圖3所示。并將做好的試驗(yàn)品在不加電壓和加短路充放電壓兩種情況下分別測(cè)試其容量和DF值,并將其進(jìn)行分析比較。需要注意的是加短路充放電壓是破壞性試驗(yàn),其試驗(yàn)?zāi)康氖菣z驗(yàn)在嚴(yán)苛的試驗(yàn)條件下產(chǎn)品的容量和損耗的破壞情況。

      圖3 引線點(diǎn)焊位置

      4 試驗(yàn)用薄膜電容器的材料及性能要求

      試驗(yàn)用產(chǎn)品為最常規(guī)的224K275VAC盒子類安規(guī)薄膜電容器,容量為0.22 μF(220 nF),公差10%,可在交流電壓275 V下正常工作。

      主要原材料薄膜采用7 μm厚的聚丙烯金屬薄膜,芯子兩端噴金層主要材料為鋅和鋅錫合金材料,引線為常規(guī)的鍍錫銅包鋼線。

      5 試驗(yàn)用薄膜電容器的工序與設(shè)備

      試驗(yàn)工序?yàn)閷娊鸺案邏呵宄ば蚝Y選的合格芯子,進(jìn)行手工點(diǎn)焊,點(diǎn)焊工序分為兩批,分別為在芯子噴金層的1/3處和2/3處用手工點(diǎn)焊機(jī)進(jìn)行點(diǎn)焊,點(diǎn)焊前測(cè)試容量和DF值,確保試驗(yàn)前的芯子為合格品。然后用引線進(jìn)行手工點(diǎn)焊,再測(cè)試容量和DF值,以觀察點(diǎn)焊后的容量和DF的變化。最后將合格產(chǎn)品進(jìn)行3次直流1 250 V的短路充放電破壞,再測(cè)試容量和DF值。并記錄其容量和DF變化的情況。

      點(diǎn)焊工序所采用的主要設(shè)備有:手工點(diǎn)焊機(jī)、短路充放電破壞采用耐壓測(cè)試儀、容量和DF值的測(cè)量采用容量綜合測(cè)試儀。

      6 試驗(yàn)結(jié)果

      6.1 試驗(yàn)數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)

      本試驗(yàn)對(duì)產(chǎn)品的點(diǎn)焊位置在點(diǎn)焊1/3處和2/3處各做了29只樣品,容量測(cè)試的試驗(yàn)結(jié)果如表1所示,分別是點(diǎn)焊1/3處測(cè)量和短路充放電后測(cè)量容量的合格率,及點(diǎn)焊2/3處測(cè)量和短路充放電后測(cè)量容量的合格率情況。

      表1 常規(guī)和1 250 V充放電后容量測(cè)試

      損耗測(cè)試的試驗(yàn)結(jié)果如表2所示,分別是點(diǎn)焊1/3處測(cè)量和短路充放電后測(cè)損耗的合格率,及點(diǎn)焊2/3處測(cè)量和短路充放電后測(cè)量損耗的合格率情況。

      表2 常規(guī)和1 250 V充放電后損耗DF測(cè)試

      6.2 試驗(yàn)樣本的容量和損耗分布

      圖4是點(diǎn)焊位置在1/3處測(cè)量容量和短路充放電后測(cè)量容量,及點(diǎn)焊2/3處測(cè)量容量和短路充放電后測(cè)量容量的所有樣品測(cè)試值的分布情況。

      圖5是點(diǎn)焊1/3處測(cè)量損耗和短路充放電后測(cè)損耗及點(diǎn)焊2/3處測(cè)量損耗和短路充放電后測(cè)量損耗的所有樣品測(cè)試值的分布情況。

      圖4 常規(guī)和1 250 V充放電后樣品的容量分布

      圖5 常規(guī)和1 250 V充放電后樣品的損耗分布

      7 試驗(yàn)結(jié)果分析

      由試驗(yàn)結(jié)果可以看出:

      (1)點(diǎn)焊位置對(duì)容量變化的影響。容量的范圍要求是 0.22 μF±10% μF,即 0.198~0.242 μF。由圖4總數(shù)29只樣品的試驗(yàn)測(cè)試結(jié)果的分布可以看出:點(diǎn)焊的位置在1/3處時(shí)測(cè)量得到的容量值與2/3處測(cè)得的值差別不大,均為合格。但是進(jìn)行1 250 V直流的短路充放電后1/3處點(diǎn)焊測(cè)量得到的容量值仍然全部合格,而2/3處點(diǎn)焊測(cè)得的值有4只超出范圍,合格率只有86.21%。這說(shuō)明1/3處點(diǎn)焊后在破壞性高壓充放電下的表現(xiàn)比2/3處點(diǎn)焊后的表現(xiàn)要好得多。

      (2)點(diǎn)焊位置對(duì)損耗變化的影響。金屬化薄膜電容器的損耗值一般要滿足小于10%的要求。由圖5總數(shù)29只樣品的試驗(yàn)測(cè)試結(jié)果的分布可以看出:1/3處點(diǎn)焊測(cè)量得到的損耗值與2/3處點(diǎn)焊測(cè)得的損耗值差別不大,均合格。進(jìn)行1 250 V直流短路充放電后1/3處點(diǎn)焊測(cè)量得到的損耗值有3只不合格,合格率為89.66%,而2/3處點(diǎn)焊測(cè)量得到的損耗值有7只不合格,合格率為75.86%。很明顯的是1/3處點(diǎn)焊后在破壞性高壓短路充放電的試驗(yàn)條件下測(cè)損耗值的合格數(shù)量要優(yōu)于2/3處點(diǎn)焊后測(cè)損耗值的數(shù)量。

      8 結(jié) 論

      (1)從原理上解釋了引腳點(diǎn)焊的位置對(duì)噴金層的影響,點(diǎn)焊的不同位置對(duì)噴金層的影響很大。引線點(diǎn)焊時(shí)接觸噴金層越小,對(duì)噴金層的破壞作用越小,阻抗的一致性越好;引線點(diǎn)焊時(shí)接觸噴金層越大,對(duì)噴金層破壞作用越大,引起阻抗的差別越大。

      (2)設(shè)計(jì)了樣品的試驗(yàn)以驗(yàn)證點(diǎn)焊的位置對(duì)產(chǎn)品容量的影響,分別采取2種不同的點(diǎn)焊位置,即點(diǎn)焊在噴金層的1/3處和2/3處,發(fā)現(xiàn)在經(jīng)過(guò)1 250 V高壓短路充放電試驗(yàn)后,容量變化方面,1/3處點(diǎn)焊的合格率為100%,要明顯優(yōu)于2/3處點(diǎn)焊產(chǎn)生的效果。

      (3)設(shè)計(jì)了樣品的試驗(yàn)以驗(yàn)證點(diǎn)焊的位置對(duì)產(chǎn)品損耗的影響,分別采取2種不同的點(diǎn)焊位置,即點(diǎn)焊在噴金層的1/3處和2/3處,同樣經(jīng)過(guò)1 250 V高壓短路充放電試驗(yàn)后,DF變化方面,1/3處點(diǎn)焊的合格率為89.66%,同樣也明顯優(yōu)于2/3處點(diǎn)焊產(chǎn)生的效果,進(jìn)一步驗(yàn)證了理論解釋的合理性。

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