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      Thermo IRIS IntrepidⅡ型電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀故障快速判斷方法

      2020-04-20 11:42:06祝培明李桂華山廣祺
      分析測試技術(shù)與儀器 2020年1期
      關(guān)鍵詞:結(jié)霜氬氣紫外光

      王 萍,祝培明,李桂華,2,馬 霄,2,山廣祺

      (1.國家黃金鉆石制品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心,山東 濟(jì)南 250014;2.山東省計(jì)量科學(xué)研究院,山東 濟(jì)南 250014;3.山東省社會公正計(jì)量行,山東 濟(jì)南 250014)

      電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀(ICP-OES)具有檢出限低、線性范圍寬、多元素同時測定、分析速度快、較寬的標(biāo)準(zhǔn)曲線線性范圍以及良好的精密度和重復(fù)性等優(yōu)點(diǎn),是實(shí)驗(yàn)室常用的分析儀器[1-2].當(dāng)前,國內(nèi)采用國標(biāo)GB/T21198.4-2007[3]來檢測金含量999‰及以上金首飾中的雜質(zhì)元素.在使用美國Thermo IRIS IntrepidⅡ型電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀測定含金基體溶液中的雜質(zhì)元素時[4],發(fā)現(xiàn)所用儀器曾屢次出現(xiàn)短期內(nèi)靈敏度下降及穩(wěn)定性變差等現(xiàn)象.針對此現(xiàn)象,筆者從儀器結(jié)構(gòu)及分析工作原理[5-7]入手,通過反復(fù)試驗(yàn)和分析,最終解決上述問題,使儀器恢復(fù)正常使用狀態(tài).本文詳細(xì)描述了儀器故障判斷、排除與維修過程和思路,可為ICP-OES故障維修、使用人員借鑒.

      1 試驗(yàn)部分

      1.1 儀器與試劑

      Thermo IRIS Intrepid II型電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀(ICP-OES),美國熱電.HCl(優(yōu)級純),HNO3(優(yōu)級純),高純金(金含量為999.99‰).單元素標(biāo)準(zhǔn)溶液: Ag、Cd、Cr、Cu、Fe、Ni、Pb、Zn、Sn(質(zhì)量濃度1 000 μg/mL),國家一級標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì).試驗(yàn)用水為一級去離子水.

      1.2 標(biāo)準(zhǔn)溶液的配制

      1.2.1 配置A、B、C金基體標(biāo)準(zhǔn)系列溶液

      稱取100克999.99‰高純金,用王水加熱溶解完全,用濃鹽酸趕硝酸后,轉(zhuǎn)入2 000 mL容量瓶,控制鹽酸酸度在10%以上,定容搖勻,分別配置A、B、C各系列含金基體標(biāo)準(zhǔn)溶液,其元素質(zhì)量濃度均為0.0、1.0、2.0、3.0、5.0、10.0 μg/mL.A系列:Ag、Cd、Cr、Cu、Fe、Ni、Pb、Zn、Sn;B系列:Pd、Ru、Rh、Ti、Mn、Ir、Pt、Bi;C系列:Al、Cr、Mg、Se、Si、Te、As.

      1.2.2 儀器測試

      ICP-OES工作條件如下:氬氣(≥99.995%)供氣壓力0.6 MPa,射頻輸入功率1 150 W,冷卻氣流量 15 L/min,輔助氣流量 1.0 L/min,霧化氣壓力0.207 MPa,蠕動泵泵速 100 r/min,重復(fù)測定2次.樣品曝光時間:紫外光區(qū)10 s,可見光區(qū)8 s.以強(qiáng)度值為縱坐標(biāo),被測元素的質(zhì)量濃度為橫坐標(biāo),對標(biāo)準(zhǔn)溶液進(jìn)行測試,并繪制工作曲線.

      2 結(jié)果與討論

      2.1 異常現(xiàn)象

      日常工作中經(jīng)常遇到儀器開機(jī)正常,但測定時出現(xiàn)測定值不正常的現(xiàn)象.本次開機(jī)后例行標(biāo)準(zhǔn)曲線斜率核查,發(fā)現(xiàn)測定靈敏度變化極為異常.例如:分別測定A系列1.00、2.00、5.00 μg/mL標(biāo)準(zhǔn)溶液,以配制濃度為準(zhǔn),對比本次測得濃度計(jì)算出回測率,對比情況如表1~3所列.

      表1 A系列 1.00 μg/mL標(biāo)準(zhǔn)曲線斜率核查

      表2 A系列 2.00 μg/mL標(biāo)準(zhǔn)曲線斜率核查

      表3 A系列 5.00 μg/mL標(biāo)準(zhǔn)曲線斜率核查

      由表1 ~3可見:A系列元素多數(shù)不正常,總體規(guī)律為靈敏度下降極為嚴(yán)重且各標(biāo)準(zhǔn)點(diǎn)相對原標(biāo)準(zhǔn)曲線規(guī)律性很差.其中:(1)Ag、Cr、Cu、Zn靈敏度極低,除Zn外,其余約為原測定值的30%,Ag、Cr、Cu均在10%及以下.(2)Fe、Pb離散度極大毫無可信度.(3)Cd、Ni基本正常.(4)Sn因處紫外區(qū)短波邊緣故暫不做評述.

      考慮是否元素的因素,更換B、C系列繼續(xù)核查,結(jié)果如表4~5所列.

      由表1~5可見:A、B、C三系列各元素(除個別元素因特定原因,如Pt、Ir、Ru譜線受干擾外)總體表現(xiàn)為靈敏度下降且幅度差異較大,并且與各系列無關(guān).同時,部分元素行為異常,重現(xiàn)性很差.以A系列各元素為例,如表6所列.

      表4 B系列 5.00 μg/mL標(biāo)準(zhǔn)曲線斜率核查

      表5 C系列 1.00 μg/mL標(biāo)準(zhǔn)曲線斜率核查

      表6 A系列各元素回收率相對標(biāo)準(zhǔn)偏差

      2.2 故障判斷

      2.2.1 靈敏度下降

      學(xué)生選拔方面:在學(xué)生高考成績作為選拔基礎(chǔ)上,充分考慮學(xué)生興趣愛好、特長特點(diǎn),全面綜合的衡量學(xué)生的未來發(fā)展是否符合實(shí)驗(yàn)班選拔標(biāo)準(zhǔn),也可通過開學(xué)后重新進(jìn)行實(shí)驗(yàn)班的選拔筆試和面試,綜合考察后進(jìn)行學(xué)生選拔。

      靈敏度下降需著重考慮的主要方面:(1)氬氣壓力或流量降低.經(jīng)仔細(xì)觀察與檢測,氬氣壓力穩(wěn)定,輸出流量恒定,不隨測定時間而改變,可排除氬氣的影響.(2)原子化特別是霧化系統(tǒng)中玻璃霧化器噴嘴堵塞致使樣品溶液提升量減小.將玻璃霧化器置于溫?zé)岬?+1王水中浸泡30 min,沖洗干凈后在無水乙醇中沖洗,取出干燥后顯微鏡下觀察,未見固體顆粒堵塞物(r如圖1所示).裝機(jī)測試,雖有所改進(jìn)但未從根本上解決問題,且時而有效時而毫無成效.可見此次儀器故障,霧化器的影響不是問題的關(guān)鍵所在.況且霧化器噴嘴堵塞多為突然形成,靈敏度也將隨之突然下降.

      2.2.2 波長漂移帶來的分析譜線中心波長的偏離

      分析表1~3,將A系列九元素分析波長,按本儀器光柵的兩個光區(qū)分界波長238 nm為界,分為高于238 nm的可見光區(qū)元素,與低于238 nm的紫外光區(qū)元素,觀察其靈敏度變化情況,結(jié)果如表7、8所列.

      表7~8數(shù)據(jù)顯示,可見光區(qū)元素與紫外光區(qū)元素其靈敏度變化行為各有不同,除靈敏度未發(fā)生變化的Ni和變化幅度稍小的Cd位于紫外光區(qū)外,未再發(fā)現(xiàn)其他具有一致性規(guī)律.且ICP-OES儀器顯示分光系統(tǒng)的光室溫度為設(shè)定值90±0.5 ℉,雖然此儀器過往曾有過光室溫度控制失靈,但自經(jīng)我們修復(fù)后此故障再未重現(xiàn),經(jīng)觀察光室溫度監(jiān)控沒有失控跡象.

      表7 A系列可見光區(qū)元素波長與靈敏度

      表8 A系列紫外光區(qū)元素波長與靈敏度

      綜上所述,試驗(yàn)與數(shù)據(jù)分析表明,可排除氬氣及霧化器堵塞與波長漂移所致靈敏度下降.

      2.2.3 光電轉(zhuǎn)換器件—電荷注入固體檢測器(CID)結(jié)霜

      鑒于各元素靈敏度下降幅度差異不一且無規(guī)律,說明影響各元素靈敏度的因素不一致.由此推測應(yīng)與儀器電路、氣路和光學(xué)系統(tǒng)(分光系統(tǒng)和光路)無關(guān),而與光電轉(zhuǎn)換器件—電荷注入固體檢測器(CID)有關(guān)聯(lián),故將排查重點(diǎn)指向CID.為此采用A系列含金基體標(biāo)準(zhǔn)溶液分別做可見光區(qū)與紫外光區(qū)全譜圖,結(jié)果如圖2~5所示.

      圖2 可見光區(qū)全譜圖

      圖3 (a)可見光區(qū)Ag、Cr、Cu、Fe被結(jié)霜覆蓋放大圖,(b)局部放大圖

      由圖3(a)可見,Ag、Cr、Cu受結(jié)霜影響十分嚴(yán)重,而Fe則明顯次之.此規(guī)律與表6所得出的靈敏度下降結(jié)論完全相吻合.對可見光Ag、Cu、Cr采光點(diǎn)進(jìn)一步放大(見圖3(b)),可見Ag、Cu、Cr采光點(diǎn)與結(jié)霜區(qū)的重疊,結(jié)霜程度層次清晰可見.

      同理,紫外區(qū)也被輕度結(jié)霜覆蓋.由圖 4可見,A系列紫外區(qū)中,Zn被輕度結(jié)霜覆蓋,前述Zn靈敏度回收率約為30%,應(yīng)與此相關(guān).Ni、Cd未受太大干擾,靈敏度基本正常.Pb雖然未受影響,但此次重現(xiàn)性很差,可能的原因?yàn)镻b原本靈敏度就極低,稍有干擾則波動極大,故表現(xiàn)為相對穩(wěn)定性較差.Sn因處紫外區(qū)短波邊緣故暫不做評述.

      圖4 紫外光區(qū)全譜圖

      圖5(a)放大后顯示出 Zn亦也處于輕微結(jié)霜覆蓋區(qū),部分靈敏度下降,與前述測定結(jié)果相近.圖5(b)Cd未受結(jié)霜影響,其光點(diǎn)輪廓清晰明亮,靈敏度正常.

      圖5 (a)紫外光區(qū) Zn放大圖,(b)紫外光區(qū)Cd放大圖

      2.3 故障排除

      關(guān)閉儀器電源,用氬氣吹掃幾天之后,開機(jī)點(diǎn)燃等離子矩焰,在穩(wěn)定30 min、CID溫度為-42 ℃情況下,進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)曲線線性核查,結(jié)果如表9所列.

      由表9可見,上次開機(jī)所測數(shù)據(jù)與本次開機(jī)所測數(shù)據(jù)吻合程度良好.采用A系列含金基體標(biāo)準(zhǔn)溶液分別再做可見光區(qū)(圖6(a))與紫外光區(qū)全譜圖(圖6(b)).

      由圖6可見,全譜圖清晰可見各元素不同譜線光點(diǎn),各光點(diǎn)輪廓規(guī)則邊界分明,全無重疊背景.表明CID結(jié)霜現(xiàn)象完全消失,故障排除,儀器恢復(fù)正常.

      表9 維修后 A系列 5.00 μg/mL標(biāo)準(zhǔn)曲線斜率核查

      圖6 (a)故障排除后可見光區(qū)全譜譜圖,(b)故障排除后紫外光區(qū)全譜譜圖

      2.4 原因分析

      此次儀器出現(xiàn)故障的原因:當(dāng)時儀器室內(nèi)長時間濕度大,且較長時間未開機(jī)運(yùn)行儀器,特別是供氬操作失誤即開氬氣與開機(jī)前后順序顛倒.這一易被忽視的錯誤操作,將與不同的外界環(huán)境產(chǎn)生截然不同的后果:(1)若儀器室內(nèi)濕度不大,且經(jīng)常開機(jī)運(yùn)行儀器,則不會出現(xiàn)光電轉(zhuǎn)換元件結(jié)霜.(2)若儀器室內(nèi)長時間濕度大,開機(jī)時間很短,儀器CID尚未降溫至冰點(diǎn)以下之前隨即打開氬氣,CID也不會結(jié)霜.(3)一旦錯誤操作,CID溫度已經(jīng)降至冰點(diǎn)以下之后打開氬氣,則CID就會結(jié)霜.由于ICP儀器經(jīng)常出現(xiàn)靈敏度不正常現(xiàn)象,即便錯誤操作也不一定就會導(dǎo)致CID結(jié)霜,所以很難引起重視及考慮這方面的因素,但我國南方高濕度地區(qū)此現(xiàn)象出現(xiàn)的幾率較大,對此需予以重視.

      總之,應(yīng)嚴(yán)格遵守儀器開機(jī)程序要求操作儀器,前后順序不可顛倒或混亂.建議ICP開機(jī)時一定要先開通氬氣,使氣路與光室充滿氬氣并吹掃一定時間后再啟動儀器電源開關(guān),在夏天及高濕氣候環(huán)境中,此點(diǎn)尤為重要.

      3 結(jié)語

      采用美國Thermo IRIS Intrepid II ICP-OES,依據(jù)國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T21198.4-2007測定金合金飾品中Ag等雜質(zhì)元素時,儀器出現(xiàn)靈敏度下降、穩(wěn)定性變差等現(xiàn)象,通過試驗(yàn)分析,對可能產(chǎn)生故障的原因進(jìn)行排查,最終鎖定故障根源,解決了儀器因CID結(jié)霜所導(dǎo)致靈敏度下降、穩(wěn)定性變差的問題,使儀器恢復(fù)正常使用狀態(tài).

      一些大型精密分析儀器在長時間使用過程中,可能會出現(xiàn)檢測數(shù)據(jù)不正?,F(xiàn)象,其中以靈敏度下降為多.本文通過排除此次故障這個過程,可加深對儀器的性能及原理結(jié)構(gòu)的了解,為以后儀器的維修和保養(yǎng)提供參考.

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