亞穩(wěn)態(tài)
- He/Ar/Kr光泵稀有氣體激光介質(zhì)中的Ar-Kr共振能量轉(zhuǎn)移
5]提出了光泵亞穩(wěn)態(tài)稀有氣體激光器(optically-pumped metastable rare gas laser,OPRGL)概念.OPRGL 利用稀有氣體亞穩(wěn)態(tài)原子作為增益介質(zhì)實(shí)現(xiàn)激光輸出,能級結(jié)構(gòu)與DPAL 類似,同樣具有高功率激光輸出的潛能,并且從本質(zhì)上克服了DPAL 增益介質(zhì)需要高溫加熱保持氣態(tài)和化學(xué)性質(zhì)活潑的缺陷.OPRGL 高效運(yùn)行的一個(gè)重要條件是大氣壓條件下產(chǎn)生一定水平的亞穩(wěn)態(tài)原子數(shù)密度,這直接關(guān)系到系統(tǒng)的光增益以及對泵浦光的吸收[5
物理學(xué)報(bào) 2023年19期2023-10-30
- 考慮原子亞穩(wěn)態(tài)的镥金屬蒸發(fā)過程模擬研究
羅方法,將原子亞穩(wěn)態(tài)引入碰撞假設(shè),建立了金屬蒸發(fā)過程的二維和三維模型,對是否考慮镥原子亞穩(wěn)態(tài)的金屬蒸發(fā)過程中各宏觀特征量進(jìn)行分析比較,并對中心處宏觀特征量隨狹縫開口大小和蒸發(fā)源表面溫度的變化特點(diǎn)進(jìn)行討論.研究結(jié)果表明,原子亞穩(wěn)態(tài)會導(dǎo)致經(jīng)過束流裝置的金屬原子蒸氣數(shù)密度降低、運(yùn)動速度和速度的離散程度上升,同時(shí)狹縫開口大小和蒸發(fā)源表面溫度均會引發(fā)金屬原子蒸氣宏觀特征量分布的變化.在二維模型基礎(chǔ)上進(jìn)行的三維模擬結(jié)果與其變化一致,本工作可為電子束金屬蒸發(fā)過程的實(shí)驗(yàn)研
物理學(xué)報(bào) 2023年18期2023-10-06
- 先進(jìn)芯片設(shè)計(jì)中RTL 的CDC 問題分析及處理方法
及可靠性。1 亞穩(wěn)態(tài)與同步器亞穩(wěn)態(tài)指的是觸發(fā)器無法在一個(gè)規(guī)定的時(shí)間達(dá)到一個(gè)確定的狀態(tài)，當(dāng)觸發(fā)器進(jìn)入亞穩(wěn)態(tài)，我們既無法預(yù)測其輸出的電平，也無法預(yù)測其何時(shí)才能穩(wěn)定地輸出正確的電平[1]。在亞穩(wěn)態(tài)期間，觸發(fā)器輸出一些中間級電平，并且這種電平可以延通路傳播，如圖1(a)所示，其產(chǎn)生的原因是由于信號在時(shí)鐘觸發(fā)沿的判決窗口沒有保持穩(wěn)定，導(dǎo)致觸發(fā)器中鎖存信號的電容充電不足，從而使得觸發(fā)器需要花很長的時(shí)間才能使輸出信號達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)電平，使電路“反應(yīng)”變遲鈍。亞穩(wěn)態(tài)對我們的邏輯
電子制作 2023年11期2023-07-13
- 芯片設(shè)計(jì)中常見的跨時(shí)鐘處理錯(cuò)誤及解決方法
處理方法。1 亞穩(wěn)態(tài)與常見的處理方法1.1 亞穩(wěn)態(tài)分析亞穩(wěn)態(tài)指的是觸發(fā)器無法在一個(gè)規(guī)定的時(shí)間達(dá)到一個(gè)確定的狀態(tài)，當(dāng)觸發(fā)器進(jìn)入亞穩(wěn)態(tài)，我們既無法預(yù)測其輸出的電平，也無法預(yù)測其何時(shí)才能穩(wěn)定地輸出正確的電平[1]。在亞穩(wěn)態(tài)期間，觸發(fā)器輸出一些中間級電平，并且這種電平可以延通路傳播，如圖1(a)所示，其產(chǎn)生的原因是由于信號在時(shí)鐘觸發(fā)沿的判決窗口沒有保持穩(wěn)定，導(dǎo)致觸發(fā)器中鎖存信號的電容充電不足，從而使得觸發(fā)器需要花很長的時(shí)間才能使輸出信號達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)電平，使電路“反應(yīng)”
電子制作 2023年10期2023-07-09
- 異步FIFO 抗SEU 設(shè)計(jì)
的信號可能發(fā)生亞穩(wěn)態(tài)，使得TMR 輸出到判決器的數(shù)據(jù)不同步，會致使判決器在一路信號翻轉(zhuǎn)時(shí)失去防護(hù)效果[14]。因此，加固跨時(shí)鐘域同步電路時(shí)，需解決單粒子翻轉(zhuǎn)和亞穩(wěn)態(tài)同時(shí)發(fā)生的問題。異步FIFO（Asynchronous First In First Out,AFIFO）[15]是集成電路設(shè)計(jì)中最常用的跨時(shí)鐘域同步電路。在通常的設(shè)計(jì)中經(jīng)常直接使用成熟的AFIFO IP 核。但由于使用的IP 核常是固核或硬核，導(dǎo)致其內(nèi)部結(jié)構(gòu)不能被更改，在其應(yīng)用于三模冗余場景時(shí)
現(xiàn)代電子技術(shù) 2023年11期2023-05-30
- 一種基于CPU 總線通信的同步設(shè)計(jì)方法
鐘域處理來避免亞穩(wěn)態(tài)問題。本文通過介紹常用的CPU 總線通信同步設(shè)計(jì)方法，提出了握手協(xié)議存在的安全隱患，如果僅對CPU 控制信號進(jìn)行跨時(shí)鐘域處理，可能導(dǎo)致FPGA 內(nèi)部觸發(fā)器的數(shù)據(jù)端產(chǎn)生毛刺，從而導(dǎo)致FPGA 誤響應(yīng)CPU 指令。經(jīng)過仿真測試證明，在CPU 讀寫時(shí)序余量充裕的前提下，可以采用對多比特的地址線和數(shù)據(jù)線打一拍的操作來解決FPGA 內(nèi)部觸發(fā)器數(shù)據(jù)端的毛刺問題，為更可靠地進(jìn)行總線通信提供了一種思路。隨著軍工產(chǎn)品向著高集成度、高速和高可靠性方向發(fā)展[
數(shù)字技術(shù)與應(yīng)用 2023年4期2023-05-10
- FPGA供電網(wǎng)絡(luò)工作在亞穩(wěn)態(tài)的解決方案研究
V供電網(wǎng)絡(luò)的亞穩(wěn)態(tài)引起了通用輸入輸出模塊上電BIT報(bào)故，且在周期任務(wù)運(yùn)行中工作異常。針對該問題，通過設(shè)計(jì)排查、仿真分析，給出3.3 V供電網(wǎng)絡(luò)工作在亞穩(wěn)態(tài)的解決方案，并對解決方案的有效性進(jìn)行了實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證。1 FPGA供電網(wǎng)絡(luò)設(shè)計(jì)方案機(jī)載產(chǎn)品使用的電源為二次電源，從飛機(jī)28 V直流匯流條上取電，通過內(nèi)部的DC/DC模塊將其轉(zhuǎn)換為各類型電路使用的±15 V、5 V電源。FPGA使用的3.3 V、1.5 V、1.0 V電源為三次電源，由二次電源經(jīng)過穩(wěn)壓電源芯片而
山西電子技術(shù) 2022年6期2023-01-10
- 高氣壓氬氣輝光放電條紋等離子體的形成和演化*
的產(chǎn)生與豐富的亞穩(wěn)態(tài)原子密切相關(guān),亞穩(wěn)態(tài)原子導(dǎo)致的分步電離過程會引起電離不穩(wěn)定性,這種不穩(wěn)定性以電離波的形式傳播,使得等離子體參數(shù)發(fā)生縱向調(diào)幅,從而形成明暗相間的條紋等離子體.加入氮?dú)饪捎行р?span id="j5i0abt0b" class="hl">亞穩(wěn)態(tài)氬原子,調(diào)整電子能量分布函數(shù),這使得等離子體的不穩(wěn)定性條件被破壞,因此,條紋等離子體消失.本工作可為人們進(jìn)一步認(rèn)識和理解高氣壓下輝光放電條紋等離子體的形成及消除機(jī)制提供新的思路和實(shí)驗(yàn)依據(jù).1 引言眾所周知,輝光放電等離子體是一種典型的碰撞等離子體,其中包涵了豐
物理學(xué)報(bào) 2022年14期2022-07-28
- 亞穩(wěn)態(tài)氪原子束流診斷系統(tǒng)結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)與優(yōu)化
體放電方法產(chǎn)生亞穩(wěn)態(tài)氪原子束流,利用激光對亞穩(wěn)態(tài)氪原子束流進(jìn)行準(zhǔn)直、減速與囚禁,在磁光阱中對單個(gè)原子的熒光信號進(jìn)行計(jì)數(shù)測量,其探測靈敏度可達(dá)10-8。在ATTA檢測系統(tǒng)中,亞穩(wěn)態(tài)氪原子束流強(qiáng)度是影響三維磁光阱裝載率與檢測靈敏度關(guān)鍵參數(shù),因此需要對亞穩(wěn)態(tài)氪原子束流強(qiáng)度及其分布進(jìn)行準(zhǔn)確的測試與表征。亞穩(wěn)態(tài)惰性氣體原子具有較高(約10 eV)的內(nèi)能,在金屬表面碰撞退激發(fā)時(shí)會產(chǎn)生二次電子,通過檢測退激發(fā)電子可以對亞穩(wěn)態(tài)原子束流強(qiáng)度等參數(shù)進(jìn)行測定。Panock R
計(jì)量學(xué)報(bào) 2022年5期2022-07-12
- 機(jī)載電子跨時(shí)鐘域同步電路驗(yàn)證及可靠性分析
會在電路中引入亞穩(wěn)態(tài)[1]，若亞穩(wěn)態(tài)處理不當(dāng)，則可能給電路帶來數(shù)據(jù)丟失、位錯(cuò)、重匯聚等風(fēng)險(xiǎn)，造成設(shè)備關(guān)鍵功能的喪失或錯(cuò)誤。如時(shí)鐘檢查電路功能喪失[2]、飛機(jī)顯示圖像異常、AFDX交換機(jī)數(shù)據(jù)錯(cuò)誤等。更嚴(yán)重的是，若亞穩(wěn)態(tài)沿信號通道上的寄存器級聯(lián)傳播，可能造成芯片燒毀的嚴(yán)重后果。如某航天器在為期一年多的地面測試中突然出現(xiàn)故障，經(jīng)分析發(fā)現(xiàn)，航天器出現(xiàn)故障的原因是跨時(shí)鐘域電路傳輸引入亞穩(wěn)態(tài)，亞穩(wěn)態(tài)傳播導(dǎo)致片上大量MOS(metal oxide semiconduct
西北工業(yè)大學(xué)學(xué)報(bào) 2022年2期2022-05-11
- 雙射頻氣體放電制備亞穩(wěn)態(tài)氪原子束流研究
項(xiàng)技術(shù)的發(fā)展，亞穩(wěn)態(tài)惰性氣體原子在原子光刻[1]、原子全息術(shù)[2]、原子光學(xué)[3]、冷碰撞物理[4]和精密測量[5]等基礎(chǔ)研究中得到了廣泛的關(guān)注。另一方面，氪原子物理和化學(xué)性質(zhì)穩(wěn)定，來源單一，其放射性同位素81Kr（半衰期22.9萬年）和85Kr（半衰期10.8年）是理想的示蹤同位素，廣泛應(yīng)用于地下水年代測定、氣候變化、大氣環(huán)境監(jiān)測[6]等應(yīng)用研究領(lǐng)域。然而大氣中氪含量稀少（約1ppmv），81Kr和85Kr同位素豐度極低（同位素豐度分別為5.3×10-1
機(jī)電產(chǎn)品開發(fā)與創(chuàng)新 2022年2期2022-04-13
- 四元赫斯勒合金CrIrVSb的半金屬性和磁性
rVSb合金的亞穩(wěn)態(tài),該狀態(tài)下合金仍為亞鐵磁性材料。為了進(jìn)一步研究CrIrVSb合金的基態(tài)和亞穩(wěn)態(tài)的穩(wěn)定性,計(jì)算了3種結(jié)構(gòu)在不同晶格常數(shù)下的能量,并繪制了能量隨晶格常數(shù)的變化曲線,如圖3所示。圖3中CrIrVSb合金的3種非等價(jià)結(jié)構(gòu)的能量隨晶格常數(shù)的變化曲線都存在能量的最小值,說明3種結(jié)構(gòu)都是穩(wěn)定結(jié)構(gòu),其中,基態(tài)(Type 3)的能量最低,對應(yīng)的平衡晶格常數(shù)為6.319 ?,亞穩(wěn)態(tài)(Type 1)對應(yīng)的平衡晶格常數(shù)為6.219 ?。由于亞穩(wěn)態(tài)結(jié)構(gòu)的總磁矩具
- 基于Verilog HDL的異步FIFO 設(shè)計(jì)
存儲之間會出現(xiàn)亞穩(wěn)態(tài)現(xiàn)象。異步FIFO(Frist Input Frist Output)是解決跨時(shí)鐘域數(shù)據(jù)傳輸和存儲所引發(fā)亞穩(wěn)態(tài)的有效方法之一。異步FIFO 在雷達(dá)、信號處理及多媒體技術(shù)等領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用[1-3]。1 FIFO結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)FIFO是一種先進(jìn)先出的雙端口數(shù)據(jù)緩存器，和普通緩沖器區(qū)別在于FIFO沒有外部地址線，優(yōu)點(diǎn)是減少輸入信號控制線，缺點(diǎn)是數(shù)據(jù)只能順序?qū)懭?、順序讀出[4-5]。圖1給出了異步FIFO內(nèi)部結(jié)構(gòu)圖，包括雙端口RAM存儲器、寫控制
電子設(shè)計(jì)工程 2021年19期2021-10-10
- 退火溫度對Al- Mg- Si 導(dǎo)線性能的影響
暗，初步推測為亞穩(wěn)態(tài)的Mg2Si 相。有文獻(xiàn)指出，當(dāng)Mg2Si 體積一定時(shí)，表面積越小，表面能越低，只有維持球狀才能具有最小的表面能，因此，片狀的Mg2Si 會向球狀的Mg2Si 轉(zhuǎn)化，這是一個(gè)自發(fā)的過程，使系統(tǒng)的自由能下降，球化的過程取決于Mg，Si 的擴(kuò)散能力。雖然Si 原子在Al 中的固溶度極低，在室溫下僅有0.05%，但是合金中存在的晶體缺陷能加速Si 的擴(kuò)散，最終Mg2Si 會形成細(xì)小，彌散的球狀顆粒狀[6]。也有文獻(xiàn)指出，對于時(shí)效處理的Al-M
科學(xué)技術(shù)創(chuàng)新 2021年25期2021-09-11
- 穩(wěn)定的高亮度低速亞穩(wěn)態(tài)氦原子束流*
量實(shí)驗(yàn)的關(guān)鍵.亞穩(wěn)態(tài)( 2 3S )氦原子的精密光譜測量在檢驗(yàn)量子電動力學(xué)、測定精細(xì)結(jié)構(gòu)常數(shù)研究中受到重要關(guān)注.本文利用激光冷卻方法增強(qiáng)束流強(qiáng)度、通過塞曼減速器降低原子的縱向速度, 并利用反饋控制穩(wěn)定束流強(qiáng)度.實(shí)驗(yàn)測得, 所產(chǎn)生的亞穩(wěn)態(tài)氦原子連續(xù)束流在(100±3.6) m/s 速度下, 強(qiáng)度達(dá) 5 .8×1012 atoms/(s·sr), 相對穩(wěn)定度為 0.021%.利用該原子束, 示范了在僅0.1%的飽和光強(qiáng)條件下進(jìn)行 4 He 原子 2 3S—23
物理學(xué)報(bào) 2021年13期2021-08-04
- 基于激光吸收光譜的惰性氣體Xe在線探測技術(shù)
但由于Xe存在亞穩(wěn)態(tài)，所以可通過放電方式將基態(tài)Xe泵浦至亞穩(wěn)態(tài)[10]。在對Xe光譜精細(xì)結(jié)構(gòu)的研究中，1994年， Walhout等通過實(shí)驗(yàn)精確測量了Xe的亞穩(wěn)態(tài)能級壽命[11]；1999年， Amico等測量了823 nm附近Xe穩(wěn)定同位素的譜線頻移及光譜精細(xì)結(jié)構(gòu)[12]；Date等通過理論和實(shí)驗(yàn)，分析了射頻放電情況下基態(tài)Xe至亞穩(wěn)態(tài)Xe的產(chǎn)額[13]；Pawelec等詳細(xì)給出了近紅外波段Xe穩(wěn)定同位素的光譜精細(xì)結(jié)構(gòu)[9]；Hickman等采用射頻放電和
現(xiàn)代應(yīng)用物理 2021年2期2021-07-13
- 全數(shù)字雙混頻鑒相技術(shù)亞穩(wěn)態(tài)抑制方法研究
雙混頻鑒相技術(shù)亞穩(wěn)態(tài)抑制方法研究崔廣利1,2,3,4，向渝1,2，華宇1,2,3,4（1. 中國科學(xué)院 國家授時(shí)中心，西安 710600；2. 中國科學(xué)院 精密導(dǎo)航定位與定時(shí)技術(shù)重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室，西安 710600；3. 中國科學(xué)院大學(xué)，北京 100049；4. 中國科學(xué)院大學(xué) 電子電氣與通信工程學(xué)院，北京 101048）全數(shù)字雙混頻鑒相技術(shù)（DDMTD）是一種高精度的相位檢測技術(shù)，在White Rabbit中主要負(fù)責(zé)完成兩路同周期信號的高精度相位差檢測。在全數(shù)
時(shí)間頻率學(xué)報(bào) 2021年1期2021-04-26
- 亞微米級向列相球形液滴中分裂核結(jié)構(gòu)穩(wěn)定性的探究
e)，其總是以亞穩(wěn)態(tài)的方式存在。An等人[8]分別在垂面強(qiáng)錨定邊界條件和鏡像-垂面(mirror-homeotropic)邊界條件下研究了分裂核結(jié)構(gòu)和-1分裂核結(jié)構(gòu)。對于上述有關(guān)分裂核結(jié)構(gòu)的研究結(jié)果，發(fā)現(xiàn)其總是以亞穩(wěn)態(tài)形式存在，而這也是本文的重點(diǎn)研究問題?；贚andau-de Gennes理論，本文主要從弱錨定邊界條件出發(fā)，通過考慮k24彈性項(xiàng)的作用，研究亞微米級尺寸下分裂核結(jié)構(gòu)成為穩(wěn)態(tài)的存在范圍。2 幾何模型圖1 球狀結(jié)構(gòu)示意圖Fig.1 Schema
液晶與顯示 2021年3期2021-04-10
- 基于自旋亞穩(wěn)態(tài)的零場冷交換偏置研究
00)1 自旋亞穩(wěn)態(tài)和零場冷交換偏置的研究現(xiàn)狀1.1 亞穩(wěn)態(tài)簡介亞穩(wěn)態(tài)是凝聚態(tài)中眾所周知的現(xiàn)象，由于其自由能高于平衡態(tài)，使得體系在某些性能上相較于穩(wěn)定態(tài)更易于調(diào)控，從而觸發(fā)出很多豐富的物性[1-6]. 磁性材料中的亞穩(wěn)態(tài)會使體系處于局部較小的能量勢阱中，在溫度場、磁場等外部物理場的作用下體系從一個(gè)勢阱跳到另一個(gè)勢阱，從而發(fā)生磁相變. 這種相變可以是光滑的，例如外磁場所帶來的大磁熵變[7-8]；也可以是突然的，例如磁跳變[9]、斯格明子等[10]. 這些相變
物理實(shí)驗(yàn) 2021年2期2021-03-10
- 原子尺度均勻形核亞穩(wěn)態(tài)結(jié)構(gòu)的分子動力學(xué)研究
中有可能存在的亞穩(wěn)態(tài)結(jié)構(gòu)的文獻(xiàn)卻很少。因此本文將系統(tǒng)地整理分析相關(guān)的研究文獻(xiàn)，對這些年來有關(guān)均勻形核過程中的液固結(jié)構(gòu)的研究進(jìn)行綜述。2 均勻形核結(jié)構(gòu)的分子動力學(xué)2.1 研究成果針對均勻形核的結(jié)構(gòu)問題，有關(guān)實(shí)驗(yàn)的文獻(xiàn)往往不進(jìn)行深入討論，并且所能得到的結(jié)論僅限于液態(tài)到固態(tài)的結(jié)構(gòu)轉(zhuǎn)變。實(shí)驗(yàn)雖然可以對整個(gè)凝固過程進(jìn)行研究，但無法準(zhǔn)確預(yù)測臨界晶核的生成。因此，實(shí)驗(yàn)所能夠觀察到的核，很可能已經(jīng)不再僅僅處于臨界大小，而是經(jīng)歷一定長大過程的過臨界晶核。故有關(guān)形核過程中的結(jié)
中國金屬通報(bào) 2020年16期2020-12-20
- 跨時(shí)鐘域傳遞位數(shù)據(jù)的同步方法
那么它就會產(chǎn)生亞穩(wěn)態(tài)現(xiàn)象，嚴(yán)重影響電路系統(tǒng)的可靠性和穩(wěn)定性。隨著大規(guī)模集成電路的設(shè)計(jì)越來越復(fù)雜，跨時(shí)鐘域傳遞數(shù)據(jù)信號的現(xiàn)象也越來越常見。因此，研究數(shù)據(jù)信號在不同時(shí)鐘域之間的傳遞問題，已經(jīng)成為數(shù)字集成電路系統(tǒng)設(shè)計(jì)者普遍關(guān)注的熱點(diǎn)問題之一[5]。根據(jù)國內(nèi)外的研究文獻(xiàn)和工程實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)，保持?jǐn)?shù)據(jù)同步能夠在很大程度上保證數(shù)據(jù)接收的準(zhǔn)確性，這也是保障系統(tǒng)可靠性和穩(wěn)定性的必要條件。在片上系統(tǒng)設(shè)計(jì)中，跨時(shí)鐘域傳遞位數(shù)據(jù)的情況最普遍，這也是處理多數(shù)據(jù)信號跨時(shí)鐘域傳遞的技術(shù)基礎(chǔ)
現(xiàn)代計(jì)算機(jī) 2020年24期2020-10-12
- 2016年門源MS6.4地震前跨斷層短水準(zhǔn)短期異常的機(jī)理探討
偏離線性階段的亞穩(wěn)態(tài)特征，應(yīng)力釋放與斷層協(xié)同活動已經(jīng)開始;同時(shí)也存在顯示亞失穩(wěn)狀態(tài)特征的可能。關(guān)鍵詞：門源地震;跨斷層形變;短期前兆;亞穩(wěn)態(tài)—亞失穩(wěn)態(tài)中圖分類號：P315.725文獻(xiàn)標(biāo)識碼：A文章編號：1000-0666（2020）04-0644-070引言地震預(yù)報(bào)要取得防震減災(zāi)實(shí)效，關(guān)鍵在于短-臨預(yù)報(bào)。亞失穩(wěn)是斷層失穩(wěn)前應(yīng)力由積累為主轉(zhuǎn)變?yōu)獒尫艦橹鞯淖詈箅A段（馬瑾等，2012，2014;馬瑾，2016），馬瑾等（2012）以5°拐折斷層一次粘滑實(shí)驗(yàn)中不同
地震研究 2020年4期2020-09-26
- W/ZrNiAlCu 亞穩(wěn)態(tài)合金復(fù)合材料破片對RHA 靶的侵徹釋能特性*
NiAlCu 亞穩(wěn)態(tài)合金復(fù)合材料是新一代MESM，具有較強(qiáng)的侵徹能力及釋能特性，但其對軋制均質(zhì)裝甲（RHA）靶板的侵徹釋能特性研究仍屬空白?；诖?，本文通過彈道槍侵徹實(shí)驗(yàn)和高速攝影，測量破片對RHA 靶板的撞擊速度和靶板貫穿形成的沖塞體速度，記錄破片的侵徹釋能過程，研究W/ZrNiAlCu 亞穩(wěn)態(tài)合金復(fù)合材料破片的侵徹釋能特性，為該亞穩(wěn)態(tài)合金復(fù)合材料的進(jìn)一步研究和應(yīng)用提供理論和實(shí)驗(yàn)依據(jù)。1 侵徹實(shí)驗(yàn)1.1 實(shí)驗(yàn)方案實(shí)驗(yàn)試樣為W/ZrNiAlCu 亞穩(wěn)態(tài)合金
爆炸與沖擊 2020年2期2020-04-09
- 基于FPGA的異步跨時(shí)鐘域設(shè)計(jì)
間的要求，出現(xiàn)亞穩(wěn)態(tài)的現(xiàn)象[2]。針對跨時(shí)鐘域設(shè)計(jì)中出現(xiàn)的問題，設(shè)計(jì)了一種基于底層FPGA硬件架構(gòu)為核心的FPGA跨時(shí)鐘域設(shè)計(jì)，能夠讓設(shè)計(jì)師在進(jìn)行FPGA設(shè)計(jì)時(shí)充分理解程序在芯片上運(yùn)行的過程，避免時(shí)序錯(cuò)誤。1 跨時(shí)鐘域系統(tǒng)在FPGA的設(shè)計(jì)中，任何信號均需滿足“建立時(shí)間”和“保持時(shí)間”兩個(gè)參數(shù)?！敖r(shí)間”是指在時(shí)鐘沿到來之前，觸發(fā)器輸入信號必須保持穩(wěn)定的時(shí)間?！氨３謺r(shí)間”則是指在時(shí)鐘沿之后，信號必須要保持穩(wěn)定的時(shí)間。如果輸入信號不滿足這個(gè)規(guī)則，觸發(fā)器的輸出
山西電子技術(shù) 2020年1期2020-03-24
- 一種基于比較器共模模式的真隨機(jī)數(shù)發(fā)生器設(shè)計(jì)方案
環(huán)振抖動采樣、亞穩(wěn)態(tài)和熱噪聲直接放大3種方法.環(huán)振抖動采樣中，由于振蕩器電路的熱噪聲會引起時(shí)鐘抖動，因此用低頻時(shí)鐘采樣高頻時(shí)鐘獲得隨機(jī)序列.該方法雖然電路結(jié)構(gòu)簡單，但隨機(jī)性較差[3].亞穩(wěn)態(tài)則是讓雙穩(wěn)態(tài)電路工作在亞穩(wěn)態(tài)狀態(tài)，使得電路輸出完全受熱噪聲影響.該方法有著較高的數(shù)據(jù)吞吐率[4]，但需要占用大量面積.熱噪聲直接放大法用運(yùn)算放大器將電阻上的熱噪聲放大到合適的幅度，之后通過比較器將放大后的熱噪聲與中間電平比較得到隨機(jī)信號.該方法可以提供高質(zhì)量的噪聲源[5
復(fù)旦學(xué)報(bào)（自然科學(xué)版） 2019年5期2019-10-25
- 銅冶煉含砷廢水水熱臭蔥石沉砷及亞穩(wěn)態(tài)鐵物相轉(zhuǎn)化行為
、堿式硫酸鐵等亞穩(wěn)態(tài)鐵物相。李存兄等[22-24]在水熱赤鐵礦沉鐵過程中研究發(fā)現(xiàn)，通過控制體系酸度、溫度、鐵離子濃度等因素可實(shí)現(xiàn)亞穩(wěn)態(tài)鐵礬的溶解與轉(zhuǎn)化。但采用常壓法或水熱法獲得的臭蔥石沉砷渣中含有亞穩(wěn)態(tài)鐵物相，降低了臭蔥石沉砷渣的純度及其穩(wěn)定性。工業(yè)含砷廢水雜質(zhì)含量高、成分復(fù)雜，以此為原料獲得的臭蔥石沉砷渣成分將更為復(fù)雜，將影響臭蔥石沉砷渣的穩(wěn)定性，易引發(fā)環(huán)境污染問題。水熱臭蔥石沉砷工藝是處理工業(yè)含砷廢水的有效方法，研究該過程中亞穩(wěn)態(tài)鐵物相的抑制及轉(zhuǎn)化對獲
- 三元共摻雜對YSZ熱障涂層熱物理性能的影響
化，相對穩(wěn)定的亞穩(wěn)態(tài)四方相t′會部分轉(zhuǎn)變?yōu)閱涡毕鄊和立方相c，在冷卻過程中四方相t轉(zhuǎn)變?yōu)閱涡毕鄊，相變導(dǎo)致晶格膨脹使涂層開裂剝落，葉片的壽命急劇下降，100 h后涂層逐漸開始剝落至失效[8-10]。根據(jù)史蒂芬波爾茲曼定律，隨著溫度的提高，熱輻射增加，當(dāng)溫度高于1473 K時(shí)，熱輻射呈4倍增長，熱導(dǎo)率急劇增大，熱輻射的比例高達(dá)30%，并且YSZ在1073 K呈半透明狀態(tài)，在高于1273 K溫度下完全透明，對熱輻射幾乎不起任何的遮擋作用[11-12]。為了改善
航空材料學(xué)報(bào) 2019年2期2019-04-15
- 射頻放電方法產(chǎn)生亞穩(wěn)態(tài)氪原子束流技術(shù)研究
測[7，8]。亞穩(wěn)態(tài)氪原子束流制備是原子阱痕量檢測方法的關(guān)鍵技術(shù)瓶頸之一。氪原子的第一激發(fā)態(tài)4p55s[3/2]1能量高達(dá)10eV，對應(yīng)波長123.6nm的真空紫外光尚無商用激光器，無法直接對基態(tài)氪原子進(jìn)行激光冷卻和囚禁。為解決這一問題，首先需要將氪原子從基態(tài)4p6激發(fā)到亞穩(wěn)態(tài)4p55s[3/2]2（能級壽命 40s），再利用波長 811.5nm 激光（有商用激光器）與亞穩(wěn)態(tài)5s[3/2]2→激發(fā)態(tài)5p[5/2]3的二能級系統(tǒng)共振，實(shí)現(xiàn)對于氪原子的冷卻與囚
機(jī)電產(chǎn)品開發(fā)與創(chuàng)新 2018年5期2018-10-16
- FPGA跨時(shí)鐘域信號同步設(shè)計(jì)方法研究
理不當(dāng)就會產(chǎn)生亞穩(wěn)態(tài)、采樣數(shù)據(jù)錯(cuò)誤、采樣丟失和重聚合錯(cuò)誤等一系列問題，從而使系統(tǒng)無法正常運(yùn)行。本文就此討論了在FPGA設(shè)計(jì)中跨時(shí)鐘域設(shè)計(jì)中的常見問題，信號及數(shù)據(jù)同步的常見方法[2]，在此基礎(chǔ)上說明了進(jìn)行跨時(shí)鐘域分析時(shí)的方法和步驟。1 跨時(shí)鐘域信號常見問題1.1 亞穩(wěn)態(tài)問題在FPGA系統(tǒng)中，如果數(shù)據(jù)傳輸中觸發(fā)器的建立時(shí)間Tsu和保持時(shí)間Th不滿足，或者復(fù)位過程中復(fù)位信號的釋放相對于有效時(shí)鐘沿的恢復(fù)時(shí)間(recovery time)和撤離時(shí)間(removal
單片機(jī)與嵌入式系統(tǒng)應(yīng)用 2018年9期2018-09-07
- FPGA中關(guān)于復(fù)位的設(shè)計(jì)和研究
的值,容易造成亞穩(wěn)態(tài),從而影響設(shè)計(jì)的可靠性;復(fù)位信號容易受到毛刺的影響,會導(dǎo)致觸發(fā)器的誤操作,進(jìn)而影響設(shè)計(jì)的穩(wěn)定性;此外異步復(fù)位的可測性和STA的復(fù)雜性要高于同步復(fù)位。圖1 同步復(fù)位電路圖圖2 異步復(fù)位電路圖2.3 異步復(fù)位同步釋放異步復(fù)位同步釋放是指在異步復(fù)位信號到來的時(shí)候不受時(shí)鐘信號的同步,而是在復(fù)位信號釋放的時(shí)候受到時(shí)鐘信號的同步。其綜合后RTL圖如圖3所示。其中異步復(fù)位信號使用FPGA寄存器的全局異步復(fù)位端口能夠使復(fù)位信號有效時(shí)刻到達(dá)所有寄存器的時(shí)
數(shù)字技術(shù)與應(yīng)用 2018年3期2018-06-14
- 靜電自組裝GO/Al/CuO的制備與性能研究
/Al/CuO亞穩(wěn)態(tài)分子間復(fù)合物。對樣品的微觀形貌、結(jié)構(gòu)和熱反應(yīng)特性及感度進(jìn)行研究測試。結(jié)果表明：自組裝法增大了組分粒子的接觸，納米Al和納米CuO粒子均勻負(fù)載在GO片層；與物理混合法相比，靜電自組裝制備的GO/Al/CuO反應(yīng)放熱量達(dá)到1 394 J/g，提高了61.34 %，撞擊、摩擦和火焰感度均有所降低。亞穩(wěn)態(tài)分子間復(fù)合物；氧化石墨烯；自組裝；放熱量；感度亞穩(wěn)態(tài)分子間復(fù)合物[1]（Metastable Intermolecular Composite
火工品 2018年1期2018-05-03
- FPGA設(shè)計(jì)中跨時(shí)鐘域的問題與方法
鐘域傳輸信號時(shí)亞穩(wěn)態(tài)現(xiàn)象產(chǎn)生的原因以及危害，然后分析和研究了解決跨時(shí)鐘域傳輸過程中遇到的各種同步技術(shù)，分析和比較在不同場合的應(yīng)用以及各自的優(yōu)缺點(diǎn)?！娟P(guān)鍵詞】FPGA 跨時(shí)鐘域 亞穩(wěn)態(tài)FPGA（Field-Programmable Gate Array），即現(xiàn)場可編程門陣列，它是在PAL、GAL、CPLD等可編程期間的基礎(chǔ)上進(jìn)一步發(fā)展起來的一種可編程門陣列。它是作為專用集成電路（ASIC）領(lǐng)用中的一種半定制電路而出現(xiàn)的，既解決了定制電路的不足，又克服了原有可
電子技術(shù)與軟件工程 2017年24期2018-01-17
- 基于FPGA的數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)中跨時(shí)鐘域設(shè)計(jì)的研究
跨時(shí)鐘域引起的亞穩(wěn)態(tài)，從而導(dǎo)致對下一級邏輯電路的影響。本文論述了在基于FPGA的數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)設(shè)計(jì)中對跨時(shí)鐘域信號處理的幾種方式，從而盡可能的保證了信號在跨時(shí)鐘域設(shè)計(jì)中的穩(wěn)定性。數(shù)字電路 跨時(shí)鐘域 FPGA 亞穩(wěn)態(tài)1 引言隨著數(shù)字電路設(shè)計(jì)復(fù)雜度的提高，設(shè)計(jì)中存在多個(gè)時(shí)鐘域變得越來越普遍。由于多時(shí)鐘的異步系統(tǒng)內(nèi)含有多個(gè)時(shí)鐘源的頻率和相位存在差異，當(dāng)信號跨時(shí)鐘域時(shí)就可能違背建立時(shí)間和保持時(shí)間的要求，出現(xiàn)亞穩(wěn)態(tài)的現(xiàn)象。數(shù)字設(shè)計(jì)中沒有EDA工具能夠智能的去考慮和解決
數(shù)碼世界 2017年4期2017-12-29
- 鈰離子對高強(qiáng)鋁合金應(yīng)力腐蝕開裂的緩蝕作用
制鋁合金表面的亞穩(wěn)態(tài)點(diǎn)蝕發(fā)育和長大，因而使裂紋的孕育時(shí)間顯著延長，降低了SCC的敏感性。不過一旦裂紋進(jìn)入擴(kuò)展階段或者試樣表面有預(yù)裂紋，則由于Ce3+很難遷移到裂紋尖端或在裂尖區(qū)難以成膜，不能對裂紋的生長起到有效抑制作用，因而無法降低7A04的SCC發(fā)展速率。SEM分析表明7A04鋁合金光滑試樣SCC主要源于亞穩(wěn)態(tài)或穩(wěn)態(tài)點(diǎn)蝕的誘導(dǎo)作用。鋁合金；應(yīng)力腐蝕；電化學(xué)噪聲；點(diǎn)蝕；緩蝕劑高強(qiáng)鋁合金廣泛應(yīng)用在航空航天領(lǐng)域，但在海洋大氣環(huán)境中容易發(fā)生點(diǎn)蝕[1]、剝蝕和應(yīng)力
材料工程 2017年5期2017-06-28
- 基于FPGA的異步FIFO的設(shè)計(jì)
遞數(shù)據(jù)的系統(tǒng)中亞穩(wěn)態(tài)的產(chǎn)生，采用異步FIFO（First In First Out，先進(jìn)先出隊(duì)列）口來緩沖傳輸?shù)臄?shù)據(jù)，以克服亞穩(wěn)態(tài)，保證數(shù)據(jù)的正確傳輸。由于常規(guī)異步FIFO模塊中的RAM存儲器讀寫尋址指針常采用格雷碼計(jì)數(shù)器以及“空滿”控制邏輯的存在，將使通過這兩個(gè)模塊的信號通路延時(shí)對整個(gè)模塊的工作頻率造成制約。提出了一種在FPGA內(nèi)實(shí)現(xiàn)高速異步FIFO的方法.使模塊的工作頻率得到一定提高。【關(guān)鍵字】 FPGA FIFO一、FPGA簡介FPGA（Field-
中國新通信 2016年23期2017-03-01
- 一種帶有亞穩(wěn)態(tài)消除電路的TDC設(shè)計(jì)方案*
41）一種帶有亞穩(wěn)態(tài)消除電路的TDC設(shè)計(jì)方案*尤 帥1，艾國潤1，劉俐宏1，楊赟秀2，袁 菲2，甄少偉1*，賀雅娟1，羅 萍1（1.電子科技大學(xué)電子薄膜與集成器件國家實(shí)驗(yàn)室，成都610054；2.西南技術(shù)物理研究所，成都610041）時(shí)間間隔測量技術(shù)在原子物理、激光測距、定位定時(shí)等方面有著重要的應(yīng)用，因此，高精度的時(shí)間數(shù)字轉(zhuǎn)換電路TDC（Time-to-Digital Converter）在科學(xué)研究和工程實(shí)踐中扮演著重要的角色；本次提出的TDC設(shè)計(jì)方案功耗
電子器件 2016年6期2016-12-23
- 電化學(xué)噪聲技術(shù)研究X80鋼的點(diǎn)蝕過程
NaCl溶液中亞穩(wěn)態(tài)與穩(wěn)態(tài)點(diǎn)蝕特征。結(jié)果表明：在含Cl-溶液中，當(dāng)試樣處于點(diǎn)蝕亞穩(wěn)態(tài)，電位與電流噪聲具有典型的快速下降或上升，緩慢恢復(fù)的暫態(tài)峰(Transient)特征，噪聲電流峰平均寬約5～10 s，而噪聲電位峰寬為100 s。隨著腐蝕時(shí)間的延長，亞穩(wěn)態(tài)點(diǎn)蝕噪聲峰數(shù)量增多，亞穩(wěn)態(tài)點(diǎn)蝕程度加劇;當(dāng)點(diǎn)蝕由亞穩(wěn)態(tài)發(fā)展到穩(wěn)態(tài)初期，電流噪聲峰恢復(fù)時(shí)間變長，與電位噪聲峰壽命趨于一致;而隨著穩(wěn)態(tài)點(diǎn)蝕的發(fā)展，電位與電流峰出現(xiàn)的頻率顯著增加，電位與電流峰具有很好的相位同步
腐蝕與防護(hù) 2016年7期2016-09-14
- 一種“死時(shí)間”少和自動校準(zhǔn)容易的Wave Union TDC
題，并消除由于亞穩(wěn)態(tài)、噪聲或時(shí)鐘網(wǎng)絡(luò)延時(shí)網(wǎng)絡(luò)不對稱等造成的“bubble”現(xiàn)象。最大的挑戰(zhàn)是針對鎖存延時(shí)鏈得到的非溫度計(jì)碼的編碼器設(shè)計(jì)問題，更短的編碼時(shí)間意味著可以實(shí)現(xiàn)TDC的連續(xù)測量以及更短的延時(shí)鏈長度、更長的TDC時(shí)鐘周期、更低的TDC通道資源使用量。為了消除溫度和電壓變化對TDC測量精度的影響，采用了占用大量硬件資源的實(shí)時(shí)按位校準(zhǔn)方法。在Altera 的Cyclone II器件上，時(shí)鐘頻率為400MHz，64位延時(shí)鏈的WUA TDC使用了1 621個(gè)
軟件導(dǎo)刊 2016年7期2016-05-14
- 鉺鐿共摻波導(dǎo)放大器能級粒子數(shù)分布的研究
規(guī)律，如鉺離子亞穩(wěn)態(tài)能級上粒子數(shù)變化率最大的地方表現(xiàn)為EYCDWA內(nèi)部具有增益極值；在前端單向泵浦方式下靠近波導(dǎo)輸出端該能級上的粒子數(shù)最少，EYCDWA產(chǎn)生的噪聲最小。放大器；鉺鐿共摻；粒子數(shù)隨著光波導(dǎo)放大器小型化和集成化的發(fā)展，在增益不變或要求更高的條件下，有源器件的尺寸越小越好。摻鉺光波導(dǎo)放大器（EDWA）引入鐿離子，它為鉺離子提供了一種間接泵浦方式，改善波導(dǎo)放大器的性能，能在更短的波導(dǎo)長度下獲得較高的增益，因而鉺鐿共摻波導(dǎo)放大器（EYCDWA）更具有
- 304不銹鋼點(diǎn)蝕行為的電化學(xué)阻抗譜研究
0.1V時(shí)，是亞穩(wěn)態(tài)蝕孔的生長和發(fā)展期；0.1V之后，點(diǎn)蝕生長速度隨電位的升高而加快，電極處于過鈍化狀態(tài)。從圖1中的動電位極化曲線無法獲得亞穩(wěn)態(tài)蝕孔生長發(fā)展的相關(guān)信息，但通過動電位電化學(xué)阻抗譜技術(shù)就可以研究亞穩(wěn)態(tài)點(diǎn)蝕的形核、發(fā)展對電極狀態(tài)的影響。圖2 304不銹鋼DEIS測試Nyquist圖（a）－0.2～－0.06V；（b）－0.04～0.10V；（c）0.12～0.26V；（d）0.28～0.40VFig.2 Nyquist plots of 304
材料工程 2014年6期2014-04-26
- FPGA設(shè)計(jì)中的跨時(shí)鐘域問題
跨時(shí)鐘域產(chǎn)生的亞穩(wěn)態(tài)現(xiàn)象對FPGA仿真驗(yàn)證造成的影響。關(guān)鍵詞： CDC； 亞穩(wěn)態(tài)； 同步； 仿真中圖分類號： TN710?34 文獻(xiàn)標(biāo)識碼： A 文章編號： 1004?373X（2014）07?0151?03Problem of clock domain crossing in FPGA designYU Fan， ZHANG Wei?xin（Shanghai Aerospace Electronic Technology Institute， Shang
現(xiàn)代電子技術(shù) 2014年7期2014-04-18
- 非對稱反饋神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)中亞穩(wěn)態(tài)的位置與穩(wěn)定性
710062）亞穩(wěn)態(tài)存在于真實(shí)的大腦記憶中［1－4］，同時(shí)對人工神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的應(yīng)用也起著非常重要的作用．例如，神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)可用于聯(lián)想記憶和模式識別［5－7］，但由于亞穩(wěn)態(tài)的存在可能會導(dǎo)致記憶失敗和識別錯(cuò)誤［8－10］．所以對神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)中的亞穩(wěn)態(tài)的研究一直是人們比較關(guān)注的問題．目前，在真實(shí)大腦中對亞穩(wěn)態(tài)的研究集中在臨界過程［2－4］，如臨界分支過程［2］．在人工神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)中以對稱網(wǎng)絡(luò)為主，研究亞穩(wěn)態(tài)的結(jié)構(gòu)［11］和數(shù)目［12］，尤其是當(dāng)記憶模式為3個(gè)時(shí)，系統(tǒng)中亞穩(wěn)態(tài)的結(jié)
- 流體-亞穩(wěn)態(tài)原子傳輸混合模型模擬空心陰極放電特性*
性，并沒有考慮亞穩(wěn)態(tài)原子的時(shí)空演化特性.而在很多利用流體-蒙特卡羅模型對空心陰極放電進(jìn)行的模擬研究中同樣忽略了分步電離等對新電子產(chǎn)生的影響[8,9].但是亞穩(wěn)態(tài)原子是氣體放電反應(yīng)中一種重要的活性粒子，為了能夠更加準(zhǔn)確的反應(yīng)空心陰極放電的放電特性，有必要在放電模型中加入亞穩(wěn)態(tài)原子傳輸模型.本文分別利用單一流體模型和流體-亞穩(wěn)態(tài)原子傳輸混合模型模擬了矩形空心陰極的放電特性;通過比較兩種模型模擬得到的電子密度以及電離反應(yīng)速率等，研究了亞穩(wěn)態(tài)原子對放電特性的影響.
物理學(xué)報(bào) 2013年11期2013-02-25
- 近β 型高強(qiáng)Ti-10V-2Fe-3Al 合金對激光切割的響應(yīng)
鈦合金尤其是亞穩(wěn)態(tài)β 鈦合金，具有優(yōu)異的物理及力學(xué)性能而得到廣泛應(yīng)用。然而，亞穩(wěn)態(tài)β 鈦合金因其高強(qiáng)韌性、高的化學(xué)反應(yīng)活性以及低的熱導(dǎo)率等特性難于切削。激光加熱輔助切削(LAM)是一種近年發(fā)展起來的特種加工技術(shù)，在切削過程中，以激光束為熱源，對工件進(jìn)行局部加熱，使其強(qiáng)度下降達(dá)到塑性切削的目的。已有實(shí)驗(yàn)表明，采用LAM技術(shù)能夠改善α+β 或α 鈦合金的切削性，而是否能夠改善亞穩(wěn)態(tài)β 鈦合金的切削性能還有待研究。為此，R. A. Rahman Rashid 等
鈦工業(yè)進(jìn)展 2013年2期2013-02-15
- 一種超細(xì)晶β 鈦合金熱穩(wěn)定性的研究
亞穩(wěn)態(tài)β 鈦合金不含Ni 和其他有毒元素，具有良好的生物相容性，在醫(yī)療領(lǐng)域得到了很好的應(yīng)用。然而，亞穩(wěn)態(tài)β 鈦合金的表面性能和抗疲勞性能已成為限制其應(yīng)用的重要因素，而發(fā)展超細(xì)晶(UFG)和納米晶的亞穩(wěn)態(tài)β 鈦合金則是提高亞穩(wěn)態(tài)β 鈦合金強(qiáng)度和改善抗疲勞性能的有效方法。Ti-25Nb-3Zr-3Mo-2Sn 合金是一種新型的亞穩(wěn)態(tài)β 鈦合金，具有較低的彈性模量，高的強(qiáng)度、可塑性及贗彈性，并且可以通過累積軋制(ARB)這種大塑性變形(SPD)技術(shù)有效提高合金的
鈦工業(yè)進(jìn)展 2013年1期2013-02-14
- 略論穩(wěn)定態(tài)與亞穩(wěn)態(tài)
)略論穩(wěn)定態(tài)與亞穩(wěn)態(tài)郝士明(東北大學(xué) 材料與冶金學(xué)院，沈陽 110819)目前，由于材料與冶金科技的發(fā)展，出現(xiàn)了超出或遠(yuǎn)離常規(guī)條件下使用的材料，在材料制備過程中，也常出現(xiàn)一些不太穩(wěn)定的物質(zhì)，因此“穩(wěn)定態(tài)”和“亞穩(wěn)態(tài)”成了常用詞匯.但是在探究這兩個(gè)詞匯的含義時(shí)又會發(fā)現(xiàn)，它們的應(yīng)用范圍極其廣泛:物理學(xué)、化學(xué)、天文學(xué)、原子能工程學(xué)、電子器件學(xué)、熱工學(xué)、化工學(xué)等等，涉及大部分自然科學(xué)門類.甚至社會科學(xué)中也使用這兩個(gè)詞匯.盡管各學(xué)科中的“穩(wěn)定態(tài)”和“亞穩(wěn)態(tài)”是可以相
材料與冶金學(xué)報(bào) 2012年1期2012-12-28
- Mon(n=2～12)團(tuán)簇的基態(tài)結(jié)構(gòu)及其穩(wěn)定性
最低能量結(jié)構(gòu)和亞穩(wěn)態(tài)結(jié)構(gòu)如圖1所示,能量按照由低到高的順序排列。對于Mo3,優(yōu)化出的基態(tài)構(gòu)型為等邊三角形。一個(gè)Mo戴帽在Mo3的最低能量結(jié)構(gòu)上得到了Mo4最低能量結(jié)構(gòu)菱形(4a)和亞穩(wěn)態(tài)結(jié)構(gòu)矩形(4b)兩個(gè)平面結(jié)構(gòu),并且亞穩(wěn)態(tài)結(jié)構(gòu)4b比最低能量結(jié)構(gòu)的能量高0.431 7eV。圖1 Mon(n=2～12)團(tuán)簇的最低能量結(jié)構(gòu)和一些亞穩(wěn)態(tài)的幾何結(jié)構(gòu)對于Mo5,孿生四面體(5a)是其穩(wěn)定結(jié)構(gòu),可以看作是在Mo4最低能量結(jié)構(gòu)上戴帽一個(gè)Mo原子生成;亞穩(wěn)態(tài)結(jié)構(gòu)5b是由
周口師范學(xué)院學(xué)報(bào) 2012年2期2012-12-12
- 基于電化學(xué)噪聲研究緩蝕劑對AA6063鋁合金點(diǎn)蝕的影響
aCl溶液中的亞穩(wěn)態(tài)點(diǎn)蝕萌發(fā)和穩(wěn)態(tài)點(diǎn)蝕生長特征,著重探討了CeCl3、Na2CrO4、8-羥基喹啉(8-HQ)等三種不同類型緩蝕劑對亞穩(wěn)態(tài)和穩(wěn)態(tài)點(diǎn)蝕的抑制機(jī)理.結(jié)果表明:當(dāng)鋁合金表面陰極相(Al-Si-Fe)周邊的Al基體發(fā)生局部溶解后,會導(dǎo)致鄰近區(qū)域pH值升高(>8.4),引起Ce(OH)3在蝕點(diǎn)中心區(qū)的陰極相表面優(yōu)先沉積,從而抑制局部腐蝕的陰極去極化過程.隨著緩蝕劑濃度的提高,亞穩(wěn)態(tài)噪聲峰的平均積分電量(q)隨之遞減,但噪聲峰的平均壽命幾乎沒有變化,表
物理化學(xué)學(xué)報(bào) 2012年9期2012-11-30
- 表面粗糙度對304不銹鋼早期點(diǎn)蝕行為影響的電化學(xué)方法
了表面粗糙度對亞穩(wěn)態(tài)點(diǎn)蝕萌生的影響，Arash等［2］研究了表面粗糙度對316不銹鋼均勻腐蝕及點(diǎn)蝕的影響，發(fā)現(xiàn)不銹鋼電極表面粗糙度越小，不銹鋼越不容易發(fā)生點(diǎn)蝕。Hong等［3］研究了不同表面粗糙度301不銹鋼的早期腐蝕行為，發(fā)現(xiàn)在粗糙的不銹鋼表面更容易產(chǎn)生亞穩(wěn)態(tài)及穩(wěn)態(tài)點(diǎn)蝕。本研究采用動電位掃描、電化學(xué)阻抗譜和電化學(xué)噪聲等電化學(xué)方法，研究幾種不同表面粗糙度304不銹鋼在質(zhì)量分?jǐn)?shù)為3%的NaCl溶液中的點(diǎn)蝕行為，深入了解表面粗糙度對不銹鋼點(diǎn)蝕發(fā)生發(fā)展的影響。1
失效分析與預(yù)防 2012年2期2012-07-17
- TMR加固的SpaceWire節(jié)點(diǎn)的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)
MR設(shè)計(jì)在降低亞穩(wěn)態(tài)導(dǎo)致系統(tǒng)功能錯(cuò)誤中的應(yīng)用目前FPGA功能設(shè)計(jì)中，TMR大多用在抗單粒子翻轉(zhuǎn)的設(shè)計(jì)中，廣義上講，TMR設(shè)計(jì)的思想是降低目標(biāo)部件發(fā)生錯(cuò)誤對系統(tǒng)功能造成的影響，所以三模冗余設(shè)計(jì)也可以應(yīng)用在降低亞穩(wěn)態(tài)導(dǎo)致系統(tǒng)功能錯(cuò)誤的設(shè)計(jì)中。在多時(shí)鐘域設(shè)計(jì)中，亞穩(wěn)態(tài)是常見的問題，一般使用雙采樣降低亞穩(wěn)態(tài)產(chǎn)生的概率，但是仍然有一定概率會產(chǎn)生亞穩(wěn)態(tài)。當(dāng)產(chǎn)生亞穩(wěn)態(tài)時(shí)，最差情況下，需要經(jīng)過幾個(gè)甚至更多個(gè)時(shí)鐘周期，寄存器輸出才能穩(wěn)定在“0”或者“1”。 本文嘗試使用TM
航天返回與遙感 2012年4期2012-06-11
- FPGA跨時(shí)鐘域亞穩(wěn)態(tài)研究
PGA跨時(shí)鐘域亞穩(wěn)態(tài)研究廣東工業(yè)大學(xué)自動化學(xué)院 周 偉 杜玉曉 楊其宇 張育俊 曾 浩在FPGA電路設(shè)計(jì)中，一個(gè)系統(tǒng)可能包含了很多跨時(shí)鐘域的時(shí)鐘信號，當(dāng)其目標(biāo)域時(shí)鐘與源域時(shí)鐘不同時(shí)，如何在這些不同域之間傳遞數(shù)據(jù)成為了一個(gè)重要問題。特別是在中心模塊與外圍電路芯片的通信設(shè)計(jì)中，容易導(dǎo)致亞穩(wěn)態(tài)的跨時(shí)鐘域就不可避免。針對FPGA設(shè)計(jì)中的亞穩(wěn)態(tài)問題，本文給出了一系列行之有效的解決方法，很好地抑制亞穩(wěn)態(tài)，提高系統(tǒng)可靠性。亞穩(wěn)態(tài)；建立時(shí)間；保持時(shí)間；異步FIFO；握手協(xié)
電子世界 2012年3期2012-06-01
- FPGA設(shè)計(jì)中的亞穩(wěn)態(tài)及其緩解措施
還有其他狀態(tài)，亞穩(wěn)態(tài)就是其中之一。亞穩(wěn)態(tài)是指觸發(fā)器或鎖存器無法在某個(gè)規(guī)定時(shí)間段內(nèi)達(dá)到一個(gè)可確認(rèn)的狀態(tài)[1]。當(dāng)一個(gè)觸發(fā)器進(jìn)入亞穩(wěn)態(tài)時(shí)，既無法預(yù)測該單元的輸出電平，也無法預(yù)測何時(shí)輸出才能穩(wěn)定在某個(gè)正確的電平上。在亞穩(wěn)態(tài)期間，觸發(fā)器輸出一些中間級電平，甚至可能處于振蕩狀態(tài)，并且這種無用的輸出電平可以沿信號通道上的各個(gè)觸發(fā)器級聯(lián)式傳播下去。亞穩(wěn)態(tài)是異步數(shù)字電路設(shè)計(jì)中的固有現(xiàn)象，但是由于其偶發(fā)性和溫度敏感性的特點(diǎn)，在產(chǎn)品前期測試過程中很難發(fā)現(xiàn)。當(dāng)前多個(gè)型號的FPG
電子技術(shù)應(yīng)用 2012年8期2012-03-15
- 一種基于ASIC的高速異步FIFO設(shè)計(jì)*
入等錯(cuò)誤，同時(shí)亞穩(wěn)態(tài)現(xiàn)象也會出現(xiàn)在不同時(shí)鐘域之間的數(shù)據(jù)傳遞過程中。此時(shí)，如何實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)高速有效的傳輸并克服跨時(shí)鐘域間數(shù)據(jù)傳遞時(shí)的亞穩(wěn)態(tài)成為一個(gè)關(guān)鍵點(diǎn)問題。由于異步FIFO （First In First Out）能夠有效解決不同傳輸速度和不同時(shí)鐘域之間數(shù)據(jù)傳遞的問題，異步FIFO在實(shí)際電路中得到廣泛的運(yùn)用。本文介紹一種基于ASIC的高速異步FIFO的設(shè)計(jì)和實(shí)現(xiàn)方案。1 異步FIFO的基本功能和結(jié)構(gòu)異步FIFO指在不同時(shí)鐘域之間，由一個(gè)時(shí)鐘域?qū)懭耄龑懭霐?shù)據(jù)穩(wěn)
網(wǎng)絡(luò)安全與數(shù)據(jù)管理 2011年22期2011-08-20
- 一種異步FIFO數(shù)據(jù)余量檢測方法
的利用率。1 亞穩(wěn)態(tài)要想設(shè)計(jì)異步FIFO數(shù)據(jù)余量的檢測方法，首先應(yīng)該了解異步FIFO設(shè)計(jì)中涉及到的亞穩(wěn)態(tài)問題。在數(shù)字集成電路中，觸發(fā)器必須滿足建立時(shí)間（set?up time）和保持時(shí)間（hold time）的時(shí)序要求（其中建立時(shí)間是時(shí)鐘翻轉(zhuǎn)之前數(shù)據(jù)輸入必須有效的最小時(shí)間，有效時(shí)間是在時(shí)鐘沿之后數(shù)據(jù)輸入必須仍然有效的最小時(shí)間）。觸發(fā)器時(shí)序要求如圖1所示，如果信號和時(shí)鐘之間不滿足這個(gè)時(shí)序要求，會使寄存器工作在一個(gè)不確定的狀態(tài)，并且在未知的時(shí)刻會隨機(jī)地固定到高
電視技術(shù) 2011年15期2011-06-07
- FPGA設(shè)計(jì)中跨時(shí)鐘域同步方法的研究
中采樣就會產(chǎn)生亞穩(wěn)態(tài)、采樣丟失和采樣數(shù)據(jù)錯(cuò)誤等一系列問題，從而使系統(tǒng)無法正常運(yùn)行。本文就此分析了在FPGA設(shè)計(jì)中跨時(shí)鐘域?qū)е碌?span id="j5i0abt0b" class="hl">亞穩(wěn)態(tài)現(xiàn)象以及2種同步方法，尤其是基于異步FIFO的同步方法。1 跨時(shí)鐘域中的亞穩(wěn)態(tài)在FPGA的設(shè)計(jì)中，當(dāng)用不同域的時(shí)鐘去采樣數(shù)據(jù)時(shí)，如果采樣的數(shù)據(jù)不滿足setup時(shí)間和hold時(shí)間， 這樣就可能產(chǎn)生亞穩(wěn)態(tài)，此時(shí)觸發(fā)器輸出端Q在有效時(shí)鐘沿之后比較長的一段時(shí)間內(nèi)處于不確定的狀態(tài)。在這段時(shí)間內(nèi)Q端產(chǎn)生毛刺并不斷震蕩，最終固定在某一電壓值
鐵路計(jì)算機(jī)應(yīng)用 2011年5期2011-05-11
- 基于抖動的高速真隨機(jī)數(shù)發(fā)生器的設(shè)計(jì)和實(shí)現(xiàn)
生隨機(jī)數(shù)。4.亞穩(wěn)態(tài)采樣法[14-16]：利用數(shù)字電路的亞穩(wěn)態(tài)作為隨機(jī)源。亞穩(wěn)態(tài)是指觸發(fā)器無法在某個(gè)規(guī)定時(shí)間段內(nèi)達(dá)到一個(gè)可確認(rèn)的狀態(tài)，比如在同步系統(tǒng)中，若觸發(fā)器的建立時(shí)間/保持時(shí)間不滿足，就可能產(chǎn)生亞穩(wěn)態(tài)。觸發(fā)器輸出端Q在有效時(shí)鐘沿后較長的一段時(shí)間處于不確定的狀態(tài)，這種不確定狀態(tài)最終會在Q端隨機(jī)輸出0或1，與輸入并無必然聯(lián)系，從而得到隨機(jī)序列。如圖 1所示，影響 TRNG性能者有：熵源(Entropy Source)，采集手段(Harvesting Mec
核技術(shù) 2011年7期2011-03-24
- 激光告警系統(tǒng)的異步FIFO設(shè)計(jì)*
號，避免觸發(fā)器亞穩(wěn)態(tài)的產(chǎn)生；二是如何根據(jù)FIFO的指針信號正確地判斷FIFO的空滿狀態(tài)[1]。圖2 異步FIFO結(jié)構(gòu)圖2.1 亞穩(wěn)態(tài)問題的解決在數(shù)字電路中，觸發(fā)器需要滿足setup/hold時(shí)間要求。當(dāng)一個(gè)信號被寄存器鎖存時(shí)，如果信號和時(shí)鐘之間不能滿足這個(gè)要求，data2端的值就是不確定的，這個(gè)過程稱為亞穩(wěn)態(tài)。如圖3所示為常用異步時(shí)鐘和亞穩(wěn)態(tài)[2]。圖3 常用異步時(shí)鐘和亞穩(wěn)態(tài)在異步FIFO中，由于時(shí)鐘之間周期和相位完全獨(dú)立，因此數(shù)據(jù)的丟失概率不為零。盡管亞
網(wǎng)絡(luò)安全與數(shù)據(jù)管理 2010年21期2010-05-18