劉長(zhǎng)山
(四川迪派銳科技有限公司,綿陽(yáng) 621000)
國(guó)內(nèi)現(xiàn)行的數(shù)字射線成像檢測(cè)常用標(biāo)準(zhǔn)主要有GB/T 3323.2-2019,NB/T 47013.11-2015,SY/T 4109.5-2013等,選擇管道環(huán)焊縫數(shù)字射線成像的最少透照次數(shù)時(shí)幾乎都是參照膠片射線檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn),但是直接引用會(huì)存在很大的局限性,主要是因?yàn)槠桨逄綔y(cè)器呈剛性,無法像膠片一樣緊貼焊縫,且出于對(duì)平板探測(cè)器安全的考慮,其需要與焊縫表面保持一定距離,這樣存在的幾何放大效應(yīng)遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于膠片檢測(cè)的,因此必須要考慮進(jìn)行搭接,以避免漏檢的情況發(fā)生,此外平板探測(cè)器有效成像長(zhǎng)度很有限,常用的大面積平板探測(cè)器有效成像長(zhǎng)度約為300 mm,這就進(jìn)一步影響了透照次數(shù)。管道環(huán)焊縫射線檢測(cè)的主要透照方式為雙壁單影透照和中心內(nèi)透照兩種,從理論或標(biāo)準(zhǔn)角度考慮,兩種方式最少透照次數(shù)所涉及的控制指標(biāo)主要有幾何不清晰度、橫向裂紋檢出角、幾何放大倍數(shù)比、平板探測(cè)器的有效成像長(zhǎng)度以及X射線機(jī)輻射場(chǎng)范圍等,筆者依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)SY/T 4109.5-2013分別對(duì)兩種透照方式影響透照次數(shù)的控制指標(biāo)進(jìn)行逐條分析。
利用數(shù)字射線成像技術(shù)對(duì)環(huán)焊縫進(jìn)行雙壁單影透照的透照布置如圖1所示。
圖1 雙壁單影透照布置示意
圖1中,線段AC≈GI,則
(1)
(2)
根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)SY/T 4109.5-2013要求有
1≥10d·2·T-1/3
(3)
則解出滿足幾何不清晰度的最少透照次數(shù)
N1=π/α
(4)
可以采用公式計(jì)算[1]或直接查標(biāo)準(zhǔn)附錄的最少透照次數(shù)圖來確定最少透照次數(shù)N2。因?yàn)橛?jì)算公式和標(biāo)準(zhǔn)附錄的最少透照次數(shù)圖均以膠片射線照相檢測(cè)為基礎(chǔ),計(jì)算焦距F時(shí)未考慮h,所以計(jì)算數(shù)字射線成像檢測(cè)的最少透照次數(shù)時(shí),需要將F-h作為公式中或查圖縱坐標(biāo)中的F值,代入計(jì)算公式求出N2。
標(biāo)準(zhǔn)SY/T 4109.5-2013,GB/T 3323.2-2019均規(guī)定了最大幾何放大倍數(shù)Mmax與最小幾何放大倍數(shù)Mmin之比應(yīng)不大于1.25,即
Mmax=F/1
(5)
Mmin=F/(φo+H)
(6)
Mmax/Mmin≤1.25
(7)
因此
N3=π/α
(8)
SY/T 4109.5-2013及NB/T 47013.11-2015標(biāo)準(zhǔn)均規(guī)定分段透照時(shí),兩邊相鄰搭接長(zhǎng)度ΔL不小于10 mm,根據(jù)幾何關(guān)系
(9)
(10)
(11)
N4=π/α
(12)
式中:l為圖1中D點(diǎn)到M點(diǎn)的距離;N4為最大長(zhǎng)度對(duì)應(yīng)的最小透照次數(shù)。
雙壁單影透照一般使用定向X射線機(jī),按靶面角度(定向X射線機(jī)固有的半輻射角)為20°計(jì)算,則有效輻照?qǐng)鲩L(zhǎng)度為2Ftan 20°≈0.73F,對(duì)于常規(guī)透照,其遠(yuǎn)大于有效評(píng)定長(zhǎng)度Leff,因此除小徑管平移法雙壁雙影橢圓成像外,可以不考慮輻射場(chǎng)的影響。
綜上,N1,N2,N3,4向上取最小整數(shù)值,然后選擇4個(gè)數(shù)值中最大值作為雙壁單影透照最終的最少透照次數(shù)N,并可得半圓心角α=π/N;一次透照長(zhǎng)度L3=πφo/N。由于探測(cè)器與探測(cè)器側(cè)管道外壁存在一定距離(h),且探測(cè)器為剛性平面,因此探測(cè)器采集的數(shù)字圖像上有效評(píng)定長(zhǎng)度Leff要大于L3,可根據(jù)幾何關(guān)系求出Leff,即
Leff=Fφisinα/1
(13)
現(xiàn)以雙壁單影透照φ813 mm×22 mm(外徑×公稱厚度)管道環(huán)焊縫為例計(jì)算平板探測(cè)器滿足SY/T 4109.5-2013標(biāo)準(zhǔn)的最少透照次數(shù)N及有效評(píng)定長(zhǎng)度Leff。對(duì)于典型的管道環(huán)焊縫雙壁單影透照數(shù)字射線自動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng),d為3 mm,H為250 mm,h為25 mm,L為305 mm,k為1.1。
根據(jù)1.11.4節(jié)分別求得N1=7,N2=5,N3=4,4=10,因此最少透照次數(shù)為10次,對(duì)應(yīng)的α=18°,有效評(píng)定長(zhǎng)度Leff=268.27 mm,每邊的搭接長(zhǎng)度ΔL=18.37 mm。使用SOLIDWORKS軟件進(jìn)行構(gòu)圖驗(yàn)算,當(dāng)N=10時(shí),α=17.99°,k=1.02,1=1 020.84 mm,2=67.16 mm,有效評(píng)定長(zhǎng)度Leff=261.91 mm,每邊的搭接長(zhǎng)度ΔL=21.54 mm,可見誤差并不大,且文章中計(jì)算的ΔL比真實(shí)ΔL小,更加有利于缺陷的檢出。
由N1,N2,N3,4可知,按不同條件演算出的最少透照次數(shù)差距很大,原因在于管徑曲率的影響和探測(cè)器有效成像長(zhǎng)度的限制。對(duì)于直徑較大管道(φo≥508 mm;常用厚度),實(shí)際應(yīng)用可以直接計(jì)算N2,4,然后取最大值作為最少透照次數(shù),一般可以滿足標(biāo)準(zhǔn)要求。
利用平板探測(cè)器對(duì)環(huán)焊縫進(jìn)行中心內(nèi)透照的透照布置如圖2所示。
圖2 中心內(nèi)透照布置示意
圖2中,CD≈2,則
(14)
(15)
根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)SY/T 4109.5-2013有
1≥10d·2·T-1/3
(16)
則滿足幾何不清晰度的最少透照次數(shù)
N5=π/α
(17)
CD為圖中C點(diǎn)到D點(diǎn)的距離。
計(jì)算原理與上節(jié)相同,則有
Mmax=F/1
(18)
(19)
Mmax/Mmin≤1.25
(20)
N6=π/α
(21)
計(jì)算原理與上節(jié)相同,則有
(22)
N7=π/α
(23)
綜上,N5,N6,N7向上取最小整數(shù)值,然后選擇3個(gè)數(shù)值中的最大值作為中心內(nèi)透照最終的最少透照次數(shù)N,并可得半圓心角α=π/N及一次透照長(zhǎng)度L3=π·φo/N。然后根據(jù)幾何關(guān)系求出Leff,即
Leff=F·φi·sinα/1
(24)
現(xiàn)以中心內(nèi)透照φ1 422 mm×25 mm(外徑×壁厚)管道環(huán)焊縫為例計(jì)算平板探測(cè)器滿足SY/T 4109.5-2013標(biāo)準(zhǔn)的最少透照次數(shù)及有效評(píng)定長(zhǎng)度。對(duì)于典型的管道環(huán)焊縫中心內(nèi)透照數(shù)字射線自動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng),d為3 mm,h為25 mm,L為305 mm。
根據(jù)2.12.3節(jié)分別求得N5=16,N6=6,N7=17,因此最少透照次數(shù)取17,對(duì)應(yīng)的α=10.59°,有效評(píng)定長(zhǎng)度Leff=275.60 mm,每邊的搭接長(zhǎng)度ΔL=14.70 mm。同樣使用SOLIDWORKS軟件進(jìn)行構(gòu)圖驗(yàn)算,當(dāng)N=17時(shí),α=10.58°,1=674.33 mm,2=61.67 mm,有效評(píng)定長(zhǎng)度Leff=275.02 mm,每邊的搭接長(zhǎng)度ΔL=14.99 mm,可見誤差并不大。
標(biāo)準(zhǔn)SY/T 4109-2013附錄G中確定最少透照次數(shù)的公式綜合考慮了幾何不清晰度和探測(cè)器固有不清晰度,但是由于涉及隱函數(shù)較多,求解很復(fù)雜,此外圖像不清晰度(分辨率)可以使用補(bǔ)償原則進(jìn)行補(bǔ)償,也可以使用雙線型像質(zhì)計(jì)直接測(cè)定,因此并未考慮此方法。筆者所用方法借助EXCEL軟件或者數(shù)學(xué)軟件構(gòu)建關(guān)系,可以方便、快捷地確定管道環(huán)焊縫的最少透照次數(shù),比直接參照射線膠片照相檢測(cè)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定最少透照次數(shù)更加嚴(yán)謹(jǐn),可為從事環(huán)焊縫數(shù)字射線成像檢測(cè)的人員提供參考。