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      襯底位置與角度對CVD法制備單層MoS2形貌的影響*

      2019-12-30 07:02:56岳皎潔堅佳瑩董芃凡常芳娥
      關(guān)鍵詞:襯底單層形貌

      岳皎潔,堅佳瑩,董芃凡,駱 磊,常芳娥

      (1.西安工業(yè)大學(xué) 材料與化工學(xué)院,西安 710021;2.西安工業(yè)大學(xué) 電子信息工程學(xué)院,西安 710021)

      隨著半導(dǎo)體器件制造技術(shù)的發(fā)展,器件的尺寸趨向微型化,二維過渡金屬二硫化物(Transition-Metal Dichalcogenide,TMD)以其優(yōu)異的光學(xué)和電學(xué)性質(zhì)受到廣泛關(guān)注[1]。二硫化鉬(MoS2)是典型的過渡金屬二硫化物,它具有類石墨層狀結(jié)構(gòu),單層的MoS2是由“硫-鉬-硫”的“三明治”結(jié)構(gòu)組成[2],MoS2層與層之間相距6.5 ?,依靠微弱的范德華力連接,因此層與層之間容易分離。研究發(fā)現(xiàn),隨著MoS2層數(shù)的減少,其強的發(fā)光效率[3],高的電子遷移率(高達200 cm2· V-1·s-1)和直接帶隙結(jié)構(gòu)(Eg= 1.8 eV)[4]等性能隨之體現(xiàn)出來。 因此,MoS2可用于制造光敏感電探測器[5],發(fā)光二極管(LED)[6],高電流開關(guān)比的場效應(yīng)晶體管(FET)[7]和微機電納米諧振器,它被認為是原子級半導(dǎo)體科學(xué)的潛在候選者。

      單層MoS2主要的制備方法包括膠帶輔助機械剝離法、超聲液相剝離法[8]、鋰離子插層法[9]和物理氣相沉積(Physical Vapor Depositon,PVD)法[10]等。機械剝離法利用膠帶的粘性將多層體材料剝離成少層或單層材料,該方法簡單易操作,但無法控制薄膜尺寸及厚度,產(chǎn)量較低,重復(fù)性差,因此無法大規(guī)模生產(chǎn)[11]。超聲液相剝離法是將MoS2粉體置于表面活性劑溶液、有機溶劑(異丙醇、二甲基甲酷胺以及聚乙烯耽略院酮等)及高分子聚合物等溶劑中,經(jīng)超聲、離心及真空干燥制備納米級MoS2[12],該方法可以大規(guī)模生產(chǎn),但由于其在液相環(huán)境下剝離,剝離程度不易控制,超聲功率對納米片的影響較大,不易得到單層的MoS2,且耗時較長。鋰離子插層法是將MoS2體材料先后浸泡于含鋰離子的溶劑和質(zhì)子性溶劑之中,使鋰離子與質(zhì)子性溶劑在體材料層間發(fā)生反應(yīng)從而擴大MoS2層間距,以此來達到剝離的效果[13],該法制備工藝復(fù)雜,剝離效率低,且金屬鋰因資源短缺價格昂貴。物理氣相沉積是一個物理變化的過程,只有形態(tài)的變化,通過蒸發(fā)MoS2粉末,使其成為氣態(tài)再沉積于襯底上,該法操作簡便,成膜均勻,但原料中的雜質(zhì)不易去除。

      化學(xué)氣相沉積法(Chemical Vapor Deposition CVD)是在合適的溫度、氣流及反應(yīng)時間等條件下使氣態(tài)的鉬源和硫源發(fā)生化學(xué)反應(yīng),從而制備出形貌均勻,尺寸可控的高質(zhì)量MoS2薄膜,且該法易操作,成本低,效率高。故CVD合成單層MoS2的研究備受科研人員青睞。文獻[14-16]研究了不同的反應(yīng)溫度、載氣流速、反應(yīng)時間以及襯底放置位置對CVD法制備單層MoS2形貌的影響,成功制備出尺寸較小約為50 μm的單層MoS2。文獻[17]研究了襯底正面朝上和正面朝下兩種放置方式對CVD法生長MoS2形的影響,研究發(fā)現(xiàn),在其他相同的實驗條件下,襯底正面朝上和正面朝下兩種放置方式制備的MoS2具有不同的形狀、在襯底上的覆蓋率不同,并未涉及其他放置方式對MoS2薄膜質(zhì)量的影響。本文在已經(jīng)確定反應(yīng)溫度、保溫時間及氬氣流速的基礎(chǔ)上,首先研究藍寶石襯底的放置位置對CVD法制備單層MoS2薄膜尺寸及形貌的影響,在確定最佳位置之后研究不同放置角度對MoS2薄膜質(zhì)量的影響,為提升CVD法制備單層MoS2薄膜的質(zhì)量提供新的思路。

      1 實驗方法及材料

      1.1 MoS2單層薄膜的制備

      將襯底分別用丙酮、無水乙醇和去離子水超聲10 min,再用氮氣槍吹干襯底表面。鉬源和硫源分別為MoO3粉末(天津市科密歐化學(xué)試劑有限公司,MoO3純度≥99.5%)和升華硫粉(天津市天力化學(xué)試劑有限公司,S純度≥99.5%)。稱取10 mg MoO3和0.1 g硫粉分別置于2個陶瓷舟,將鉬源置于管式爐高溫區(qū)(如圖1所示Furance 2區(qū)),硫源置于管式爐低溫區(qū)(如圖1所示Furance 1區(qū)),清潔后的襯底置于距鉬源下游一定距離處。反應(yīng)前先用機械泵將石英管抽真空至5 Pa以下以排除空氣,再緩慢通入純度為99.9%的氬氣至常壓,如此反復(fù)3次,待管內(nèi)恢復(fù)常壓之后,持續(xù)通入70 sccm的氬氣載流氣作為運載氣氛和保護氣氛至反應(yīng)結(jié)束。設(shè)定高溫真空管式爐反應(yīng)溫度程序(如圖2所示),采用分段升溫進行加熱,第一步先在30 min內(nèi)將MoO3升至600 ℃使其開始蒸發(fā),第二步以5 ℃·min-1將MoO3緩慢升至反應(yīng)溫度810 ℃,同時開始加熱硫粉使其蒸發(fā),硫蒸氣在氬氣流的運載下靠近鉬源并與其反應(yīng),在該條件下反應(yīng)30 min使MoO3蒸氣被硫蒸氣充分還原,反應(yīng)結(jié)束后持續(xù)通入氬氣使其自然冷卻至室溫后取樣。

      圖1 化學(xué)氣相沉積法制備MoS2薄膜實驗簡圖

      圖2 化學(xué)氣相沉積法制備MoS2薄膜分段升溫圖

      圖3為襯底的2種不同放置方式簡圖,圖3(a)為襯底正面朝上平放于鉬源下游,且與鉬源在同一水平面,圖3 (b)襯底正面朝上傾斜一定角度放置于鉬源下游。

      整個化學(xué)氣相沉積法反應(yīng)步驟為:① 式爐分段升溫使原料MoO3(MoO3純度≥99.5%)和升華硫(S 純度≥99.5%)由固態(tài)蒸發(fā)至氣態(tài)(式(1));② 在氬氣流的運載下硫蒸氣與MoO3蒸氣相遇發(fā)生反應(yīng),MoO3先被還原成MoO3-x(式(2)),MoO3-x再繼續(xù)與硫蒸氣反應(yīng)成為MoS2(式(3));③ MoS2隨著氬氣的流動被帶至下游沉積于襯底表面。

      S(s)→S(g)

      MoO3(s)→MoO3(g)

      (1)

      MoO3(g)+S(g)→MoO3-x(g)

      (2)

      MoO3-x(g)+S(g)→MoS2(s)

      (3)

      圖3 襯底的2種放置方式

      1.2 表征方法

      本實驗采用掃描電子顯微鏡(Scanning Electron Microscope,SEM)(型號:菲利普 Quanta 400F)對MoS2樣品進行形貌和尺寸的表征,利用拉曼光譜(型號:雷尼紹invia)和光致發(fā)光譜(自制)對生長的MoS2的厚度及層數(shù)進行表征。

      掃描電子顯微鏡是用極狹窄的電子束去掃描樣品,利用電子束與樣品的相互作用,使用逐點成像的方法獲得放大像可以獲取被測樣品的形貌、組成及晶體結(jié)構(gòu)等信息。MoS2的形貌可以通過掃描電子顯微鏡觀察并對比MoS2與基體的顏色,粗略判斷出MoS2的層數(shù)。

      光致發(fā)光(Photoluminescence,PL)指當物質(zhì)吸收光子或者一定頻率的電磁波后,又重新發(fā)射光子或者電磁波的過程。塊材MoS2為間接帶隙半導(dǎo)體材料,帶隙約為1.2 eV,幾乎沒有熒光特征峰。當MoS2由塊材轉(zhuǎn)變?yōu)樯賹由踔羻螌訒r,其由間接帶隙向直接帶隙轉(zhuǎn)變,且熒光效率明顯增強,會在1.8 eV和2.0 eV附近出現(xiàn)2個特征峰[19]。對應(yīng)于1.8 eV的特征峰是MoS2的直接帶隙,對應(yīng)于2.0 eV的特征峰是MoS2自旋軌道耦合引起的能帶分裂。光致發(fā)光光譜儀的波長為700 nm,槽密度為150 L·mm-1。

      2 結(jié)果及分析

      2.1 襯底放置位置對產(chǎn)物形貌及尺寸的影響

      圖4為襯底分別放置在距鉬源下游不同距離處(3 cm、6 cm、9 cm和12 cm)生長樣品的SEM圖。圖4(a)為距鉬源3 cm處襯底表面沉積大量連成片的多層MoS2薄膜,距鉬源近端反應(yīng)物濃度過高,導(dǎo)致襯底表面單位面積形核率高,因此,產(chǎn)物呈島狀連片聚集且生長尺寸較小。圖4(b)為襯底距鉬源6 cm處生長MoS2的SEM圖,該位置反應(yīng)物濃度較低于3 cm處,形核率較大,產(chǎn)物較分散,但仍為多層結(jié)構(gòu);圖4(c)為襯底距鉬源9 cm處生長MoS2的SEM圖,襯底上分布著尺寸約為70 μm的正三角形MoS2薄膜,其表面形貌均勻,且和襯底對比明顯,初步判斷為單層MoS2薄膜;圖4(d)為襯底距鉬源12 cm處生長MoS2的SEM圖,零散分布著尺寸為30~40 μm的正三角形MoS2薄膜,由于距鉬源較遠處反應(yīng)物濃度降低,導(dǎo)致形核率減小,反應(yīng)程度減弱,故反應(yīng)生成的MoS2數(shù)量和尺寸均減小。通過上述SEM表征可知,當襯底平放于鉬源下游且相距9 cm處時,可得到最大尺寸約為70 μm的MoS2薄膜。

      圖4 鉬源與襯底不同距離制備MoS2薄膜的SEM圖

      2.2 襯底放置方式對產(chǎn)物形貌及尺寸的影響

      在CVD系統(tǒng)的反應(yīng)室中,由于氣體本身具有一定粘度,而氣流與容器壁之間又存在相互作用,因此,氣體的流速將逐漸產(chǎn)生梯度分布:靠近器壁處氣體分子被器壁粘滯力拖拽,趨于靜止不動形成流速較慢的流動邊界層;遠離器壁處氣體流速增大,該現(xiàn)象減弱。

      圖5為襯底和鉬源相距9 cm處樣品SEM圖,圖5(a)為襯底水平向上0°時制備樣品的SEM圖,三角形MoS2薄膜尺寸約為70 μm;圖5(b)為襯底水平向上傾斜約10°時制備樣品的SEM圖,三角形MoS2薄膜尺寸約為70 μm,這與襯底水平放置所生長的MoS2薄膜大小并無差別;圖5(c)為襯底水平向上傾斜約20°時制備樣品的SEM圖,襯底上生長的MoS2薄膜尺寸約為100 μm,尺寸大于該距離襯底水平向上0°和10°時生長的MoS2薄膜;圖5(d)為襯底水平向上傾斜約45°時制備樣品的SEM圖,MoS2薄膜尺寸約為100 μm,與襯底水平向上傾斜約20°放置所生長的MoS2薄膜大小并無太大差別,說明襯底水平向上傾斜約20°放置時已到達樣品生長的最佳角度。

      圖6(b)為對比鉬源襯底相距9 cm處襯底水平向上放置及傾斜20°放置制備樣品的PL譜圖。由圖6(b)可知,在襯底水平向上放置及傾斜約20°放置時制備樣品均在波長λ為667.45 nm時具有很強的特征峰。根據(jù)波長和能量的轉(zhuǎn)換公式E=hc/λ(其中c=3.0×108m·s-1,h=6.626×10-34J·S,1 eV=1.602×10-19J)計算得出躍遷能E為1.86 eV。圖6(b)中692.69 nm處為藍寶石襯底的特征峰。故上述2種方式制備的MoS2樣品均為單層,具有良好的光電效應(yīng)。

      圖6 藍寶石襯底生長MoS2薄膜的拉曼譜圖和光致發(fā)光譜圖

      4 結(jié) 論

      本文采取化學(xué)氣相沉積法成功制備出單層MoS2薄膜,研究了鉬源-襯底不同距離和改變襯底放置方式為斜放時制備的MoS2薄膜形貌及尺寸分布,通過掃描電鏡、拉曼光譜及光致發(fā)光譜等手段對MoS2形貌及層數(shù)表征可知,得出結(jié)論為:

      1) 襯底和鉬源之間的距離影響MoS2薄膜的可控生長。襯底距鉬源過近,反應(yīng)物濃度過高,形核率較大,導(dǎo)致襯底表面沉積較多連片的島狀結(jié)構(gòu)MoS2;襯底距鉬源距離過大,反應(yīng)物濃度太低,導(dǎo)致MoS2不易成核,襯底表面只有微量的小三角形MoS2沉積;襯底距鉬源下游9 cm處可制備出分布均勻及形貌規(guī)則的MoS2薄膜,尺寸可達約70 μm。

      2) 襯底的放置方式影響MoS2薄膜的形貌生長。襯底正面向上傾斜約20°置于鉬源下游9 cm處所制備的MoS2尺寸約為100 μm,大于該位置處襯底水平放置所制備的MoS2整體形貌均勻。

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