金建華,吳啟勛,李 傲
(青海民族大學(xué)化學(xué)化工學(xué)院,青海西寧 810007)
自Wiener 提出第一個(gè)拓?fù)渲笖?shù)以來(lái),拓?fù)渲笖?shù)法在分子結(jié)構(gòu)與性質(zhì)關(guān)系研究領(lǐng)域中發(fā)揮著重要作用[1-3]。拓?fù)渲笖?shù)是用數(shù)值的形式來(lái)表征分子的結(jié)構(gòu)信息。本文基于成鍵原子的電負(fù)性、成鍵原子價(jià)電子軌道能級(jí)和原子半徑,定義了一個(gè)結(jié)構(gòu)特征參數(shù)δi,在Randic 分子價(jià)連接性拓?fù)渲笖?shù)的基礎(chǔ)上,采用結(jié)構(gòu)特征參數(shù)δi構(gòu)建了堿金屬鹵化物新的連接性拓?fù)渲笖?shù)mV,并用拓?fù)渲笖?shù)mV對(duì)堿金屬鹵化物的標(biāo)準(zhǔn)摩爾熵、標(biāo)準(zhǔn)摩爾生成焓、晶格能、標(biāo)準(zhǔn)摩爾離子水合焓、磁化率、鍵長(zhǎng)等理化性質(zhì)進(jìn)行了相關(guān)性研究,建立的連接性指數(shù)mV易于計(jì)算,模型對(duì)堿金屬鹵化物的理化性質(zhì)具有良好的預(yù)測(cè)性。
成鍵原子在無(wú)機(jī)物分子中的行為特征與電負(fù)性、成鍵原子價(jià)電子軌道能級(jí)和原子半徑密切相關(guān),所以定義了結(jié)構(gòu)特征參數(shù)δi,δi為:
式中X、E、R分別是元素原子的鮑林電負(fù)性、成鍵原子價(jià)電子軌道能級(jí)、原子半徑,構(gòu)建的新連接性拓?fù)渲笖?shù)mV為:
其中,mV的0 階指數(shù)(0V)和1 階指數(shù)(1V)計(jì)算公式為:
式(3)中“∑”是對(duì)分子中所有原子個(gè)數(shù)求和;式(4)中的“∑”是對(duì)分子中所有化學(xué)鍵數(shù)求和。堿金屬鹵化物的0 階指數(shù)(0V)和1 階指數(shù)(1V)計(jì)算結(jié)果列于表2、3。以NaCl為例:
將堿金屬鹵化物理化性質(zhì)標(biāo)準(zhǔn)摩爾熵[4]、標(biāo)準(zhǔn)摩爾生成焓[5]、晶格能[6]、標(biāo)準(zhǔn)摩爾離子水合焓[7]、磁化率和鍵長(zhǎng)[8],分別與0V和1V拓?fù)渲笖?shù)進(jìn)行線性回歸,擬合得到回歸方程,見(jiàn)表1。
表1 堿金屬鹵化物的QSPR模型及回歸參數(shù)
表1中,r、SD、N、P分別為相關(guān)系數(shù)、標(biāo)準(zhǔn)偏差、樣本數(shù)、概率值。堿金屬鹵化物的標(biāo)準(zhǔn)摩爾熵、標(biāo)準(zhǔn)摩爾生成焓、晶格能、標(biāo)準(zhǔn)摩爾離子水合焓、磁化率、鍵長(zhǎng)等模型的概率值P均小于0.000 1,為顯著水平,回歸模型的相關(guān)系數(shù)r值均大于0.950(r≥0.990 為優(yōu)級(jí);0.950≤r<0.990 為良級(jí))模型中自變量0V和1V與對(duì)應(yīng)的性質(zhì)間有良好的線性關(guān)系。相關(guān)堿金屬鹵化物的理化性質(zhì)數(shù)據(jù)列于表2、3,其中,抽取堿金屬鹵化物中的17個(gè)樣本作為訓(xùn)練集,3個(gè)樣本作為預(yù)測(cè)集。
表2 拓?fù)渲笖?shù)0V、1V與堿金屬鹵化物理化性質(zhì)數(shù)據(jù)(一)
表3 拓?fù)渲笖?shù)0V、1V與堿金屬鹵化物理化性質(zhì)數(shù)據(jù)(二)
回歸模型相關(guān)系數(shù)R、標(biāo)準(zhǔn)偏差SD、概率值P是作為評(píng)價(jià)模型是否合理的重要參數(shù)。連接性拓?fù)渲笖?shù)0V、1V與堿金屬鹵化物的晶格能、標(biāo)準(zhǔn)摩爾熵、磁化率、標(biāo)準(zhǔn)摩爾生成焓、標(biāo)準(zhǔn)摩爾離子水合焓、鍵長(zhǎng)等回歸模型的相關(guān)系數(shù)r值均大于0.950(r≥0.990 為優(yōu)級(jí);0.950≤r<0.990 為良級(jí)),表明模型中自變量0V和1V與對(duì)應(yīng)的性質(zhì)間有良好的線性關(guān)系,拓?fù)渲笖?shù)0V、1V對(duì)堿金屬鹵化物理化性質(zhì)的預(yù)測(cè)能力強(qiáng)。標(biāo)準(zhǔn)偏差SD值越小,表明建立的回歸模型可靠,有良好的預(yù)測(cè)能力。隨機(jī)抽取3 個(gè)樣本,即表2、3 中的預(yù)測(cè)集,用回歸方程對(duì)預(yù)測(cè)集樣本進(jìn)行預(yù)測(cè),晶格能、標(biāo)準(zhǔn)摩爾熵、磁化率、鍵長(zhǎng)、標(biāo)準(zhǔn)摩爾離子水合焓、標(biāo)準(zhǔn)摩爾生成焓的平均相對(duì)誤差分別為0.475%、12.38%、8.87%、5.6%、3.12%、2.14%,表明回歸模型能較準(zhǔn)確預(yù)測(cè)堿金屬鹵化物的理化性質(zhì)。
由堿金屬鹵化物理化性質(zhì)實(shí)測(cè)值與預(yù)測(cè)值對(duì)比圖(圖1~6)可知,實(shí)測(cè)值與預(yù)測(cè)值均非常接近,基本處于一條直線上,即二者存在良好的線性關(guān)系。由表2、3 也可知,實(shí)測(cè)值與預(yù)測(cè)值相差非常小,故可以推測(cè)建立的模型能較好地預(yù)測(cè)堿金屬鹵化物的理化性質(zhì)。由此,可以得出回歸模型穩(wěn)定的結(jié)論,能用于預(yù)測(cè)堿金屬鹵化物理化性質(zhì)。
圖1 標(biāo)準(zhǔn)摩爾生成焓實(shí)測(cè)值與預(yù)測(cè)值對(duì)比圖
圖2 標(biāo)準(zhǔn)摩爾熵實(shí)測(cè)值與預(yù)測(cè)值對(duì)比
圖3 磁化率實(shí)測(cè)值與預(yù)測(cè)值對(duì)比
圖4 鍵長(zhǎng)實(shí)測(cè)值與預(yù)測(cè)值對(duì)比
圖5 晶格能實(shí)測(cè)值與預(yù)測(cè)值對(duì)比
圖6 標(biāo)準(zhǔn)摩爾離子水合焓實(shí)測(cè)值與預(yù)測(cè)值對(duì)比
圖7~12是堿金屬鹵化物理化性質(zhì)殘差分布圖,由圖可以看出,殘差值以0為中心,呈左右對(duì)稱(chēng)分布,殘差分布基本呈現(xiàn)正態(tài)分布,說(shuō)明拓?fù)渲笖?shù)mV構(gòu)建合理,實(shí)測(cè)值與預(yù)測(cè)值誤差小,用線性回歸方法獲得的QSPR 模型預(yù)測(cè)能力強(qiáng),可以有效地對(duì)堿金屬鹵化物理化性質(zhì)進(jìn)行預(yù)測(cè)。
圖7 晶格能殘差分布圖
圖8 標(biāo)準(zhǔn)摩爾熵殘差分布圖
圖9 磁化率殘差分布圖
圖10 鍵長(zhǎng)殘差分布圖
圖11 標(biāo)準(zhǔn)摩爾離子水合焓殘差分布圖
圖12 標(biāo)準(zhǔn)摩爾生成焓殘差分布圖
從文章所定義的結(jié)構(gòu)特征參數(shù)(δi)可知,結(jié)構(gòu)特征參數(shù)越大,原子間的吸引力越強(qiáng)。0V、1V拓?fù)渲笖?shù)反映了分子的結(jié)構(gòu)信息:0V中的“∑”是對(duì)分子中所有原子個(gè)數(shù)求和,它反映了分子中原子對(duì)0V的貢獻(xiàn),原子越多,對(duì)0V的貢獻(xiàn)越大;1V中的“∑”是對(duì)分子中所有化學(xué)單鍵數(shù)求和,化學(xué)鍵越多,原子間的作用越強(qiáng)。堿金屬鹵化物的鍵長(zhǎng)、標(biāo)準(zhǔn)摩爾熵、磁化率隨著0V、1V值增大而增大,而晶格能、標(biāo)準(zhǔn)摩爾生成焓、標(biāo)準(zhǔn)摩爾離子水合焓則隨著0V、1V值增大而減小,拓?fù)渲笖?shù)mV在原子和分子層次上多方面反映了原子和分子結(jié)構(gòu)信息對(duì)無(wú)機(jī)物理化性質(zhì)的影響。由于每個(gè)原子、分子的結(jié)構(gòu)不同,這使得mV具有良好的區(qū)分度,必然使mV與堿金屬鹵化物的理化性質(zhì)存在優(yōu)良的相關(guān)性??傊?,新構(gòu)建的連接性拓?fù)渲笖?shù)mV對(duì)堿金屬鹵化物的結(jié)構(gòu)具有好的區(qū)分能力和優(yōu)良的結(jié)構(gòu)選擇性,對(duì)堿金屬鹵化物的理化性質(zhì)具有良好的預(yù)測(cè)性。