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      快響應(yīng)電磁閥冷試與熱試響應(yīng)時間差異性分析

      2022-08-29 09:36:44韋春花伍家威
      中國新技術(shù)新產(chǎn)品 2022年10期
      關(guān)鍵詞:電磁閥線圈電阻

      丁 洋 謝 彪 韋春花 陳 宗 伍家威

      (貴州航天朝陽科技有限責(zé)任公司,貴州 遵義 563000)

      0 引言

      精準(zhǔn)控制飛行器姿態(tài),關(guān)鍵在于發(fā)動機(jī)響應(yīng)時間足夠小,發(fā)動機(jī)響應(yīng)時間足夠小,核心在于電磁閥足夠快。為了表征電磁閥動作的快慢,引入了電磁閥響應(yīng)時間。其中,開機(jī)響應(yīng)時間為額定工況下,電磁閥接收到開機(jī)信號至閥芯完全打開的時間;關(guān)機(jī)響應(yīng)時間為額定工況下,電磁閥接收到關(guān)機(jī)信號至閥芯完全關(guān)閉的時間。

      響應(yīng)時間是電磁閥的重要特性[1],在使用前調(diào)試好,是發(fā)動機(jī)研制過程的一項重要工作內(nèi)容[2]。一般將電磁閥在非額定工況下的調(diào)試稱為冷試測試,簡稱為冷試;在額定工作條件下的試驗稱為熱試車試驗,簡稱熱試。當(dāng)前研究者主要關(guān)心如何提高電磁閥的冷試響應(yīng)時間[3],對電磁閥在冷試與熱試響應(yīng)時間的差異鮮有關(guān)注。

      然而,該文在發(fā)動機(jī)的研制過程中發(fā)現(xiàn),電磁閥響應(yīng)時間在調(diào)試與實際使用時存在較大差異。具體表現(xiàn)為電磁閥冷試時響應(yīng)時間合格,在熱試時不合格,甚至導(dǎo)致了發(fā)動機(jī)的響應(yīng)時間不能滿足技術(shù)要求。為此,該文對電磁閥在冷試與熱試差異的原因進(jìn)行了探究。

      1 問題模型

      電磁閥從原理上可分為三類。直通式電磁閥、分布直動式電磁閥和先導(dǎo)式電磁閥。該文主要以直通式電磁閥為研究對象,其一般由線圈組件、彈簧、銜鐵組件組件及其他結(jié)構(gòu)件、密封件、接頭等組成。斷電時,閥芯靠彈簧壓力與閥前壓力壓緊密封,閥門處于關(guān)閉狀態(tài);通電時,線圈組件產(chǎn)生電流,進(jìn)而產(chǎn)生磁通力,通過克服彈簧力與閥前壓力,使銜鐵組件移動,帶動閥芯打開。當(dāng)銜鐵運(yùn)動到位時,閥芯開度也完全打開,此時電磁閥處于打開狀態(tài)。

      按照電磁閥的工作特點,將電磁閥電流曲線上的4個拐點進(jìn)行劃分,得到電磁閥的響應(yīng)時間,示意圖見圖1。

      圖1 電磁閥電流曲線示例圖

      當(dāng)需要電磁閥開機(jī)時,系統(tǒng)給定開機(jī)信號,電磁閥接到信號后,線圈兩端加載電壓,線圈電流開始增大,電磁閥內(nèi)的銜鐵組件受到的吸力也增大,當(dāng)吸力大于反力后,銜鐵組件開始運(yùn)動,此時的電流達(dá)到觸動電流I1,從電磁閥接收到開機(jī)信號至電流達(dá)到I1的時間,稱為吸合觸動時間t1;從銜鐵組件開始運(yùn)動到運(yùn)動結(jié)束經(jīng)歷的時間,稱為吸合運(yùn)動時間t2,此時電磁閥閥芯從完全關(guān)閉到完全打開。

      當(dāng)電磁閥關(guān)機(jī)時,電磁閥兩端斷電,電流從穩(wěn)定電流I2開始下降,銜鐵組件受到的電磁力也開始下降,當(dāng)電流下降至釋放電流I3時,銜鐵組件無法保持原狀態(tài)開始運(yùn)動,將接收到關(guān)機(jī)信號至銜鐵組件開始運(yùn)動的時間稱為釋放觸動時間t3;銜鐵組件從吸合狀態(tài)轉(zhuǎn)變?yōu)獒尫艩顟B(tài),直至運(yùn)動到位經(jīng)歷的時間稱為釋放運(yùn)動時間t4。

      電磁閥開機(jī)響應(yīng)時間tk如公式(1)所示。

      電磁閥關(guān)機(jī)響應(yīng)時間tg如公式(2)所示。

      對電磁閥冷試與熱試的響應(yīng)時間進(jìn)行統(tǒng)計,分別見表1與表2。其中冷試與熱試最小差異為-17.7%,最大差異為38.2%;而在關(guān)機(jī)響應(yīng)時,其冷試與熱試最小差異為41.7%,最大差異為82.6%。

      表1 某型號電磁閥冷試與熱試開機(jī)響應(yīng)統(tǒng)計

      表2 某型號電磁閥冷試與熱試關(guān)機(jī)響應(yīng)統(tǒng)計

      2 結(jié)果與分析

      該文分別對電磁閥開啟與關(guān)閉時的受力模型進(jìn)行分析。當(dāng)電磁閥開啟時,其受力如公式(3)所示。

      式中:F開合為電磁閥開啟合力;F電磁力為電磁閥線圈通電后產(chǎn)生的電磁力;FP1為閥芯上游壓力作用于閥芯的力;FP2為閥芯下游壓力作用于閥芯的力;F彈為彈簧力。

      當(dāng)電磁閥關(guān)閉時,其受力如公式(4)所示。

      式中:F關(guān)合為電磁閥關(guān)機(jī)合力;F電磁力(余)為關(guān)機(jī)后殘余電勢產(chǎn)生的電磁力。

      2.1 F電磁力的影響因素

      由麥克斯韋公式可得公式(5)。

      式中:μ0為真空磁導(dǎo)率,單位N/A2;B為磁極表面的磁感應(yīng)強(qiáng)度,單位T;n0為線圈數(shù);A為磁極的面積,單位m2。

      簡化可得公式(6)。

      對確定的電磁閥,其線圈材料確定,線徑確定,μ0與A均不變。

      磁感應(yīng)強(qiáng)度由畢奧-薩法爾-拉普拉斯定律可得公式(7)。

      式中:r為到導(dǎo)線的距離;I為電流大小。

      因此,I越大,B越大,F(xiàn)電磁力也越大,反之亦然。而當(dāng)且僅當(dāng)I>I1時,電磁閥才能開啟,當(dāng)I

      2.1.1 加載電壓U

      經(jīng)分析該文發(fā)現(xiàn),在冷試測試中,因采集系統(tǒng)距離試驗臺較遠(yuǎn),從電源輸出至電磁閥之間的電纜較長。當(dāng)輸出電源為額定壓力U時,加載于電磁閥上的電壓受電纜線阻的影響,低于額定壓力。而在熱試測試時,為保證電磁閥的性能,連接的電纜較短,且采用線阻較小的航天電纜,損耗低,加載于電磁閥的電壓處于額定工況。不同的加載電壓導(dǎo)致線圈電流不同,電磁閥開啟時,加載電壓小,電磁力也小,電磁閥開機(jī)合力減小,開機(jī)響應(yīng)變大;而當(dāng)關(guān)機(jī)時,其關(guān)機(jī)合力變大,關(guān)機(jī)響應(yīng)減小。

      因此,為確保冷試與熱試時加載電壓處于額定電壓下,該文通過提高電源輸出電壓,利用數(shù)字萬用表等儀器測試實際加載電壓,保證冷試與熱試時加載電壓均為額定電壓,減小冷試與熱試響應(yīng)時間的差異。同時,通過改造冷試測試系統(tǒng),縮短電纜長度,控制導(dǎo)線材料,也可有效減小二者的差異。

      2.1.2 線圈電阻R

      對一般的電磁閥冷試測試,由于測試介質(zhì)可以冷卻線圈電阻,且測試時間較短,線圈電阻的溫升并不高,遠(yuǎn)低于熱平衡溫度;但當(dāng)電磁閥處于熱試時,受發(fā)動機(jī)燃燒影響,溫度逐漸升高,電磁閥將達(dá)到熱平衡狀態(tài),此時電磁閥線圈溫度將幾倍于冷試時的線圈溫度。

      以該文某型號電磁閥為例,線圈電阻R可通過擬合公式計算得出公式(8)。

      式中:RT為溫度T下線圈電阻;T為線圈實際溫度;R20為20℃下線圈電阻。

      根據(jù)數(shù)據(jù)統(tǒng)計,常溫下的冷試測試線圈溫度約為20℃,熱試時最高可達(dá)80℃。在此條件下,線圈電阻將升高23.5%。在加載電壓不變的情況下,線圈電流將減少23.5%,對應(yīng)F電磁力也將減小,進(jìn)而影響電磁閥的響應(yīng)時間。

      因此,在冷試環(huán)境下,可通過增加介質(zhì)溫度,或給增加電磁閥熱源,或使電磁閥空載通電一定時間,待線圈溫度上升后,再進(jìn)行響應(yīng)時間測試。如此可降低冷試與熱試時因溫度不同導(dǎo)致線圈電阻R不同帶來的差異,同時也可在電磁閥正式使用前對熱可靠性進(jìn)行檢測,提前發(fā)現(xiàn)問題,縮短研制周期,降低研制成本。

      2.2 FP1的影響因素

      FP1越大,電磁閥開機(jī)響應(yīng)越大,關(guān)機(jī)響應(yīng)越小[4]。但對已經(jīng)確定了技術(shù)狀態(tài)的電磁閥,只要保證冷試與熱試時的閥前壓力均為額定壓力,則可認(rèn)為冷試與熱試FP1相同。

      2.3 FP2的影響因素

      當(dāng)電磁閥進(jìn)行熱試時并第一次開機(jī)時,閥芯下游壓力與發(fā)動機(jī)室壓無關(guān),熱試時閥芯下游壓力作用于閥芯的力FP2與冷試時閥芯下游壓力作用于閥芯的力FP2'相同;第一次關(guān)機(jī)時,由于發(fā)動機(jī)殘存壓力,閥芯下游壓力將增大,進(jìn)而使閥芯下游壓力作用于閥芯的力增大,此時FP2>FP2',使F關(guān)合減小,電磁閥關(guān)機(jī)響應(yīng)比冷試時有所增大。當(dāng)電磁閥第二次開機(jī)時,若關(guān)機(jī)間隔時間較短,發(fā)動機(jī)室壓存在壓力,則此時F開合將增大,進(jìn)而導(dǎo)致電磁閥開機(jī)響應(yīng)減小。

      當(dāng)電磁閥頻繁開機(jī)與關(guān)機(jī)時,以一定壓強(qiáng)流動的液體受阻流速突然降低,壓強(qiáng)在較短時間內(nèi)升高,并向上游迅速傳播,在一定條件下發(fā)射回來,產(chǎn)生往復(fù)波動,形成較大的水擊壓力[5]。此時閥芯下游發(fā)動機(jī)壓力將產(chǎn)生波動,在耦合的情況下,將出現(xiàn)閥芯上游壓力低于下游壓力的情況,嚴(yán)重時將導(dǎo)致閥芯被迫打開(此為不合格電磁閥,合格產(chǎn)品不會出現(xiàn)該問題),使推進(jìn)劑流通,造成關(guān)機(jī)響應(yīng)時間延長。

      而在冷試測試中,由于電磁閥外部連通大氣,不受發(fā)動機(jī)熱試時室壓的影響,也不存在閥芯下游壓力大于上游壓力的情況,所在開關(guān)機(jī)過程中的F開合與F關(guān)合與熱試不同,開關(guān)機(jī)響應(yīng)時間與熱試也不同。因此,為保證電磁閥冷試響應(yīng)與熱試響應(yīng)無較大差異,在冷試測試時,在閥芯后下游增加一定的壓降,壓降大小可參照發(fā)動機(jī)額定室壓給定,同時,冷試測試時電磁閥開關(guān)機(jī)間隔時間應(yīng)盡可能模擬其在熱試中的工況,保證測試條件開關(guān)機(jī)工況一致。

      2.4 F彈的影響因素

      F彈受銜鐵組件位移影響,與彈簧的位移量有關(guān)。對同一電磁閥,由于t2與t4較短,一般在1ms~1.5ms左右,且閥芯行程固定,因此,可認(rèn)為冷試與熱試中F彈相同。

      2.5 F電磁力(余)的影響因素

      泄放回路電阻,用于系統(tǒng)斷路后,將電路中殘余的電荷泄放,避免對電路造成惡劣影響。電路中殘余電荷將影響電磁閥殘余電勢[6],若在冷試試驗時不考慮與熱試的泄放電阻差異,將導(dǎo)致電磁閥關(guān)機(jī)響應(yīng)時間的出現(xiàn)差異。

      由圖2可知,在測試中,泄放電阻R1為無窮大時,當(dāng)給定關(guān)機(jī)信號后,電磁閥殘余電勢將很快消失,t3非常小。當(dāng)泄放電阻R1為零,電磁閥殘余電勢消失時間延長,t3增大。在該文對電磁閥進(jìn)行冷試測試時,當(dāng)泄放電阻R1無窮大,關(guān)機(jī)響應(yīng)時間僅5ms,但當(dāng)泄放回路為有限值時,電磁閥關(guān)機(jī)響應(yīng)時間達(dá)到了12ms。因此,為準(zhǔn)確測量冷試與熱試的差異,冷試測試時泄放回路應(yīng)與真實的系統(tǒng)一致,方可在系統(tǒng)上進(jìn)行測試時進(jìn)行比對。

      圖2 泄放回路

      通過分析,該文得出了影響冷試與熱試響應(yīng)時間差異的因素。優(yōu)化測試流程,改善測試條件后,重新對電磁閥進(jìn)行冷試測試,結(jié)果見圖3。顯然,經(jīng)過優(yōu)化測試流程和改善測試條件后的響應(yīng)時間與熱試更加接近,說明該文的分析合理,優(yōu)化與改善有效。

      圖3 優(yōu)化測試流程后電磁閥冷試與熱試響應(yīng)時間對比

      3 結(jié)論

      該文從電磁閥開關(guān)機(jī)時的受力進(jìn)行分析,得出造成電磁閥冷試與熱試響應(yīng)時間差異的4個影響因素。1) 實際加載電壓。冷試與熱試時實際加載電磁閥的電壓應(yīng)保持一致,必要時可使用測量儀器進(jìn)行確定。2) 線圈溫度。應(yīng)在冷試時使電磁閥線圈升溫,縮小與熱試時的差異。3) 閥芯下游壓力。因熱試時電磁閥受閥芯下游的室壓影響,在冷試試驗時應(yīng)在電磁閥后增加一定壓力的壓降。4) 泄放回路電阻。冷試測試的泄放回路電阻應(yīng)與熱試一致。

      通過優(yōu)化影響冷試時電磁閥響應(yīng)時間的測試條件,電磁閥的冷試響應(yīng)時間與熱試響應(yīng)時間一致性更好。該優(yōu)化方法可以應(yīng)用于其他型號電磁閥的冷試測試,為發(fā)動機(jī)調(diào)試提供更準(zhǔn)確的參考。

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