謝 華,江 闊,羅德禮,芮筱亭
(1.表面物理與化學(xué)重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室,四川 綿陽 621907;2.南京理工大學(xué) 材料科學(xué)與工程學(xué)院,江蘇 南京 210094;3.西南科技大學(xué) 核廢物與環(huán)境安全國防重點(diǎn)學(xué)科實(shí)驗(yàn)室,四川 綿陽 621010)
燒綠石型 A2Zr2O7+x(A=Ln或 An;0≤x≤1)因具有優(yōu)異的抗輻照能力和良好的化學(xué)穩(wěn)定性,被認(rèn)為是高放廢物、尤其是長壽命超鈾核素的理想候選固化介質(zhì)材料。Yamamura等[1]和 Otobe 等[2]已 成 功 合 成239Pu2Zr2O7、241Am2Zr2O7,并發(fā)現(xiàn)該固化體在自輻照室溫條件下放置1年,其結(jié)構(gòu)將從有序的燒綠石向無序的螢石發(fā)生轉(zhuǎn)變;隨后,Sykora等[3]在An2Zr2O7(An=Am,Cf)固化體中亦觀察到相同的相轉(zhuǎn)變,他們采用Kim[4]提出的螢石相晶胞常數(shù)估算法計(jì)算得到燒綠石Cf2Zr2O7在存放1年后其 Cf3+/Cf4+摩爾比為1∶6,根據(jù)Pauling靜電價(jià)規(guī)則,為平衡多余的、占據(jù)燒綠石中氧空位的氧離子,Cf3+必須給出電子以實(shí)現(xiàn)電荷平衡,由此引起Cf及Zr原子周圍配位環(huán)境發(fā)生改變,導(dǎo)致有序的燒綠石結(jié)構(gòu)將逐漸向亞穩(wěn)、富氧相Cf2Zr2O7+x(0<x≤1)以及缺氧型螢石結(jié)構(gòu) Cf0.5Zr0.5O2-y轉(zhuǎn)變。因此,對于燒綠石型錒系核素固化體的結(jié)構(gòu)穩(wěn)定性及對抗輻照等性能的影響值得重點(diǎn)關(guān)注和研究。
由于Ce是三價(jià)超鈾核素良好的模擬物,Ce2Zr2O7展現(xiàn)出與An2Zr2O7極其相似的物理化學(xué)性質(zhì)。Tsuyoshi等[5]發(fā)現(xiàn)將Ce2Zr2O7暴露在空氣中,其晶胞常數(shù)將從1.075nm逐漸降至1.065nm。因此,采用 Ce2Zr2O7+x體系模擬研究 An2Zr2O7+x(0<x≤1)的結(jié)構(gòu)穩(wěn)定性具有很好的借鑒價(jià)值。目前,已報(bào)道的Ce2Zr2O7+x系列化合物有以及 Ce2Zr2O8(P213)[8,10-11]等。通過文獻(xiàn)調(diào)研不難發(fā)現(xiàn),以上各種材料的制備工藝較為苛刻,均需通過氬氫還原首先制備出純相的燒綠石相Ce2Zr2O7,之后再將其置于氧氣或暴露于空氣中氧化得到。在氬氫還原條件下制備純相Ce2Zr2O7要求還原溫度高于1 400℃,還原時間不少于48h,且需反復(fù)還原4次以上方能得到,再加之氧化階段的氧濃度較難控制,從而限制了對Ce2Zr2O7+x材料的研究與開發(fā)。
受CeO2催化氧化CO氣體的啟發(fā)[12],本文提出一種sol-噴霧熱解與石墨還原相結(jié)合的方法制備Ce2Zr2O7+x相,并通過改變還原時間和溫度等工藝參數(shù),探索在不同還原條件下Ce2Zr2O7+x的相結(jié)構(gòu)及與氬氫還原法的異同。
實(shí)驗(yàn)選用純度為99.99%的 Ce(NO3)3·6H2O、Zr(NO3)4·3H2O 粉末為初始原料,準(zhǔn)確稱量后將其分別配制成濃度為0.1mol/L的標(biāo)準(zhǔn)水溶液,之后按照n(Ce)∶n(Zr)=1∶1取標(biāo)液混合并攪拌約0.5h,向混合液中加入適量的檸檬酸、聚乙二醇20000和質(zhì)量濃度為65%~68%的濃硝酸添加劑以獲得澄清透明溶膠。還原樣品前驅(qū)體的制備在sol-噴霧熱解裝置(圖1)中進(jìn)行,實(shí)驗(yàn)采用0.3MPa的壓力將澄清溶膠霧化到溫度為600℃、φ20mm×50mm的剛玉坩堝內(nèi),收集樣品在400℃的爐中煅燒2h以去除揮發(fā)性物質(zhì),待用。還原實(shí)驗(yàn)在有石墨參與的還原裝置(圖2)中進(jìn)行,稱取約200mg煅燒粉末置于該裝置中進(jìn)行石墨還原實(shí)驗(yàn),其還原工藝參數(shù)列于表1。
圖1 sol-噴霧熱解裝置示意圖Fig.1 Diagrammatic sketch of sol-spray pyrolysis device
圖2 石墨還原裝置示意圖Fig.2 Diagrammatic sketch of graphite reduction device
表1 樣品還原工藝參數(shù)Table 1 Reduction process parameter of sample
采用X’pert-PRO型X射線衍射儀(荷蘭帕那科公司)對合成粉體進(jìn)行物相分析(Cu Kα1靶,λ=0.154 06nm,步進(jìn)0.02°,掃描角度10°~90°)。紅外光譜采用KBr壓片法,儀器為德國BR公司VER型紅外光譜分析儀,波數(shù)范圍為400~4 000cm-1;樣品的結(jié)構(gòu)精修選用 GSAS程序[13],其峰形及本底分別采用Pseudo-Voigt函數(shù)和六次多項(xiàng)式進(jìn)行擬合,最后對各原子位置、原子位置占有率及其溫度因子進(jìn)行修正。
不同還原溫度(Tred)、相同還原時間(t=24h)條件下獲得的樣品XRD譜示于圖3。從圖3a可知,當(dāng)還原溫度達(dá)1 000℃時,樣品將形成c-(Ce0.75Zr0.25)O2相 (PDF:28-271)和t-(Zr0.88Ce0.12)O2相 (PDF:82-1398)兩 種 固 溶體,但無法獲得單相 Ce2Zr2O7+x。參照 CeO2-ZrO2二元體系相圖[13]可知,共晶溫度Te=(1 050±50)℃是其發(fā)生共晶轉(zhuǎn)變的臨界溫度,當(dāng)Tred>Te時,其燒結(jié)產(chǎn)物為c+t相;當(dāng)Tred<Te時,具有[ZrO6]結(jié)構(gòu)的t相將轉(zhuǎn)變?yōu)閇ZrO7]配位的m相。而本實(shí)驗(yàn)仍能在緩慢降溫過程中將t相保持至室溫,這可能歸因于以下3方面的原因。首先,sol-噴霧熱解法是制備納米熱障涂層材料的常規(guī)方法,根據(jù)謝樂公式估算可知,本實(shí)驗(yàn)獲得的t相粒徑約為45nm。Garvie[14]的實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,當(dāng)t相粒徑小于30nm時,其表面能將低于m相,t相能在室溫下穩(wěn)定存在。因此,t相納米晶的獲得可能是本實(shí)驗(yàn)中觀察到t相的主要原因之一。其次,Ce4+的離子半徑較的大,Ce4+摻雜ZrO2將增加ZrO2的晶格常數(shù)并減少ZrO2局部的氧-氧排斥力,從而增加t-ZrO2的穩(wěn)定性。Li等[15]和Cohen等[16]發(fā)現(xiàn)向ZrO2中摻雜大離子半徑Ce4+或U4+能保持c-ZrO2相至室溫是其例證。另外,石墨易與氧氣發(fā)生反應(yīng)生成CO和CO2的混合氣體,其作用相當(dāng)于消耗了還原裝置中部分氧氣而導(dǎo)致氧分壓降低,且這種弱的還原環(huán)境一直存在于整個實(shí)驗(yàn)過程中。Rauh等[17]的研究結(jié)果表明,ZrO2易在缺氧環(huán)境下形成缺氧型ZrO2-x,其氧空位濃度與氧分壓的1/6次方呈反比,氧空位濃度對氧分壓非常敏感。而分布在氧化鋯體內(nèi)鋯離子周圍的空位不僅降低了局部氧-氧間的排斥力,使配位層產(chǎn)生較大的畸變,而且釋放了部分層間應(yīng)力促進(jìn)了t-ZrO2的穩(wěn)定。因此,缺氧型t-ZrO2-x相的生成可能也是其在室溫下穩(wěn)定存在的原因之一。
圖3 不同還原溫度和還原時間條件下各樣品的XRD譜Fig.3 XRD spectra of samples under different reduction temperatures and time
繼續(xù)提高石墨還原溫度至1 050℃,之前形成的c+t固溶體將被一種新的單相化合物所取代,該結(jié)果完全違背了CeO2-ZrO2二元相圖在相同條件下給出的相組成,說明在有石墨參與的燒結(jié)環(huán)境中,其物相合成機(jī)理與空氣氣氛完全不同。更值得關(guān)注的是,獲得的還原相擁有與燒綠石相同的有序陽離子結(jié)構(gòu),其表征陽離子有序的特征衍射峰(111)、(311)、(331)、(511)非常明顯。隨著還原溫度的進(jìn)一步升高(1 100℃≤Tred≤1 300℃),不同還原溫度產(chǎn)物的XRD譜幾乎不再發(fā)生改變,說明當(dāng)Tred≥1 050℃時,合成的還原相應(yīng)具有相同的晶體結(jié)構(gòu)。但仔細(xì)觀察不難發(fā)現(xiàn),(111)特征峰隨還原溫度的降低明顯展寬,峰展寬可能意味著其結(jié)構(gòu)中存在平行于{112}方向的反相籌界[18],該相界打破了長程有序的Ce/Zr原子排列,即隨還原溫度的降低,陽離子有序化程度將隨之下降。雖然還原產(chǎn)物的物相相同,但其結(jié)構(gòu)中局部陽離子排列與氧的配位環(huán)境仍存在細(xì)微差別。另外,在1 100℃≤Tred≤1 300℃范圍內(nèi),不再觀察到明顯的相變現(xiàn)象,說明還原相中的Ce元素未發(fā)生進(jìn)一步的成分偏移,燒綠石型還原相能在1 050~1 300℃還原溫度區(qū)域內(nèi)穩(wěn)定存在。
還原樣品隨還原時間變化的XRD譜如圖3c所示(Tred=1 050℃)。從圖3可知,不同還原時間產(chǎn)物的XRD譜非常相似,說明延長時間不會導(dǎo)致其發(fā)生相分離,這與YSZ在1 425℃、含氧靜態(tài)空氣中發(fā)生熱降解的機(jī)制完全不同。還原相穩(wěn)定存在的原因仍應(yīng)歸因于樣品燒結(jié)氣氛的差異。由于實(shí)驗(yàn)結(jié)束后石墨仍有大量殘余,證明在整個實(shí)驗(yàn)過程中,均有石墨與氧氣相互作用并主導(dǎo)樣品的合成氣氛。Sanjuán等[19]發(fā)現(xiàn)在空氣氣氛中升高燒結(jié)溫度,其作用等同于提高樣品的還原氣氛,根據(jù)CeO2-ZrO2二元相圖,各相中Ce含量將隨還原氣氛的增加(即隨燒結(jié)溫度的提高)而向設(shè)計(jì)成分靠近。在本實(shí)驗(yàn)中,由于弱的還原氣氛一直存在,還原產(chǎn)物則被保持至室溫而不發(fā)生分解。但將最強(qiáng)衍射峰(222)面放大后不難看出,各還原樣品的XRD衍射峰仍存在細(xì)微差別,其規(guī)律為:隨還原時間的延長,(222)晶面呈規(guī)律性向低角度偏移,還原相的晶格常數(shù)值增加。該現(xiàn)象是否為熱應(yīng)力導(dǎo)致的晶格膨脹尚有待進(jìn)一步研究。
圖4 樣品的IR譜Fig.4 IR spectra of samples
不同還原條件下制備的樣品IR譜如圖4所示??煽闯?,3種還原溫度和時間下獲得的樣品IR譜很相近,說明這些條件下獲得的物相相同,與前面XRD譜結(jié)果完全吻合。但當(dāng)Tred從1 300℃降至1 200℃及以下時,407cm-1處的振動峰將發(fā)生劈裂(411和419cm-1)。眾所周知,IR譜主要反映晶格的對稱性和分子中化學(xué)鍵的極性。振動峰發(fā)生劈裂應(yīng)歸因于不同還原樣品中Ce/Zr原子的氧配位環(huán)境不同。
為進(jìn)一步明確還原相的晶體結(jié)構(gòu),將Tred=1 050℃、t=24h條件下獲得的樣品XRD譜與燒綠石相Ce2Zr2O7的標(biāo)準(zhǔn)XRD卡進(jìn)行了對比分析,結(jié)果發(fā)現(xiàn)還原樣品的衍射角明顯向右偏移,晶格常數(shù)較燒綠石相的小,這意味著在石墨參與的還原實(shí)驗(yàn)中,形成的還原氣氛較弱以致無法獲得Ce2Zr2O7相。目前,在已報(bào)道的Ce2Zr2O7+x系列物相[5,7-12]中的晶體結(jié)構(gòu)均可容納有序陽離子的亞晶胞。將還原相的IR譜(圖4)與 Thomson等[6-7]給出的 Ce2Zr2O8的IR譜對比不難發(fā)現(xiàn),兩者的振動頻率非常接近,說明在石墨參與的弱的還原條件下,獲得的物相可能屬于富氧相或Ce2Zr2O8(P213)。進(jìn)一步對比 Ce2Zr2O8的XRD譜發(fā)現(xiàn),Ce2Zr2O8相中除具有表征陽離子有序的超結(jié)構(gòu)峰外,還存在如(110)、(200)等微弱的特征峰,而從本實(shí)驗(yàn)所得還原樣品的XRD譜(圖1a)中卻未能觀察到這些譜峰,因此初步推斷所獲得樣品的結(jié)構(gòu)可能屬于空間群。將Tred=1 100℃、t=24h下獲得的還原樣品的XRD譜與Ce2Zr2O7.97的標(biāo)準(zhǔn)譜進(jìn)行了全譜擬合,其擬合度分別為Rwp=12.62%,Rp=8.9%,擬合效果圖如圖5所示,精修所得晶胞參數(shù)分別為a=1.054 75(6)nm,V=1.173 426nm3,該值與文獻(xiàn)[9]的精修結(jié)果接近。從35°~40°及42°~45°衍射區(qū)放大圖也不難看出其計(jì)算與實(shí)驗(yàn)值完全吻合。因此,本實(shí)驗(yàn)在石墨還原條件下生成的物相被確定為空間群為的富氧相Ce2Zr2O7.97。而從精修所得結(jié)構(gòu)數(shù)據(jù)(表2)可知,該物相結(jié)構(gòu)中包含有4種不同的Ce原子、Zr原子以及11種氧原子。從原子占有率結(jié)果不難看出,與燒綠石結(jié)構(gòu)中氧空位(8b/32e)對應(yīng)的3個氧位(O3、O4、O11)均被氧離子不同程度地填充,其占有率分別為0.206 (5)、0.370(2)、0.506 (3)。以上精修結(jié)果說明石墨所形成的還原氣氛較弱,無法阻止瞬間形成的氧空位又被快速擴(kuò)散的氧離子所填充。根據(jù)Thomson等對Ce2Zr2O7.97相的晶體結(jié)構(gòu)的解析結(jié)果[9]可知,Ce與Zr的氧配位數(shù)均超過8,致使Ce2Zr2O7.97相的晶體結(jié)構(gòu)對稱性降低。
圖5 Tred=1 100℃、t=24h還原條件下獲得的樣品XRD結(jié)構(gòu)精修譜Fig.5 Rietveld XRD spectrum for sample prepared under reduction conditions of Tred=1 100℃ and t=24h
表2 Tred=1 100℃、t=24h還原條件下獲得的樣品XRD結(jié)構(gòu)精修數(shù)據(jù)Table 2 Refined structure data for sample prepared under reduction conditions of Tred=1 100 ℃ and t=24h
采用石墨還原法在相同還原時間(24h)不同溫度范圍(1 050℃≤Tred≤1 300℃)內(nèi),以及相同還原溫度(Tred=1 050℃)不同還原時間(24h≤t≤72h)內(nèi)均可合成 Ce2Zr2O7.97單相樣品,且該還原相在以上條件下均能穩(wěn)定存在并一直保持至室溫而不發(fā)生熱分解,其穩(wěn)定機(jī)制主要?dú)w因于石墨消耗還原裝置中的氧所形成的弱的還原氣氛,這為An2Zr2O7+x廢物固化體的存放環(huán)境提供了參考。還原產(chǎn)物Ce2Zr2O7.97具有與燒綠石相Ce2Zr2O7相同的有序陽離子結(jié)構(gòu),但其氧空位被大部分氧離子所填充,說明實(shí)驗(yàn)中還原氣氛太弱以致于無法阻止快速擴(kuò)散的氧離子向晶體內(nèi)部的氧空位遷移,最終導(dǎo)致Ce2Zr2O7.97相晶體結(jié)構(gòu)對稱性低于燒綠石相Ce2Zr2O7。本文提出的采用石墨還原法制備富氧相Ce2Zr2O7.97有望成為一種較傳統(tǒng)制備工藝更簡單經(jīng)濟(jì)的新方法。
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