集成電路布圖設(shè)計(jì)獨(dú)創(chuàng)性探討

張軍 蘇會(huì)靜

在集成電路布圖設(shè)計(jì)的侵權(quán)訴訟中，判斷布圖設(shè)計(jì)是否具有獨(dú)創(chuàng)性往往成為雙方爭(zhēng)辯的焦點(diǎn)。

我國(guó)2001年頒布的《集成電路布圖設(shè)計(jì)保護(hù)條例》[1]（以下簡(jiǎn)稱(chēng)為《條例》）第四條規(guī)定：“受保護(hù)的布圖設(shè)計(jì)應(yīng)當(dāng)具有獨(dú)創(chuàng)性，即該布圖設(shè)計(jì)是創(chuàng)作者自己的智力勞動(dòng)成果，并且在其創(chuàng)作時(shí)該布圖設(shè)計(jì)在布圖設(shè)計(jì)創(chuàng)作者和集成電路制造者中不是公認(rèn)的常規(guī)設(shè)計(jì)”。《美國(guó)半導(dǎo)體芯片保護(hù)法》從相反的角度對(duì)獨(dú)創(chuàng)性進(jìn)行了定義：“本法律不保護(hù)如下掩膜作品：（1）不是獨(dú)創(chuàng)的;（2）包含的設(shè)計(jì)是常用的、平凡的，或?yàn)榘雽?dǎo)體工業(yè)中熟悉的設(shè)計(jì)，或該類(lèi)設(shè)計(jì)的變形在與其他組合后，從整體上看并不具有獨(dú)創(chuàng)性”?？梢?jiàn)，國(guó)內(nèi)外對(duì)集成電路布圖設(shè)計(jì)獨(dú)創(chuàng)性的立法思想是一致的。也就是說(shuō)，集成電路布圖設(shè)計(jì)專(zhuān)有權(quán)保護(hù)的是布圖設(shè)計(jì)中的獨(dú)創(chuàng)性部分，而非其它。

本文對(duì)集成電路布圖設(shè)計(jì)的獨(dú)創(chuàng)性進(jìn)行闡述，并就獨(dú)創(chuàng)性的司法鑒定在實(shí)踐中遇到的一些問(wèn)題展開(kāi)探討，以期拋磚引玉。

集成電路布圖設(shè)計(jì)獨(dú)創(chuàng)性的內(nèi)涵

布圖設(shè)計(jì)的獨(dú)創(chuàng)性是集成電路受該法律保護(hù)的核心要件。從我國(guó)《條例》第四條的表述可以看出，現(xiàn)有法律條文對(duì)獨(dú)創(chuàng)性的定義包含了兩個(gè)方面的內(nèi)涵，即獨(dú)立創(chuàng)作性和創(chuàng)造性。

關(guān)于獨(dú)立創(chuàng)作性?！稐l例》第四條的“集成電路布圖設(shè)計(jì)是創(chuàng)作者自己的智力勞動(dòng)成果”表述表明，對(duì)集成電路布圖設(shè)計(jì)最起碼的保護(hù)條件是，必須是由創(chuàng)作者基于自己獨(dú)立思考而設(shè)計(jì)完成的，而不應(yīng)該是對(duì)他人的智力勞動(dòng)成果的抄襲。這也說(shuō)明，集成電路布圖設(shè)計(jì)專(zhuān)有權(quán)的保護(hù)目的是鼓勵(lì)表達(dá)方式的多樣性和技術(shù)的先進(jìn)性，而簡(jiǎn)單抄襲是與多樣化和先進(jìn)性完全相悖的行為[2]。同時(shí)，與專(zhuān)利法中的新穎性要求不同，集成電路布圖設(shè)計(jì)并不要求是首創(chuàng)的。在權(quán)利人設(shè)計(jì)成功后，第二創(chuàng)作者經(jīng)過(guò)智力勞動(dòng)完全獨(dú)立設(shè)計(jì)完成了相近甚至相同的布圖設(shè)計(jì)，那么這樣的作品也同樣會(huì)受集成電路布圖設(shè)計(jì)專(zhuān)有權(quán)的保護(hù)。也就是說(shuō)，集成電路布圖設(shè)計(jì)專(zhuān)有權(quán)并不具有排他性，是鼓勵(lì)設(shè)計(jì)者利用自己的智力勞動(dòng)進(jìn)行技術(shù)創(chuàng)新的，這也是本法律條文的精髓所在。

關(guān)于創(chuàng)造性?！稐l例》第四條對(duì)獨(dú)創(chuàng)性的定義為：“受保護(hù)的布圖設(shè)計(jì)應(yīng)當(dāng)具有獨(dú)創(chuàng)性，即該布圖設(shè)計(jì)是創(chuàng)作者自己的智力勞動(dòng)成果，并且在其創(chuàng)作時(shí)該布圖設(shè)計(jì)在布圖設(shè)計(jì)創(chuàng)作者和集成電路制造者中不是公認(rèn)的常規(guī)設(shè)計(jì)”。創(chuàng)造性包括兩個(gè)方面的內(nèi)涵：“智力勞動(dòng)”和“不是公認(rèn)的常規(guī)設(shè)計(jì)”?！爸橇趧?dòng)”意味著不是簡(jiǎn)單的重復(fù)，而是需要有性能的優(yōu)化或者功能的改進(jìn)?！安皇枪J(rèn)的常規(guī)設(shè)計(jì)”要求布圖設(shè)計(jì)必須有別于已經(jīng)被行業(yè)內(nèi)技術(shù)人員所熟知的現(xiàn)有技術(shù)，而是相比較于常規(guī)設(shè)計(jì)有進(jìn)步性可言。通過(guò)對(duì)布圖設(shè)計(jì)的直接復(fù)制和合法的反向工程進(jìn)行對(duì)比，可以發(fā)現(xiàn)，直接復(fù)制是對(duì)原芯片集成電路布圖設(shè)計(jì)進(jìn)行簡(jiǎn)單的復(fù)制和修改，在技術(shù)上沒(méi)有創(chuàng)新改進(jìn);合法的反向工程則需要重新設(shè)計(jì)，需要付出重要的勞動(dòng)和資金投入，并且在技術(shù)上有所創(chuàng)新，與被反向工程的布圖設(shè)計(jì)有實(shí)質(zhì)性的不同?？梢?jiàn)，法律保護(hù)的是布圖設(shè)計(jì)中的獨(dú)創(chuàng)性部分，而非其它。

“獨(dú)立創(chuàng)作性”和“不是公認(rèn)的常規(guī)設(shè)計(jì)”的界定

關(guān)于“獨(dú)立創(chuàng)作性”和“不是公認(rèn)的常規(guī)設(shè)計(jì)”的界定，國(guó)內(nèi)外學(xué)者和立法者進(jìn)行了較深入的研究和探討。有如下四個(gè)標(biāo)準(zhǔn)可供參考：

第一個(gè)是“書(shū)面痕跡”標(biāo)準(zhǔn)。書(shū)面痕跡標(biāo)準(zhǔn)是指在集成電路布圖設(shè)計(jì)反向工程中對(duì)原設(shè)計(jì)進(jìn)行分析和研究，投入了智力勞動(dòng)以及很高的時(shí)間、物質(zhì)成本，并通過(guò)反向工程設(shè)計(jì)出了新的作品。書(shū)面痕跡包括兩個(gè)方面的內(nèi)容：一是對(duì)第一布圖設(shè)計(jì)的分析和評(píng)估;二是對(duì)第二布圖設(shè)計(jì)的創(chuàng)作。在某些國(guó)家的立法、研究理論中，書(shū)面痕跡標(biāo)準(zhǔn)也被稱(chēng)為“努力與投資”標(biāo)準(zhǔn)[5，7]。

第二個(gè)是“實(shí)質(zhì)性相同”標(biāo)準(zhǔn)。“實(shí)質(zhì)性相同”標(biāo)準(zhǔn)在著名的BrooktreeCrop案中被采用并確立。雖然被告AMD公司提供的相關(guān)記錄確實(shí)能夠證明被告對(duì)原告的現(xiàn)有設(shè)計(jì)進(jìn)行了耗時(shí)巨大的反向工程研究，但是反向工程未能準(zhǔn)確分析出原告的設(shè)計(jì)中帶有10個(gè)晶體管的SRAM。最后，被告從原告的競(jìng)爭(zhēng)對(duì)手公司一名員工處得知這一設(shè)計(jì)，而改為簡(jiǎn)單復(fù)制生產(chǎn)該公司產(chǎn)品并投入商業(yè)使用。也就是說(shuō)，被告因設(shè)計(jì)失敗，最終以復(fù)制侵權(quán)獲得Brooktree公司的布圖設(shè)計(jì)。該案法官認(rèn)為：只有當(dāng)被告在進(jìn)行反向工程研究的過(guò)程中確實(shí)投入了大量的物力、人力、時(shí)間成本進(jìn)行改進(jìn)和創(chuàng)新，并且其通過(guò)反向工程創(chuàng)造的作品不與先前設(shè)計(jì)實(shí)質(zhì)性相同的情況下，才能認(rèn)定被告并未對(duì)原告實(shí)施侵權(quán)行為[5，10]。

第三個(gè)是“性能優(yōu)化”標(biāo)準(zhǔn)。性能優(yōu)化標(biāo)準(zhǔn)（The Value-Add Test）由美國(guó)學(xué)者Leo J.Raskind提出8，他認(rèn)為只有在被告能夠證明其通過(guò)分析、研究現(xiàn)有布圖設(shè)計(jì)而創(chuàng)造的新的布圖設(shè)計(jì)的性能優(yōu)于現(xiàn)有設(shè)計(jì)，如減少用于芯片生產(chǎn)的集成電路布圖設(shè)計(jì)總量、使封裝件簡(jiǎn)便化、提升集成度等，被告的新設(shè)計(jì)才能進(jìn)行反向工程抗辯，以證明其設(shè)計(jì)不是侵權(quán)行為[5，8]。

第四個(gè)是“功能進(jìn)步”標(biāo)準(zhǔn)?！肮δ苓M(jìn)步”標(biāo)準(zhǔn)（The Functional Superiority Test）由Hrayr A.Sayadian提出9。根據(jù)這個(gè)標(biāo)準(zhǔn)，設(shè)計(jì)者必須證明自己對(duì)已有的布圖設(shè)計(jì)進(jìn)行的改進(jìn)顯著提升了相關(guān)功能。衡量此技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)需考慮產(chǎn)品的體積、運(yùn)作效率、穩(wěn)定度以及組裝的復(fù)雜程度等。功能進(jìn)步標(biāo)準(zhǔn)是布圖設(shè)計(jì)獨(dú)創(chuàng)性所要求的創(chuàng)作高度的最高水平[5]，對(duì)反向工程實(shí)施者過(guò)于嚴(yán)苛，已經(jīng)近乎達(dá)到專(zhuān)利授權(quán)的標(biāo)準(zhǔn)。

上述界定標(biāo)準(zhǔn)各有利弊，不能涵蓋“不是公認(rèn)的常規(guī)設(shè)計(jì)”的全部范疇。目前，在國(guó)際上，關(guān)于“不是公認(rèn)的常規(guī)設(shè)計(jì)”還沒(méi)有具有參考價(jià)值的通用標(biāo)準(zhǔn)。

《條例》第四條規(guī)定：“受保護(hù)的由常規(guī)設(shè)計(jì)組成的布圖設(shè)計(jì)，其組合作為整體應(yīng)當(dāng)符合前款規(guī)定的條件”。也就是說(shuō)，設(shè)計(jì)者可以對(duì)行業(yè)內(nèi)公認(rèn)的常規(guī)設(shè)計(jì)元件進(jìn)行設(shè)計(jì)重組，只要組合后的整體可以產(chǎn)生有益的技術(shù)改進(jìn)，也將受到布圖設(shè)計(jì)專(zhuān)有權(quán)的保護(hù)。泉芯電子技術(shù)有限公司與南京微盟電子有限公司侵害集成電路布圖設(shè)計(jì)專(zhuān)有權(quán)糾紛一案，便是涉及布圖設(shè)計(jì)“整體性”這一技術(shù)要求的很好例證。一審中原告微盟公司起訴被告泉芯公司的QX6206芯片與微盟公司的ME6206芯片布圖設(shè)計(jì)相同，二者屬相同產(chǎn)品。微盟公司主張涉案ME6206芯片的布圖設(shè)計(jì)是采用常規(guī)設(shè)計(jì)并通過(guò)不同的組合方式，達(dá)到一定的優(yōu)化功能，即“ME6206是具有過(guò)流和短路保護(hù)的CMOS降壓型電壓穩(wěn)壓器”。而泉芯公司未對(duì)涉案ME6206芯片的布圖設(shè)計(jì)獨(dú)創(chuàng)性提出抗辯。一審法院認(rèn)定涉案ME6206芯片的布圖設(shè)計(jì)具有獨(dú)創(chuàng)性。

集成電路布圖設(shè)計(jì)侵權(quán)的司法鑒定

根據(jù)以上論述可知，集成電路布圖設(shè)計(jì)保護(hù)的法律實(shí)質(zhì)要件是獨(dú)創(chuàng)性。發(fā)生布圖設(shè)計(jì)侵權(quán)時(shí)，司法鑒定首先要做的就是確定該布圖設(shè)計(jì)獨(dú)創(chuàng)性區(qū)域，也即首先要確定本布圖設(shè)計(jì)中受法律保護(hù)的區(qū)域。其次，判斷該布圖設(shè)計(jì)的獨(dú)創(chuàng)性區(qū)域同疑似侵權(quán)芯片相對(duì)區(qū)域之間布圖的相似性，也稱(chēng)為版圖相似度判定。相似度通常是一個(gè)具體的百分比數(shù)字，數(shù)字越大，相似性越高，侵權(quán)也就概率越大，反之亦然。版圖相似度的判定工作需要依靠反向工程等技術(shù)的手段完成，因此可委托專(zhuān)業(yè)的反向工程服務(wù)公司來(lái)實(shí)施。

集成電路布圖設(shè)計(jì)侵權(quán)案件的司法鑒定應(yīng)該分為兩個(gè)步驟：一是布圖設(shè)計(jì)獨(dú)創(chuàng)性鑒定;二是布圖設(shè)計(jì)獨(dú)創(chuàng)性區(qū)域的相似度鑒定。

第一步是布圖設(shè)計(jì)獨(dú)創(chuàng)性鑒定。在集成電路布圖設(shè)計(jì)獨(dú)創(chuàng)性的司法實(shí)踐中，權(quán)利人首先陳述其所請(qǐng)求保護(hù)的權(quán)利內(nèi)容，即該布圖設(shè)計(jì)的獨(dú)創(chuàng)性部分。根據(jù)“誰(shuí)主張誰(shuí)舉證”的原則，權(quán)利人用頒發(fā)的登記證書(shū)完成其舉證責(zé)任，之后對(duì)其具有獨(dú)創(chuàng)性的部分作出說(shuō)明，此時(shí)權(quán)利人應(yīng)有義務(wù)過(guò)濾其布圖設(shè)計(jì)中的常規(guī)設(shè)計(jì)，以明示其權(quán)利所在5。訴訟之前，權(quán)利人委托專(zhuān)業(yè)鑒定機(jī)構(gòu)，就登記的布圖設(shè)計(jì)的獨(dú)創(chuàng)性部分進(jìn)行鑒定，獨(dú)創(chuàng)性的鑒定一定要緊扣獨(dú)創(chuàng)性的實(shí)質(zhì)內(nèi)涵——獨(dú)立創(chuàng)作和創(chuàng)造性開(kāi)展工作。該鑒定機(jī)構(gòu)出具獨(dú)創(chuàng)性鑒定報(bào)告，并由法院對(duì)獨(dú)創(chuàng)性做出最終的裁定。

第二步是布圖設(shè)計(jì)獨(dú)創(chuàng)性區(qū)域的相似度鑒定。由于集成電路布圖設(shè)計(jì)的獨(dú)創(chuàng)性區(qū)域相似度判定涉及到制造工藝、芯片面積、各層圖元等多方面的因素，設(shè)計(jì)師通常會(huì)采用按照功能模塊進(jìn)行布局的方法。一方面，布圖設(shè)計(jì)采用分層布圖方式，相似度判定需要考慮各版圖層差異，按層次細(xì)分符合設(shè)計(jì)習(xí)慣和通用規(guī)則;另一方面，布圖設(shè)計(jì)細(xì)分后的各部分存在重要性的差異，導(dǎo)致對(duì)布圖設(shè)計(jì)某個(gè)區(qū)域的相似度鑒定非常困難。

目前，業(yè)內(nèi)對(duì)于集成電路版圖相似度判定尚沒(méi)有統(tǒng)一的量化標(biāo)準(zhǔn)。司法實(shí)踐中有一種有效可行的方法，即“版圖細(xì)分加權(quán)法”。該方法在考慮芯片工藝和相關(guān)領(lǐng)域后，根據(jù)版圖元素耦合度大小進(jìn)行模塊劃分，再使用一種集成電路版圖相似度判定軟件HxComparator對(duì)各模塊進(jìn)行相似度的比較，然后根據(jù)每個(gè)模塊的重要性給出模塊的權(quán)重，最后按照加權(quán)法計(jì)算出整體的相似度。

獨(dú)創(chuàng)性認(rèn)定在司法實(shí)踐中的問(wèn)題探討

《條例》第三十條明確規(guī)定，復(fù)制受保護(hù)的布圖設(shè)計(jì)的全部或者其中任何具有獨(dú)創(chuàng)性的部分的行為，都被認(rèn)為是侵權(quán)行為，并應(yīng)承擔(dān)相應(yīng)的賠償責(zé)任。但是，受保護(hù)的獨(dú)創(chuàng)性布圖設(shè)計(jì)一旦被復(fù)制，應(yīng)采取何種方式進(jìn)行鑒定？復(fù)制了多少可被視為侵權(quán)？對(duì)于這些問(wèn)題，世界各國(guó)的立法均未給出明確的答案，且司法實(shí)踐中也鮮有案例可供借鑒。這給司法工作者帶來(lái)了判斷和執(zhí)行上的困難，甚至導(dǎo)致布圖設(shè)計(jì)條例很難發(fā)揮應(yīng)有的作用。

本文對(duì)布圖設(shè)計(jì)進(jìn)行了深入研究，就以下幾個(gè)頗具爭(zhēng)議的問(wèn)題展開(kāi)討論，并提出一些解決問(wèn)題的參考方法，以期能為司法實(shí)踐提供理論支持和實(shí)施幫助。

一是獨(dú)創(chuàng)性區(qū)域大小的確定。獨(dú)創(chuàng)性區(qū)域的范圍確定，對(duì)侵權(quán)的判定起著至關(guān)重要的作用。獨(dú)創(chuàng)性區(qū)域確定過(guò)大或過(guò)小都會(huì)直接影響相似度的大小，進(jìn)而直接影響是否侵權(quán)的判定。但是對(duì)于獨(dú)創(chuàng)性區(qū)域大小如何界定，世界各國(guó)都沒(méi)有明確標(biāo)準(zhǔn)，甚至沒(méi)有意識(shí)到它對(duì)獨(dú)創(chuàng)性判定的影響。

本文認(rèn)為，集成電路布圖設(shè)計(jì)的最小保護(hù)范圍，應(yīng)該從電路的獨(dú)立功能性特征進(jìn)行考量，也就是說(shuō)不能形成獨(dú)立功能模塊的電路區(qū)域不能構(gòu)成獨(dú)創(chuàng)性區(qū)域。例如，觸發(fā)器、計(jì)數(shù)器、放大器、振蕩器等模塊，因其具有完整的電路功能，可認(rèn)定為獨(dú)創(chuàng)性區(qū)域;但是像晶體管、電容等不能構(gòu)成獨(dú)立功能的電路，就不能構(gòu)成獨(dú)創(chuàng)性區(qū)域。這種考慮既與集成電路布圖設(shè)計(jì)法律保護(hù)的本質(zhì)吻合，同時(shí)也避免了布圖設(shè)計(jì)權(quán)的濫用。

二是獨(dú)創(chuàng)性主要體現(xiàn)在版圖上。在集成電路的設(shè)計(jì)過(guò)程中，存在一種可能性，單元器件的電路連接經(jīng)仿真測(cè)試后，各項(xiàng)性能參數(shù)均達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)范圍，便可根據(jù)該電路開(kāi)始設(shè)計(jì)版圖作品。由于不同的版圖設(shè)計(jì)者在設(shè)計(jì)思想和設(shè)計(jì)經(jīng)驗(yàn)上存在差異，根據(jù)相同的電路設(shè)計(jì)思想設(shè)計(jì)出來(lái)的版圖布局也會(huì)不同，設(shè)計(jì)較差的版圖甚至?xí)苯佑绊懙疆a(chǎn)品的最終性能，如ESD中由于閂鎖效應(yīng)、耦合效應(yīng)等寄生問(wèn)題而導(dǎo)致的介質(zhì)擊穿或介質(zhì)退化?！稐l例》第五條規(guī)定：“對(duì)布圖設(shè)計(jì)的保護(hù)，不延及思想、處理過(guò)程、操作方法或者數(shù)學(xué)概念等”。由此可見(jiàn)，布圖設(shè)計(jì)權(quán)所保護(hù)的內(nèi)容是“思想的表達(dá)”，而非“思想”本身。在這里，電路設(shè)計(jì)是思想，布圖設(shè)計(jì)是對(duì)思想的表達(dá)。因此，布圖設(shè)計(jì)獨(dú)創(chuàng)性區(qū)域的創(chuàng)造性應(yīng)更多的以版圖形式體現(xiàn)，而非單純的電路功能本身。

三是獨(dú)創(chuàng)點(diǎn)的數(shù)量與侵權(quán)程度的關(guān)系。目前，對(duì)于集成電路布圖設(shè)計(jì)獨(dú)創(chuàng)點(diǎn)數(shù)量與侵權(quán)程度司法判定二者之間的關(guān)系，業(yè)內(nèi)尚沒(méi)有給予量化區(qū)分。涉案布圖設(shè)計(jì)經(jīng)專(zhuān)業(yè)機(jī)構(gòu)鑒定后，只要確認(rèn)其具有獨(dú)創(chuàng)性，無(wú)論發(fā)生了多少個(gè)獨(dú)創(chuàng)性區(qū)域的侵權(quán)行為，法院均給予同樣程度的侵權(quán)判決。眾所周知，在集成電路布圖設(shè)計(jì)的研制過(guò)程中，每一個(gè)獨(dú)創(chuàng)點(diǎn)均是設(shè)計(jì)者投入巨大的資金和智力勞動(dòng)后的成果結(jié)晶。如果對(duì)于包含不同獨(dú)創(chuàng)點(diǎn)數(shù)量的侵權(quán)案件，法院均給予同等程度的司法判定，對(duì)于開(kāi)發(fā)者而言，將會(huì)存在不公平嫌疑。因此，深入探討被侵權(quán)獨(dú)創(chuàng)點(diǎn)數(shù)量的多少與侵權(quán)程度的關(guān)系，對(duì)維護(hù)法律公平和完善執(zhí)法效果具有一定的意義。

四是“改進(jìn)”一定是改變?cè)瓉?lái)的獨(dú)創(chuàng)性。布圖設(shè)計(jì)獨(dú)創(chuàng)性具有鼓勵(lì)創(chuàng)造、不排除接觸的原則，即第二創(chuàng)作者可以在反向分析和研究權(quán)利人的作品之后，根據(jù)自己的設(shè)計(jì)思想，對(duì)原作品進(jìn)行改進(jìn)，創(chuàng)造出新的設(shè)計(jì)作品。該新的作品可能是增加了一定的獨(dú)創(chuàng)性，也可能是對(duì)原有設(shè)計(jì)的獨(dú)創(chuàng)性進(jìn)行了實(shí)質(zhì)性的改進(jìn)。在專(zhuān)利權(quán)的侵權(quán)判定中，包含了原有的設(shè)計(jì)、并在此基礎(chǔ)上增加了自己的設(shè)計(jì)應(yīng)屬于侵權(quán)行為;而對(duì)原有設(shè)計(jì)的獨(dú)創(chuàng)性進(jìn)行了實(shí)質(zhì)性的改進(jìn)則不屬于侵權(quán)。例如，權(quán)利人有A+B+C三個(gè)獨(dú)創(chuàng)性的技術(shù)特征，第二創(chuàng)作者的改進(jìn)產(chǎn)品有A+B+C+D四個(gè)獨(dú)創(chuàng)性的技術(shù)特征，那么在司法認(rèn)定中，應(yīng)屬于侵權(quán)行為。因此，“改進(jìn)”一定是改變?cè)瓉?lái)的獨(dú)創(chuàng)性，而非在原來(lái)獨(dú)創(chuàng)性的基礎(chǔ)上增加一些獨(dú)創(chuàng)點(diǎn)。

五是非常規(guī)設(shè)計(jì)的判定依據(jù)。對(duì)于《條例》第四條“不是公認(rèn)的常規(guī)設(shè)計(jì)”，國(guó)內(nèi)外相關(guān)法律條文中尚且沒(méi)有統(tǒng)一的判定標(biāo)準(zhǔn)。法官、律師往往需要借助專(zhuān)業(yè)機(jī)構(gòu)和業(yè)內(nèi)專(zhuān)家對(duì)獨(dú)創(chuàng)性進(jìn)行鑒定和判斷。而業(yè)內(nèi)專(zhuān)家對(duì)非常規(guī)性的判定標(biāo)準(zhǔn)不一致，加之集成電路布圖設(shè)計(jì)專(zhuān)業(yè)性強(qiáng)，可以借鑒的判例非常少，導(dǎo)致法律工作者對(duì)此倍感困惑。

國(guó)內(nèi)外學(xué)者和立法者曾提出一些判定標(biāo)準(zhǔn)，如前文提及的書(shū)面痕跡標(biāo)準(zhǔn)、實(shí)質(zhì)性相同標(biāo)準(zhǔn)、性能優(yōu)化標(biāo)準(zhǔn)和功能進(jìn)步標(biāo)準(zhǔn)，但這些標(biāo)準(zhǔn)各有利弊，或過(guò)于簡(jiǎn)單，或過(guò)于嚴(yán)苛、高出布圖設(shè)計(jì)專(zhuān)有權(quán)的保護(hù)范圍。關(guān)于“不是公認(rèn)的常規(guī)設(shè)計(jì)”的判定標(biāo)準(zhǔn)，目前行業(yè)內(nèi)通用的標(biāo)準(zhǔn)是請(qǐng)本領(lǐng)域?qū)I(yè)技術(shù)人員做出判斷。但是，由于技術(shù)人員存在個(gè)體差異，對(duì)常規(guī)設(shè)計(jì)的衡量標(biāo)準(zhǔn)也高低不等。

本文提出兩種具有可行性的實(shí)施方案：一是查閱以前的資料和文獻(xiàn);二是查詢(xún)申請(qǐng)日之前的芯片，將布圖設(shè)計(jì)進(jìn)行比對(duì)，以確定該布圖設(shè)計(jì)是否在本領(lǐng)域內(nèi)有過(guò)廣泛應(yīng)用。如果該布圖設(shè)計(jì)與先前芯片的布圖設(shè)計(jì)相似，則需要進(jìn)行前文所述的獨(dú)創(chuàng)性鑒定，以確定該布圖設(shè)計(jì)是否屬于常規(guī)設(shè)計(jì)。

結(jié)語(yǔ)

在集成電路領(lǐng)域，侵權(quán)現(xiàn)象的發(fā)生對(duì)權(quán)利人和侵權(quán)人雙方都造成了極大的困擾。在集成電路布圖設(shè)計(jì)的司法實(shí)踐中，只有具有獨(dú)創(chuàng)性的布圖設(shè)計(jì)才能受法律保護(hù)，而常規(guī)設(shè)計(jì)的部分得不到法律的保護(hù)。也即，布圖設(shè)計(jì)的獨(dú)創(chuàng)性是集成電路受法律保護(hù)的實(shí)質(zhì)核心要件。本文對(duì)集成電路布圖設(shè)計(jì)獨(dú)創(chuàng)性的內(nèi)涵和布圖設(shè)計(jì)侵權(quán)的司法鑒定程序進(jìn)行了闡述和分析，并就司法實(shí)踐中頗具爭(zhēng)議的問(wèn)題展開(kāi)了討論，以期能起到拋磚引玉的作用。

（北京芯愿景軟件技術(shù)有限公司李銳對(duì)本文亦有貢獻(xiàn)）

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