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      藕狀多孔銅凝固界面前沿溶質(zhì)場的數(shù)值模擬

      2014-09-27 01:24:28戴???/span>金青林蔣業(yè)華
      機械工程材料 2014年5期
      關(guān)鍵詞:溶質(zhì)共晶熔體

      戴???,金青林,蔣業(yè)華,周 榮

      (昆明理工大學(xué)材料科學(xué)與工程學(xué)院,昆明 650093)

      0 引 言

      1993年,烏克蘭學(xué)者Shapovalov提出了一種利用金屬/氣體共晶定向凝固制備多孔金屬的新技術(shù)[1],稱為Gasar工藝。由于采用該工藝制備的多孔金屬的結(jié)構(gòu)類似藕根,因此也被稱為藕狀多孔金屬材料[2]。相比于傳統(tǒng)多孔金屬材料,這種藕狀多孔金屬材料表現(xiàn)出了優(yōu)異的特性,如小的應(yīng)力集中、良好的導(dǎo)熱能力以及較高的力學(xué)性能等[3-4],同時具有比相同致密度材料更高的綜合力學(xué)性能,如更高的比模量、比強度。

      現(xiàn)有文獻對Gasar工藝中金屬/氣體兩相共晶生長理論的研究報道較少。Liu等[5]雖然通過建立溶質(zhì)場的三維模型確定了孔間距和凝固速率之間的共晶生長模型,但對溶質(zhì)場的求解較復(fù)雜和冗長;Yamamura等[6]利用氣孔內(nèi)外溶質(zhì)原子擴散的平衡關(guān)系,建立了壓力和孔隙率關(guān)系的理論模型,但沒有進一步討論凝固速率對孔隙率的影響?;诖?,作者建立了凝固界面前沿的溶質(zhì)場,分析了工藝參數(shù)(氫氣壓力和凝固速率)對結(jié)構(gòu)參數(shù)(孔隙率、孔間距)和溶質(zhì)濃度的影響,并進行了試驗驗證。

      1 試樣制備與試驗方法

      材料制備在真空感應(yīng)熔煉定向凝固裝置[7]中進行。在高壓氫氣(純度99.99%)氣氛(壓力分別為0.6,1.0MPa)中,通過電磁感應(yīng)加熱,在坩堝中熔煉銅(純度99.99%),熔煉溫度為1 573K,保溫30min,使氫氣充分溶入熔體中;之后,提起控制桿使坩堝中的熔體流入帶有水循環(huán)冷卻裝置且側(cè)面保溫的鑄型中,熔體進行自下而上的定向凝固。由于氫氣在液相和固相銅中存在溶解度差,凝固界面處過飽和的氫氣將析出,最終形成沿凝固方向排列于金屬基體中的多孔結(jié)構(gòu),如圖1所示。通過調(diào)節(jié)工藝參數(shù)(表1),可以得到不同結(jié)構(gòu)參數(shù)的試樣。

      孔隙率利用Archimedes排水法進行測量;孔間距采用圖像處理軟件Image J多次測量后取平均值。

      圖1 藕狀多孔銅的截面形貌Fig.1 Photographs of ordered porous copper:(a)transverse section and(b)longitudinal section

      2 凝固界面前沿溶質(zhì)場模型的建立

      2.1 凝固界面前沿的溶質(zhì)場

      Gasar工藝的理論研究類似于規(guī)則共晶凝固,對溶質(zhì)場的分析是基于傳統(tǒng)經(jīng)典的Jackson-Hunt模型[8]。為了簡化模型分析,做出以下假設(shè):(1)凝固以穩(wěn)態(tài)形式進行;(2)凝固界面前沿?zé)o熔體對流;(3)孔徑和孔間距(λ)均勻分布。

      表1 試驗工藝參數(shù)Tab.1 Process parameters

      由于擴散的對稱性,這里只考慮寬度為λ/2的一個區(qū)域?;谝陨霞僭O(shè),建立凝固界面前沿溶質(zhì)場的數(shù)學(xué)模型,如圖2所示,其中ε為孔隙率。

      圖2 凝固界面前沿溶質(zhì)場的示意Fig.2 The concentration field of solidification interface frontier

      凝固界面前沿的溶質(zhì)分布可用微分方程(1)描述,它描述了在沿凝固界面推進的方向上,凝固界面前沿溶質(zhì)濃度和工藝參數(shù)之間的關(guān)系。

      式中:C和D分別為溶質(zhì)氫原子在液相中的濃度和擴散系數(shù);z為凝固界面推進方向;y垂直于z;v為凝固速率。

      經(jīng)過數(shù)學(xué)求解可以得到式(1)的數(shù)學(xué)通解:

      式中:C0為溶質(zhì)氫原子在液相中的初始濃度,由Sievert定律確定;A,B,b均為常數(shù),與工藝參數(shù)有關(guān)。

      此通解由一個三角函數(shù)和一個指數(shù)函數(shù)構(gòu)成。指數(shù)函數(shù)反映的是整個凝固界面的平面特性,三角函數(shù)反映的是固氣相態(tài)在凝固界面的交替形態(tài),也就是考慮了凝固界面受微擾動影響時的溶質(zhì)分布,此微擾動通常是由溫度起伏或不溶性固體顆粒引起的。在Gasar工藝中,由于凝固速率比較小,凝固界面生長屬于低速生長。因此,對常數(shù)b有下列簡化公式:

      對于常數(shù)A,B的確定,則需要邊界條件作以輔助。根據(jù)規(guī)則共晶的相關(guān)理論,凝固界面處的物質(zhì)要遵循質(zhì)量守恒原則,在達到穩(wěn)態(tài)擴散時,由凝固排出的溶質(zhì)量應(yīng)等于界面處向液體內(nèi)部擴散的溶質(zhì)量,這樣才能保證凝固界面以穩(wěn)定的速率向前推進以及凝固界面前沿溶質(zhì)的穩(wěn)定擴散和轉(zhuǎn)移。由此,可以得到凝固界面前沿固相、氣相的邊界條件:

      式中:k0為溶質(zhì)平衡分配系數(shù);ε為氣相體積分數(shù),即孔隙率;P為氫氣壓力;T為熔體溫度;R為理想氣體常數(shù),R=8.314J·(mol·K)-1。

      在自變量y的范圍內(nèi),對方程組(4)兩邊同時微積分,經(jīng)過數(shù)學(xué)變換和化簡可得:

      由方程組(5),可以確定系數(shù)A,B:

      當z=0時,式(2)可化簡得:

      由于在凝固界面存在如下關(guān)系:

      在設(shè)定的范圍(λ/2)內(nèi),由式(7)和(8)可以求得:

      根據(jù)式(7)和(9),求得固液界面前沿溶質(zhì)氫原子的平均濃度:

      2.2 最小過冷度

      在凝固界面處,根據(jù)凝固界面三相節(jié)點(圖3)處的能量平衡關(guān)系,可以得出:

      式中:σsl,σsg和σgl分別為固液、固氣和氣液間的界面能[9-10],取值為0.256,1.605,1.360J·m-2;θs和θg是凝固界面三相交界處不同界面能之間的幾何夾角。

      圖3 凝固界面處不同界面間的關(guān)系Fig.3 The equilibrium relation of different interfacial energy in solidification interface

      由方程組(11)可得:sinθg=0.269 213;sinθs=0.050 675。

      由于凝固界面處于局部熱力學(xué)平衡狀態(tài),所以體系溶質(zhì)過冷度ΔTc和曲率過冷度ΔTr之和等于界面過冷度ΔT。故,可以得到凝固界面最小過冷度和孔間距之間的關(guān)系[8]:

      式中:Kc和Kr為固氣共晶的物理常數(shù)。

      根據(jù)最小過冷度的判據(jù)原則,由選定的λ值可使ΔT達到最小值,即

      由式(12)和(13)可得

      式中:ms和mg分別為固相和氣相的液相線斜率;Γs和Γg分別為 固相和氣 相 Gibbs-Thomson系數(shù)。

      式(14)最終化簡為

      綜上所述得:

      3 模型計算結(jié)果與分析

      3.1 孔隙率的理論公式

      不考慮氫氣的溢出,文獻[5]所得孔隙率的理論公式:

      式中:Tm為銅的熔點;ρl和ρs分別為液相和固相銅的密度。

      由式(17),(18)可知,保持壓力和溫度不變時,系數(shù)A和孔隙率ε均為常數(shù),而擴散系數(shù)D在溫度不變時也為常數(shù)。所以,孔間距(λ)和凝固速率(v)可以被描述為vλ2=E(常數(shù))的關(guān)系。

      3.2 工藝參數(shù)對結(jié)構(gòu)參數(shù)的影響

      聯(lián)立式(16),(17),(18),通過數(shù)值分析的方法可計算出工藝參數(shù)對結(jié)構(gòu)參數(shù)的影響。計算參數(shù)[6,11-13]:C0=0.808 2(PH2)1/2exp(-523 4/T);D = 0.512exp[- 24 600/(RgT)];Γs= 1.5 ×10-7mK;ms=- 0.010 26; k0=0.35;Tm=1 356K;ρs=8.9 × 103kg· m-3;ρl= 8.0 ×103kg·m-3。將模型計算結(jié)果與試驗結(jié)果進行對比,如圖4所示,可見,兩者吻合較好。

      圖4 不同壓力下孔隙率和孔間距與凝固速率關(guān)系的模型計算結(jié)果與試驗結(jié)果Fig.4 Calculated results and experimental results between porosity(a),(c)and inter-pore spacing(b),(d)with solidification rate under different pressures

      由圖4可以看出,保持氫氣壓力不變,隨著凝固速率的增大,孔隙率和孔間距都逐漸減小,但孔隙率的變化不明顯;保持凝固速率不變,隨著壓力的增大,孔間距和孔隙率均逐漸減小,且后者的變化明顯。這表明孔隙率主要受壓力的影響,而孔間距主要受凝固速率和壓力的共同影響。在實際的定向凝固過程中,凝固界面前沿的液相中存在著熔體對流,對流會使溶質(zhì)原子在液相中的擴散系數(shù)增大,結(jié)果造成實際的擴散系數(shù)大于理論擴散系數(shù)。而隨著凝固速率或氫氣壓力的不斷增大,凝固界面前沿熔體的對流程度也在加劇,造成了孔隙率計算結(jié)果和試驗結(jié)果存在差距,但它們的變化趨勢始終是一致的。

      3.3 工藝參數(shù)對溶質(zhì)濃度的影響

      圖5 不同工藝參數(shù)對固液界面前沿溶質(zhì)濃度分布的影響Fig.5 Effects of process parameters on solute concentration distribution on solid-liquid interface frontier:(a)solidification rate;(b)pressure and(c)temperature

      4 結(jié) 論

      (1)建立的溶質(zhì)場數(shù)學(xué)模型可以較準確地預(yù)測工藝參數(shù)和結(jié)構(gòu)參數(shù)之間的關(guān)系;保持氫氣壓力和溫度不變時,孔間距(λ)和凝固速率(v)呈vλ2=E(常數(shù))的關(guān)系。

      (2)孔隙率主要受氫氣壓力的影響,孔間距主要受凝固速率和氫氣壓力的共同影響。

      (3)隨著凝固速率或氫氣壓力的增大,固液界面前沿溶質(zhì)富集程度越來越大,并且壓力對溶質(zhì)富集程度的影響明顯強于凝固速率的;隨著溫度的升高,溶質(zhì)富集程度越來越小,這是由于隨著溫度的升高,熔體對流加快了溶質(zhì)原子的擴散速率,從而在一定程度上削弱了溶質(zhì)的富集。

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