康京山
(中國電子科技集團公司第五十四研究所,河北 石家莊 050081)
為實現(xiàn)產(chǎn)品可靠性,需在全壽命周期開展可靠性工作[1]。但在新產(chǎn)品研發(fā)中不可避免地會引入一些影響可靠性的錯誤、問題或薄弱環(huán)節(jié),如元器件的原材料選型、邏輯或時序設計和各個部分之間的有效協(xié)同,以及抗干擾工序的工藝設計等多方面的問題。
發(fā)現(xiàn)這類問題的方法有兩種:一種是分析方法,另一種是試驗方法。經(jīng)驗表明,約有70%左右的設計缺陷要靠對樣件進行試驗來找出[2]。從國內工程實踐看,由于缺乏嚴謹有效的分析方法,并且在必要的數(shù)據(jù)、知識和經(jīng)驗的積累和運用方面的機制不夠健全,造成在文檔圖紙資料審查或評審中發(fā)現(xiàn)可靠性設計問題能力不足。因此,相關問題在很大程度上需要依賴可靠性試驗的方法去發(fā)現(xiàn)。
然而,傳統(tǒng)的可靠性試驗方法采用模擬產(chǎn)品預期使用應力環(huán)境方法,需要的試驗樣本數(shù)量大,耗時長,成本高,難以在多個產(chǎn)品層次、不同的技術狀態(tài)下充分地開展。而在項目后期通過試驗發(fā)現(xiàn)可靠性方面的設計問題時,所采取的解決方案不可避免地會受到進度、成本和技術狀態(tài)控制等諸多因素的制約,難以實現(xiàn)最優(yōu)化。
為了縮短可靠性試驗周期,美國G K Hobbs博士在20世紀80年代末90年代初提出了高加速壽命試驗(HALT:Highly Accelerated Life Testing)方法[3-5]。該方法認為,與其費力地測量或評價產(chǎn)品的可靠性指標(如平均無故障時間(MTBF:Mean Time Between Failure)),還不如通過試驗快速地發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品可能存在的缺陷并加以改進來提高可靠性水平。而為了保證“快速”,采用在樣品上施加遠超出產(chǎn)品規(guī)范極限的應力并逐步地增大應力量值的方法,以換取試驗時間的縮短,就不失為一種值得提倡的方法。
隨著支持快速溫變和六自由度隨機振動試驗設施的普及,這項技術在航空電子、通信產(chǎn)品和消費電子產(chǎn)品等許多領域中得到了成功的應用[6-10]。例如:文獻[7]報道了在電信設備領域中的應用情況,在試驗時間方面,傳統(tǒng)的可靠性試驗方法所需的時間大多在4~6個月之間,而HALT方法僅需幾周時間;在提高可靠性效果方面,有案例將12 250個經(jīng)HALT改進后的點對多點單元在交付1年后統(tǒng)計現(xiàn)場可靠性,與此前交付試運行1.5年的2 715個未經(jīng)HALT試驗的單元進行對比,發(fā)現(xiàn)現(xiàn)場可靠性提高了將近5倍。
但是,關于HALT,存在以下問題:
1)人們對其概念、原理、方法和應用等還存在模糊的認識甚至誤區(qū),不利于這項技術的正確運用;
2)產(chǎn)品研發(fā)人員往往認為HALT所發(fā)現(xiàn)的故障模式是由過應力造成的,將來在規(guī)定的使用條件下不可能實際發(fā)生,因此,對于設計改進的積極性不高;
3)由于缺乏對HALT技術全面而深入的理解,試驗人員往往只施加常規(guī)的、通用的環(huán)境應力,簡單地逐步增大應力量值,容易出現(xiàn)既大量激發(fā)現(xiàn)場不可能發(fā)生的故障,又遺漏應該得到激發(fā)的故障的現(xiàn)象,損害試驗結果的價值。
因此,迫切地需要對HALT的技術原理及應用進行進一步的研究,使試驗人員正確地運用這項技術取得對于提高產(chǎn)品的可靠性真正有價值的試驗結果,使產(chǎn)品各個相關方全面地了解這項技術,恰當?shù)亟庾x試驗結果,最終使得這項技術得以在更大范圍內推廣應用。
為了對HALT技術及其應用進行全面分析,采用結構化分析方法,按照某種模型將分析對象分解為一系列相互獨立的方面或者子問題分別分析。這樣的模型有多種,結合HALT的特點,本文選擇5W2H模型。
經(jīng)歷了長期發(fā)展的演進,業(yè)界關于HALT有了一定的共識,但是,在不同的應用領域或不同的發(fā)展時期,其概念含義存在一定的差異甚至完成不同。
Hobbs博士給出的描述是“為了發(fā)現(xiàn)設計和制造工藝的缺陷環(huán)節(jié),所使用的每個可能的激勵值均需在加速試驗條件下施加[3]?!?/p>
GB/T 29309的定義是“通過逐步增強施加在試驗樣品上的試驗應力(如溫度、振動快速溫變和振動綜合應力等),確定產(chǎn)品的耐受應力極限的試驗[11]。”
GB/Z 31477(等同采用IEC/TS 62500)并未定義HALT,而是定義了高加速試驗:“對產(chǎn)品或產(chǎn)品的某些部件以步進方式施加環(huán)境應力和(或)工作應力,并逐步地提高到遠超過規(guī)范規(guī)定的應力水平,直到其達到工作和(或)破壞極限為止的試驗[12-13]。”
GB/T 34986認為,作為非指標考核性的加速試驗,HALT不能得到產(chǎn)品的壽命信息,但可以得到產(chǎn)品設計應力極限值信息,為了避免引起誤解,它定義了高加速極限試驗,縮寫同樣為HALT。順便指出,其定義為“在規(guī)定的環(huán)境應力下,用于找出產(chǎn)品最有可能出現(xiàn)的失效模式的試驗或試驗序列[14]?!边@容易使人困惑:不是要超出規(guī)定的環(huán)境應力以壓縮試驗時間嗎?筆者查其等同采用的IEC 62506,發(fā)現(xiàn)該標準中給出的HALT的定義為“用于發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品在規(guī)定應力環(huán)境下最有可能出現(xiàn)的失效模式的試驗或試驗序列[15]。”對比兩個定義發(fā)現(xiàn),后者強調要找出的是產(chǎn)品暴露在規(guī)定應力下也就是實際的使用現(xiàn)場環(huán)境下的失效模式(也被稱為故障模式),而不是限定在規(guī)定的環(huán)境應力下進行試驗。因此,我們認為后者的表述更準確。
GJB 451A[16]將HALT翻譯為高加速應力試驗,其定義是“在產(chǎn)品研制階段,通過步進的方法向產(chǎn)品施加高于技術條件規(guī)定的應力,不斷地找出設計和工藝缺陷加以改進,逐步地提高產(chǎn)品的耐環(huán)境能力,并找出產(chǎn)品承受環(huán)境應力的工作極限和破壞極限的過程?!彼?guī)定了HALT的時機、采用的方法、要達到的目的,定義全面而準確。同時,該標準還定義了與HALT類似的概念可靠性強化試驗(RET),定義為:“通過系統(tǒng)地施加逐步增大的環(huán)境應力和工作應力,激發(fā)和暴露產(chǎn)品設計中的薄弱環(huán)節(jié),以便改進設計和工藝,提高產(chǎn)品可靠性的試驗。它是一種可靠性研制試驗?!盧ET應用和研究也很廣泛,如文獻[17-19]所示。
通過以上分析可知,HALT、高加速極限試驗、高加速試驗、高加速應力試驗和可靠性強化試驗,雖然各個概念強調的重點有所不同,但其實質是相同的,體現(xiàn)了HALT的本質:采用步進應力試驗的方法,激發(fā)設計和工藝缺陷,探測應力極限或裕度,通過改進設計和工藝來提高產(chǎn)品的可靠性而不是測量產(chǎn)品的可靠性指標。因此,可認為這些概念在許多語境下是通用的。
HALT的基本理念是提升可靠性常用方法之一的“試驗-分析-改進(TAAF)循環(huán)”,因此,HALT技術的內容或范疇,不僅包括對受試品進行試驗的過程,還包括分析和改進,不斷地循環(huán)迭代,直到把產(chǎn)品可靠性提高到可以接受的水平為止的全過程。
具體包括以下3個方面的動機。
1.2.1 發(fā)現(xiàn)設計缺陷或故障模式
制約可靠性水平的是產(chǎn)品存在缺陷或設計方面的薄弱環(huán)節(jié)。這些問題用常規(guī)檢測或監(jiān)測手段難以發(fā)現(xiàn),但當產(chǎn)品在使用中長期暴露在應力環(huán)境下時,隨著損傷的累積可能造成故障。HALT通過施加逐漸增大的應力將薄弱環(huán)節(jié)激發(fā)為明顯的缺陷,表現(xiàn)為可檢測故障,從而使薄弱環(huán)節(jié)得到改進。在TAAF循環(huán)中,故障或者缺陷是受歡迎的,因為它們?yōu)楦倪M提供了契機。
1.2.2 獲得應力極限值或裕度
產(chǎn)品在壽命周期貯存、運輸、使用和維護等各種狀態(tài)下,受到環(huán)境和業(yè)務負載各種應力的作用。對于每一種應力,產(chǎn)品實際具有的能力即強度會隨著應力的積累作用而遞減。當產(chǎn)品具有的強度低于實際暴露的應力時,就會發(fā)生故障。因此強度與應力之間的關系,決定著產(chǎn)品的可靠性。
通過HALT可測得產(chǎn)品面對各種應力的工作極限和破壞極限,與規(guī)范極限的差值被稱為設計裕度,可用于以下情形。
a)為是否繼續(xù)對產(chǎn)品進行改進提供決策依據(jù),設計裕度越大,則應力超出產(chǎn)品強度的概率就越小,產(chǎn)品的可靠性就越高;但是,設計裕度越大,意味著成本或其他開銷(如電路復雜性)增大,需權衡決策。
b)在生產(chǎn)階段,可據(jù)此合理地提高應力施加水平從而提高環(huán)境應力篩選的效率和有效性。傳統(tǒng)的環(huán)境應力篩選(ESS)[20]所施加的環(huán)境應力不能超出產(chǎn)品規(guī)范的規(guī)定范圍,在很短的試驗周期內,難以有效地剔除存在瑕疵的產(chǎn)品,高可靠產(chǎn)品尤為如此。利用HALT得到的裕度,可用高加速應力篩選(HASS)[3,21]代替ESS,將應力量值提高到既能有效地激發(fā)潛在的缺陷而又不會對產(chǎn)品造成損壞的恰當水平,改進生產(chǎn)批產(chǎn)品可靠性。
1.2.3 顯著地縮短可靠性試驗時間
基于失效物理的加速損傷理論,提高施加應力的水平,可在短時間內產(chǎn)生與現(xiàn)場使用等效的損傷效果,此即為加速試驗。通過施加遠高于現(xiàn)場應力水平,HALT可將試驗周期從傳統(tǒng)可靠性試驗的幾個月,加速壽命試驗(ALT)[22]的幾十天,縮短到幾天的時間,從而使得TAAF循環(huán)可以快速地迭代。試驗時間大幅縮短是這項技術的根本優(yōu)勢。
順便指出,無論以故障模式還是以設計裕度為關注中心,本質上是相同的。當應力達到某個量值時會觸發(fā)一種或多種故障模式,則此時的應力量值就是應力極限。因此,提高極限的方法,或者采取措施將該故障模式排除;或者退而求其次,延緩該故障模式的發(fā)生。
另外,可以從浴盆曲線看HALT對于產(chǎn)品可靠性的作用。如圖1所示,故障率浴盆曲線可以分為3段:早期故障、外部誘發(fā)故障和損耗故障。首先,HALT提高了設計裕度,因而外部應力超出產(chǎn)品強度的可能性減小,降低外部誘發(fā)故障率。其次,由于HALT在產(chǎn)品研發(fā)階段識別那些損耗故障發(fā)生較早的設計、元器件、材料和工藝并予以改進,推遲產(chǎn)品損耗故障階段的到來直至將其推出產(chǎn)品的有效壽命周期之外,即推遲損耗故障段的到來。關于早期故障段,主要是通過批量生產(chǎn)時進行HASS以有效地剔除潛在的缺陷,顯著地降低故障率并縮短早期故障階段的時間跨度。HALT將為HASS提供必不可少的極限數(shù)據(jù),發(fā)揮間接作用。
圖1 HALT對降低故障率的作用
主要在以下幾個時機進行HALT。
a)HALT最主要的應用場合為產(chǎn)品研發(fā)早期的可靠性研制試驗(RDT:Reliability Development Test)。RDT的目的是,通過對產(chǎn)品(或產(chǎn)品組成部分)施加適當?shù)沫h(huán)境應力、工作載荷,尋找設計缺陷,以改進設計來提高產(chǎn)品的固有可靠性水平[1]。
b)在批生產(chǎn)階段進行HASS試驗之前,進行HALT,評價設計和工藝改進等技術狀態(tài)的更改是否導致了應力極限值的變化,為開展HASS提供應力參數(shù)選擇依據(jù)。
c)其他場合,例如:產(chǎn)品故障排查時復現(xiàn)故障或者改進后驗證措施的有效性所需的時間特別長,可考慮采用HALT。
關于HALT是否適用于可靠性增長試驗(RGT:Reliability Growth Test)需要討論。我們發(fā)現(xiàn)不同的文獻中有關概念存在差異。按照GJB 450A,RGT與RDT雖然都是暴露薄弱環(huán)節(jié)加以改進,但二者存在根本不同:1)在激發(fā)故障的手段方面,RGT強調“施加模擬實際環(huán)境的綜合環(huán)境應力及工作應力”;2)在試驗目標方面,RGT強調“使產(chǎn)品的可靠性達到規(guī)定要求[1]”。HALT不滿足這些要求,因此不適用于RGT。
按照另外一些可靠性試驗分類方法,例如:GB/T 2900.99(等同采用IEC 60050-192),不單獨定義RDT,而將RGT定義為“通過試驗直至失效、失效分析、執(zhí)行糾正措施和進一步試驗,以提高可靠性的迭代過程”[23],覆蓋了GJB 450A的RDT和RGT兩個概念范疇。在此語境下,HALT適用于RGT。
HALT屬于室內試驗,關于測試實驗室,需注意以下幾個方面。
a)最好選擇研制單位內部或當?shù)亻L期合作的可靠性實驗室。這是因為,一方面HALT具有不確定性,試驗前難以確定TAAF迭代次數(shù)和排查故障所需的時間;另一方面對于HALT發(fā)現(xiàn)的故障進行分析和改進時,通常不得不借助產(chǎn)品研發(fā)調試環(huán)境。
b)實驗室應具有施加所需環(huán)境應力和業(yè)務應力的能力。有研究表明[24-25],在沒有專門的HALT設施的情況下,用傳統(tǒng)的環(huán)境試驗設施也可實施HALT中的低溫步進、高溫步進、溫度循環(huán)和振動步進試驗項目,無法進行溫度循環(huán)與振動綜合試驗,與完整的HALT相比,大約只損失20%的發(fā)現(xiàn)故障機會。但是,對于高可靠產(chǎn)品,為了充分地發(fā)現(xiàn)薄弱環(huán)節(jié),一般認為具有專門的HALT/HASS試驗箱,是開展HALT的必要條件。
c)具有面向具體產(chǎn)品的測試環(huán)境。一般情況下,對受試品進行功能性能測試,需要有輸入信號作為激勵,測量相應的輸出信號,持續(xù)地監(jiān)視受試品的運行狀態(tài)或性能指標,與預期結果進行比較從而判定受試品是否出現(xiàn)故障。
需要指出的是,測試環(huán)境的構建往往成為工程實踐中的難點,也是影響HALT效果的關鍵點。具體分析如下所述。
a)HALT的受試品主要是產(chǎn)品中的模塊、組件和板卡等,通常與其余部分交互密切(如時鐘、控制和數(shù)據(jù)等多種信號的輸入輸出),因此測試環(huán)境較為復雜。與常溫下調試所需的環(huán)境不同,HALT時受試品和測試環(huán)境通常分處試驗箱內外,受信號時序、信號驅動能力和抗干擾等諸多因素的限制,構建甚至專門開發(fā)測試環(huán)境的難度大、工作量大。
b)如果在開發(fā)測試環(huán)境時對信號及其邏輯關系、時序關系等過度簡化,將不能充分地模擬受試品的實際工作場景,導致受試品的許多物理或邏輯組成部分在試驗中未得到充分的、有效的測試。另外,故障發(fā)生后若測試環(huán)境不能及時地檢測和隔離故障,可能造成某些瞬態(tài)故障、間歇故障被遺漏,或者等到故障影響擴大甚至誘發(fā)其他故障而被檢測到時,則將加大故障根因分析的難度。不僅如此,由于HALT采用步進應力方式,故障檢測的滯后將造成測得的應力極限值偏高,對于是否采取改進措施的決策,以及HASS的應力量值的選取都會造成誤導。
c)在研發(fā)階段的早期,可能出現(xiàn)某種板卡具備試驗條件后,其余部分尚未具備條件無法構成測試環(huán)境的情況,導致試驗不能及時地開展。
HALT的性質決定了需要參加試驗的人員及其職責,如下所述。
a)作為研制試驗,通常由研制方自行開展,產(chǎn)品訂購方不需加以控制,即HALT的主體是產(chǎn)品研制方。研制方不應認為只有在訂購方有要求時才進行HALT,而應積極地尋求使用該技術盡早地發(fā)現(xiàn)設計薄弱環(huán)節(jié)的機會。對于復雜系統(tǒng)產(chǎn)品,為降低后續(xù)各個階段的風險,訂購方或總體單位應引導各個具體的研制方開展HALT。
b)需要組織一個由產(chǎn)品研發(fā)、試驗、質量、工藝和技術等人員組成的試驗團隊,而不是像其他試驗那樣交由試驗人員完成即可。
團隊中研發(fā)人員起主導作用,負責確認產(chǎn)品技術狀態(tài),分析需施加的應力類型,構建測試環(huán)境,對于試驗中得到的裕度或故障進行分析決策,必要時組織改進。試驗人員利用長期積累的經(jīng)驗,對試驗參數(shù)的選取和故障模式分析提出建議。質量、工藝和技術專家等,提供咨詢和技術支持。
故障分析需要從故障現(xiàn)象中推理出故障根因和機理,確定處置措施,因此需要利用所積累的數(shù)據(jù)和經(jīng)驗,難度大。進一步地,由于HALT激發(fā)的故障并不一定都是預期在現(xiàn)場將會出現(xiàn)的關聯(lián)故障,也可能伴隨有非關聯(lián)故障,只有通過分析才能區(qū)分。但是,有的相關方在沒有確定為關聯(lián)故障之前,認為故障不是自己產(chǎn)品或技術造成的,因而不愿意配合分析,這將進一步地加大故障分析的難度。如果不能及時地分析處置,不僅無法實現(xiàn)TAAF循環(huán),還可能導致試驗停滯。因此,故障分析與處置是HALT的一項關鍵技術。
HALT本質上是一個TAAF循環(huán)迭代過程,如圖2所示,從頂層視角給出了其流程。
圖2 HALT的試驗、分析、改進流程圖
a)試驗需求的確定和應力選擇
根據(jù)需要來確定對哪些產(chǎn)品或組成部分進行試驗,分析選擇施加的應力類型,估計基本極限。
b)試驗準備
準備受試品、測試環(huán)境、判決準則、試驗裝置和夾具等。
c)HALT的實施及應力極限的測定
受篇幅所限,見相關標準或文獻[11-12]。
d)故障分析及處置
進行故障模式分析,確定并實施改進措施,提高產(chǎn)品裕度。故障發(fā)生后,若經(jīng)分析做出不再改進的決策,若試驗尚未全部完成,則應對發(fā)生故障的受試品采取臨時修理或替換措施,保障后續(xù)試驗的進行。
眾所周知,在產(chǎn)品壽命期內,錯誤或缺陷發(fā)現(xiàn)得越早,造成的損失就越小。特別是對于復雜或者重要用途的產(chǎn)品,可靠性的提高將降低運行維護和保障費用,還可以改善用戶體驗甚至避免造成嚴重的后果。HALT能夠在研發(fā)階段的早期,針對較低裝配層級產(chǎn)品(如模塊、板卡等),在很短的試驗周期內,發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品設計和工藝設計存在的薄弱環(huán)節(jié),及時地組織改進,成本可控,經(jīng)濟效益顯著。對于研制周期短、樣機數(shù)量少和可靠性要求高的新產(chǎn)品研制,HALT作用尤為明顯。
在此討論以下幾個問題。.
施加應力的目的在于激發(fā)潛在的缺陷,因此,選擇什么應力應以激發(fā)缺陷的能力來衡量。應力,既包括環(huán)境應力,也包括業(yè)務載荷應力,以及電應力等。正如Hobbs博士所指出的那樣,“用于HALT和HASS的應力,包括但不限于全軸向同時施加的振動,高速率、寬范圍的溫度循環(huán),通電循環(huán),電壓和頻率變化,濕度,以及可以暴露設計和工藝問題的其他任何應力[3]?!敝劣趹︻愋偷木唧w選擇方法,可結合受試品的風險分析以及FMEA/FMECA[26-27]來識別敏感點,列出可能的應力,以矩陣形式分析各種應力對各個敏感點的激發(fā)能力,選出具有“高激發(fā)率”的應力,經(jīng)適當歸納合并后最終確定需施加的應力。
之所以會出現(xiàn)HALT施加的一定是環(huán)境應力的誤區(qū),可能有兩個方面的原因:1)環(huán)境應力適用于絕大多數(shù)產(chǎn)品特別是電子產(chǎn)品、機電產(chǎn)品,而其他應力往往只適用于特定的敏感點,通用性不強,因此,在介紹HALT時,往往只提及環(huán)境應力;2)在引入HALT技術時,有些文獻將“stress environment”譯為“環(huán)境應力”,容易對讀者造成誤導。根據(jù)上下文分析,其本義是指產(chǎn)品面臨的各種應力環(huán)境,而不是單指氣候、力學等狹義的環(huán)境應力。
HALT采用步進方式逐步地增大應力量值,可按以下方式來確定試驗應該繼續(xù)還是停止。
a)若實測極限值低于規(guī)范的規(guī)定水平,說明設計不滿足要求,必須改進。
b)基于企業(yè)類似產(chǎn)品的典型值或經(jīng)驗值,考慮產(chǎn)品設計及生產(chǎn)過程中各類參數(shù)的離散性對裕度統(tǒng)計特性的影響(如文獻[12]的附錄A),判定極限實測值是否可接受。
1)若不可接受,則須改進并繼續(xù)試驗。
2)若可接受,若技術可行并且成本、周期及其他約束條件允許,則仍應繼續(xù)試驗,提高裕度;若已達到或接近元器件、原材料和工藝等的極限,只有從技術上進行根本性更改才能提高裕度,則停止試驗。
c)若已達到試驗設施能力的極限,則停止試驗。
在一些文獻中,HALT被簡單化了,就是采用步進方式逐步地提高應力量值,要么激發(fā)而產(chǎn)生故障,交由研發(fā)人員進行故障分析;要么到達基本極限或試驗設施能力的極限為止。而許多企業(yè)或產(chǎn)品,由于缺乏支撐數(shù)據(jù)和經(jīng)驗的積累,往往難以確定貼切的基本極限,僅以試驗箱的能力極限作為終止條件。
實際上,HALT希望發(fā)現(xiàn)的是在規(guī)定的使用環(huán)境下長期使用時預期會出現(xiàn)的故障模式,而不希望出現(xiàn)在現(xiàn)場條件下不會出現(xiàn)的故障模式。如果簡單地增大施加的應力量值,存在幾個方面的問題。
a)產(chǎn)生大量的非關聯(lián)故障,增大故障模式分析與處置工作的難度和工作量,導致HALT總周期大幅度地延長。
b)由于分析甄別關聯(lián)與非關聯(lián)故障的難度大,如果全部采取改進措施的話,將會造成成本的增大,甚至帶來產(chǎn)品體積、重量和功耗的增大。
c)可能頻繁地造成受試品損壞,由于研發(fā)階段的樣品數(shù)量少,這將影響后續(xù)試驗的進行,甚至影響其他研制工作的開展。
HALT雖然不能定量地評價但確實可以提高產(chǎn)品的可靠性指標。為推動其普及應用,至少有以下工作迫切地需要開展:1)使各個相關方了解該技術并消除認識誤區(qū);2)研究和突破敏感應力類型識別、試驗參數(shù)選取、故障模式分析與處置等關鍵技術,減少試驗的盲目性,提高有效性;3)選擇典型產(chǎn)品來實際開展HALT,并且長期跟蹤產(chǎn)品后續(xù)階段的質量表現(xiàn),對HALT的效果進行評價并積累數(shù)據(jù);4)形成典型案例,吸引更多的研發(fā)團隊把HALT作為其提高可靠性水平的得力工具。