孫卓(哈爾濱海關技術中心大慶-漠河實驗室,黑龍江 大慶 163311)
在具體的發(fā)展中,利用紅外溫升多特征矢量提升電子裝備熱像異常檢測性能的方法,其是在紅外以及光學異源配準的前提下,精準的對電子裝備的各個元件的位置進行精準的確定,然后對紅外觀測圖像進行精準的應用,保證可以獲得更加準確的溫升均值曲線。同時,對這些曲線進行全幀程分段,分段結束以后,對溫升統(tǒng)計矢量進行準確的讀取,從而構建相對健全以及完善的溫升多特征矢量。最后,依照矢量,結合分段表及異常量化來實現(xiàn)電子裝備熱像異常的狀況和目的地感知。
通過對系統(tǒng)結構圖[1]的進一步研究和分析,在整個系統(tǒng)中,其具體是由電氣控制單元以及機械結構單元等共同組成。其中,針對機械結構單元而言,主要涵蓋了恒溫控制箱體以及紅外傳感器固定支架等。紅外傳感器固定支架除可以進行有效的支撐,科學的對傳感器進行鎖定外,還可以結合具體情況,有針對性的對支架的高度進行調節(jié)。因此,這一設備可以應用在不同尺寸的電路板中,具有較強的觀測能力,并且還具備完整性及可靠性的特點[1]。而實際上電氣控制單元包含兩部分:DSP恒溫控制電路和DSP 恒溫控制制作軟件。在對這一部分進行具體的應用過程中,其可達到對環(huán)境溫度等進行恒溫控制的效果和目的,能夠驅動恒溫控制組件。同時,這一單元也可以對恒溫控制箱體的內部溫度進行合理把控,讓其在10±1℃范圍內,保證可以最大程度的降低環(huán)境溫度的波動情況,有效的減少其對紅外觀測溫度數(shù)據(jù)的影響和干擾。
針對紅外圖像來說[2],其在視覺層面具有較強的不清晰性,且分辨率也比較低,所以在一定程度上為元器件的辨識造成了非常大的困難,影響了辨識的精準性及效率。因此,在這種情況下,本文對光學以及紅外圖像進行了配準,從基礎上對電路板的輻射及背景信息進行有效的獲取,保證后續(xù)維修人員對故障元器件進行更好地辨識,從而提升維修的效果。本次研究的系統(tǒng)中對機械結構單元進行了應用,在一定程度上對被測裝備的位置進行固定,以便每一次的檢測都可以處于同一位置。此外,依照光學和紅外圖像位置之間的映射關系,可在光學圖像中預先標注功能,對元器件的位置準確標注,確保電路板的熱圖像信息與每一個元器件都保持較強的一致性。
在實際測試中,相關人員可以借助PC 端的人機交互界面,快速實現(xiàn)對保溫箱體的溫度設定,亦可對恒溫的時間進行設定,還可對數(shù)據(jù)的實際采集時間進行設置。通常情況下,在系統(tǒng)的實際運行過程中,其運行的流程可以體現(xiàn)在4 個層面[2]。
第一,通過DSP 恒溫控制單元,有效的對箱體內部的溫度進行控制,讓其可以處于10±1℃范圍內。
第二,當恒溫的溫度已經(jīng)達到規(guī)定及標準之后,需要結合實際情況,對箱體的內部溫度進行保溫。保溫的具體時間,依照具體設定的恒溫時間來進行科學的設置。
第三,使裝備的電路板實現(xiàn)自動上電的效果,再對電路板上的每個元器件中心區(qū)域溫度進行精確采集,了解及掌握其平均值。針對采集的時間,根據(jù)具體設定數(shù)據(jù)采集時間而定。
第四,對每個元器件其升溫數(shù)據(jù)要進行多特點的提取,再將這些數(shù)據(jù)與標準特征庫進行合理且科學的對比,保證在最短的時間內完成異常分析及異常元器件的定位[3]。當上述工作結束,需要進行表格以及曲線等制作,以多種形式來進行展示,最終利用人機交互界面,對結果進行展示,保證用戶更加清晰且直觀的了解設備的整體運行情[3]。
在本次的研究過程中,主要對恒溫控制裝置保持測試溫環(huán)進行了應用,有效的將溫度對電子裝備紅外數(shù)據(jù)采集的影響降到最低。在對電子裝備上電時刻及元器件中心區(qū)域溫度的采集,應用PC 機進行,科學的對其進行嚴格的控制,以便每一次的檢測都可以實現(xiàn)標準化的效果。所以,可以利用紅外傳感器,對各項數(shù)據(jù)進行采集,并對這些數(shù)據(jù)進行科學的對比,最后準確的判斷元件是否出現(xiàn)了故障問題。
在對溫升多特征矢量進行實際的構建過程中,可以假設電路板上有M 個等待檢測的元器件,而對于每一個元器件來說,其標準數(shù)據(jù)以及待測數(shù)據(jù)都可以分為多個N 段,結合實際情況,將每一個分段的最大值以及最小值、均值精準的提取出來,然后構建其溫升多特征矢量。
通過其特征矢量分析利用標準溫升統(tǒng)計矢量中涵蓋的元素,對溫升差異矢量中的每一個元素進行統(tǒng)一的處理,最后構建溫升多特征矢量。
本研究中,采用上海巨哥電子有限公司的MAG32 型紅外傳感器,分辨率為384×288(寬×高),對多塊功能正常的裝備電路板進行多次的通電試驗,且保證同一塊裝備電路板在相鄰通電期間,能夠處于完全冷卻的狀態(tài)。當測試結束之后,對獲得的溫度數(shù)據(jù)進行平均處理,根據(jù)實際情況,構建各個元器件標準溫升信息數(shù)據(jù)庫。
實驗中,人為設置編號D12、D15 元器件故障,D12 芯片的電源引腳翹起,致使不能正常工作,導致D15 芯片電流輸入過大。
在建立各個元器件的標準溫升數(shù)據(jù)庫后,給待測裝備電路板通電。隨即獲得每塊芯片的溫升數(shù)據(jù)并對此進行全幀程分段。本文選取每秒鐘所采集的溫升數(shù)據(jù)作為一個子段,并把采集時間設為30s,故存在30 個子段。
D12 芯 片 溫 升 數(shù) 據(jù) 測 得 值 為:4 ℃/5min、5 ℃/10min、6℃/15min、5℃/20min、4℃/25min,其標準溫升數(shù)據(jù)為:15℃/5min、16.5℃/10min、17.3℃/15min、17.8℃/20min、18℃/25min。由此可見,因沒有正常工作,D12 芯片的溫升數(shù)據(jù)遠遠低于標準溫升數(shù)據(jù),而D15 芯片的升溫數(shù)據(jù)測得值:25℃/5min、28℃/10min、26 ℃/15min、27 ℃/20min、28 ℃/25min,其 標 準 溫 升 數(shù) 據(jù) 為:20℃/5min、22.5℃/10min、23℃/15min、23.8℃/20min、24℃/25min,由于D15 芯片輸入電流過大,致使其溫升數(shù)據(jù)高于標準溫升數(shù)據(jù)。
現(xiàn)階段,對于傳統(tǒng)電子裝備熱像異常檢測性能的方法來說,其具有很多優(yōu)勢的同時,也存在了很多的不足及問題,基于此背景下,相關人員也加大了研究力度,提出了利用紅外溫升多特征矢量提升電子裝備熱像異常檢測性能的方法,其所構建的溫升多特征矢量,具有較強的精細化,且穩(wěn)定性也十分良好。同時,通過對分段表決等的應用,也可以進一步達到升溫全程表征的目的和效果,最終獲得的態(tài)勢分辨與電路故障之間有著非常緊密的聯(lián)系,對后續(xù)智能故障的推理具有很大的促進意義和作用。