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      傳輸/反射法中樣品位置及相關(guān)誤差的修正

      2019-09-20 02:04:26
      測控技術(shù) 2019年1期
      關(guān)鍵詞:虛部散射系數(shù)實(shí)部

      (南京郵電大學(xué) 電子與光學(xué)工程學(xué)院、微電子學(xué)院,江蘇 南京 210023)

      電磁參數(shù)的測量是微波電路、生物電磁學(xué)、雷達(dá)吸波材料、吸波隱身技術(shù)、電磁兼容等領(lǐng)域的重要內(nèi)容。常用的電磁參數(shù)測量方法有:駐波法、探頭法、自由空間法、諧振腔法、傳輸/反射法(又稱NRW方法)等。采用傳輸/反射法測量時(shí),待測材料做成環(huán)狀放入同軸線夾具,再利用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀測量同軸線夾具兩端的散射系數(shù),反演出樣品的介電常數(shù)和磁導(dǎo)率[1-2]。該方法具有操作簡單、頻帶范圍寬、精度較高等特點(diǎn),已經(jīng)獲得廣泛的應(yīng)用[3-10]。

      利用理想情況下樣品兩側(cè)散射系數(shù)S11與S22、S12與S21分別相等的特點(diǎn),在根據(jù)測量的同軸線夾具兩端散射系數(shù)S0求樣品兩側(cè)的散射系數(shù)S11時(shí),搜尋S11與S22差異最小的位置,作為樣品的確切位置,以克服樣品定位不準(zhǔn)導(dǎo)致的誤差;同時(shí),利用S11與S22間的偏離程度反映誤差的大小,評(píng)估實(shí)驗(yàn)結(jié)果的合理性。

      1 理論分析和討論

      采用傳輸/反射法測量材料的電磁參數(shù),通常把待測材料與石蠟均勻混合,壓制成環(huán)狀樣品,放入圖1所示同軸線夾具中,利用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀測量夾具兩端口間的散射系數(shù)S0,反演出材料的介電常數(shù)和磁導(dǎo)率[2-3]。

      圖1 同軸線夾具及樣品截面示意圖

      首先,根據(jù)測量的同軸線夾具兩端的散射系數(shù)S0,計(jì)算樣品兩側(cè)的散射系數(shù)S(時(shí)間諧變項(xiàng)取為exp(-jωt))[8,10]。

      (1)

      (2)

      (3)

      (4)

      然后,根據(jù)NRW法,樣品兩端口間散射系數(shù)分別表示為[1-2]

      (5)

      (6)

      (7)

      (8)

      (9)

      再由T=exp(jk0nl),得

      (10)

      進(jìn)一步可求得磁導(dǎo)率和介電常數(shù)

      (11)

      (12)

      采用式(5)~式(12)反演電磁參數(shù)過程中,引入一些限制條件,如無源媒質(zhì)阻抗實(shí)部大于零、折射率虛部不小于零和相鄰頻率點(diǎn)電磁參數(shù)的連續(xù)性等,來解決多值性和相位跳變問題[8]。

      2 應(yīng)用實(shí)例

      以傳輸/反射法測量羰基鐵粉的介電常數(shù)和磁導(dǎo)率為例,證明所提方法的有效性。

      圖2 夾具兩端的散射系數(shù)和商用軟件處理得到的介

      然后,根據(jù)式(1)~式(4),由散射系數(shù)S0和給定的樣品位置l1=25 mm,求解出樣品兩側(cè)的散射系數(shù)S,如圖3(a)和圖3(b)所示。Re(S11)和Re(S22)在小于8 GHz頻段差異較明顯,Im(S11)和Im(S22)在大于10 GHz頻段差異較明顯,S12和S21大致重合。進(jìn)一步,由S11和S12求出的介電常數(shù)和磁導(dǎo)率分別如圖3(c)和圖3(d)所示。與圖2(c)和圖2(d)比較可知,圖3(c)所示的介電常數(shù)實(shí)部在低頻段偏小,虛部在高頻段偏大;圖3(d)所示的磁導(dǎo)率實(shí)部和虛部在低頻段均稍偏大。

      由圖3(a)可知,S11與S22差異比較明顯,考慮到理想情況下S11與S22是相等的,調(diào)節(jié)l1的值,搜尋S11與S22差異最小的位置。結(jié)果表明,當(dāng)l1=25.1 mm時(shí),S11與S22差異最小,如圖4(a)所示??梢姡琑e(S11)與Re(S22)在8~20 GHz范圍幾近重合,但在小于8 GHz的頻段差異仍比較大。對(duì)照?qǐng)D3(a),Im(S11)與Im(S22)在大于15 GHz頻段差異明顯變小,但在小于15 GHz頻段還存在較明顯的差異。S12和S21仍大致重合(見圖4(b))。進(jìn)一步,由S11和S12求出的介電常數(shù)和磁導(dǎo)率分別如圖4(c)和圖4(d)所示。與圖3(c)比較可知,圖4(c)所示的介電常數(shù)虛部在高頻段增大,接近圖2(c)所示結(jié)果;圖4(d)所示的磁導(dǎo)率實(shí)部在高頻段稍減小,接近圖2(d)所示結(jié)果。

      圖3 由給定的樣品位置求出的樣品兩側(cè)的散射系數(shù)和采用自編程序(NRW法)計(jì)算得到的介電常數(shù)和磁導(dǎo)率

      圖4 重新確定樣品位置求出的樣品兩側(cè)的散射系數(shù)以及樣品的介電常數(shù)和磁導(dǎo)率

      為揭示樣品定位對(duì)用傳輸/反射法所測量的介電常數(shù)和磁導(dǎo)率影響的特征,假設(shè)樣品位置分別在l1=24.9 mm和l1=25.3 mm,反演出的介電常數(shù)和磁導(dǎo)率如圖5所示。顯然,l1值偏小時(shí),反演得到的介電常數(shù)虛部和磁導(dǎo)率實(shí)部在較高頻段會(huì)偏大(見圖5(a)和圖5(b)),反之,介電常數(shù)虛部和磁導(dǎo)率實(shí)部在高頻段會(huì)偏小(見圖5(c)和圖5(d))。

      圖5 人為調(diào)節(jié)樣品位置得到的介電常數(shù)和磁導(dǎo)率

      圖6 用S11,22和S12,21分別替代S11和S12求出的介電常數(shù)和磁導(dǎo)率

      與圖3~圖5所示結(jié)果相比,圖6(a)所示的介電常數(shù)實(shí)部在低頻段有所增加,圖6(b)所示的磁導(dǎo)率實(shí)部和虛部在低頻段均有所減小,與圖2(c)和圖2(d)所示結(jié)果非常接近。對(duì)比圖4和圖6可見,由測量的散射系數(shù)S0采用不同計(jì)算方法得到樣品兩側(cè)散射系數(shù)S,可使得反演出的介電常數(shù)和磁導(dǎo)率有一定的差異。相比較而言,本文所提的分別計(jì)算出S11、S12、S21和S22的方法,可以直觀地反映誤差的存在,一定程度上辨明樣品定位不準(zhǔn)所導(dǎo)致的誤差及特點(diǎn),修正由于定位不準(zhǔn)導(dǎo)致的誤差,并有助于進(jìn)一步探討修正其他誤差的途徑。

      3 結(jié)束語

      采用傳輸/反射法測量材料電磁參數(shù)時(shí),樣品往往會(huì)偏離原先給定位置,造成定位不準(zhǔn),導(dǎo)致相應(yīng)的測量誤差。本文提出在根據(jù)測量的散射系數(shù)S0計(jì)算樣品兩側(cè)的散射系數(shù)S時(shí),人為調(diào)節(jié)樣品位置,搜尋S11與S22差異最小的位置,作為樣品的確切位置,以減小樣品定位不準(zhǔn)導(dǎo)致的誤差;同時(shí),S11與S22間的偏離程度反映了誤差的大小,可用來直觀地評(píng)估實(shí)驗(yàn)結(jié)果的合理性。測量實(shí)例表明,由測量的夾具兩端散射系數(shù)S0求樣品兩側(cè)的散射系數(shù)S時(shí),在高頻段S11與S22對(duì)樣品位置十分敏感,重新確定樣品位置,可有效地減小相應(yīng)的測量誤差,同時(shí)S11與S22間的差異也反映了誤差的存在??紤]到導(dǎo)致測量誤差的因素較多,如何準(zhǔn)確地區(qū)分不同因素導(dǎo)致的誤差,并且合理地修正相應(yīng)的誤差,仍是有待進(jìn)一步探討的話題。

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