張曉東,陳延春,陳 錚
(中國鐵路上海局集團(tuán)有限公司杭州電務(wù)段,杭州 310002)
CTCS-3 級(jí)(簡稱C3)列車控制系統(tǒng)是高速鐵路核心技術(shù)裝備和安全關(guān)鍵系統(tǒng),負(fù)責(zé)指揮列車運(yùn)行、保證行車安全、提高鐵路運(yùn)輸效率,在車-地?zé)o線信息傳輸中時(shí)有發(fā)生無線通信超時(shí)(簡稱“無線超時(shí)”),無線超時(shí)后,ATP 車載設(shè)備將輸出常用制動(dòng),待列車運(yùn)行速度降至CTCS-2 級(jí)(簡稱C2)允許速度時(shí),提示司機(jī)確認(rèn),系統(tǒng)將轉(zhuǎn)換為C2 控車,導(dǎo)致允許速度降低,影響運(yùn)輸效率。
目前,隨著C3 無線超時(shí)分析的不斷深入,車載空口、基站空口、接口監(jiān)測業(yè)務(wù)信令流程監(jiān)測的普及,針對(duì)網(wǎng)絡(luò)中信息交互造成的C3 無線超時(shí)已經(jīng)能夠準(zhǔn)確分析原因并準(zhǔn)確定位故障點(diǎn)。但是由于SIM 卡引起的瞬間脫網(wǎng)、注冊(cè)失敗等導(dǎo)致的問題,具體原因分析很困難,而且不是固有故障,事后檢測各項(xiàng)性能指標(biāo)均正常,對(duì)現(xiàn)場設(shè)備維護(hù)造成很大的困擾。本文就針對(duì)SIM 卡問題進(jìn)行全面分析,并提出解決措施。
GSM-R SIM 卡作為GSM-R 專用移動(dòng)通信系統(tǒng)的重要組成部分,是基于GSM-R 進(jìn)行各類通信業(yè)務(wù)必不可少的設(shè)備,特別是用于與行車直接相關(guān)的通信業(yè)務(wù),關(guān)系到整個(gè)鐵路列車行車安全和運(yùn)輸秩序。ATP 電臺(tái)使用的SIM 卡根據(jù)通信業(yè)務(wù)功能需求劃分屬于CSD 業(yè)務(wù)類,每套ATP 設(shè)備有2 個(gè)電臺(tái)模塊,SIM 卡安裝在電臺(tái)模塊中。高鐵列車運(yùn)行過程中,2個(gè)電臺(tái)模塊交替呼叫地面RBC 設(shè)備,建立CSD 呼叫。為確保行車過程中列控業(yè)務(wù)不受其他通信業(yè)務(wù)的干擾,其SIM 卡僅開啟語音業(yè)務(wù)的CSD 呼叫功能。SIM 卡目前采取維修方式是故障修,等發(fā)現(xiàn)故障時(shí)進(jìn)行檢查或者更換,未出現(xiàn)故障則一直維持使用。
SIM 卡是用戶身份模塊,存儲(chǔ)用戶有關(guān)的個(gè)人信息和網(wǎng)絡(luò)信息,主要完成數(shù)據(jù)存儲(chǔ)、客戶身份鑒權(quán)和客戶信息加密算法等功能,ATP 電臺(tái)中的SIM卡負(fù)責(zé)實(shí)現(xiàn)網(wǎng)絡(luò)注冊(cè)及CSD 呼叫。
SIM 卡是一個(gè)裝有微處理器的芯片卡,其內(nèi)部結(jié)構(gòu)有 5 個(gè)模塊,并且每個(gè)模塊都對(duì)應(yīng)一個(gè)功能:微處理器 CPU、程序存儲(chǔ)器 ROM、工作存儲(chǔ)器RAM、 數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器 EEPROM 和串行通信單元。
SIM 卡表面的6 個(gè)觸點(diǎn)是其外部接口,根據(jù)其功能劃分為電源電壓(Vcc)、復(fù)位信號(hào)(RTS)、時(shí)鐘信號(hào)(CLK)、接地(GND)、可變電源電壓(VPP)、輸入/輸出(I/O)。
SIM 卡故障時(shí),其相關(guān)特征如下。
1)DMI 界面無網(wǎng)絡(luò)注冊(cè);
2)GSM-R 電臺(tái)狀態(tài)指示燈顯示異常;
3)途中瞬間脫網(wǎng)后自動(dòng)恢復(fù)網(wǎng)絡(luò)注冊(cè);
4)斷電重啟后恢復(fù)網(wǎng)絡(luò)注冊(cè);
5)重插SIM 卡后恢復(fù)網(wǎng)絡(luò)注冊(cè)。
根據(jù)以上信息,SIM 卡故障的可能原因是:
1)模塊軟件問題;
2)SIM 卡電路電性能臨界,造成間歇性讀取卡失?。?/p>
3) 卡座相關(guān)尺寸有問題,造成彈片與SIM 卡沒接觸上;
4) 卡座彈片氧化造成接觸阻抗變大,影響讀取SIM 卡;
5) SIM 卡觸片氧化造成接觸阻抗變大,影響讀取SIM 卡;
6) 卡座彈片與SIM 卡之間有異物,隔斷電路,影響讀取SIM 卡。
2.2.1 電臺(tái)模塊性能檢測
選取4 塊發(fā)生SIM 卡故障的300T 型ATP 設(shè)備電臺(tái)模塊進(jìn)行測試,模塊可正常識(shí)別SIM 卡,各參數(shù)均符合標(biāo)準(zhǔn)要求。
對(duì)杭州電務(wù)段2020 年3 月至2021 年3 月共8件SIM 卡故障造成的無線超時(shí)進(jìn)行數(shù)據(jù)分析。
1)通過車載側(cè)記錄數(shù)據(jù)中Log 數(shù)據(jù)分析:Fewer modems registered than installed 1(單電臺(tái))。該記錄說明只有一個(gè)電臺(tái)注冊(cè)到網(wǎng)絡(luò),說明在電臺(tái)與網(wǎng)絡(luò)間出現(xiàn)問題,且數(shù)據(jù)沒有其他故障信息報(bào)警語句,基本可以判斷ATP 設(shè)備正常。
2)通過分析空口監(jiān)測數(shù)據(jù)顯示SIM 未插入或SIM 卡錯(cuò)誤。
3)通過分析通信側(cè)三接口數(shù)據(jù)能夠看到 IMSI DETACH INDICATIO(電臺(tái)網(wǎng)絡(luò)去附著)。
電臺(tái)網(wǎng)絡(luò)去附著的原因可能是電臺(tái)正常關(guān)機(jī),也可能是 SIM 卡異常導(dǎo)致的,此類超時(shí)通常在車-地?cái)?shù)據(jù)正常交互的情況下。如果是電臺(tái)關(guān)機(jī)的話,后續(xù)RBC 交權(quán)區(qū)會(huì)出現(xiàn)單電臺(tái)情況,所以基本可以判定為SIM 卡異常。
2.2.2 SIM卡電路電氣性能檢測
按照3GPP 標(biāo)準(zhǔn)SIM 卡接口部分的要求,SIM卡電路有6 個(gè)PIN 腳,必需的是供電、復(fù)位、時(shí)鐘、數(shù)據(jù)和接地。選取4 張SIM 卡的供電、復(fù)位、時(shí)鐘和數(shù)據(jù)等電性能指標(biāo),各項(xiàng)指標(biāo)符合標(biāo)準(zhǔn)要求,并不存在指標(biāo)臨界的情況,可排除電路電氣性能的原因。
對(duì)于學(xué)外語我覺得環(huán)境很重要,還有就是家長如果決定讓孩子學(xué)某一種語言或者某一種特長就一定要有耐心地去陪孩子一起學(xué),一起練。
2.2.3 SIM卡厚度檢測
根據(jù)標(biāo)準(zhǔn),SIM 卡的厚度要求為0.76±0.08 mm,測量4 個(gè)故障SIM 卡,厚度符合要求,如表1 所示。
表1 SIM卡厚度檢測結(jié)果Tab.1 SIM card thickness test result
2.2.4 SIM卡座彈片接觸電阻檢測
SIM 卡座各彈片的接觸電阻過大會(huì)影響模塊讀取SIM 卡。根據(jù)設(shè)備廠家經(jīng)驗(yàn),一般卡座各接口的接觸電阻大于500 mΩ 時(shí),才可能引起讀取SIM卡失敗。選取2 塊SIM 卡對(duì)卡座各彈片的接觸電阻進(jìn)行檢測,各彈片的接觸電阻遠(yuǎn)低于影響讀取卡的電阻值,彈片狀態(tài)良好,如表2 所示。
表2 卡座彈片接觸電阻檢測Tab.2 Contact resistance detection of SIM card holder clip
2.2.5 SIM卡功能檢查及外觀檢查
將4 塊故障SIM 卡樣品插入模塊中,均可以正常讀取SIM 卡。觀察SIM 卡觸片外觀,發(fā)現(xiàn)表面存在嚴(yán)重程度不一的劃痕,鍍金層被一層異物覆蓋,金屬反光較弱。在與卡座彈片對(duì)應(yīng)的位置,存在磨損小凹槽,證明振動(dòng)磨損的存在,也可以說明尺寸配合是沒有問題的。
2.2.6 SIM卡表面檢測
為確認(rèn)SIM 卡觸片的狀態(tài),設(shè)備廠家委托相關(guān)試驗(yàn)室做了表面形貌分析(SEM)/成分分析(EDS),SEM 主要用于樣品表面的微觀形貌與結(jié)構(gòu)的表征、EDS 用于元素定性和半定量分析,如圖1所示。
圖1 SEM/EDS檢測Fig.1 SEM/EDS detection
將4 塊故障SIM 卡(使用時(shí)間5 年以上)的表面進(jìn)行SEM/EDS 檢測,檢測結(jié)果如下:彈片接觸部位有嚴(yán)重劃痕,劃痕周圍存在異物顆粒,為不導(dǎo)電異物。異物顆粒推測是有機(jī)物和氧化物混合組成,異物的主要含量為碳、氧、鎳、氯、銅、鈣等元素。
通過以上檢測結(jié)果分析,基本排除了軟件問題,模塊和SIM 卡功能正常,模塊SIM 卡電路的電氣性能、SIM 卡座和SIM 卡的相關(guān)尺寸和SIM 卡座彈片的接觸電阻均正常。
發(fā)現(xiàn)使用時(shí)間長的卡座彈片和SIM 卡的接觸部位周圍有較多不導(dǎo)電異物。
觸片不是絕對(duì)平整的、金層的硬度很小,卡座彈片和SIM 卡觸片是通過若干個(gè)小微丘接觸導(dǎo)通的,如圖2 所示。
圖2 彈片微丘接觸示意Fig.2 Clip bulge contact diagram
推測電臺(tái)模塊長期工作在隨機(jī)振動(dòng)環(huán)境下,卡座彈片與SIM 卡觸片之間存在微動(dòng)摩擦,容易在接觸部位周圍產(chǎn)生有機(jī)物、氧化物和磨損粉末的堆積。如果異物堆積過高,可能會(huì)由于振動(dòng)原因?qū)⒂袡C(jī)物和氧化物等推至彈片接觸區(qū)域,從而隔斷電信號(hào),造成不識(shí)卡故障,導(dǎo)致SIM 卡故障。此時(shí)若重裝SIM 卡,彈片將異物推開,恢復(fù)接觸,故障消失?;蛘呖赡芤蛭?dòng)摩擦將異物推開,即出現(xiàn)運(yùn)行中自動(dòng)恢復(fù)的情況。模塊或SIM 卡使用的時(shí)間越久,鍍層磨損越嚴(yán)重,表面產(chǎn)生的氧化物越多,出現(xiàn)故障的概率越大。
通過分析基本確認(rèn)SIM 故障是由于異物隔斷造成電臺(tái)不識(shí)卡,針對(duì)性采取SIM 卡清潔、SIM 卡固定、卡托固定及密封3 種措施。
通常的表面清潔方式有3 種:酒精、橡皮擦、電子清潔劑。為了對(duì)比3 種方式的效果,選取3 塊表面異物較多的SIM 卡,清潔后做表面形貌分析(SEM),發(fā)現(xiàn)橡皮擦清潔效果較差,電子清潔劑效果一般,酒精清潔效果較好,清潔后,盡量不觸碰SIM 卡。
采用耐高溫布基雙面膠將SIM 卡與卡托粘貼,雙面膠厚度控制在0.1 mm 之內(nèi),避免厚度太大。
卡托固定及密封。采用銅箔膠帶對(duì)卡托表面和電臺(tái)表面粘貼,達(dá)到固定卡托和SIM 卡密封效果。如圖3 所示。
圖3 卡托固定及密封Fig.3 SIM card tray fixture and sealing
杭州電務(wù)段共配屬60 套300T 型ATP 設(shè)備120 個(gè)電臺(tái)及SIM 卡,使用年限均超過10 年。2020 年3 月 至2021 年3 月 共 發(fā) 現(xiàn)8 件SIM 故 障造成的無線超時(shí),后采取SIM 卡清潔、SIM 卡固定、卡托固定及密封3 種措施,2021 年3 月至2022 年3 月未發(fā)生SIM 故障造成的無線超時(shí)。
拿棉簽蘸酒精后擦拭SIM 卡觸片,擦拭10 個(gè)來回之后,SIM 卡觸片可以看到明顯的金屬反光。在SEM 下看,也可以看到顆粒異物基本被清除,如圖4、5 所示。
圖4 SIM清洗前的狀態(tài)Fig.4 SIM status before cleaning
圖5 SIM清洗后的狀態(tài)Fig.5 SIM status after cleaning
目前ATP 設(shè)備的修程有一級(jí)修、二級(jí)修、高級(jí)修、更新改造,確保了設(shè)備能夠正常運(yùn)用,而SIM卡沒有明確的修程及檢修要求,建議結(jié)合ATP 設(shè)備修程同步施修,結(jié)合高級(jí)修對(duì)SIM 卡進(jìn)行清潔,結(jié)合ATP 設(shè)備更新改造更換SIM 卡。
根據(jù)《GSM-R 數(shù)字移動(dòng)通信網(wǎng)設(shè)備技術(shù)規(guī)范》(科技運(yùn)[2008]172 號(hào))第四部分SIM 卡要求,SIM 卡每個(gè)觸點(diǎn)壓力要大于0.5 N,保證SIM 卡與卡槽可靠和連續(xù)接觸,并能夠克服氧化物和振動(dòng)所引起的中斷。根據(jù)該項(xiàng)要求,設(shè)備廠家要持續(xù)做好技術(shù)改進(jìn),一是要開發(fā)相關(guān)卡槽和SIM 卡的相關(guān)技術(shù)指標(biāo)的檢測工具;二是改進(jìn)結(jié)構(gòu)工藝,確保SIM卡與卡托不產(chǎn)生微振動(dòng),卡托與電臺(tái)不產(chǎn)生微振動(dòng)。三是加強(qiáng)材料研究,針對(duì)鐵路行車安全的需求,對(duì)SIM 卡的電路設(shè)計(jì)、觸片工藝開展針對(duì)性設(shè)計(jì)、制造。
探索eSIM 卡(嵌入式SIM 卡)在鐵路GSM-R網(wǎng)絡(luò)中運(yùn)用,避免SIM 卡與電臺(tái)接觸不良產(chǎn)生的故障。